本發(fā)明涉及陣列基板柵極驅(qū)動(dòng)線路，尤其涉及一種測(cè)試陣列基板的柵極線的線路及方法。

背景技術(shù)：

隨著電子商品市場(chǎng)的發(fā)展日漸蓬勃，對(duì)于液晶顯示器面板的需求量也越來越大。此需求是因?yàn)樵S多電子產(chǎn)品采用液晶顯示器(LCD)，例如電視屏幕、電腦屏幕、手機(jī)屏幕等?，F(xiàn)在的液晶顯示設(shè)備已經(jīng)由a-Si TFT-LCD過渡為L(zhǎng)TPS TFT-LCD，由于LTPS技術(shù)具有電子遷移率高的優(yōu)勢(shì)，非常適合用于制作高分辨率顯示器件。但目前的LTPS制程要超過10道，遠(yuǎn)比a-Si的復(fù)雜程度高，成本也相應(yīng)提高，因此，陣列基板制成后，獲取整個(gè)面板的工作狀態(tài)就顯得非常重要，且由于柵極驅(qū)動(dòng)線路(Gate On Array)的設(shè)計(jì)廣泛應(yīng)用，在陣列基板制成后如何測(cè)得GOA的輸出非常重要。

液晶顯示面板在點(diǎn)亮前，通常要經(jīng)過很多檢測(cè)步驟，但即使經(jīng)過多重檢測(cè)的液晶顯示面板，仍然會(huì)出現(xiàn)無法點(diǎn)亮的情況。此時(shí)就需要對(duì)液晶顯示面板的陣列基板進(jìn)行破壞性檢測(cè)，量測(cè)GOA的輸出波形，以發(fā)現(xiàn)問題所在，并避免同樣的問題再次發(fā)生。

現(xiàn)有技術(shù)中，如圖1所示，對(duì)無法點(diǎn)亮的液晶顯示面板中的陣列基板進(jìn)行檢測(cè)的方法主要是通過電引線10將顯示區(qū)13周圍GOA單元中的柵極線11與測(cè)試墊12電連接，通過測(cè)試墊12量測(cè)柵極線11的輸出波形。這種測(cè)試方法，由于柵極線11與測(cè)試墊12是通過電引線10直接連接在一起的，因而在陣列基板制程過程中，GOA容易受到靜電的影響，甚至出現(xiàn)靜電炸傷；而且在液晶顯示面板的顯示過程中，由于GOA與測(cè)試墊電連接，使得屏幕容易受到額外負(fù)載影響導(dǎo)致畫面顯示異常。因此，采用何種線路對(duì)GOA進(jìn)行測(cè)試，同時(shí)又能避免陣列基板制程中靜電對(duì)柵極驅(qū)動(dòng)線路的影響和顯示過程中額外負(fù)載的影響，就成為亟待解決的技術(shù)問題。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

針對(duì)上述現(xiàn)有技術(shù)中存在的技術(shù)問題，本發(fā)明提供了一種測(cè)試陣列基板的柵極線的線路及方法。

本發(fā)明提出的測(cè)試陣列基板的柵極線的線路，包括：測(cè)試墊；第一開光單元，所述柵極線通過所述第一開關(guān)單元與所述測(cè)試墊連接，所述第一開關(guān)單元的一端與控制端連接；通過向控制端施加電壓來控制所述第一開關(guān)單元的導(dǎo)通和截止，在所述第一開關(guān)單元截止時(shí)，所述柵極線正常工作；在所述第一開關(guān)單元導(dǎo)通時(shí)，通過所述測(cè)試墊對(duì)所述柵極線的輸出信號(hào)進(jìn)行測(cè)試。

