本發(fā)明涉及顯示技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種陣列基板、其檢測(cè)方法、顯示面板及顯示裝置。

背景技術(shù)：

隨著顯示技術(shù)的飛速發(fā)展，顯示器越來(lái)越向著高集成度和低成本的方向發(fā)展。其中，goa(gatedriveronarray，陣列基板行驅(qū)動(dòng))技術(shù)將tft(thinfilmtransistor，薄膜晶體管)柵極驅(qū)動(dòng)電路集成在顯示面板的陣列基板上以形成對(duì)顯示面板的掃描驅(qū)動(dòng)，從而可以省去柵極集成電路(ic，integratedcircuit)的綁定(bonding)區(qū)域以及扇出(fan-out)區(qū)域的布線空間，不僅可以在材料成本和制作工藝兩方面降低產(chǎn)品成本，而且可以使顯示面板做到兩邊對(duì)稱和窄邊框的美觀設(shè)計(jì)；并且，這種集成工藝還可以省去柵極掃描線方向的bonding工藝，從而提高了產(chǎn)能和良率。

現(xiàn)有的陣列基板一般包括：多條柵線以及與各條柵線連接的goa電路；其中，goa電路由多個(gè)級(jí)聯(lián)的移位寄存器構(gòu)成，用于依次向各條柵線輸入掃描信號(hào)，以控制每行柵線對(duì)應(yīng)的像素開(kāi)啟。在工藝制備流程中，為了保證陣列基板上形成的goa電路能夠正常工作，一般需要對(duì)goa電路輸出的各個(gè)掃描信號(hào)進(jìn)行檢測(cè)。然而，由于陣列基板的布線限制，并不能針對(duì)goa電路輸出的每一個(gè)掃描信號(hào)分別設(shè)置一條走線以將掃描信號(hào)輸出并用于檢測(cè)，一般僅針對(duì)最前幾個(gè)移位寄存器與最后幾個(gè)移位寄存器輸出的掃描信號(hào)進(jìn)行布線，導(dǎo)致僅能針對(duì)部分區(qū)域的掃描信號(hào)進(jìn)行檢測(cè)，從而在除上述部分區(qū)域之外的其余區(qū)域的掃描信號(hào)出現(xiàn)不良情況時(shí)將無(wú)法進(jìn)行檢測(cè)，進(jìn)而導(dǎo)致不利于檢測(cè)全部的掃描信號(hào)。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本發(fā)明實(shí)施例提供一種陣列基板、其檢測(cè)方法、顯示面板及顯示裝置，用以解決現(xiàn)有技術(shù)中不利于檢測(cè)陣列基板上全部掃描信號(hào)的問(wèn)題。

因此，本發(fā)明實(shí)施例提供了一種陣列基板，包括：多條柵線；還包括：與各所述柵線一一對(duì)應(yīng)的信號(hào)輸出單元以及與各所述柵線交叉且絕緣設(shè)置的2n條信號(hào)傳輸線，n為正整數(shù)；將所有所述信號(hào)輸出單元分為2n個(gè)單元組，同一單元組中的各信號(hào)輸出單元分別與間隔2n-1行的柵線連接，且同一所述單元組連接同一信號(hào)傳輸線，不同單元組連接不同信號(hào)傳輸線；

各所述信號(hào)輸出單元用于在連接的柵線上輸入的掃描信號(hào)的有效電壓大于預(yù)設(shè)閾值電壓時(shí)，將所述掃描信號(hào)輸出給連接的信號(hào)傳輸線。

優(yōu)選地，在本發(fā)明實(shí)施例提供的上述陣列基板中，各所述信號(hào)輸出單元包括：開(kāi)關(guān)晶體管，所述預(yù)設(shè)閾值電壓為所述開(kāi)關(guān)晶體管的閾值電壓；

所述開(kāi)關(guān)晶體管的柵極與源極均與對(duì)應(yīng)的柵線連接，所述開(kāi)關(guān)晶體管的漏極與對(duì)應(yīng)的信號(hào)傳輸線連接。

優(yōu)選地，在本發(fā)明實(shí)施例提供的上述陣列基板中，所述陣列基板還包括：與各所述柵線交叉且絕緣設(shè)置的多條數(shù)據(jù)線，各所述信號(hào)傳輸線與各所述數(shù)據(jù)線同層同材質(zhì)。

優(yōu)選地，在本發(fā)明實(shí)施例提供的上述陣列基板中，所述陣列基板還包括：位于所述陣列基板的非顯示區(qū)域且與各所述信號(hào)傳輸線一一對(duì)應(yīng)電連接的測(cè)試端子。

優(yōu)選地，在本發(fā)明實(shí)施例提供的上述陣列基板中，n＝1，所述陣列基板還包括：一個(gè)柵極驅(qū)動(dòng)電路；所述柵極驅(qū)動(dòng)電路包括級(jí)聯(lián)的多級(jí)移位寄存器，且各級(jí)所述移位寄存器分別對(duì)應(yīng)連接一條所述柵線。

優(yōu)選地，在本發(fā)明實(shí)施例提供的上述陣列基板中，n＝2，所述陣列基板還包括：兩個(gè)柵極驅(qū)動(dòng)電路；各所述柵極驅(qū)動(dòng)電路包括級(jí)聯(lián)的多級(jí)移位寄存器；

