本發(fā)明涉及一種偏光板以及用于檢驗片狀產品的系統和方法。

背景技術：

偏光板被廣泛地用在諸如液晶顯示器(lcd)設備、電致發(fā)光(el)顯示設備、等離子顯示屏(pdp)和場發(fā)射顯示器(fed)設備的光學顯示設備中。例如，在形成液晶顯示器設備的液晶面板的過程中，偏光板可被粘附至液晶盒的各個表面。為了使偏光板粘附至液晶盒，使用包含丙烯酸類組合物和/或其他合適的組合物的粘合劑。對于此類粘附，粘合劑層通常形成在偏光板的一個表面上。粘合劑層覆蓋有離型膜(sp)以防止粘合劑層由于暴露而被污染，直到粘合劑層真正地粘附至液晶盒。此外，用于防止劃痕或污染的偏光板保護膜(pf)通過粘合劑粘附至偏光板的另一表面。

在液晶顯示器設備的制造過程中，在完成各種檢驗后已被運送的偏光板的離型膜最終從偏光板上剝離以使偏光板粘附至液晶盒。

然而，在按順序檢驗字符標記和缺陷標記的過程中，如果字符標記和缺陷標記相互重疊，則不可以識別出存在或不存在缺陷標記。即，當缺陷標記位于字符標記的預定區(qū)域中時，不能夠識別出存在或不存在缺陷標記。因此，當片狀產品包括缺陷標記時仍會被排出。

韓國專利公開第10-2004-0055593號(2004年6月26日公開)公開了一種用于檢驗粘附有防護膜的偏光板上的缺陷的方法，然而，該申請并未提出用以解決上述問題的替代觀點。

技術實現要素：

本發(fā)明的目的在于提供一種偏光板以及用于檢驗片狀產品的系統和方法，無論存在或不存在字符標記，該系統和方法都能夠識別缺陷標記，并且在其實施方式中通過識別缺陷標記的存在或不存在以及缺陷標記的位置來防止缺陷產品盡管存在缺陷卻仍被作為良好產品而排出。

然而，本發(fā)明待要解決的技術問題并不限于上述的問題，從下面的詳細描述，相關領域技術人員應清楚地理解到本發(fā)明的上文未描述的其他的問題以及特征。

為了實現上述的目的，根據本發(fā)明的一個方面，提供了一種偏光板，其包括：偏光器；和粘附至偏光器的至少一側的偏光器保護層，其中，第一識別標記和第二識別標記形成在偏光板的至少一側上，第二識別標記圍繞第一識別標記的中心位置形成，以便具有在預定的比較標準方向上的第一寬度，第一識別標記辨認區(qū)被設置成識別第一識別標記，第一識別標記辨認區(qū)具有在該比較標準方向上的第二寬度，第二寬度比第一寬度窄。

離型膜可被粘附至偏光器保護層的一個表面。

當離型膜被粘附至偏光器保護層的一個表面時，第一識別標記和第二識別標記形成在離型膜上。

第一識別標記為字符標記，且第二識別標記為用于顯示在偏光器或偏光器保護層中出現的缺陷的位置的缺陷標記。

第二識別標記為由連續(xù)的線形成的多邊形或者圓。

第二識別標記為由兩個或更多個分離的線或點形成的圖形。

第二識別標記關于在偏光器或偏光器保護層中出現的缺陷的中心對稱地形成。

第二識別標記被定位成包括在偏光器或偏光器保護層中出現的缺陷的至少一部分。

比較標準方向為偏光板的橫向方向或者偏光板的縱向方向。

第一寬度形成在具有1.2cm寬度的區(qū)域中。

第二寬度形成在具有0.9cm寬度的區(qū)域中。

根據本發(fā)明的另一方面，提供了一種片狀產品的檢驗系統，其包括：被配置成從片狀產品的一側獲取片狀產品的圖像的成像設備；以及，被配置成分析由成像設備獲取的圖像來識別存在或不存在位于第一識別標記辨認區(qū)中的第一識別標記和第二識別標記的檢驗單元，其中，該檢驗單元基于在第一識別標記辨認區(qū)中辨認的標記在預定的比較標準方向上的寬度來確定存在或不存在第一識別標記和第二識別標記。