本發(fā)明的測(cè)試陣列基板的柵極線的線路，柵極線和測(cè)試墊之間設(shè)置了第一開關(guān)單元，當(dāng)?shù)谝婚_關(guān)單元處于截止時(shí)，柵極線與測(cè)試墊始終是電隔絕的。在液晶顯示面板的正常顯示過程中，只要保證第一開關(guān)單元處于截止?fàn)顟B(tài)，即可保證柵極線與測(cè)試墊的電隔絕，從而就能避免屏幕受到額外負(fù)載影響導(dǎo)致畫面顯示異常，保證了液晶顯示面板的顯示品質(zhì)。同時(shí)，由于柵極線通過第一開關(guān)單元與測(cè)試墊連接，這樣，在陣列基板制程過程中，柵極線所屬的GOA區(qū)就不會(huì)受到測(cè)試墊處產(chǎn)生的靜電影響，避免了GOA區(qū)由于靜電而產(chǎn)生的炸傷。

作為對(duì)本發(fā)明的進(jìn)一步改進(jìn)，所述第一開關(guān)單元包括第一薄膜晶體管，所述第一薄膜晶體管的第一端與所述柵極線連接，所述第一薄膜晶體管的第二端與所述測(cè)試墊連接，所述第一薄膜晶體管的柵極與所述控制端連接，其中，所述第一端為所述第一薄膜晶體管的源極或漏極中的一端，所述第二端為所述第二薄膜晶體管的源極或漏極中的另一端。

薄膜晶體管屬于常見的電子器件，當(dāng)使用薄膜晶體管作為開關(guān)單元時(shí)，不僅能夠?qū)崿F(xiàn)所需要的功能，而且擁有較低的成本，并且，由薄膜晶體管的性質(zhì)決定，在線路制作過程中，不必嚴(yán)格區(qū)分薄膜晶體管的源極和漏極，進(jìn)一步提高了線路板的生產(chǎn)效率。

作為對(duì)本發(fā)明的進(jìn)一步改進(jìn)，所述第一開關(guān)單元還包括第二開關(guān)單元，所述第一薄膜晶體管的柵極通過所述第二開關(guān)單元與所述控制端連接。

通過第二開關(guān)單元控制第一薄膜晶體管的截止和導(dǎo)通，相對(duì)于直接通過第一薄膜晶體管的柵極來控制其截止和導(dǎo)通，使得控制更方便、靈活。

作為對(duì)第二開關(guān)單元的進(jìn)一步改進(jìn)，所述第二開關(guān)單元是第二薄膜晶體管，所述第二薄膜晶體管的第三端與所述第一薄膜晶體管的柵極連接，所述第二薄膜晶體管的柵極和第四端相連并與所述控制端連接，其中，所述第三端為所述第二薄膜晶體管的源極或漏極中的一端，所述第四端為所述第二薄膜晶體管的源極或漏極中的另一端。

作為對(duì)第二開關(guān)單元的進(jìn)一步改進(jìn)，所述第二開關(guān)單元包含多個(gè)級(jí)聯(lián)的第二薄膜晶體管，其中，每個(gè)第二薄膜晶體管的柵極和第四端連接并依次與相鄰的第二薄膜晶體管的第三端連接，位于首端的第二薄膜晶體管的第三端與所述第一薄膜晶體管的柵極連接，位于尾端的第二薄膜晶體管的柵極和第四端相連并與所述控制端連接，其中，所述第三端為所述第二薄膜晶體管的源極或漏極中的一端，所述第四端為所述第二薄膜晶體管的源極或漏極中的另一端。

通過多個(gè)級(jí)聯(lián)的第二薄膜晶體管同樣可以控制第一薄膜晶體管的截止和導(dǎo)通，此處提供了一種不同的控制連接方式。

作為對(duì)本發(fā)明的線路的進(jìn)一步改進(jìn)，所述控制端通過電引線與陣列基板上的驅(qū)動(dòng)電線中的第一電壓輸出端連接，在第一電壓的作用下，所述第一開關(guān)單元截止。