所述兩個(gè)柵極驅(qū)動(dòng)電路中的一個(gè)柵極驅(qū)動(dòng)電路的各級(jí)移位寄存器分別對(duì)應(yīng)連接奇數(shù)行的一條柵線，另一個(gè)柵極驅(qū)動(dòng)電路的各級(jí)移位寄存器分別對(duì)應(yīng)連接偶數(shù)行的一條柵線。

相應(yīng)地，本發(fā)明實(shí)施例還提供了一種顯示面板，包括本發(fā)明實(shí)施例提供的上述任一種陣列基板。

相應(yīng)地，本發(fā)明實(shí)施例還提供了一種顯示裝置，包括本發(fā)明實(shí)施例提供的上述顯示面板。

相應(yīng)地，本發(fā)明實(shí)施例還提供了一種對(duì)本發(fā)明實(shí)施例提供的上述陣列基板的檢測(cè)方法，包括：

將各外部測(cè)試探針與各信號(hào)傳輸線一一對(duì)應(yīng)導(dǎo)通，并控制所述柵極驅(qū)動(dòng)電路依次向連接的柵線輸入掃描信號(hào)，獲取各所述信號(hào)傳輸線上對(duì)應(yīng)的信號(hào)；其中，針對(duì)一條柵線，在所述柵線上的掃描信號(hào)的有效電壓大于預(yù)設(shè)閾值電壓時(shí)，與所述柵線連接的信號(hào)輸出單元將所述掃描信號(hào)輸出給連接的信號(hào)傳輸線。

優(yōu)選地，在本發(fā)明實(shí)施例提供的上述檢測(cè)方法中，在獲取各所述信號(hào)傳輸線上對(duì)應(yīng)的信號(hào)之后還包括：采用示波器針對(duì)每一條信號(hào)傳輸線，將獲取到的所述信號(hào)傳輸線上信號(hào)的波形與預(yù)設(shè)標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)的波形進(jìn)行比較，確定所述信號(hào)傳輸線信號(hào)中的異常波形；

根據(jù)確定出的異常波形確定所述異常波形對(duì)應(yīng)的掃描信號(hào)，并根據(jù)確定出的掃描信號(hào)確定對(duì)應(yīng)的柵極驅(qū)動(dòng)電路中移位寄存器的級(jí)數(shù)。

本發(fā)明有益效果如下：

本發(fā)明實(shí)施例提供的陣列基板、其檢測(cè)方法、顯示面板及顯示裝置，通過(guò)設(shè)置與每一條柵線連接的信號(hào)輸出單元，以將每一條柵線上輸入的掃描信號(hào)輸出，以及設(shè)置2n條信號(hào)傳輸線并將所有信號(hào)輸出單元分為2n個(gè)單元組，使每個(gè)單元組一一對(duì)應(yīng)連接一條信號(hào)傳輸線，以將同一個(gè)單元組中的所有信號(hào)輸出單元輸出的掃描信號(hào)通過(guò)一條信號(hào)傳輸線輸出給外部的檢測(cè)裝置，即同一個(gè)單元組中的所有信號(hào)輸出單元共用一條信號(hào)傳輸線，從而可以設(shè)置較少的信號(hào)傳輸線將全部柵線上的掃描信號(hào)輸出給外部的檢測(cè)裝置以實(shí)現(xiàn)對(duì)全部掃描信號(hào)的檢測(cè)。并且由于設(shè)置的信號(hào)傳輸線較少，還可以節(jié)省陣列基板的走線布局空間以及降低工藝制備難度。

附圖說(shuō)明

圖1a為本發(fā)明實(shí)施例提供的陣列基板的結(jié)構(gòu)示意圖之一；

圖1b為本發(fā)明實(shí)施例提供的陣列基板的結(jié)構(gòu)示意圖之二；

圖2a為圖1a所示的陣列基板的具體結(jié)構(gòu)示意圖之一；

圖2b為圖1b所示的陣列基板的具體結(jié)構(gòu)示意圖之二；

圖3a為圖2a所示的陣列基板的信號(hào)時(shí)序示意圖；

圖3b為圖2b所示的陣列基板的信號(hào)時(shí)序示意圖；

圖4為本發(fā)明實(shí)施例提供的檢測(cè)方法的流程圖。

具體實(shí)施方式

為了使本發(fā)明的目的，技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚，下面結(jié)合附圖，對(duì)本發(fā)明實(shí)施例提供的陣列基板、其驅(qū)動(dòng)方法、顯示面板及顯示裝置的具體實(shí)施方式進(jìn)行詳細(xì)地說(shuō)明。應(yīng)當(dāng)理解，下面所描述的優(yōu)選實(shí)施例僅用于說(shuō)明和解釋本發(fā)明，并不用于限定本發(fā)明。并且在不沖突的情況下，本申請(qǐng)中的實(shí)施例及實(shí)施例中的特征可以相互組合。

