本發(fā)明屬于液晶面板檢測技術(shù)，具體涉及一種Mura缺陷檢出方法。

背景技術(shù)：

Mura缺陷是TFT-LCD中一類常見的視覺缺陷，表現(xiàn)為低對比度、非均勻亮度區(qū)域，邊緣模糊，通常大于一個像素，會給觀察者帶來視覺不適。同時Mura缺陷也是視覺缺陷中最為復(fù)雜和最難檢測的，目前行業(yè)內(nèi)通常采用經(jīng)過專業(yè)訓(xùn)練的檢測人員根據(jù)限度樣本用人眼比對的方法進(jìn)行檢測，不可避免地引入主觀認(rèn)定等因素，容易產(chǎn)生不可靠的判定結(jié)果，且效率較低。近年來，研究人員開始研究利用機(jī)器視覺來代替人眼進(jìn)行檢測，多數(shù)采用的是臨近區(qū)域輝度對比的方法。

如圖1所示，現(xiàn)有技術(shù)中，在檢出Mura缺陷時將C區(qū)域分別與上下固定比對半徑內(nèi)的A&B區(qū)域進(jìn)行輝度比對，從而找出差異檢出缺陷。

白Mura檢出：

黑Mura檢出：

但是上述現(xiàn)有方法只適用于規(guī)則的Mura檢出，由于受比對半徑的限制，該技術(shù)對不定性、不規(guī)則Mura及突發(fā)不良Mura這類缺陷不能夠較好的比對出差異，造成這類Mura缺陷的漏檢。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

發(fā)明目的：本發(fā)明的目的在于解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的不足，提供一種Mura缺陷檢出方法，克服了液晶面板制造業(yè)中出現(xiàn)的不規(guī)則、不定形Mura以及突發(fā)不良Mura這類缺陷類型的漏檢問題。

技術(shù)方案：本發(fā)明所述的一種Mura缺陷檢出方法，包括以下步驟：

(1)手動將液晶面板的矩形檢查區(qū)域根據(jù)實(shí)際缺陷的類型移動到面板的對應(yīng)大致缺陷位置，同時檢查區(qū)域的大小根據(jù)實(shí)際需求設(shè)定，檢查區(qū)域大小設(shè)定無相應(yīng)規(guī)律，根據(jù)實(shí)際缺陷類型自行設(shè)定即可；

(2)根據(jù)實(shí)際缺陷的類型將移動好的檢查區(qū)域手動等分成若干個小區(qū)塊，同時檢查區(qū)域橫縱方向的區(qū)塊個數(shù)可隨意調(diào)節(jié)，將缺陷較好地鎖定在固定的區(qū)塊內(nèi)進(jìn)行檢查；

(3)分割好區(qū)塊后，利用相機(jī)拍攝液晶面板后采集每個區(qū)塊中各CCD的輝度值，再計(jì)算出各區(qū)塊的平均輝度值、輝度最大值、輝度最小值、輝度標(biāo)準(zhǔn)偏差值這四個參數(shù)；

(4)計(jì)算出上述參數(shù)后根據(jù)實(shí)際缺陷類型，選取合適的參數(shù)進(jìn)行比對，通常情況下使用標(biāo)準(zhǔn)偏差值較多，它反映了一個區(qū)塊的輝度波動情況，波動越大說明輝度值不均勻，必定有缺陷存在，通過比較之后將異常參數(shù)的區(qū)塊檢出，即為缺陷所在的精準(zhǔn)位置。

進(jìn)一步的，所述步驟(1)中，當(dāng)實(shí)際缺陷為邊緣弧狀Mura時，則將檢查區(qū)域移動到液晶面板的上半部分；當(dāng)實(shí)際缺陷為角落黑點(diǎn)Mura時，則將檢查區(qū)域移動到液晶面板的角落位置。

進(jìn)一步的，所述步驟(2)中，當(dāng)缺陷形狀為突發(fā)不良即斜線狀Mura時，則將檢查區(qū)域橫向分成1*8區(qū)塊，將該缺陷集中在最下方的一個區(qū)塊內(nèi)。若是其他缺陷形狀，則按照實(shí)際情況而定，將檢查區(qū)域等分成若干個小區(qū)塊，將大致缺陷位置較好地鎖定在固定的區(qū)塊內(nèi)進(jìn)行檢查。

進(jìn)一步的，所述步驟(3)中

平均輝度值：

輝度最大值：x_max＝max(x₁、x₂、x₃、x₄…x_k)；

輝度最小值：x_min＝min(x₁、x₂、x₃、x₄…x_k)；

標(biāo)準(zhǔn)偏差值：

其中，為平均輝度值；x₁、x₂、x₃、x₄…x_k分別指各CCD輝度值；k為區(qū)塊內(nèi)CCD個數(shù)，取值范圍為實(shí)際區(qū)塊內(nèi)的個數(shù)；x_max為輝度最大值；x_min為輝度最小值；s為標(biāo)準(zhǔn)偏差值；x_i是指各CCD輝度值。

有益效果與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明具有以下優(yōu)點(diǎn)：

(1)本發(fā)明對液晶面板制造業(yè)中出現(xiàn)的不規(guī)則Mura缺陷提出一種新型的檢出方法，可有效針對不定性、不規(guī)則Mura及突發(fā)不良Mura這類缺陷進(jìn)行有效檢出。