由于控制端直接與陣列基板上的第一電壓輸出端連接，而且在液晶顯示面板正常顯示過程中，第一電壓輸出端上一直存在第一電壓，這樣，就能保證第一開關(guān)單元處于截止?fàn)顟B(tài)，保證了柵極線與測(cè)試墊電隔絕，避免了屏幕受到額外負(fù)載影響導(dǎo)致畫面顯示異常，保證了液晶顯示面板的顯示品質(zhì)。而且，當(dāng)控制端直接與陣列基板上的驅(qū)動(dòng)電線中的第一電壓輸出端連接時(shí)，就不再需要從外部引入第一電壓，而且可以選擇最靠近薄膜晶體管的第一電壓輸出端，從而減小了連接線的長(zhǎng)度，方便了線路的設(shè)計(jì)，節(jié)省了布線空間。

本發(fā)明同時(shí)提出了一種測(cè)試陣列基板的柵極線的方法，使用上述線路對(duì)柵極線進(jìn)行測(cè)試，包括以下步驟：

向所述第一開關(guān)單元的控制端施加第一電壓，所述第一開關(guān)單元截止，所述柵極線正常工作；

當(dāng)所述陣列基板工作異常時(shí)，向所述第一開關(guān)單元的控制端施加第二電壓，在所述第二電壓的作用下，所述第一開關(guān)單元導(dǎo)通，通過所述測(cè)試墊對(duì)所述柵極線的輸出信號(hào)進(jìn)行測(cè)試。

在第一電壓的作用下，柵極線與測(cè)試墊電隔絕，這樣就不會(huì)影響液晶顯示面板的正常顯示。當(dāng)顯示異常時(shí)，通過向控制端施加第二電壓，使得第一開關(guān)單元導(dǎo)通，即測(cè)試墊與柵極線導(dǎo)通，便可通過測(cè)試墊來檢測(cè)柵極線的輸出信號(hào)。

作為對(duì)本方法的進(jìn)一步改進(jìn)，通過電引線將所述控制端與所述第一電壓輸出端連接，從而向所述控制端施加第一電壓。

進(jìn)一步，所述第一電壓輸出端由陣列基板上的驅(qū)動(dòng)電線提供。這樣，就不再需要從外部引入第一電壓。

進(jìn)一步，切斷所述控制端與所述第一電壓輸出端之間的連接，向第一控制端接入外置的第二電壓。在一個(gè)優(yōu)選的實(shí)施例中，采用激光擊穿的方式斷開控制端與第一電壓輸出端之間的連接。激光擊穿可以迅速方便、精準(zhǔn)地切斷控制端與第一電壓輸出端之間的連接，從而不會(huì)對(duì)周邊線路產(chǎn)生影響。

總之，本發(fā)明提出的檢測(cè)陣列基板的柵極線的線路，由于柵極線與測(cè)試墊之間設(shè)置了第一開關(guān)單元，在不測(cè)試柵極線的情況下，能夠保證柵極線與測(cè)試墊始終是電隔絕的，這樣，在陣列基板制程過程中，柵極線所屬的GOA區(qū)就不會(huì)受到測(cè)試墊處產(chǎn)生的靜電影響，避免了GOA區(qū)靜電炸傷，同時(shí)，在液晶顯示面板的顯示過程中，由于柵極線與測(cè)試墊電絕緣，從而避免了屏幕受到額外負(fù)載影響導(dǎo)致畫面顯示異常，保證了液晶顯示面板的顯示品質(zhì)。同時(shí)，當(dāng)液晶顯示面板不能點(diǎn)亮?xí)r，通過向第一開關(guān)單元引入外置的第二電壓，就能使得測(cè)試墊與柵極線相連，從而通過測(cè)試墊對(duì)柵極線進(jìn)行檢測(cè)，以便更好地找到問題原因所在，避免同樣的問題再次發(fā)生，方便了后期提高產(chǎn)品的品質(zhì)。

