本發(fā)明涉及一種電子連接器件的套筒,具體涉及一種光通訊連接用陶瓷套筒。
背景技術(shù):
目前光通訊連接常用陶瓷套筒為圓形內(nèi)孔陶瓷套筒,如附圖5c所示,該陶瓷套筒為在內(nèi)孔為圓形的基礎(chǔ)上對內(nèi)孔進行研磨,然后在套筒壁的長度方向開一條槽所得。該圓形內(nèi)孔陶瓷套筒具有以下缺陷:(1)、在圓形的套筒上開槽后,套筒會發(fā)生部分形變,內(nèi)孔相對縮小,拔插力接觸時實際只是點接觸(大約三個接觸點,此時形變后內(nèi)孔非正圓形),從而導(dǎo)致拔插力集中性差;(2)、內(nèi)徑研磨后孔徑有微量偏差,導(dǎo)致插損偏大(插損>0.16db);(3)、多次拔插后易粘附臟污等在孔內(nèi)壁容易影響磨擦力情況,導(dǎo)致拔插力數(shù)值偏大,污染會增大插芯對接偏差導(dǎo)致插損數(shù)值偏高。
技術(shù)實現(xiàn)要素:
本發(fā)明的目的在于克服現(xiàn)有技術(shù)存在的不足之處而提供一種光通訊連接用陶瓷套筒。
為實現(xiàn)上述目的,本發(fā)明采取的技術(shù)方案為:一種光通訊連接用陶瓷套筒,所述套筒為圓柱形中空管狀結(jié)構(gòu),所述套筒的內(nèi)壁周向上設(shè)有凹槽,所述凹槽沿套筒的長度方向從套筒的一端延伸至套筒的另一端,所述凹槽至少有一個。
本發(fā)明所述光通訊連接用陶瓷套筒具有以下優(yōu)勢:(1)、在內(nèi)壁設(shè)置多個凹槽,可以使套筒內(nèi)壁與光纖的所有的接觸點形成在同一圓周上,夾持力更集中,拔插力集中性范圍縮小;(2)、套筒內(nèi)壁的多個凹槽的設(shè)置,可以在進行內(nèi)孔研磨時,確保研磨液充裕帶入,使內(nèi)孔研磨更加均勻,尺寸集中,從而縮小插損;(3)、套筒內(nèi)壁的多個凹槽的設(shè)置,可以使套筒經(jīng)多次插拔后產(chǎn)生臟污(粉塵,油垢等)會掉落到凹槽中,從而減少插損。
本發(fā)明所述凹槽的設(shè)置能達到減小插損的效果,凹槽的具體形狀和數(shù)量可以根據(jù)用戶的需要和實際情況確定。
作為本發(fā)明所述光通訊連接用陶瓷套筒的優(yōu)選實施方式,所述套筒的管壁設(shè)有一道通縫。
作為本發(fā)明所述光通訊連接用陶瓷套筒的優(yōu)選實施方式,所述套筒的毛坯的內(nèi)孔橫截面為多邊形。
在套筒的內(nèi)孔進行研磨時,現(xiàn)有套筒的研磨對套筒內(nèi)孔進行整圓研磨,現(xiàn)只需磨多邊內(nèi)孔各邊,使用內(nèi)孔橫截面的多邊形結(jié)構(gòu)的毛坯,可以使套筒內(nèi)孔的磨削量減少,可以提高研磨效率。多邊形可以為普通的多邊形,也可以為正多邊形,優(yōu)選為正多邊形。
作為本發(fā)明所述光通訊連接用陶瓷套筒的優(yōu)選實施方式,所述凹槽的橫截面為弧形、v型、u型和多邊形中的至少一種。
作為本發(fā)明所述光通訊連接用陶瓷套筒的優(yōu)選實施方式,所述凹槽至少有3個。
作為本發(fā)明所述光通訊連接用陶瓷套筒的優(yōu)選實施方式,所述凹槽至少有6個。
作為本發(fā)明所述光通訊連接用陶瓷套筒的優(yōu)選實施方式,所述凹槽至少有8個。
當(dāng)凹槽數(shù)為至少8個時,套筒的生產(chǎn)效率較高,且使用效果較好。
作為本發(fā)明所述光通訊連接用陶瓷套筒的優(yōu)選實施方式,所述凹槽均勻設(shè)于套筒的圓周上。凹槽的均勻設(shè)置可以使套筒內(nèi)壁受力更加均勻,從而減少插損。
作為本發(fā)明所述光通訊連接用陶瓷套筒的優(yōu)選實施方式,所述套筒的材料為氧化鋯、氧化鋁、氧化硅、氮化硅和碳化硅中的至少一種。
作為本發(fā)明所述光通訊連接用陶瓷套筒的優(yōu)選實施方式,所述凹槽的開口尺寸為0.1~2mm,所述凹槽的深度為0.01~0.2mm。
凹槽的開口尺寸過小或者深度過小時,對加工精度的要求高,加工的難度大,且不利于研磨液的充裕帶入;凹槽的開口尺寸過大,會導(dǎo)致套筒與插芯的結(jié)合力不夠,導(dǎo)致光傳輸損耗;凹槽的開口深度過大,套筒在該處壁厚過小,導(dǎo)致套筒易發(fā)生斷裂。因此只有當(dāng)凹槽的開口尺寸和凹槽的深度為上述范圍時,才能更加有效地減少插損。