第一識別標記為字符標記，且第二識別標記為用于顯示在偏光器或偏光器保護層中出現的缺陷的位置的缺陷標記。

檢驗系統還可包括光源，其被配置成從片狀產品的另一側用光線照射片狀產品。

光源可照射光線以使光線穿過片狀產品指向成像設備。

當第二識別標記存在于第一識別標記辨認區(qū)中時，檢驗單元識別第二識別標記的位置。

預定的比較標準方向為與片狀產品移動的方向平行或垂直的方向。

當在第一識別標記辨認區(qū)中的第一識別標記或第二識別標記在預定的比較標準方向上的最大寬度為第一寬度時，辨認出片狀產品包括第二識別標記；以及當在第一識別標記辨認區(qū)中的第一識別標記或第二識別標記在預定的比較標準方向上的最大寬度為第二寬度時，辨認出片狀產品包括第一識別標記。

第二寬度比第一寬度窄。

第一寬度形成在具有1.2cm寬度的區(qū)域中。

第二寬度形成在具有0.9cm寬度的區(qū)域中。

另外，根據本發(fā)明的另一方面，提供一種包括偏光器和偏光器保護層的片狀產品的檢驗方法，其包括：從片狀產品的一側獲取片狀產品的圖像；以及，分析該圖像以識別存在或不存在位于第一識別標記辨認區(qū)中的第一識別標記和第二識別標記，其中，基于在第一識別標記辨認區(qū)中辨認的標記在預定的比較標準方向上的寬度來識別存在或不存在第一識別標記和第二識別標記。

第一識別標記為字符標記，且第二識別標記為用于顯示在偏光器或偏光器保護層出現的缺陷的位置的缺陷標記。

光源可設置在片狀產品的另一側上。

光源可照射光線以使光線穿過片狀產品指向該片狀產品的一側。

當第二識別標記存在于第一識別標記辨認區(qū)中時，識別第二識別標記的位置。

預定的比較標準方向為與片狀產品移動的方向平行或垂直的方向。

當在第一識別標記辨認區(qū)中的第一識別標記或第二識別標記在預定的比較標準方向上的最大寬度為第一寬度時，辨認出片狀產品包括第二識別標記；以及，當在第一識別標記辨認區(qū)中的第一識別標記或第二識別標記在預定的比較標準方向上的最大寬度為第二寬度時，辨認出片狀產品包括第一識別標記。

第二寬度比第一寬度窄。

第一寬度形成在具有1.2cm寬度的區(qū)域中。

第二寬度形成在具有0.9cm寬度的區(qū)域中。

根據本發(fā)明的實施方式的偏光板以及用于檢驗片狀產品的系統和方法，無論存在或不存在字符標記，該系統和方法都能夠識別缺陷標記并且通過識別存在或不存在缺陷標記以及缺陷標記的位置來防止缺陷產品盡管存在缺陷卻仍被作為良好產品而排出。

附圖說明

結合附圖，從下面的詳細描述將更清楚地理解本發(fā)明的上述和其他目的、特征和其他優(yōu)點，其中：

圖1a至圖1g為示出根據本發(fā)明的實施方式的偏光板的各種配置的視圖；

圖2為示出根據本發(fā)明的實施方式的字符標記和缺陷標記顯示在片狀產品的一部分上的狀態(tài)的視圖；

圖3a至圖3h為示出根據本發(fā)明的實施方式的缺陷標記的各種形狀和位置的視圖；和

圖4為示出根據本發(fā)明的實施方式的片狀產品的檢驗系統。

具體實施方式

在下文中，將結合附圖描述本發(fā)明的具體的實施方式。但是，這些實施方式僅僅是示例，本發(fā)明不限于此。

在本發(fā)明的描述中，被判斷為能夠使本發(fā)明的主旨不必要地模糊的公知的功能和配置將不進行詳細地描述。另外，在說明書和權利要求書中使用的術語或詞語不應被認為局限于詞匯意義，而應被理解成基于發(fā)明人能夠定義該術語以最佳的方式描述他/她的發(fā)明以被其他人理解的合適的概念。

然而，本領域技術人員將理解到此類實施方式出于說明的目的而被提供且并不限制如在詳細的描述和所附的權利要求書中所公開的待被保護的主題。因此，對于本領域技術人員顯而易見的是，實施方式的各種改變和修改可以在本發(fā)明的范圍和精神內且充分地包括在如由所附的權利要求所限定的范圍內。

圖1a至圖1g為說明根據本發(fā)明的實施方式的偏光板100的各個配置的視圖。

參照圖1a至圖1g，偏光板100可包括偏光器110、偏光器保護層120和130、離型膜140和偏光板保護膜150。偏光器110為用于將自然光或任何偏振光轉換成線偏振光的光學設備，且可以是這樣的偏光器：其中，諸如基于碘的化合物的二色性染料被吸附和定向在聚乙烯醇(pva)薄膜中。形成偏光器110的透明基膜的類型沒有特別的限制，只要它們可以被諸如碘的二色性偏光材料染色即可。

