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      用于優(yōu)化光刻過程的基于衍射的光瞳確定的制作方法

      文檔序號:40401853發(fā)布日期:2024-12-20 12:25閱讀:來源:國知局

      技術(shù)特征:

      1.一種非暫時(shí)性計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì),所述非暫時(shí)性計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì)具有記錄于其上的指令,其中,所述指令在由一個(gè)或更多個(gè)處理器執(zhí)行時(shí)促使所述一個(gè)或更多個(gè)處理器執(zhí)行確定用于光刻過程的源的方法,所述方法包括:

      2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的非暫時(shí)性計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì),其中,所述方法還包括使用所述初始光瞳執(zhí)行源掩模優(yōu)化(smo)。

      3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的非暫時(shí)性計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì),其中,所述初始光瞳不包括所述co中的任何衍射光。

      4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的非暫時(shí)性計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì),其中,針對具有小于或等于9的主射線角(crao)的同構(gòu)系統(tǒng)確定具有至少0.45的數(shù)值孔徑的光刻系統(tǒng)的所述第一光瞳,或針對變形(4×8)光刻系統(tǒng)確定具有至少0.5的數(shù)值孔徑的光刻系統(tǒng)的所述第一光瞳。

      5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的非暫時(shí)性計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì),其中,所述掩模模型是厚掩模模型。

      6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的非暫時(shí)性計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì),其中,所述do包括在距零階do峰值位置最接近的do峰值位置處的一階衍射光。

      7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的非暫時(shí)性計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì),其中,所述do包括在正交于所述零階do峰值位置的do峰值位置處的最接近的一階衍射光。

      8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的非暫時(shí)性計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì),其中,所述方法還包括基于do陣列的局部峰值確定do峰值位置,其中,基于所述do峰值位置來確定所述do,

      9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的非暫時(shí)性計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì),其中,所述初始光瞳被包含在介于-na與+na之間的標(biāo)準(zhǔn)差內(nèi)。

      10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的非暫時(shí)性計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì),其中,所述方法還包括使所述do離散化且利用具有離散振幅的所述第一光瞳來產(chǎn)生具有離散化振幅的所述第二dp。

      11.根據(jù)權(quán)利要求1所述的非暫時(shí)性計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì),其中,所述第一dp指示重疊的衍射束的數(shù)目。

      12.根據(jù)權(quán)利要求1所述的非暫時(shí)性計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì),其中,基于所述第一dp的所述重疊區(qū)中的重疊程度來確定所述初始光瞳。

      13.根據(jù)權(quán)利要求121所述的非暫時(shí)性計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì),其中,所述方法還包括:

      14.根據(jù)權(quán)利要求1所述的非暫時(shí)性計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì),其中,所述方法還包括確定所述do的do振幅,其中,在所述第一dp的總和振幅超過衍射圖案重疊的閾值的情況下填充所述初始光瞳。

      15.根據(jù)權(quán)利要求1所述的非暫時(shí)性計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì),其中,所述方法還包括確定所述初始光瞳的重疊區(qū);


      技術(shù)總結(jié)
      披露了用于優(yōu)化在光刻制造和圖案化過程中所使用的源和/或掩模的方法、設(shè)備和軟件。一種方法包括:確定具有中心遮蔽區(qū)(CO)的第一光瞳;基于目標(biāo)設(shè)計(jì)和掩模模型確定衍射階(DO);基于所述DO和所述第一光瞳確定第一衍射圖案(DP),所述第一DP包括衍射光的重疊區(qū);基于所述DO和所述第一光瞳確定第二DP;以及基于所述第一DP和所述第二DP確定初始光瞳,所述初始光瞳包括所述重疊區(qū)中的至少一些重疊區(qū)。

      技術(shù)研發(fā)人員:徐端孚,唐家雷,孫德政
      受保護(hù)的技術(shù)使用者:ASML荷蘭有限公司
      技術(shù)研發(fā)日:
      技術(shù)公布日:2024/12/19
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