本發(fā)明涉及光學(xué)器件的制造的技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種振鏡的調(diào)試裝置及其調(diào)試方法。

背景技術(shù)：

在振鏡的生產(chǎn)過程中，需進行振鏡的中心點的調(diào)試工序。傳統(tǒng)的振鏡的x軸驅(qū)動電機和y軸驅(qū)動電機均通過螺釘塑料和墊片壓緊固定于振鏡的盒體的外壁上。調(diào)試時，先確定振鏡的中心點的位置，然后分別通過螺釘將x軸驅(qū)動電機和y軸驅(qū)動電機及相應(yīng)的墊片固定于盒體上。

然而，傳統(tǒng)的振鏡的中心點的調(diào)試過程中僅憑肉眼進行觀察判斷，精確度較低，使振鏡的中心點的調(diào)試精度較低；此外，振鏡的中心點的調(diào)試需在不同的位置之間流轉(zhuǎn)操作，使振鏡的中心點的調(diào)試效率較低。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

基于此，有必要針對振鏡的中心點的調(diào)試精度和調(diào)試效率較低的問題，提供一種振鏡的調(diào)試裝置及其調(diào)試方法。

一種振鏡的調(diào)試裝置，用于調(diào)試振鏡，所述調(diào)試裝置包括：

機架，所述機架包括相連接的架體和頂板，所述頂板上開設(shè)有安裝孔，所述頂板用于放置所述振鏡；

紅光發(fā)生器，所述紅光發(fā)生器設(shè)于所述頂板上，所述紅光發(fā)生器產(chǎn)生紅光，所述紅光發(fā)生器用于與所述振鏡相對應(yīng)；

校正中心環(huán)，所述校正中心環(huán)位于所述安裝孔內(nèi)，所述校正中心環(huán)用于連接于所述振鏡上，所述紅光經(jīng)過所述振鏡的偏轉(zhuǎn)后通過所述校正中心環(huán)的中心孔；

反光鏡，所述反光鏡設(shè)于所述架體上，經(jīng)過所述中心孔的紅光照射至所述反光鏡上，所述反光鏡用于反射所述紅光；以及

控制組件，所述控制組件用于與所述振鏡通信連接，以控制所述振鏡的電機動作。

在其中一個實施例中，振鏡的調(diào)試裝置還包括夾緊組件，所述夾緊組件設(shè)于所述頂板上，所述夾緊組件用于將所述振鏡夾緊于所述頂板上，以免振鏡在調(diào)試過程中相對于頂板移動，提高了振鏡的調(diào)試精度。

在其中一個實施例中，所述夾緊組件包括墊塊和肘夾，所述墊塊固定于所述頂板上，所述肘夾連接于所述墊塊上遠離所述頂板的端面上，所述肘夾用于壓持于所述振鏡上，以將所述振鏡夾緊于所述頂板上；夾緊時，操作者轉(zhuǎn)動肘夾，使肘夾抵接于振鏡上，從而使振鏡夾緊于頂板上，實現(xiàn)振鏡的快速夾緊。

在其中一個實施例中，振鏡的調(diào)試裝置還包括定位塊，所述定位塊固定于所述頂板上，所述定位塊上開設(shè)有容納腔，所述紅光發(fā)生器位于所述容納腔內(nèi)并與所述定位塊連接，使紅光發(fā)生器通過定位塊固定于頂板上，避免紅光發(fā)生器與頂板相對移動。

在其中一個實施例中，振鏡的調(diào)試裝置還包括球頭柱塞，所述定位塊上開設(shè)有與所述容納腔連通的定位孔，所述球頭柱塞位于所述定位孔內(nèi)與所述定位塊連接，且所述球頭柱塞抵接于所述紅光發(fā)生器上，避免了紅光發(fā)生器與定位塊相對滑動，使紅光發(fā)生器可靠地連接于定位塊上。

在其中一個實施例中，振鏡的調(diào)試裝置還包括導(dǎo)正銷，所述導(dǎo)正銷設(shè)于所述頂板上，所述導(dǎo)正銷用于與所述振鏡抵接，以對所述振鏡進行定位；當(dāng)需將振鏡放置于頂板上時，將振鏡抵接于導(dǎo)正銷上，使振鏡快速準確地定位于頂板上。