附圖中各圖形的大小和形狀等均不反映陣列基板的真實(shí)比例，目的只是示意說(shuō)明本發(fā)明內(nèi)容。

本發(fā)明實(shí)施例提供了一種陣列基板，如圖1a與圖1b(圖1a以n＝1為例，圖1b以n＝2為例)所示，包括：多條柵線gate_m(m＝1、2、3…m；m為陣列基板中柵線的總數(shù))；與各柵線gate_m一一對(duì)應(yīng)的信號(hào)輸出單元100以及與各柵線gate_m交叉且絕緣設(shè)置的2n條信號(hào)傳輸線200_n(n＝1、2、3…2n)，n為正整數(shù)；將所有信號(hào)輸出單元100分為2n個(gè)單元組300_n，同一單元組300_n中的各信號(hào)輸出單元100分別與間隔2n-1行的柵線連接，且同一單元組300_n連接同一信號(hào)傳輸線200_n，不同單元組連接不同信號(hào)傳輸線；

各信號(hào)輸出單元100用于在連接的柵線gate_m上輸入的掃描信號(hào)的有效電壓大于預(yù)設(shè)閾值電壓時(shí)，將掃描信號(hào)輸出給連接的信號(hào)傳輸線200_n。

本發(fā)明實(shí)施例提供的上述陣列基板，通過(guò)設(shè)置與每一條柵線連接的信號(hào)輸出單元，以將每一條柵線上輸入的掃描信號(hào)輸出，以及設(shè)置2n條信號(hào)傳輸線并將所有信號(hào)輸出單元分為2n個(gè)單元組，使每個(gè)單元組一一對(duì)應(yīng)連接一條信號(hào)傳輸線，以將同一個(gè)單元組中的所有信號(hào)輸出單元輸出的掃描信號(hào)通過(guò)一條信號(hào)傳輸線輸出給外部的檢測(cè)裝置，即同一個(gè)單元組中的所有信號(hào)輸出單元共用一條信號(hào)傳輸線，從而可以設(shè)置較少的信號(hào)傳輸線將全部柵線上的掃描信號(hào)輸出給外部的檢測(cè)裝置以實(shí)現(xiàn)對(duì)全部掃描信號(hào)的檢測(cè)。并且由于設(shè)置的信號(hào)傳輸線較少，還可以節(jié)省陣列基板的走線布局空間以及降低工藝制備難度。

在具體實(shí)施時(shí)，本發(fā)明實(shí)施例提供的上述陣列基板還可以包括設(shè)置各柵線以及各信號(hào)輸出單元的襯底基板。

一般陣列基板中具有多個(gè)像素單元，在具體實(shí)施時(shí)，在本發(fā)明實(shí)施例提供的上述陣列基板中，掃描信號(hào)的有效脈沖信號(hào)可以打開(kāi)對(duì)應(yīng)行柵線連接的各像素單元。該掃描信號(hào)的有效脈沖信號(hào)的電壓即為其有效電壓，該有效電壓可以為高電壓，或者也可以為低電壓，在此不作限定。

在具體實(shí)施時(shí)，在本發(fā)明實(shí)施例提供的上述陣列基板中，如圖2a與圖2b所示，各信號(hào)輸出單元100具體可以包括：開(kāi)關(guān)晶體管m0，預(yù)設(shè)閾值電壓為開(kāi)關(guān)晶體管m0的閾值電壓；

開(kāi)關(guān)晶體管m0的柵極與源極均與對(duì)應(yīng)的柵線連接，開(kāi)關(guān)晶體管m0的漏極與對(duì)應(yīng)的信號(hào)傳輸線連接。其中，該開(kāi)關(guān)晶體管m0可以是薄膜晶體管(tft，thinfilmtransistor)，也可以是金屬氧化物半導(dǎo)體場(chǎng)效應(yīng)管(mos，metaloxidescmiconductor)，在此不作限定。

在具體實(shí)施時(shí)，在本發(fā)明實(shí)施例提供的上述陣列基板中，如圖2a與圖2b所示，開(kāi)關(guān)晶體管m0可以為n型晶體管。當(dāng)然，開(kāi)關(guān)晶體管也可以為p型晶體管，在此不作限定。

在具體實(shí)施時(shí)，在本發(fā)明實(shí)施例提供的上述陣列基板中，開(kāi)關(guān)晶體管在其柵極的信號(hào)的電壓大于其閾值電壓vth時(shí)導(dǎo)通，在其柵極的信號(hào)的電壓小于或等于其閾值電壓vth時(shí)截止。在實(shí)際應(yīng)用中，閾值電壓vth可以為0.7v，當(dāng)然該閾值電壓也可以為其它電壓值，這需要根據(jù)實(shí)際應(yīng)用環(huán)境來(lái)設(shè)計(jì)確定，在此不作限定。

以上僅是舉例說(shuō)明本發(fā)明實(shí)施例提供的信號(hào)輸出單元的具體結(jié)構(gòu)，在具體實(shí)施時(shí)，信號(hào)輸出單元的具體結(jié)構(gòu)不限于本發(fā)明實(shí)施例提供的上述結(jié)構(gòu)，還可以是本領(lǐng)域技術(shù)人員可知的其他結(jié)構(gòu)，在此不作限定。

一般在陣列基板中設(shè)置用于與外部測(cè)試裝置連接的測(cè)試端子來(lái)輸出信號(hào)的，在具體實(shí)施時(shí)，在本發(fā)明實(shí)施例提供的上述陣列基板中，如圖1a至圖2b所示，陣列基板還可以包括：位于陣列基板的非顯示區(qū)域且與各信號(hào)傳輸線200_n一一對(duì)應(yīng)電連接的測(cè)試端子400。這樣可以通過(guò)測(cè)試端子將信號(hào)傳輸線上的信號(hào)輸出給外部測(cè)試裝置。