偏光器保護層120和130可被粘附在偏光器110的至少一側上。如在圖1a中所示，偏光板100可包括形成在偏光器110的兩個表面上的偏光器保護層120和130。偏光器保護層120和130可通過涂敷至偏光器110的表面的粘合劑而被層壓在偏光器110上。然而，將偏光器保護層120和130粘附至偏光器110的方法不限于此。

此外，離型膜(sp)140可形成在偏光器保護層120的一個表面上，并且偏光板保護膜(pf)150可形成在偏光器保護層130的另一表面上。在此，一側可為偏光器保護層120粘附至偏光器110的上表面的那一側，即圖中的上側，并且另一側可為偏光器保護層130粘附至偏光器110的下表面的那一側，即圖中的下側。然而，本發(fā)明不限于此，離型膜140可被粘附至偏光器保護層130的表面，該偏光器保護層130被粘附至偏光器110的下表面，且偏光板保護膜150可被粘附至偏光器保護層120的表面，該偏光器保護層120被粘附至偏光器110的上表面。因此，如在圖1a中所示，離型膜140可通過粘合劑被粘附至偏光器保護層120的上表面，且偏光板保護膜150可被粘附至偏光器保護層130的下表面。用于將離型膜140和偏光板保護膜150粘附至偏光板100的兩個表面的粘合劑可以彼此不同。

另外，如在圖1b至圖1g中所示，偏光板100可以各種配置形成。如在圖1b中所示，偏光板100可以這樣的方式進行配置：偏光器保護層120粘附至偏光器110的僅一側，或者如在圖1c中所示，偏光器保護層120和130被粘附至偏光器110的兩側。另外，如在圖1d和圖1e中所示，離型膜140或偏光板保護膜150可被粘附至偏光器保護層120的表面，該偏光器保護層120被粘附至偏光器110的上表面。圖1f和圖1g示出這樣的配置的示例：其中偏光器保護層120和130被粘附至偏光器110的兩側，并且離型膜140或偏光板保護膜150被粘附至偏光器保護層120的表面，該偏光器保護層120被粘附至偏光器110的上表面。

盡管未在圖1a至圖1g中示出，但是離型膜140或偏光板保護膜150可被粘附至偏光器保護層130的表面，該偏光器保護層130被粘附至偏光器110的下表面，而且，離型膜140和偏光板保護膜150可被粘附至偏光器110的兩側。

包括上述偏光板100的片狀產品210(參見圖2)可在傳送機構(例如傳送帶)上被逐一傳送。特別地，如果離型膜140和偏光板保護膜150分別被粘附至偏光板100的兩個表面，則在最終轉移包括這種偏光板100的片狀產品210之前，在圖4中示出的片狀產品的檢驗系統200(“片狀產品檢驗系統200”)允許該片狀產品被定位在預定的檢驗位置處。

圖2為示出根據本發(fā)明的實施方式的字符標記310和缺陷標記320顯示在片狀產品210的一部分上的狀態(tài)的視圖。片狀產品210可為偏光板100。當片狀產品210為偏光板100時，偏光器保護層120和130可被粘附至偏光器110的至少一側，或者離型膜140可被粘附至偏光板100的上表面且偏光板保護膜150可被粘附至偏光板100的下表面。然而，片狀產品210不限于此，其可為包括粘附至偏光器110的至少一側的偏光器保護層120和130的偏光板100。

缺陷標記320可形成在偏光器保護層120或者130的表面上，或者可形成在粘附至偏光器保護層120或者130的層的外表面的一側上，即形成在離型膜140或者偏光板保護膜150上，以便顯示在偏光器110或者偏光器保護層120或者130中出現的缺陷的位置。另外，缺陷標記320可顯示形成在離型膜140或者偏光板保護膜150上的缺陷。缺陷標記320可為以連續(xù)的線形成的多邊形或者圓，在該連續(xù)的線中連續(xù)地形成小點，且可以是通過兩個或更多個分離的線或點形成的圖形。下面將描述各種形狀的缺陷標記320。

字符標記310可形成在離型膜140或者偏光板保護膜150上。字符標記310可顯示在片狀產品210的預定的位置(例如，除了中心部分、沿著寬度方向的中心線和沿著縱向方向的中心線外的周邊區(qū)域)上。然而，字符標記310的位置不限于此，字符標記310可顯示在片狀產品210的任何位置上。字符標記辨認區(qū)300為用于識別在預定的位置處顯示的字符標記310的區(qū)域。然而，為了容易地描述根據本發(fā)明的實施方式的缺陷標記320、字符標記310和字符標記辨認區(qū)300，缺陷標記320的形狀和位置將在如下描述的具體情況下限定。

