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      基于熱感生電場(chǎng)誘導(dǎo)流變直寫的光柵制造方法

      文檔序號(hào):8486950閱讀:426來源:國(guó)知局
      基于熱感生電場(chǎng)誘導(dǎo)流變直寫的光柵制造方法
      【技術(shù)領(lǐng)域】
      [0001]本發(fā)明涉及基于熱感生電場(chǎng)誘導(dǎo)流變直寫的光柵制造方法。
      【背景技術(shù)】
      [0002]光柵由平行排列的多條柵線構(gòu)成的光學(xué)器件,廣泛應(yīng)用在光學(xué)系統(tǒng)中,作為核心器件發(fā)揮著色散、偏振、分束等重要作用。尤其是在高端精密制造裝備中,已廣泛應(yīng)用于精密位移測(cè)量、角度測(cè)量。其是數(shù)控加工、微電子制造等高端裝備制造領(lǐng)域的核心器件。
      [0003]隨著微納加工技術(shù)的不斷進(jìn)步,光柵的工作波長(zhǎng)從微米級(jí)已經(jīng)發(fā)展到亞微米甚至納米級(jí),現(xiàn)有技術(shù)中,光柵的制作方法包括機(jī)械刻劃、納米壓印、全息光刻、X射線和電子束光刻、UV-LIGA制造等。機(jī)械刻劃技術(shù)制作光柵,柵線密度無法提得太高,且由于附加切削力的影響,容易造成光柵刻劃質(zhì)量下降;納米壓印具有高分辨率、高可控性、低成本的優(yōu)點(diǎn),但在加工過程中壓印輥的旋轉(zhuǎn)周期會(huì)存在狹縫區(qū)域,圖形連續(xù)性遭到破壞,大量程光柵的加工速度難以提升;全息光刻系統(tǒng)非常昂貴、復(fù)雜,制備納米圖案的光刻工藝條件苛刻;X射線和電子束光刻制作的光柵面積小、成本高、制作周期較長(zhǎng),難以實(shí)現(xiàn)大面積、高效率的光柵制造;利用UV-LIGA技術(shù)制備光柵,光柵膠膜顯影困難,光柵結(jié)構(gòu)柵條線寬與電鍍之前膠模溝槽線寬存在尺寸偏差,印制成品率低,成型速度慢,生產(chǎn)周期長(zhǎng),特別是在光刻工藝的曝光環(huán)節(jié)中,曝光劑量會(huì)極大的影響曝光質(zhì)量,容易出現(xiàn)膠模倒塌、脫落、顯影結(jié)構(gòu)變形粘連等現(xiàn)象,在微細(xì)電鑄過程中存在光柵結(jié)構(gòu)粘連,印制成品率低的問題;傳統(tǒng)光柵制造工藝的局限性導(dǎo)致的尺寸和精度不足,已經(jīng)無法滿足各領(lǐng)域?qū)Ω呔鹊墓鈻诺男枨蟆?br>[0004]專利CN103900480A中,提出了一種利用電紡直寫技術(shù)的光柵尺制造裝置及其方法,但是該方法需要預(yù)先對(duì)光柵基底進(jìn)行鍍鉻,然后電紡柵線圖案作為保護(hù)層,且仍然需要附加的化學(xué)腐蝕過程,將不需要的部分腐蝕去除。該工藝具有以下缺點(diǎn):
      過程相對(duì)復(fù)雜,刻蝕過程需要額外的設(shè)備且化學(xué)腐蝕過程不環(huán)保;
      且由于化學(xué)腐蝕本身工藝的局限性,其刻蝕精度受到側(cè)蝕量、蝕刻速度等影響,要實(shí)現(xiàn)納米精度刻蝕,效率低,難度大。
      [0005]同時(shí),由于沒有給靜電紡絲纖維添加保護(hù)層,在刻蝕過程中,容易將作為保護(hù)層的纖維和鍍鉻玻璃膜同時(shí)腐蝕,從而造成柵線邊緣出現(xiàn)毛刺等不良影響,不能得到光滑平整的光柵柵線,甚至不能順利獲得柵線,極大地影響了光柵的光學(xué)性能,腐蝕工藝參數(shù)極難控制,廣品的良品率低。
      [0006]傳統(tǒng)近場(chǎng)電紡直寫采用“自上而下”的直寫方式,噴頭在上方,被直寫基材在下方,溶液液滴懸掛在噴口處,在電場(chǎng)力作用下形成泰勒錐,當(dāng)電場(chǎng)力和重力的合力突破液滴的表面張力后,形成射流,利用射流進(jìn)行直寫。
      [0007]但是,形成射流的電壓閥值較高,較難準(zhǔn)確匹配電壓值、供液流量、射流流速、基板運(yùn)動(dòng)速度之間的最優(yōu)關(guān)系,當(dāng)關(guān)系不匹配時(shí),容易造成泰勒錐變大、不穩(wěn)定,從而給射流的精確定位沉積造成困難;且射流在運(yùn)動(dòng)過程中容易受多方面因素干擾,容易出現(xiàn)不穩(wěn)定現(xiàn)象;再者,由于慣性、重力等因素影響,難以實(shí)現(xiàn)快速有效的射流啟動(dòng)和停止,給工業(yè)化應(yīng)用造成困難;傳統(tǒng)近場(chǎng)電紡直寫只適合于單噴頭直寫,效率低下,當(dāng)采用多噴頭直寫時(shí),噴頭與噴頭之間的電場(chǎng)干涉嚴(yán)重,如何實(shí)現(xiàn)多噴頭射流沉積定位控制和高精度圖案化仍然是個(gè)挑戰(zhàn)。另外,由于近場(chǎng)電紡直寫技術(shù)固有的技術(shù)局限性,掩膜的高精度、陣列圖案化仍然難以解決。