在具體實(shí)施時(shí)，在本發(fā)明實(shí)施例提供的上述陣列基板中，如圖1a與圖2a所示，陣列基板還可以包括：一個(gè)柵極驅(qū)動(dòng)電路goa；柵極驅(qū)動(dòng)電路goa包括級(jí)聯(lián)的多級(jí)移位寄存器sr(m)，且各級(jí)移位寄存器sr(m)分別對(duì)應(yīng)連接一條柵線gate_m。該柵極驅(qū)動(dòng)電路依次向連接的柵線輸入掃描信號(hào)，如圖3a所示，相鄰兩行柵線gate_m與gate_m+1輸入的掃描信號(hào)gate_m與gate_m+1的有效電平無(wú)交疊。其中，如圖1a與圖2a所示，可以使n＝1，此時(shí)陣列基板中包括2條信號(hào)傳輸線且所有的信號(hào)輸出單元被劃分為2個(gè)單元組。這樣在陣列基板設(shè)置一個(gè)柵極驅(qū)動(dòng)電路時(shí)可以使設(shè)置的信號(hào)傳輸線的個(gè)數(shù)最少。當(dāng)然，也可以使n＝2，此時(shí)陣列基板中包括4條信號(hào)傳輸線且所有的信號(hào)輸出單元被劃分為4個(gè)單元組?；蛘咭部梢允筺＝3，此時(shí)陣列基板中包括6條信號(hào)傳輸線且所有的信號(hào)輸出單元被劃分為6個(gè)單元組。當(dāng)然，在實(shí)際應(yīng)用中，信號(hào)傳輸線個(gè)數(shù)的設(shè)置需要根據(jù)實(shí)際應(yīng)用環(huán)境來(lái)設(shè)計(jì)確定，在此不作限定。

或者，在具體實(shí)施時(shí)，在本發(fā)明實(shí)施例提供的上述陣列基板中，如圖1b與圖2b所示，陣列基板還可以包括：兩個(gè)柵極驅(qū)動(dòng)電路goa_p(p＝1、2)；各柵極驅(qū)動(dòng)電路goa_p包括級(jí)聯(lián)的多級(jí)移位寄存器

兩個(gè)柵極驅(qū)動(dòng)電路中的一個(gè)柵極驅(qū)動(dòng)電路goa_1的各級(jí)移位寄存器sr(1_k)分別對(duì)應(yīng)連接奇數(shù)行的一條柵線，另一個(gè)柵極驅(qū)動(dòng)電路goa_1的各級(jí)移位寄存器sr(2_k)分別對(duì)應(yīng)連接偶數(shù)行的一條柵線。這兩個(gè)柵極驅(qū)動(dòng)電路依次向連接的柵線輸入掃描信號(hào)，如圖3b所示，相鄰兩行柵線gate_m與gate_m+1輸入的掃描信號(hào)gate_m與gate_m+1的有效電平具有交疊，且使間隔一條柵線的兩條柵線gate_m與gate_m+2輸入的掃描信號(hào)gate_m與gate_m+2的有效電平無(wú)交疊。其中，如圖1b與圖2b所示，可以使n＝2，此時(shí)陣列基板中包括4條信號(hào)傳輸線且所有的信號(hào)輸出單元被劃分為4個(gè)單元組。這樣在陣列基板設(shè)置兩個(gè)柵極驅(qū)動(dòng)電路時(shí)可以使設(shè)置的信號(hào)傳輸線的個(gè)數(shù)最少。當(dāng)然，也可以使n＝3，此時(shí)陣列基板中包括6條信號(hào)傳輸線且所有的信號(hào)輸出單元被劃分為6個(gè)單元組。當(dāng)然，在實(shí)際應(yīng)用中，信號(hào)傳輸線個(gè)數(shù)的設(shè)置需要根據(jù)實(shí)際應(yīng)用環(huán)境來(lái)設(shè)計(jì)確定，在此不作限定。

在具體實(shí)施時(shí)，在本發(fā)明實(shí)施例提供的上述陣列基板中，柵極驅(qū)動(dòng)電路中的第一極移位寄存器的輸入信號(hào)端與幀觸發(fā)信號(hào)端相連，除第一極移位寄存器之外，其余各級(jí)移位寄存器的輸入信號(hào)端分別與其相鄰的上一級(jí)移位寄存器的輸出信號(hào)端相連。這樣可以采用上一級(jí)輸出的掃描信號(hào)作為下一級(jí)移位寄存器的輸入信號(hào)，已觸發(fā)下一級(jí)移位寄存器進(jìn)行移位輸出。在實(shí)際應(yīng)用中，各級(jí)移位寄存器輸出的掃描信號(hào)的有效脈沖信號(hào)一般由時(shí)鐘信號(hào)輸出。在上一級(jí)移位寄存器輸出的掃描信號(hào)為正常信號(hào)時(shí)，下一級(jí)移位寄存器可以正常移位輸出掃描信號(hào)。在上一級(jí)移位寄存器輸出的掃描信號(hào)為異常信號(hào)時(shí)，若該異常信號(hào)的有效電壓滿足預(yù)設(shè)電壓范圍，在誤差允許的情況下，不會(huì)使下一級(jí)移位寄存器移位輸出異常的掃描信號(hào)；若該異常信號(hào)的有效電壓不滿足預(yù)設(shè)電壓范圍，下一級(jí)移位寄存器輸出的掃描信號(hào)才會(huì)移位輸出異常的掃描信號(hào)或者輸出為零電壓的信號(hào)。在實(shí)際應(yīng)用中，移位寄存器的結(jié)構(gòu)和工作過(guò)程與現(xiàn)有技術(shù)中的移位寄存器基本相同，其具體組成部分均為本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)該理解具有的，在此不做贅述，也不應(yīng)作為對(duì)本發(fā)明的限制。