本發(fā)明的另一目的在于提供一種上述光通訊連接用陶瓷套筒的制備方法,所述光通訊連接用陶瓷套筒的制備方法包括以下步驟:
(1)凹槽加工:在套筒毛坯的內(nèi)壁上形成至少一個凹槽;
(2)成品加工:將步驟(1)所得具有凹槽的套筒進行內(nèi)徑加工、外徑加工、長度加工、開槽加工后得到所述套筒。
作為本發(fā)明所述光通訊連接用陶瓷套筒的制備方法的優(yōu)選實施方式,步驟(1)之前還包括步驟(1a):毛坯的制備。
本發(fā)明的有益效果在于:本發(fā)明提供了一種光通訊連接用陶瓷套筒,本發(fā)明所述光通訊連接用陶瓷套筒在內(nèi)壁設(shè)置多個凹槽,可以使套筒內(nèi)壁與光纖的所有的接觸點形成在同一圓周上,夾持力更集中,拔插力集中性范圍縮?。惶淄矁?nèi)壁的多個凹槽的設(shè)置,可以在進行內(nèi)孔研磨時,確保研磨液充裕帶入,使內(nèi)孔研磨更加均勻,尺寸集中,從而縮小插損;套筒內(nèi)壁的多個凹槽的設(shè)置,可以使套筒經(jīng)多次插拔后產(chǎn)生臟污(粉塵,油垢等)會掉落到凹槽中,從而能有效減少插損。
附圖說明
圖1為實施例1所述光通訊連接用陶瓷套筒的內(nèi)徑研磨流程圖;其中圖1a為毛坯橫截面的結(jié)構(gòu)示意圖;圖1b為內(nèi)孔研磨后橫截面的結(jié)構(gòu)示意圖;圖1c為成品的橫截面的結(jié)構(gòu)示意圖;100為凹槽的示意圖;
圖2為實施例1所述光通訊連接用陶瓷套筒的設(shè)計思路圖;
圖3為實施例2所述光通訊連接用陶瓷套筒的橫截面的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖4為實施例3所述光通訊連接用陶瓷套筒的橫截面的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖5為對比例所述圓形內(nèi)孔陶瓷套筒的內(nèi)徑研磨流程圖;其中圖5a為毛坯橫截面的結(jié)構(gòu)示意圖;圖5b為內(nèi)孔研磨后橫截面的結(jié)構(gòu)示意圖;圖5c為成品橫截面的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實施方式
為更好的說明本發(fā)明的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點,下面將結(jié)合具體實施例和附圖對本發(fā)明作進一步說明。
實施例1
本發(fā)明所述光通訊連接用陶瓷套筒的一種實施例的內(nèi)徑研磨流程圖,如附圖1所示,其中,圖1a為毛坯內(nèi)孔橫截面的結(jié)構(gòu)示意圖;圖1b為內(nèi)徑研磨后橫截面的結(jié)構(gòu)示意圖;圖1c為成品的內(nèi)孔橫截面的結(jié)構(gòu)示意圖;
本實施例所述光通訊連接用陶瓷套筒為圓柱形中空管狀結(jié)構(gòu),套筒毛坯的內(nèi)孔橫截面的形狀為近似正八邊形(圖1a),近似正八邊形表示套筒毛坯的內(nèi)孔橫截面為每個角均倒圓角的正八邊形,近似正八邊形的內(nèi)切圓的直徑為
本實施例所述光通訊連接用陶瓷套筒的設(shè)計思路如附圖2所示。具體地,本實施例所述光通訊連接用陶瓷套筒的設(shè)計思路為:
(1)、選用內(nèi)孔橫切面為近似正八邊形的毛坯(圖2a);
(2)、對近似正八邊形的毛坯進行加工,即形成凹槽100,凹槽100沿套筒的長度方向從套筒的一端延伸至套筒的另一端(圖2b、2c);
(3)、套筒的內(nèi)孔橫切面為近似正八邊形的各邊進行內(nèi)徑加工,然后進行外徑加工、長度加工、開槽加工后,即得本實施例所述光通訊連接用陶瓷套筒(圖2d、2e)。
本發(fā)明所述光通訊連接用陶瓷套筒的制備方法不局限于本實施例的設(shè)計思路,還可以根據(jù)實際情況對不同凹槽的結(jié)構(gòu)和凹槽數(shù)目采用不同的方法進行加工以獲得。