附圖說明

在下文中將基于實(shí)施例并參考附圖來對(duì)本發(fā)明進(jìn)行更詳細(xì)的描述。其中：

圖1為現(xiàn)有技術(shù)中，測(cè)試陣列基板的柵極線的線路示意圖；

圖2為本發(fā)明提出的測(cè)試陣列基板的柵極線的線路示意圖；

圖3為本發(fā)明的第二個(gè)實(shí)施例的線路示意圖；

圖4為圖2或線路的第一薄膜晶體管處布線結(jié)構(gòu)示意圖；

圖5顯示了本發(fā)明提出的測(cè)試陣列基板的柵極線的方法的示意圖。

在附圖中，相同的部件使用相同的附圖標(biāo)記。附圖并未按照實(shí)際的比例。

具體實(shí)施方式

以下將結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明的內(nèi)容作出詳細(xì)的說明，下文中的“上”“下”“左”“右”均為相對(duì)于圖示方向，不應(yīng)理解為對(duì)本發(fā)明的限制。

如圖2所示，本發(fā)明提出的測(cè)試陣列基板的柵極線的線路中，柵極線211通過第一開關(guān)單元20與測(cè)試墊22連接，第一開關(guān)單元20的一端與控制端26連接。通過向控制端26施加電壓來控制第一開關(guān)單元20的導(dǎo)通和截止，當(dāng)?shù)谝婚_關(guān)單元20截止時(shí)，柵極線211能夠正常工作，當(dāng)?shù)谝婚_關(guān)單元20導(dǎo)通時(shí)，通過測(cè)試墊22引出柵極線211上的信號(hào)，以便對(duì)柵極線211的輸出信號(hào)進(jìn)行檢測(cè)。

實(shí)施例一：

圖2為本發(fā)明實(shí)施例一提出的測(cè)試陣列基板的柵極線的線路示意圖，從圖2中可以看出，在陣列基板的顯示區(qū)30的兩側(cè)周圍設(shè)置有很多線路，這些線路包括多個(gè)GOA單元21，每個(gè)GOA單元21中都有一根柵極線211，當(dāng)然，在對(duì)柵極線211進(jìn)行測(cè)試時(shí)，由于這些GOA單元21都由相同的電路構(gòu)成，并不需要對(duì)每一個(gè)GOA單元21中的柵極線211均進(jìn)行測(cè)試，一般會(huì)選取2至4根柵極線211進(jìn)行測(cè)試，所使用的測(cè)試墊22的數(shù)量與選取測(cè)試的柵極線的數(shù)量相對(duì)應(yīng)。

在圖2中，在GOA單元21與測(cè)試墊22之間設(shè)置的第一開關(guān)單元20包括第一薄膜晶體管，第一薄膜晶體管的柵極23與控制端26連接，第一端24和第二端25分別與GOA單元21中的柵極線211和測(cè)試墊22連接，這里的第一端24為第一薄膜晶體管的源極或漏極中的一端，第二端25為第一薄膜晶體管的源極或漏極中的另一端，即如果第一端24為源極，則第二端25為漏極，如果第一端24為漏極，則第二端25為源極。

通過向控制端26即柵極23施加電壓，能夠控制第一端24和第二端25的導(dǎo)通和截止。當(dāng)向控制端26施加第一電壓時(shí)，第一端24和第二端25處于截止?fàn)顟B(tài)，使得柵極線211和測(cè)試墊22處于電隔絕狀態(tài)。在液晶顯示面板正常顯示時(shí)，只要保證向控制端26施加第一電壓，便可使得柵極線211和測(cè)試墊22處于電隔絕，從而柵極線211可以正常工作，同時(shí)能避免屏幕受到額外負(fù)載影響導(dǎo)致畫面顯示異常，保證了液晶顯示面板的顯示品質(zhì)。在陣列基板的制程過程中，由于柵極線211與測(cè)試墊之間設(shè)置有第一薄膜晶體管，柵極線所屬的GOA區(qū)就不會(huì)受到測(cè)試墊處產(chǎn)生的靜電影響，避免了GOA區(qū)由于靜電而產(chǎn)生的炸傷。