在具體實(shí)施時(shí)，在本發(fā)明實(shí)施例提供的上述陣列基板中，各柵極驅(qū)動(dòng)電路、各信號(hào)傳輸線以及各信號(hào)輸出單元均設(shè)置于陣列基板的非顯示區(qū)域中。

在具體實(shí)施時(shí)，在本發(fā)明實(shí)施例提供的上述陣列基板中，如圖1a至圖2b所示，陣列基板還可以包括：與各柵線gate_m交叉且絕緣設(shè)置的多條數(shù)據(jù)線data，各信號(hào)傳輸線200_n與各數(shù)據(jù)線data可以同層同材質(zhì)。這樣可以不需要增加額外的制備各信號(hào)傳輸線200_n的工序，只需要通過(guò)一次構(gòu)圖工藝即可形成各信號(hào)傳輸線200_n和各數(shù)據(jù)線data的圖形，能夠簡(jiǎn)化制備工藝，節(jié)省生產(chǎn)成本，提高生產(chǎn)效率。

在具體實(shí)施時(shí)，在本發(fā)明實(shí)施例提供的上述陣列基板中，如圖1a至圖2b所示，各信號(hào)傳輸線200_n與各數(shù)據(jù)線data平行設(shè)置。當(dāng)然，各信號(hào)傳輸線200_n也可以不與數(shù)據(jù)線data平行設(shè)置，在此不作限定。

在實(shí)際應(yīng)用中，外部檢測(cè)裝置可以為示波器。當(dāng)然，外部檢測(cè)裝置也可以為其它能夠用于分析和研究全部掃描信號(hào)的裝置，在此不作限定。

下面以圖2a與圖2b所示的陣列基板的結(jié)構(gòu)為例，結(jié)合信號(hào)時(shí)序圖對(duì)本發(fā)明實(shí)施例提供的陣列基板在檢測(cè)時(shí)的工作過(guò)程進(jìn)行說(shuō)明。并且下面均是以各掃描信號(hào)的有效電壓為高電壓并且各掃描信號(hào)的有效電壓均大于開(kāi)關(guān)晶體管m0的閾值電壓vth，以及柵線gate_7輸入掃描信號(hào)gate_7為異常信號(hào)為例進(jìn)行說(shuō)明。

實(shí)施例一、

以圖2a所示的陣列基板為例，輸入該陣列基板中的各柵線gate_m的掃描信號(hào)gate_m如圖3a所示。在圖3a中，sn_1代表信號(hào)傳輸線200_1上的信號(hào)，sn_2代表信號(hào)傳輸線200_2上的信號(hào)。

在柵線gate_1輸入的掃描信號(hào)gate_1為有效電壓時(shí)，由于掃描信號(hào)gate_1的有效電壓大于開(kāi)關(guān)晶體管m0的閾值電壓vth，因此柵線gate_1連接的開(kāi)關(guān)晶體管m0將掃描信號(hào)gate_1輸出給信號(hào)傳輸線200_1，以使此時(shí)信號(hào)傳輸線200_1上的信號(hào)sn_1為具有掃描信號(hào)gate_1的有效電壓的信號(hào)。在柵線gate_2輸入的掃描信號(hào)gate_2為有效電壓時(shí)，由于掃描信號(hào)gate_2的有效電壓大于開(kāi)關(guān)晶體管m0的閾值電壓vth，因此柵線gate_2連接的開(kāi)關(guān)晶體管m0將掃描信號(hào)gate_2輸出給信號(hào)傳輸線200_2，以使此時(shí)信號(hào)傳輸線200_2上的信號(hào)sn_2為具有掃描信號(hào)gate_2的有效電壓的信號(hào)。

同理，在柵線gate_3輸入的掃描信號(hào)gate_3為有效電壓時(shí)，信號(hào)傳輸線200_1上的信號(hào)sn_1為具有掃描信號(hào)gate_3的有效電壓的信號(hào)。在柵線gate_4輸入的掃描信號(hào)gate_4為有效電壓時(shí)，信號(hào)傳輸線200_2上的信號(hào)sn_2為具有掃描信號(hào)gate_4的有效電壓的信號(hào)。在柵線gate_5輸入的掃描信號(hào)gate_5為有效電壓時(shí)，信號(hào)傳輸線200_1上的信號(hào)sn_1為具有掃描信號(hào)gate_5的有效電壓的信號(hào)。在柵線gate_6輸入的掃描信號(hào)gate_6為有效電壓時(shí)，信號(hào)傳輸線200_2上的信號(hào)sn_2為具有掃描信號(hào)gate_6的有效電壓的信號(hào)。在柵線gate_7輸入的掃描信號(hào)gate_7為有效電壓時(shí)，信號(hào)傳輸線200_1上的信號(hào)sn_1為具有掃描信號(hào)gate_7的有效電壓的信號(hào)。在柵線gate_8輸入的掃描信號(hào)gate_8為有效電壓時(shí)，信號(hào)傳輸線200_2上的信號(hào)sn_2為具有掃描信號(hào)gate_8的有效電壓的信號(hào)。