一種振鏡的調(diào)試方法，應(yīng)用上述的振鏡的調(diào)試裝置進行調(diào)試，所述調(diào)試方法包括：

將所述振鏡放置于所述頂板上；

開啟所述紅光發(fā)生器，使生器產(chǎn)生所述紅光；

通過所述控制組件設(shè)定所述振鏡的調(diào)試參數(shù)；

粗調(diào)所述振鏡上的電機，使所述紅光經(jīng)過所述振鏡偏轉(zhuǎn)后通過所述安裝孔并入射至所述反光鏡的中心；

將所述校正中心環(huán)連接于所述振鏡上；

微調(diào)所述振鏡上的電機，使所述紅光通過所述中心孔入射至所述反光鏡上，且所述紅光經(jīng)所述反光鏡反射后通過所述中心孔內(nèi)；以及

鎖緊所述振鏡上的電機。

在其中一個實施例中，在開啟所述紅光發(fā)生器的步驟之前還包括：

將所述振鏡夾緊于所述頂板上，以免振鏡在調(diào)試過程中相對于頂板移動，提高了振鏡的調(diào)試精度。

在其中一個實施例中，在鎖緊所述振鏡上的電機的步驟之后還包括：

取下所述振鏡。

在其中一個實施例中，在取下所述振鏡的步驟之前還包括：

取下所述校正中心環(huán)。

上述的振鏡的調(diào)試裝置及其調(diào)試方法，頂板連接于架體上，且頂板上開設(shè)有安裝孔，振鏡放置于頂板上且與紅光發(fā)生器相對應(yīng)，紅光發(fā)生器產(chǎn)生的紅光通過振鏡進行偏轉(zhuǎn)，偏轉(zhuǎn)后的紅光通過校正中心環(huán)的中心孔，通過中心孔的紅光經(jīng)過反光鏡進行反射；調(diào)試時，首先將振鏡放置于頂板上；然后開啟紅光發(fā)生器，使紅光發(fā)生器產(chǎn)生紅光；然后，通過控制組件設(shè)定振鏡的調(diào)試參數(shù)，由于控制組件與振鏡上的電機通信連接，控制組件控制振鏡的電機動作；然后粗調(diào)振鏡上的電機，使紅光經(jīng)過振鏡進行偏轉(zhuǎn)后通過安裝孔并入射至反光鏡的中心；然后將校正中心環(huán)連接于振鏡上；然后微調(diào)振鏡上的電機，使紅光通過安裝孔內(nèi)的校正中心環(huán)的中心孔入射至反光鏡上，且紅光經(jīng)反光鏡反射后通過中心孔內(nèi)；最后鎖緊振鏡上的電機，完成了振鏡的調(diào)試；上述的振鏡的調(diào)試裝置的結(jié)構(gòu)簡單，且振鏡的調(diào)試過程較簡單；由于在反光鏡上可以看到校正中心環(huán)的成像，調(diào)試時，操作者只需通過反光鏡觀察紅光經(jīng)反光鏡反射后是否通過中心孔，方便操作者的調(diào)試，同時提高了振鏡的中心點的調(diào)試精度；由于振鏡的中心點的調(diào)試無需在不同的位置之間流轉(zhuǎn)操作，大大提高了振鏡的中心點的調(diào)試效率。

附圖說明

圖1為一實施例的振鏡的調(diào)試裝置的示意圖；

圖2為圖1所示振鏡的調(diào)試裝置的局部示意圖；

圖3為圖1所示振鏡的調(diào)試裝置的校正中心環(huán)與振鏡連接的示意圖；

圖4為圖1所示振鏡的調(diào)試裝置的局部放大圖；

圖5為圖4所示振鏡的調(diào)試裝置的紅光發(fā)生器與定位塊連接的示意圖；

圖6為圖4所示振鏡的調(diào)試裝置的校正中心環(huán)的立體圖；

圖7為振鏡的立體圖；

圖8為應(yīng)用圖1所示的振鏡的調(diào)試裝置進行調(diào)試的調(diào)試方法的流程圖；

圖9為應(yīng)用圖1所示的振鏡的調(diào)試裝置進行調(diào)試的調(diào)試方法的另一流程圖；

圖10為圖9為應(yīng)用圖1所示的振鏡的調(diào)試裝置進行調(diào)試的調(diào)試方法的又一流程圖；

圖11為圖9為應(yīng)用圖1所示的振鏡的調(diào)試裝置進行調(diào)試的調(diào)試方法的再一流程圖。

具體實施方式

為了便于理解本發(fā)明，下面將參照相關(guān)附圖對振鏡的調(diào)試裝置及其調(diào)試方法進行更全面的描述。附圖中給出了振鏡的調(diào)試裝置及其調(diào)試方法的首選實施例。但是，振鏡的調(diào)試裝置及其調(diào)試方法可以以許多不同的形式來實現(xiàn)，并不限于本文所描述的實施例。相反地，提供這些實施例的目的是使對振鏡的調(diào)試裝置及其調(diào)試方法的公開內(nèi)容更加透徹全面。