在本實(shí)施例中，優(yōu)選地，控制端26通過電引線與陣列基板上的驅(qū)動(dòng)電路中的第一電壓輸出端連接，這樣，在液晶面板正常工作時(shí)，由于第一電壓輸出端始終輸出第一電壓，從而能保證控制端26始終被施加第一電壓，從而保證了柵極線211與測(cè)試墊22的電隔絕，使得柵極線211可以正常工作。當(dāng)控制端26直接與陣列基板上的驅(qū)動(dòng)電路中的第一電壓輸出端連接時(shí)，就不需要外部引入第一電壓，而且可以選擇最靠近控制端26的第一電壓輸出端，從而減小了連接線的長(zhǎng)度，方便了線路的設(shè)計(jì)，節(jié)省了布線空間。

當(dāng)液晶顯示面板不能點(diǎn)亮?xí)r，就需要向控制端26引入第二電壓，在第二電壓的作用下，第一端24和第二端25處于導(dǎo)通狀態(tài)，使得柵極線211和測(cè)試墊22處于導(dǎo)通狀態(tài)，從而通過測(cè)試墊22檢測(cè)柵極線211輸出的信號(hào)。在本實(shí)施例中，由外部引入第二電壓，在引入第二電壓之前，斷開控制端26與第一電壓輸出端之間的電引線，優(yōu)選地，采用激光擊穿的方式斷開該電引線，以避免對(duì)周邊線路產(chǎn)生影響。然后，向控制端26引入外部第二電壓，在第二電壓的作用下，測(cè)試墊22與柵極線211導(dǎo)通，通過測(cè)試墊22檢測(cè)柵極線211輸出的信號(hào)。

當(dāng)本實(shí)施例中的第一薄膜晶體管為N型薄膜晶體管時(shí)，第一電壓為低電平信號(hào)，優(yōu)選地，低電平信號(hào)為-10V至-4V；當(dāng)?shù)谝槐∧ぞw管為P型薄膜晶體管時(shí)，第一電壓為高電平信號(hào)，優(yōu)選地，高電平信號(hào)為4V至10V。

實(shí)施例二：

圖3a為本發(fā)明實(shí)施例二提出的測(cè)試陣列基板的柵極線的線路示意圖，與實(shí)施例一不同的是，在本實(shí)施例中，第一開關(guān)單元20’還包括第二開關(guān)單元40，第一薄膜晶體管的柵極23通過第二開關(guān)單元40與控制端26相連。本實(shí)施例中的第二開關(guān)單元40包含第二薄膜晶體管，第二薄膜晶體管的第三端44與第一薄膜晶體管的柵極23連接，第二薄膜晶體管的第四端45與柵極43相連后共同與控制端26連接。這里的第三端44為第二薄膜晶體管的源極或漏極中的一端，第四端45為第二薄膜晶體管的源極或漏極中的另一端，即如果第三端44為源極，則第四端45為漏極，如果第三端44為漏極，則第四端45為源極。在這里，第二薄膜晶體管與第一薄膜晶體管是相同類型的薄膜晶體管，即第二薄膜晶體管和第一薄膜晶體管均為P型薄膜晶體管或均為N型薄膜晶體管。

當(dāng)向控制端26施加第一電壓時(shí)，第二薄膜晶體管的第三端44和第四端45截止，從而使得第一薄膜晶體管的柵極23與控制端26電隔絕，第一薄膜晶體管截止即第一端24與第二端25截止，柵極線211與測(cè)試墊22電隔絕。當(dāng)向控制端26施加第二電壓時(shí)，第二薄膜晶體管的第三端44和第四端45導(dǎo)通，從而使得第一薄膜晶體管的柵極23與控制端26電連接，第一薄膜晶體管導(dǎo)通即第一端24與第二端25導(dǎo)通，柵極線211與測(cè)試墊22電連接。

實(shí)施例三：

圖3b為本發(fā)明實(shí)施例三的測(cè)試陣列基板的柵極線的線路示意圖，與實(shí)施例二不同的是，在本實(shí)施例中，第二開關(guān)單元40’包含多個(gè)級(jí)聯(lián)的第二薄膜晶體管，圖3b中示意出了由兩個(gè)第二薄膜晶體管級(jí)聯(lián)而成的第二開關(guān)單元40’。