另外，在其余柵線依次輸入的掃描信號(hào)為有效電壓時(shí)，若其余柵線輸入的掃描信號(hào)的有效電壓均大于開(kāi)關(guān)晶體管m0的閾值電壓vth時(shí)，則信號(hào)傳輸線200_n上的信號(hào)此時(shí)為具有這些掃描信號(hào)的有效電壓的信號(hào)。若其余柵線中的一條柵線輸入的掃描信號(hào)的有效電壓小于或等于開(kāi)關(guān)晶體管m0的閾值電壓vth時(shí)，信號(hào)傳輸線200_n上的信號(hào)此時(shí)為零電壓。

在針對(duì)上述陣列基板的全部掃描信號(hào)進(jìn)行測(cè)試時(shí)，可以通過(guò)外部檢測(cè)裝置獲取信號(hào)傳輸線200_1上的信號(hào)sn_1以及獲取信號(hào)傳輸線200_2上的信號(hào)sn_2。之后可以采用示波器針對(duì)每一條信號(hào)傳輸線200_n，將獲取到的信號(hào)傳輸線200_n上信號(hào)sn_n的波形與預(yù)設(shè)標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)的波形進(jìn)行比較，確定信號(hào)傳輸線200_n信號(hào)sn_n中的異常波形；并根據(jù)確定出的異常波形確定異常波形對(duì)應(yīng)的掃描信號(hào)，以及根據(jù)確定出的掃描信號(hào)確定對(duì)應(yīng)的柵極驅(qū)動(dòng)電路中移位寄存器的級(jí)數(shù)。這樣即可實(shí)現(xiàn)對(duì)全部掃描信號(hào)的分析和研究。

具體地，采用示波器針對(duì)信號(hào)傳輸線200_1，將獲取到的信號(hào)傳輸線200_1上信號(hào)sn_1的波形與對(duì)應(yīng)的預(yù)設(shè)標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)的波形進(jìn)行比較，確定信號(hào)傳輸線200_1信號(hào)sn_1中的異常波形；根據(jù)確定出的異常波形確定異常波形對(duì)應(yīng)的掃描信號(hào)，信號(hào)sn_1中的異常波形對(duì)應(yīng)掃描信號(hào)gate_7，從而可以根據(jù)確定出的掃描信號(hào)gate_7確定對(duì)應(yīng)的柵極驅(qū)動(dòng)電路goa中移位寄存器的級(jí)數(shù)，即對(duì)應(yīng)柵極驅(qū)動(dòng)電路goa中第七級(jí)移位寄存器sr(7)，從而可以得出第七級(jí)移位寄存器sr(7)輸出異常。并且，采用示波器針對(duì)信號(hào)傳輸線200_2，將獲取到的信號(hào)傳輸線200_2上信號(hào)sn_2的波形與對(duì)應(yīng)的預(yù)設(shè)標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)的波形進(jìn)行比較，可以確定信號(hào)傳輸線200_2信號(hào)sn_2中無(wú)異常波形。

另外，還可以通過(guò)外部檢測(cè)裝置對(duì)全部掃描信號(hào)的延時(shí)進(jìn)行分析與研究。

實(shí)施例二、

以圖2b所示的陣列基板為例，輸入該陣列基板中的各柵線gate_m的掃描信號(hào)gate_m如圖3b所示。在圖3b中，sn_1代表信號(hào)傳輸線200_1上的信號(hào)，sn_2代表信號(hào)傳輸線200_2上的信號(hào)，sn_3代表信號(hào)傳輸線200_3上的信號(hào)，sn_4代表信號(hào)傳輸線200_4上的信號(hào)。

在柵線gate_1輸入的掃描信號(hào)gate_1為有效電壓時(shí)，由于掃描信號(hào)gate_1的有效電壓大于開(kāi)關(guān)晶體管m0的閾值電壓vth，因此柵線gate_1連接的開(kāi)關(guān)晶體管m0將掃描信號(hào)gate_1輸出給信號(hào)傳輸線200_1，以使此時(shí)信號(hào)傳輸線200_1上的信號(hào)sn_1為具有掃描信號(hào)gate_1的有效電壓的信號(hào)。在柵線gate_2輸入的掃描信號(hào)gate_2為有效電壓時(shí)，由于掃描信號(hào)gate_2的有效電壓大于開(kāi)關(guān)晶體管m0的閾值電壓vth，因此柵線gate_2連接的開(kāi)關(guān)晶體管m0將掃描信號(hào)gate_2輸出給信號(hào)傳輸線200_2，以使此時(shí)信號(hào)傳輸線200_2上的信號(hào)sn_2為具有掃描信號(hào)gate_2的有效電壓的信號(hào)。在柵線gate_3輸入的掃描信號(hào)gate_3為有效電壓時(shí)，由于掃描信號(hào)gate_3的有效電壓大于開(kāi)關(guān)晶體管m0的閾值電壓vth，因此柵線gate_3連接的開(kāi)關(guān)晶體管m0將掃描信號(hào)gate_3輸出給信號(hào)傳輸線200_3，以使此時(shí)信號(hào)傳輸線200_3上的信號(hào)sn_3為具有掃描信號(hào)gate_3的有效電壓的信號(hào)。在柵線gate_4輸入的掃描信號(hào)gate_4為有效電壓時(shí)，由于掃描信號(hào)gate_4的有效電壓大于開(kāi)關(guān)晶體管m0的閾值電壓vth，因此柵線gate_4連接的開(kāi)關(guān)晶體管m0將掃描信號(hào)gate_4輸出給信號(hào)傳輸線200_4，以使此時(shí)信號(hào)傳輸線200_4上的信號(hào)sn_4為具有掃描信號(hào)gate_4的有效電壓的信號(hào)。