在圖2中，將描述這樣的情況：認為字符標記辨認區(qū)300形成在片狀產品210的右下角處并且缺陷(在圖3a至圖3h中所示的325)位于字符標記辨認區(qū)300中。

位于上側上的缺陷標記320和位于下側上的缺陷標記320可具有在預定的比較標準方向上的第一寬度w1。字符標記辨認區(qū)300可基于字符標記310的中心線c以對稱的結構形成。即，字符標記辨認區(qū)300可具有在比較標準方向上的第二寬度w2。在文中，比較標準方向可與布置字符標記310的方向垂直和/或與缺陷標記320布置在片狀產品210上的方向垂直。根據布置字符標記310和/或缺陷標記320的方向是片狀產品210的橫向方向還是縱向方向，即平行于片狀產品210還是垂直于片狀產品210，可以確定比較標準方向。在圖2中，x-軸方向可為片狀產品210的橫向方向，y-軸方向可為片狀產品210的縱向方向，且比較標準方向在x-軸方向中設置成平行于片狀產品210。第二寬度w2可比第一寬度w1窄。當第二寬度w2比第一寬度w1寬時，缺陷標記320和字符標記310可定位成彼此重疊。文中，“重疊”指缺陷標記320位于字符標記辨認區(qū)300中。因此，由于檢驗單元260(參見圖4)被配置成關于字符標記辨認區(qū)300僅識別字符標記310，因此當缺陷標記320位于字符標記辨認區(qū)300中時，不可以確定存在或者不存在缺陷標記320。由此，即使片狀產品210具有缺陷，但當未辨認出存在缺陷標記320時產品仍可被排出。文中，“排出”指缺陷產品盡管存在缺陷卻仍被作為良好產品而被運送和分配。

因此，根據本發(fā)明的實施方式，字符標記辨認區(qū)300的第二寬度w2被調整為比第一寬度w1窄，使得即使缺陷存在于字符標記辨認區(qū)300中，但缺陷標記320的至少一部分仍位于字符標記辨認區(qū)300的外側處。因此，即使當缺陷存在于字符標記辨認區(qū)300中時，也可以識別存在或者不存在缺陷標記320以及缺陷標記320的位置，以便防止包括位于字符標記辨認區(qū)300中的缺陷的產品在未識別出缺陷標記320時被排出。具體地，在圖4中示出的檢驗單元260可從片狀產品210的圖像中識別字符標記辨認區(qū)300中的字符標記310的位置和形狀，然后識別存在或者不存在缺陷標記320以及缺陷標記320的位置。例如，第一寬度w1可形成在關于缺陷的具有1.2cm寬度的區(qū)域中，第二寬度w2可形成在關于缺陷的具有0.9cm寬度的區(qū)域中。然而，第一寬度w1和第二寬度w2并不特別地限于特定的寬度。

圖3a至圖3h為示出根據本發(fā)明的實施方式的缺陷325和缺陷標記320的各種形狀和位置的視圖。

在圖3a至圖3h中，缺陷325的形狀不是實際的形狀，而是為了便于說明以虛擬的形狀示出。

參照圖3a至圖3h，缺陷標記320可以以圓形的形狀、三角形的形狀、矩形的形狀、五邊形的形狀以及六邊形的形狀形成。如在圖3a至圖3f中所示，缺陷標記320可關于缺陷325對稱地形成。另外，如在圖3a、圖3c、圖3e和圖3g中所示，缺陷標記320可以以由連續(xù)的線形成的多邊形或圓形的形狀形成，并且如在圖3b、圖3d、圖3f和圖3h中所示，缺陷標記320可為由兩個或更多個分離的線或點形成的圖形。而且，如在圖3g和圖3h中所示，缺陷標記320可被定位成包括缺陷325的至少一部分。因此，缺陷標記320可關于缺陷325在不同的位置處定位。

圖4為根據本發(fā)明的實施方式的片狀產品檢驗系統200。

參照圖4，片狀產品檢驗系統200可包括成像設備250，其從片狀產品210的一側(在圖4中片狀產品210的上側)獲取待被檢驗的片狀產品210和膜220的圖像；以及檢驗單元260，其分析由成像設備250所獲取的圖像，以識別存在或者不存在字符標記310和缺陷標記320，字符標記310和缺陷標記320位于圖2中所示的字符標記辨認區(qū)300中。在此，可以使用成像設備250以及由該成像設備250獲取的圖像來確定片狀產品210上存在或者不存在缺陷標記320。另外，片狀產品檢驗系統200還可包括用于傳送和放置如圖4中所示的片狀產品210的傳送機構(未示出)。片狀產品210可為如圖1a至圖1g所示的包括粘附至偏光器11的至少一側的偏光器保護層120和130的偏光板100。作為不具有缺陷的偏光板100的良好產品，膜220可包括粘附至偏光器保護層120或者130的表面的離型膜140或者偏光板保護膜150，但是優(yōu)選的是該膜不與離型膜140或者偏光板保護膜150接觸。