(2)本發(fā)明中的液晶面板檢查區(qū)域可根據(jù)實(shí)際缺陷類型移動到面板的任意位置，同時檢查區(qū)域的大小可隨意設(shè)定，使得對Mura缺陷檢查更具有針對性。

(3)本發(fā)明中的液晶面板檢查區(qū)域可平均分成數(shù)區(qū)塊，同時橫縱方向區(qū)塊數(shù)目可隨意調(diào)節(jié)，保證將缺陷較好鎖定在固定的區(qū)塊內(nèi)，再通過比較各區(qū)塊間的平均輝度值、輝度最大值、輝度最小值、輝度標(biāo)準(zhǔn)偏差值將其檢出。

綜上所述，本發(fā)明解決了液晶面板制造業(yè)中不定性、不規(guī)則Mura及突發(fā)不良Mura這類缺陷的漏檢問題，并在實(shí)際應(yīng)用中檢出效果明顯，提升了Mura檢出能力，更加有效精準(zhǔn)。

附圖說明

圖1為背景技術(shù)中缺陷檢測示意圖；

圖2為本發(fā)明中實(shí)際缺陷類型為邊緣弧狀時的檢查區(qū)域圖；

圖3為本發(fā)明中實(shí)際缺陷類型為角落黑點(diǎn)時的檢查區(qū)域圖；

圖4為本發(fā)明中缺陷形狀為斜線狀時的檢查區(qū)域分區(qū)示意圖；

圖5本發(fā)明中各區(qū)域輝度值示意圖；

圖6實(shí)施例的檢測流程示意圖。

具體實(shí)施方式

下面對本發(fā)明技術(shù)方案進(jìn)行詳細(xì)說明，但是本發(fā)明的保護(hù)范圍不局限于所述實(shí)施例。

如圖2至圖5所示，本發(fā)明所述的一種Mura缺陷檢出方法，包括以下步驟：

(1)手動將液晶面板的矩形檢查區(qū)域根據(jù)實(shí)際缺陷類型移動到面板的任意位置，同時檢查區(qū)域的大小根據(jù)實(shí)際需求設(shè)定；

當(dāng)實(shí)際缺陷為邊緣弧狀Mura時，則將檢查區(qū)域移動到液晶面板的上半部分；當(dāng)實(shí)際缺陷為角落黑點(diǎn)Mura時，則將檢查區(qū)域移動到液晶面板的角落位置；

(2)根據(jù)缺陷的形狀類型將移動好的檢查區(qū)域手動等分成若干個小區(qū)塊，同時檢查區(qū)域橫縱方向的區(qū)塊個數(shù)可隨意調(diào)節(jié)，將缺陷較好地鎖定在固定的區(qū)塊內(nèi)進(jìn)行檢查；

當(dāng)缺陷形狀為突發(fā)不良即斜線狀Mura時，則將檢查區(qū)域橫向分成1*8區(qū)塊，將該缺陷集中在最下方的一個區(qū)塊內(nèi)；

(3)分割好區(qū)塊后，利用相機(jī)采集每個區(qū)塊中各CCD的輝度值，再計(jì)算出各區(qū)塊的平均輝度值、輝度最大值、輝度最小值、輝度標(biāo)準(zhǔn)偏差值這四個參數(shù)；

平均輝度值：

輝度最大值：x_max＝max(x₁、x₂、x₃、x₄…x_k)；

輝度最小值：x_min＝min(x₁、x₂、x₃、x₄…x_k)；

標(biāo)準(zhǔn)偏差值：

其中，為平均輝度值；x₁、x₂、x₃、x₄…x_k分別指各CCD輝度值；k為區(qū)塊內(nèi)CCD個數(shù)，取值范圍為實(shí)際區(qū)塊內(nèi)的個數(shù)；x_max為輝度最大值；x_min為輝度最小值；s為標(biāo)準(zhǔn)偏差值；x_i是指各CCD輝度值。

(4)計(jì)算出上述參數(shù)后根據(jù)實(shí)際缺陷類型，選取合適的參數(shù)進(jìn)行比對(參數(shù)計(jì)算出后，比較缺陷所在區(qū)塊的四個參數(shù)與其他無缺陷區(qū)塊的四個參數(shù)間哪些參數(shù)是存在明顯差異的，從而將該1個或多個參數(shù)選定為該缺陷的設(shè)定參數(shù)，即為合適的參數(shù))，通常情況下使用輝度標(biāo)準(zhǔn)偏差值較多，它反映了一個區(qū)塊的輝度波動情況，波動越大說明輝度值不均勻，必定有缺陷存在，通過比較之后將異常參數(shù)的區(qū)塊檢出，即為缺陷所在的位置。

實(shí)施例1：

以邊緣Mura為例，針對該Mura類型將液晶面板的檢查區(qū)域設(shè)定在液晶面板的上半部分，再將該檢查區(qū)域等分成9個區(qū)塊，從而將缺陷集中在左上角區(qū)塊內(nèi)，分別計(jì)算出9個區(qū)塊的四個參數(shù)，通過各參數(shù)比較可以發(fā)現(xiàn)平均輝度值、輝度最大值、輝度最小值這3個參數(shù)缺陷區(qū)域與無缺陷區(qū)域無明顯差異，而輝度標(biāo)準(zhǔn)偏差值缺陷所在區(qū)塊的35.39(左上角)明顯大于其他8個區(qū)塊，為此該缺陷可通過比較標(biāo)準(zhǔn)偏差值將其檢出。標(biāo)準(zhǔn)偏差值存在差異的區(qū)塊即為缺陷所在位置。