同理，在柵線gate_5輸入的掃描信號(hào)gate_5為有效電壓時(shí)，信號(hào)傳輸線200_1上的信號(hào)sn_1為具有掃描信號(hào)gate_5的有效電壓的信號(hào)。在柵線gate_6輸入的掃描信號(hào)gate_6為有效電壓時(shí)，信號(hào)傳輸線200_2上的信號(hào)sn_2為具有掃描信號(hào)gate_6的有效電壓的信號(hào)。在柵線gate_7輸入的掃描信號(hào)gate_7為有效電壓時(shí)，信號(hào)傳輸線200_3上的信號(hào)sn_3為具有掃描信號(hào)gate_7的有效電壓的信號(hào)。在柵線gate_8輸入的掃描信號(hào)gate_8為有效電壓時(shí)，信號(hào)傳輸線200_4上的信號(hào)sn_4為具有掃描信號(hào)gate_8的有效電壓的信號(hào)。

另外，在其余柵線依次輸入的掃描信號(hào)為有效電壓時(shí)，若其余柵線輸入的掃描信號(hào)的有效電壓均大于開(kāi)關(guān)晶體管m0的閾值電壓vth時(shí)，則信號(hào)傳輸線200_n上的信號(hào)此時(shí)為具有這些掃描信號(hào)的有效電壓的信號(hào)。若其余柵線中的一條柵線輸入的掃描信號(hào)的有效電壓小于或等于開(kāi)關(guān)晶體管m0的閾值電壓vth時(shí)，信號(hào)傳輸線200_n上的信號(hào)此時(shí)為零電壓。

在針對(duì)上述陣列基板的全部掃描信號(hào)進(jìn)行測(cè)試時(shí)，可以通過(guò)外部檢測(cè)裝置獲取信號(hào)傳輸線200_1上的信號(hào)sn_1、獲取信號(hào)傳輸線200_2上的信號(hào)sn_2、獲取信號(hào)傳輸線200_3上的信號(hào)sn_3以及獲取信號(hào)傳輸線200_4上的信號(hào)sn_4。之后可以采用示波器針對(duì)每一條信號(hào)傳輸線200_n，將獲取到的信號(hào)傳輸線200_n上信號(hào)sn_n的波形與預(yù)設(shè)標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)的波形進(jìn)行比較，確定信號(hào)傳輸線200_n信號(hào)sn_n中的異常波形；并根據(jù)確定出的異常波形確定異常波形對(duì)應(yīng)的掃描信號(hào)，以及根據(jù)確定出的掃描信號(hào)確定對(duì)應(yīng)的柵極驅(qū)動(dòng)電路中移位寄存器的級(jí)數(shù)。這樣即可實(shí)現(xiàn)對(duì)全部掃描信號(hào)的分析和研究。

具體地，采用示波器針對(duì)信號(hào)傳輸線200_1，將獲取到的信號(hào)傳輸線200_1上信號(hào)sn_1的波形與對(duì)應(yīng)的預(yù)設(shè)標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)的波形進(jìn)行比較，可以確定信號(hào)傳輸線200_1信號(hào)sn_1中無(wú)異常波形。采用示波器針對(duì)信號(hào)傳輸線200_2，將獲取到的信號(hào)傳輸線200_2上信號(hào)sn_2的波形與對(duì)應(yīng)的預(yù)設(shè)標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)的波形進(jìn)行比較，可以確定信號(hào)傳輸線200_2信號(hào)sn_2中無(wú)異常波形。采用示波器針對(duì)信號(hào)傳輸線200_3，將獲取到的信號(hào)傳輸線200_3上信號(hào)sn_3的波形與對(duì)應(yīng)的預(yù)設(shè)標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)的波形進(jìn)行比較，確定信號(hào)傳輸線200_3信號(hào)sn_3中的異常波形；根據(jù)確定出的異常波形確定異常波形對(duì)應(yīng)的掃描信號(hào)，即可確定信號(hào)sn_3中的異常波形對(duì)應(yīng)掃描信號(hào)gate_7，從而可以根據(jù)確定出的掃描信號(hào)gate_7確定對(duì)應(yīng)的柵極驅(qū)動(dòng)電路goa_1中移位寄存器的級(jí)數(shù)，即對(duì)應(yīng)柵極驅(qū)動(dòng)電路goa_1中的第四級(jí)移位寄存器sr(1_4)，從而可以得出第四級(jí)移位寄存器sr(1_4)輸出異常。并且，采用示波器針對(duì)信號(hào)傳輸線200_4，將獲取到的信號(hào)傳輸線200_4上信號(hào)sn_4的波形與對(duì)應(yīng)的預(yù)設(shè)標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)的波形進(jìn)行比較，可以確定信號(hào)傳輸線200_4信號(hào)sn_4中無(wú)異常波形。