需要說明的是，當(dāng)元件被稱為“固定于”另一個元件，它可以直接在另一個元件上或者也可以存在居中的元件。當(dāng)一個元件被認為是“連接”另一個元件，它可以是直接連接到另一個元件或者可能同時存在居中元件。本文所使用的術(shù)語“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及類似的表述只是為了說明的目的，并不表示是唯一的實施方式。

除非另有定義，本文所使用的所有的技術(shù)和科學(xué)術(shù)語與屬于本發(fā)明的技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員通常理解的含義相同。本文中在振鏡的調(diào)試裝置及其調(diào)試方法的說明書中所使用的術(shù)語只是為了描述具體的實施例的目的，不是旨在于限制本發(fā)明。本文所使用的術(shù)語“及/或”包括一個或多個相關(guān)的所列項目的任意的和所有的組合。

如圖1所示，一實施例的振鏡10的調(diào)試裝置20用于調(diào)試振鏡10。調(diào)試裝置20包括機架100、紅光發(fā)生器200、校正中心環(huán)300、反光鏡400以及控制組件500。

同時參見圖2，機架100包括相連接的架體110和頂板120。頂板120上開設(shè)有安裝孔121。頂板120用于放置待檢測的振鏡10。例如，架體110包括相連接的支撐桿110a和底板110b，頂板120連接于支撐桿110a上遠離底板110b的端部。進一步地，架體110還包括第一緊固件114和第二緊固件(圖未示)，頂板120通過第一緊固件114固定于支撐桿110a的端面上，底板110b通過第二緊固件固定于支撐桿110a的端面上，使支撐桿110a的兩端分別與底板110b和頂板120連接。例如，支撐桿110a的數(shù)目為多個，多個支撐桿110a相互平行。具體地，支撐桿110a的數(shù)目為四個。

紅光發(fā)生器200設(shè)于頂板120上。紅光發(fā)生器200產(chǎn)生紅光。紅光發(fā)生器200用于與振鏡10相對應(yīng)。例如，紅光發(fā)生器200為紅光裝置。又如，紅光發(fā)生器200抵靠于振鏡10上，以使紅光發(fā)生器200與振鏡10對應(yīng)設(shè)置于頂板120上。如圖3所示，例如，紅光發(fā)生器200產(chǎn)生的紅光通過振鏡10的入射孔11射入，由入射孔11進入的紅光經(jīng)由振鏡10的偏轉(zhuǎn)后從振鏡的出射孔(圖未示)射出。如圖4所示，在其中一個實施例中，調(diào)試裝置20還包括定位塊600，定位塊600固定于頂板120上。定位塊600上開設(shè)有容納腔610。

紅光發(fā)生器200位于容納腔610內(nèi)并與定位塊600連接，使紅光發(fā)生器200通過定位塊600固定于頂板120上，避免紅光發(fā)生器200與頂板120相對移動。在本實施例中，定位塊600的橫截面呈長方形狀，在其他實施例中，定位塊600的橫截面還可以呈梯形狀。進一步地，容納腔610沿定位塊600的延伸方向進行開設(shè)。

同時參見圖5，進一步地，調(diào)試裝置20還包括球頭柱塞700。定位塊600上開設(shè)有與容納腔610連通的定位孔620。球頭柱塞700位于定位孔620內(nèi)與定位塊600連接，且球頭柱塞700抵接于紅光發(fā)生器200上，避免了紅光發(fā)生器200與定位塊600相對滑動，使紅光發(fā)生器200可靠地連接于定位塊600上。在本實施例中，球頭柱塞700彈性抵接于紅光發(fā)生器200的外壁上。在其他實施例中，球頭柱塞700也可以用螺釘進行替代。定位孔620用螺紋孔進行替代，螺釘與定位塊600螺紋連接。定位時，操作者可以旋轉(zhuǎn)螺釘，直至螺釘?shù)纸佑诩t光發(fā)生器200抵接。