實際上使用時,光纖與套筒接觸的部位為原毛坯內(nèi)孔為近似正八邊形的邊的位置,此處的直徑為
實施例2
本發(fā)明所述光通訊連接用陶瓷套筒的一種實施例,如圖3所示,本實施例所述套筒的凹槽數(shù)為6,套筒毛坯的內(nèi)孔橫截面的形狀為近似正六邊形,近似正六邊形表示套筒毛坯的內(nèi)孔橫截面為每個角均倒圓角的正六邊形,凹槽沿套筒的長度方向從套筒的一端延伸至套筒的另一端,設(shè)計思路與實施例1相同。
實施例3
本發(fā)明所述光通訊連接用陶瓷套筒的一種實施例,如圖4所示,本實施例所述套筒的凹槽數(shù)為10,套筒毛坯的內(nèi)孔橫截面的形狀為近似正十邊形,近似正十邊形表示套筒毛坯的內(nèi)孔橫截面為每個角均倒圓角的正十邊形,凹槽沿套筒的長度方向從套筒的一端延伸至套筒的另一端,設(shè)計思路與實施例1相同。
對比例
本發(fā)明所述套筒的一種對比例的內(nèi)徑研磨流程圖如附圖5所示,其中圖5a為毛坯內(nèi)孔橫截面的結(jié)構(gòu)示意圖;圖5b為內(nèi)孔研磨后橫截面的結(jié)構(gòu)示意圖;圖5c為成品的內(nèi)孔橫截面的結(jié)構(gòu)示意圖。
本對比例所述圓形內(nèi)孔陶瓷套筒為圓柱形中空管狀結(jié)構(gòu),毛坯的內(nèi)孔橫截面的形狀為圓形(圖5a),圓形內(nèi)孔的直徑為
實施例4
將實施例1~3所述光通訊連接用陶瓷套筒與對比例所述圓形內(nèi)孔陶瓷套筒進行套筒性能測試插損情況,具體測試方法為:通過插回損測試儀和插拔力測試儀,每個測試組分別隨機選取15個陶瓷套筒,測試每個成型的陶瓷套筒的一次插損,并統(tǒng)計1000次插拔后套筒插損的最高臨界點和插拔力集中性范圍,其中a端和b端分別表示陶瓷套筒的兩端。插損的具體實驗測試結(jié)果見表1,具體實驗分析結(jié)果見表2。
表1實施例1~3所述光通訊連接用陶瓷套筒與對比例所述圓形內(nèi)孔陶瓷套筒的插損測試結(jié)果
表2實施例1~3所述光通訊連接用陶瓷套筒與對比例所述圓形內(nèi)孔陶瓷套筒的插損統(tǒng)計結(jié)果
從表1和表2可以看出,實施例1~3所述光通訊連接用陶瓷套筒的內(nèi)孔插損集中在0.03-0.06db,而對比例所述圓形內(nèi)孔陶瓷套筒的內(nèi)孔插損在0.03-0.09db,實施例1~3所述光通訊連接用陶瓷套筒的內(nèi)孔插損更小且更集中。出現(xiàn)這樣的結(jié)果是因為本發(fā)明所述套筒的內(nèi)壁與光纖的接觸點增多,且均在圓周上,可以使套筒的夾持力更集中,這樣能使1000次插拔后套筒的插拔力集中性范圍從原4n縮小至2n范圍內(nèi)。
對實施例1~3所述光通訊連接用陶瓷套筒和對比例所述圓形內(nèi)孔陶瓷套筒的內(nèi)孔進行研磨時,由于實施例1~3所述光通訊連接用陶瓷套筒具有多個凹槽,確保研磨液充裕帶入,使內(nèi)孔研磨更加均勻,尺寸集中性更好,可以有效縮小插損;同時,在使用時,實施例1~3所述光通訊連接用陶瓷套筒經(jīng)多次插拔后產(chǎn)生臟污(粉塵,油垢等)會掉落到凹槽中,使得實施例1~3所述光通訊連接用陶瓷套筒的1000次插損≤0.12db,而對比例所述圓形內(nèi)孔陶瓷套筒的1000次插損≤0.16db,大大地縮小插損。
另外,對比例所述套筒在對套筒內(nèi)孔進行研磨時需要整圓研磨,采用實施例1~3的設(shè)計思路對套筒內(nèi)孔進行研磨時,現(xiàn)只需磨多邊內(nèi)孔各邊,使用多邊形結(jié)構(gòu)的毛坯,可以使套筒內(nèi)孔的磨削量減少,內(nèi)徑研磨時間原7~9分鐘縮短至3~4分鐘,可以提高100%研磨效率。
最后所應(yīng)當(dāng)說明的是,以上實施例僅用以說明本發(fā)明的技術(shù)方案而非對本發(fā)明保護范圍的限制,盡管參照較佳實施例對本發(fā)明作了詳細說明,本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解,可以對本發(fā)明的技術(shù)方案進行修改或者等同替換,而不脫離本發(fā)明技術(shù)方案的實質(zhì)和范圍。