在圖3b中，第二開關(guān)單元40’中的每個(gè)第二薄膜晶體管的柵極和第四端連接并依次與相鄰的第二薄膜晶體管的漏極連接，其中，位于首端的第二薄膜晶體管的第三端44’與第一薄膜晶體管的柵極23連接，位于尾端的第二薄膜晶體管的柵極43”與第四端45”相連并與控制端26連接，這里的第三端44’為第二薄膜晶體管的源極或漏極中的一端，第四端45”為第二薄膜晶體管的源極或漏極中的另一端，即如果第三端44’為源極，則第四端45”為漏極，如果第三端44’為漏極，則第四端45’為源極。。

通過向控制端26施加電壓，控制第二開關(guān)單元40’的導(dǎo)通和截止，從而控制第一薄膜晶體管的導(dǎo)通和截止。當(dāng)向控制端26施加第一電壓時(shí)，第二開關(guān)單元40’截止，即第一薄膜晶體管的柵極23與控制端26電隔絕，從而使得第一薄膜晶體管截止即第一端24與第二端25截止，柵極線211與測(cè)試墊22電隔絕；當(dāng)向控制端26施加第二電壓時(shí)，第二開關(guān)單元40’導(dǎo)通，從而使得第一薄膜晶體管導(dǎo)通即第一端24與第二端25導(dǎo)通，柵極線211與測(cè)試墊22電連接。

圖3c中示意出了當(dāng)?shù)诙_關(guān)單元由3個(gè)第二薄膜晶體管級(jí)聯(lián)時(shí)的連接示意圖，圖3c更清楚地示意出第二開干單元中的第二薄膜晶體管的級(jí)聯(lián)關(guān)系。從圖3c中可以看出，每個(gè)第二薄膜晶體管的柵極和第四端連接并依次與相鄰的第二薄膜晶體管的第三端連接，其中，位于首端的第二薄膜晶體管的第三端44’與第一薄膜晶體管的柵極23連接，位于尾端的第二薄膜晶體管的柵極43”與第四端45”相連并與控制端26連接。

通過向控制端26施加電壓，控制第二開關(guān)單元的導(dǎo)通和截止，從而控制第一薄膜晶體管的第一端24和第二端25導(dǎo)通和截止，達(dá)到控制柵極線211與測(cè)試墊22的電隔絕和電連接。

實(shí)施例四：

圖4為實(shí)施例一中第一薄膜晶體管處的布線結(jié)構(gòu)示意圖，柵極線211和測(cè)試墊22分別與第一薄膜晶體管的源極和漏極電連接，控制端26通過電引線70與第一電壓輸出端80連接。

圖5顯示了提供外置第二電壓的示意圖，當(dāng)液晶顯示面板無法點(diǎn)亮?xí)r，需要通過測(cè)試墊量測(cè)柵極線的輸出波形，由于控制端26與第一電壓輸出端80之間通過電引線70連接，因此，在引入外置第二電壓之前，需要切斷控制端26與第一電壓輸出端之間的電引線70。優(yōu)選地，采用激光擊穿的方式斷開電引線70，以避免對(duì)周邊線路產(chǎn)生影響。然后，向控制端26引入外部第二電壓60，在第二電壓60的作用下，測(cè)試墊22與柵極線211導(dǎo)通，通過測(cè)試墊22檢測(cè)柵極線211輸出的信號(hào)，從而找出液晶顯示面板無法點(diǎn)亮的原因，避免同樣的問題再次發(fā)生，方便了后續(xù)提高產(chǎn)品的品質(zhì)。

最后說明的是，以上實(shí)施例僅用于說明本發(fā)明的技術(shù)方案而非限制，盡管參照較佳實(shí)施例對(duì)本發(fā)明進(jìn)行了詳細(xì)說明，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解，可以對(duì)本發(fā)明的技術(shù)方案進(jìn)行修改或者等同替換，而不脫離本發(fā)明技術(shù)方案的宗旨和范圍，其均應(yīng)涵蓋在本發(fā)明的權(quán)利要求范圍當(dāng)中。