如圖4所示，校正中心環(huán)300位于安裝孔121內(nèi)。同時參見圖6，校正中心環(huán)300用于連接于振鏡10上。紅光經(jīng)過振鏡10的偏轉(zhuǎn)后通過校正中心環(huán)300的中心孔310。例如，振鏡10上開設(shè)有螺紋孔，校正中心環(huán)300的外壁上設(shè)有螺紋，校正中心環(huán)300位于螺紋孔內(nèi)并與振鏡10螺紋連接，使校正中心環(huán)300連接于振鏡10上。

例如，校正中心環(huán)300固定于振鏡10的底面。又如，校正中心環(huán)300的厚度小于安裝孔121的深度，當(dāng)校正中心環(huán)300連接于振鏡10上時，校正中心環(huán)300遠離振鏡10的端面位于安裝孔121內(nèi)，可以避免在振鏡10的調(diào)試過程中對校正中心環(huán)300造成損壞。在其中一個實施例中，中心孔310的直徑為7mm～9mm。在本實施例中，中心孔310的直徑為8mm。

反光鏡400設(shè)于架體110上。經(jīng)過中心孔310的紅光照射至反光鏡400上。反光鏡400用于反射紅光。進一步地，反光鏡400通過膠接或焊接連接于架體110上，以防反光鏡400相對于架體110運動。具體地，反光鏡400通過膠接或焊接連接于底板110b上。

如圖7所示，控制組件500用于與振鏡10通信連接，以控制振鏡10的電機12動作。具體地，控制組件500與振鏡10的電機12通信連接。例如，電機12包括第一電機122和第二電機124，其中第一電機122驅(qū)動振鏡10的鏡片沿x軸方向運動，第二電機124驅(qū)動振鏡10的鏡片沿y軸方向運動。同時參見圖1，例如，控制組件500包括控制盒510和輸入顯示設(shè)備520，控制盒510分別與第一電機122、第二電機124和輸入顯示設(shè)備520通信連接。輸入顯示設(shè)備520用于顯示或設(shè)定振鏡10的調(diào)試參數(shù)?？刂坪?10集成有振鏡10的調(diào)試參數(shù)的設(shè)定軟件。調(diào)試時，操作者可以在輸入顯示設(shè)備520上打開振鏡10的調(diào)試參數(shù)的設(shè)定軟件進行調(diào)試參數(shù)的設(shè)定，如焊接統(tǒng)計和工作模式等。

再次參見圖4，在其中一個實施例中，調(diào)試裝置20還包括夾緊組件800，夾緊組件800設(shè)于頂板120上。夾緊組件800用于將振鏡10夾緊于頂板120上，以免振鏡10在調(diào)試過程中相對于頂板120移動，提高了振鏡10的調(diào)試精度。在本實施例中，夾緊組件800的數(shù)目為兩個，兩個夾緊組件800均將振鏡10夾緊于頂板120上。進一步地，兩個夾緊組件800分別夾緊于振鏡10的頂面的相對的邊緣處。

如圖4所示，在其中一個實施例中，夾緊組件800包括墊塊810和肘夾820。墊塊810固定于頂板120上，肘夾820連接于墊塊810上遠離頂板120的端面上。肘夾820用于壓持于振鏡10上，以將振鏡10夾緊于頂板120上。夾緊時，操作者轉(zhuǎn)動肘夾820，使肘夾820抵接于振鏡10上，從而使振鏡10夾緊于頂板120上，實現(xiàn)振鏡10的快速夾緊。例如，墊塊810通過膠接或焊接固定于頂板120上。在本實施例中，墊塊810通過膠接固定于頂板120上。

在其中一個實施例中，調(diào)試裝置20還包括導(dǎo)正銷900，導(dǎo)正銷900設(shè)于頂板120上。導(dǎo)正銷900用于與振鏡10抵接，以對振鏡10進行定位。當(dāng)需將振鏡10放置于頂板120上時，將振鏡10抵接于導(dǎo)正銷900上，使振鏡10快速準確地定位于頂板120上。