另外，還可以通過(guò)外部檢測(cè)裝置對(duì)全部掃描信號(hào)的延時(shí)進(jìn)行分析與研究。

在實(shí)際應(yīng)用中，每個(gè)信號(hào)傳輸線上的信號(hào)一一對(duì)應(yīng)一個(gè)預(yù)設(shè)標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)。各預(yù)設(shè)標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)分別為對(duì)應(yīng)的信號(hào)傳輸線所連接的開(kāi)關(guān)晶體管對(duì)應(yīng)的柵線上的掃描信號(hào)的有效脈沖信號(hào)的疊加。

基于同一發(fā)明構(gòu)思，本發(fā)明實(shí)施例還提供了一種對(duì)本發(fā)明實(shí)施例提供的上述陣列基板的檢測(cè)方法，如圖4所示，包括：

s401、將各外部測(cè)試探針與各信號(hào)傳輸線一一對(duì)應(yīng)導(dǎo)通，并控制柵極驅(qū)動(dòng)電路依次向連接的柵線輸入掃描信號(hào)，獲取各信號(hào)傳輸線上對(duì)應(yīng)的信號(hào)；其中，針對(duì)一條柵線，在柵線上的掃描信號(hào)的有效電壓大于預(yù)設(shè)閾值電壓時(shí)，與柵線連接的信號(hào)輸出單元將掃描信號(hào)輸出給連接的信號(hào)傳輸線。

在具體實(shí)施時(shí)，在本發(fā)明實(shí)施例提供的上述檢測(cè)方法中，在獲取各信號(hào)傳輸線上對(duì)應(yīng)的信號(hào)之后還包括：采用示波器針對(duì)每一條信號(hào)傳輸線，將獲取到的信號(hào)傳輸線上信號(hào)的波形與預(yù)設(shè)標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)的波形進(jìn)行比較，確定信號(hào)傳輸線信號(hào)中的異常波形；

根據(jù)確定出的異常波形確定異常波形對(duì)應(yīng)的掃描信號(hào)，并根據(jù)確定出的掃描信號(hào)確定對(duì)應(yīng)的柵極驅(qū)動(dòng)電路中移位寄存器的級(jí)數(shù)。

基于同一發(fā)明構(gòu)思，本發(fā)明實(shí)施例還提供了一種顯示面板，包括本發(fā)明實(shí)施例提供的上述任一種陣列基板。該顯示面板解決問(wèn)題的原理與前述陣列基板相似，因此該顯示面板的實(shí)施可以參見(jiàn)上述陣列基板的實(shí)施，重復(fù)之處在此不再贅述。

基于同一發(fā)明構(gòu)思，本發(fā)明實(shí)施例還提供了一種顯示裝置，包括本發(fā)明實(shí)施例提供的上述顯示面板。該顯示裝置可以為：手機(jī)、平板電腦、電視機(jī)、顯示器、筆記本電腦、數(shù)碼相框、導(dǎo)航儀等任何具有顯示功能的產(chǎn)品或部件。對(duì)于該顯示裝置的其它必不可少的組成部分均為本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)該理解具有的，在此不做贅述，也不應(yīng)作為對(duì)本發(fā)明的限制。該顯示裝置的實(shí)施可以參見(jiàn)上述陣列基板的實(shí)施例，重復(fù)之處不再贅述。

本發(fā)明實(shí)施例提供的陣列基板、其檢測(cè)方法、顯示面板及顯示裝置，通過(guò)設(shè)置與每一條柵線連接的信號(hào)輸出單元，以將每一條柵線上輸入的掃描信號(hào)輸出，以及設(shè)置2n條信號(hào)傳輸線并將所有信號(hào)輸出單元分為2n個(gè)單元組，使每個(gè)單元組一一對(duì)應(yīng)連接一條信號(hào)傳輸線，以將同一個(gè)單元組中的所有信號(hào)輸出單元輸出的掃描信號(hào)通過(guò)一條信號(hào)傳輸線輸出給外部的檢測(cè)裝置，即同一個(gè)單元組中的所有信號(hào)輸出單元共用一條信號(hào)傳輸線，從而可以設(shè)置較少的信號(hào)傳輸線將全部柵線上的掃描信號(hào)輸出給外部的檢測(cè)裝置以實(shí)現(xiàn)對(duì)全部掃描信號(hào)的檢測(cè)。并且由于設(shè)置的信號(hào)傳輸線較少，還可以節(jié)省陣列基板的走線布局空間以及降低工藝制備難度。

顯然，本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以對(duì)本發(fā)明進(jìn)行各種改動(dòng)和變型而不脫離本發(fā)明的精神和范圍。這樣，倘若本發(fā)明的這些修改和變型屬于本發(fā)明權(quán)利要求及其等同技術(shù)的范圍之內(nèi)，則本發(fā)明也意圖包含這些改動(dòng)和變型在內(nèi)。