成像設備250可獲取圖像。因此，片狀產品檢驗系統200可通過成像設備250獲取片狀產品210和膜220的圖像。例如，片狀產品檢驗系統200的控制單元允許成像設備250通過對片狀產品210和膜220成像來獲取片狀產品210和膜220的圖像。因此，控制單元可提供適于接收用戶輸入的用戶界面，以用于控制成像設備250，諸如調整成像設備250的成像時間和/或成像角度。成像設備250的類型沒有特別的限制，只要如果存在穿過片狀產品210和膜220的入射到成像設備250的光線，它們能夠接收該光線以獲取片狀產品210和膜220的圖像即可。例如，成像設備250可包括照相機、光學傳感器等。

檢驗單元260可基于圖2中所示的在字符標記辨認區(qū)300中辨認出的標記在預定的比較標準方向上的寬度來確定存在或者不存在缺陷。在此，預定的比較標準方向可為與片狀產品210移動的方向平行或者垂直的方向。

片狀產品檢驗系統200還可包括光源240，其從片狀產品210的另一側用光線245來照射片狀產品210。光源240可照射光線245以使光線穿過片狀產品210指向成像設備250。因此，為了通過成像設備250獲取圖像，片狀產品檢驗系統200使用光源240，此外片狀產品檢驗系統200可包括控制單元(未示出)。該控制單元允許光源240提供光線245。如在圖4中所示，光源240從膜220的另一側(圖4中片狀產品210的下側)用光線照射膜220的狀態(tài)，但是不限于此。例如，光源240可設置在成像設備250的縱向方向上。可替選地，光源240可從膜220的一側用光線照射膜220(圖4中片狀產品210的上側)。

同時，當片狀產品210通過各種制造過程時，各種類型的缺陷標記320可顯示在片狀產品210上。因此，片狀產品檢驗系統200還可包括用于分選缺陷標記320的另一成像設備280，以及用于照射光線275的另一光源270。在這方面，光源270的類型、成像設備280的布置、光源270的光線照射角度以及成像設備280的成像角度并沒有特殊的限制，只要它們能夠合適地用光線照射片狀產品210以及通過成像來獲取片狀產品210的圖像即可。另外，當缺陷標記320存在于圖2中所示的字符標記辨認區(qū)300中時，檢驗單元260可識別缺陷標記320的位置。

當字符標記辨認區(qū)300中的字符標記310或者缺陷標記320在預定的比較標準方向上的最大寬度為第一寬度w1時，可辨認出片狀產品210包括缺陷標記320；并且當字符標記辨認區(qū)300中的字符標記310或者缺陷標記320在預定的比較標準方向上的最大寬度為第二寬度w2時，可辨認出片狀產品210包括字符標記310。第二寬度w2可比第一寬度w1窄。例如，第一寬度w1可形成在關于缺陷的具有1.2cm寬度的區(qū)域中，并且第二寬度w2可形成在關于缺陷的具有0.9cm寬度的區(qū)域中。然而，第一寬度w1和第二寬度w2并不特別地限于特定的寬度。

根據本發(fā)明的另一實施方式，提供一種片狀產品的檢驗方法，其包括：從片狀產品210的一側獲取片狀產品210的圖像；以及，分析該圖像以識別存在或者不存在位于字符標記辨認區(qū)300中的字符標記310和缺陷標記320，其中，基于在字符標記辨認區(qū)300中辨認的標記在預定的比較標準方向上的寬度識別存在或者不存在字符標記310和缺陷標記320。

盡管已經詳細地描述本發(fā)明的代表性的實施方式，但是具有本發(fā)明所屬技術領域的公知常識的人員將理解到在不偏離本發(fā)明的范圍的情況下本發(fā)明可進行各種修改和變型。因此，本發(fā)明的范圍不應限于上述的實施方式，而是由所附的權利要求以及其等效內容來限定。

[附圖標記說明]

100：偏光板

110：偏光器

120、130：偏光器保護層

140：離型膜

150：偏光板保護膜

200：片狀產品檢驗系統

210：片狀產品

220：膜

240、270：光源

245、275：光線

250、280：成像設備

260：檢驗單元

300：字符標記辨認區(qū)

310：字符標記

320：缺陷標記

325：缺陷

c：字符標記的中心線