如圖8所示，本申請還提供一種振鏡10的調(diào)試方法。調(diào)試方法應(yīng)用上述的振鏡10的調(diào)試裝置20進行調(diào)試。調(diào)試方法包括：

s101，將振鏡10放置于頂板120上。

s103，開啟紅光發(fā)生器200，使紅光發(fā)生器200產(chǎn)生紅光。

s104，通過控制組件設(shè)定振鏡的調(diào)試參數(shù)。

在本實施例中，操作者打開控制組件上的設(shè)定軟件，并在設(shè)定軟件的操作界面進行調(diào)試參數(shù)的設(shè)定，如焊接統(tǒng)計和工作模式等。具體地，打開設(shè)定軟件，使輸入顯示設(shè)備上顯示設(shè)定軟件的操作界面，操作者在設(shè)定軟件的操作界面上進行設(shè)定操作。設(shè)定操作過程為：插入焊點并居中，然后點擊普通焊接方式，然后勾選紅光預(yù)覽和循環(huán)焊接，最后點擊開始。

s105，粗調(diào)振鏡10上的電機12，使紅光經(jīng)過振鏡10偏轉(zhuǎn)后通過安裝孔121并入射至反光鏡的中心。

s107，將校正中心環(huán)300連接于振鏡10上。

s109，微調(diào)振鏡10上的電機12，使紅光通過中心孔310入射至反光鏡400上，且紅光經(jīng)反光鏡400反射后通過中心孔310內(nèi)。

s111，鎖緊振鏡10上的電機12。

如圖9所示，在其中一個實施例中，在開啟紅光發(fā)生器200的步驟s103之前還包括：

s102，將振鏡10夾緊于頂板120上，以免振鏡10在調(diào)試過程中相對于頂板120移動，提高了振鏡10的調(diào)試精度。

如圖10所示，在其中一個實施例中，在鎖緊振鏡10上的電機12的步驟s111之后還包括：

s113，取下振鏡10。

如圖11所示，在其中一個實施例中，在取下振鏡10的步驟s113之前還包括：

s112，取下校正中心環(huán)300。

上述的振鏡10的調(diào)試裝置20及其調(diào)試方法，頂板120連接于架體110上，且頂板120上開設(shè)有安裝孔121，振鏡10放置于頂板120上且與紅光發(fā)生器200相對應(yīng)，紅光發(fā)生器200產(chǎn)生的紅光通過振鏡10進行偏轉(zhuǎn)，偏轉(zhuǎn)后的紅光通過校正中心環(huán)300的中心孔310，通過中心孔310的紅光經(jīng)過反光鏡400進行反射；調(diào)試時，首先將振鏡10放置于頂板120上；然后開啟紅光發(fā)生器200，使紅光發(fā)生器200產(chǎn)生紅光；然后，通過控制組件500設(shè)定振鏡10的調(diào)試參數(shù)，由于控制組件500與振鏡10上的電機12通信連接，控制組件500控制振鏡10的電機動作；然后粗調(diào)振鏡10上的電機12，使紅光經(jīng)過振鏡10進行偏轉(zhuǎn)后通過安裝孔121并入射至反光鏡400的中心；然后將校正中心環(huán)300連接于振鏡10上；然后微調(diào)振鏡10上的電機12，使紅光通過安裝孔121內(nèi)的校正中心環(huán)300的中心孔310入射至反光鏡上，且紅光經(jīng)反光鏡400反射后通過中心孔310內(nèi)；最后鎖緊振鏡10上的電機12，完成了振鏡10的調(diào)試。

上述的振鏡10的調(diào)試裝置20的結(jié)構(gòu)簡單，且振鏡10的調(diào)試過程較簡單。由于在反光鏡400上可以看到校正中心環(huán)300的成像，調(diào)試時，操作者只需通過反光鏡400觀察紅光經(jīng)反光鏡400反射后是否通過中心孔310，方便操作者的調(diào)試，同時提高了振鏡10的中心點的調(diào)試精度。由于振鏡10的中心點的調(diào)試無需在不同的位置之間流轉(zhuǎn)操作，大大提高了振鏡10的中心點的調(diào)試效率。

以上所述實施例的各技術(shù)特征可以進行任意的組合，為使描述簡潔，未對上述實施例中的各個技術(shù)特征所有可能的組合都進行描述，然而，只要這些技術(shù)特征的組合不存在矛盾，都應(yīng)當(dāng)認為是本說明書記載的范圍。

以上所述實施例僅表達了本發(fā)明的幾種實施方式，其描述較為具體和詳細，但并不能因此而理解為對發(fā)明專利范圍的限制。應(yīng)當(dāng)指出的是，對于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本發(fā)明構(gòu)思的前提下，還可以做出若干變形和改進，這些都屬于本發(fā)明的保護范圍。因此，本發(fā)明專利的保護范圍應(yīng)以所附權(quán)利要求為準。