      【發(fā)明內(nèi)容】

      [0008]本發(fā)明的目的在于提供基于熱感生電場(chǎng)誘導(dǎo)流變直寫的光柵制造方法。
      [0009]本發(fā)明所采取的技術(shù)方案是:
      柵線掩膜制造裝置,包括控制系統(tǒng),熱源,接收平臺(tái),熱電材料,擠出平臺(tái),供液裝置; 其中,控制系統(tǒng)分別與熱源、接收平臺(tái)、擠出平臺(tái)、供液裝置相連;
      熱源用于向熱電材料提供熱輻射以產(chǎn)生感生電場(chǎng);
      供液裝置與擠出平臺(tái)相連并用于向擠出平臺(tái)提供流動(dòng)態(tài)高分子材料;
      擠出平臺(tái)用于向接收平臺(tái)輸出流動(dòng)態(tài)高分子材料;
      接收平臺(tái)用于接收流動(dòng)態(tài)高分子材料。
      [0010]所述的擠出平臺(tái)上設(shè)有多個(gè)輸出口。
      [0011]所述的熱電材料與擠出平臺(tái)緊密相連。
      [0012]所述的供液裝置通過多個(gè)管道與擠出平臺(tái)相連。
      [0013]所述的接收平臺(tái)為光柵母板。
      [0014]基于熱感生電場(chǎng)誘導(dǎo)流變直寫的光柵制造方法,步驟為:
      1)利用計(jì)算機(jī)輔助設(shè)計(jì)軟件設(shè)計(jì)所需掩膜的微納柵線幾何圖形結(jié)構(gòu),然后將該圖形結(jié)構(gòu)轉(zhuǎn)換為輪廓數(shù)據(jù)和填充數(shù)據(jù);
      2)利用上述裝置,控制系統(tǒng)控制熱源開啟,在熱源輻射作用下,熱電材料產(chǎn)生感生電場(chǎng),同時(shí),供液裝置向擠出平臺(tái)提供流動(dòng)態(tài)高分子材料,流動(dòng)態(tài)高分子材料在感生電場(chǎng)的作用下,流變拉伸,形成泰勒錐,泰勒錐尖端與光柵母板接觸;
      3)根據(jù)輪廓數(shù)據(jù)和填充數(shù)據(jù),使得擠出平臺(tái)與光柵母板之間保持設(shè)定的相對(duì)運(yùn)動(dòng)速度與設(shè)定的距離,使流動(dòng)態(tài)高分子材料在光柵母板上形成微/納米級(jí)纖維掩膜;
      4)在帶有掩膜的光柵母板上形成一層保護(hù)膜;
      5)去除光柵母板上的掩膜,清洗,在保護(hù)膜上形成柵線結(jié)構(gòu)的凹槽即可。
      [0015]步驟2)中,所述的流動(dòng)態(tài)高分子材料為下列熔融態(tài)的高分子材料中的至少一種:PCL、PLA、PU、PA、PET、PBT、POE、EVA、CPE、PMMA, ABS、PAM、ACR、EP、PP、PE ;或者為下列高分子材料中的至少一種溶于溶劑中所得的流動(dòng)態(tài)高分子材料:PE0、PLGA、PVDFo
      [0016]步驟3)中,具體采用數(shù)控χ、γ、Ζ軸精密移動(dòng)平臺(tái)控制擠出平臺(tái)與光柵母板在Z軸方向的距離與在XY平面內(nèi)的相對(duì)運(yùn)動(dòng)速度。
      [0017]所述的保護(hù)膜為鋁膜。
      [0018]鋁膜的形成方法為氣相沉積。
      [0019]本發(fā)明的有益效果是:
      本發(fā)明的光柵制造方法,可以避免傳統(tǒng)近場(chǎng)電紡直寫技術(shù)的相關(guān)缺點(diǎn):例如電壓閥值高,多針頭直寫的時(shí)候,容易產(chǎn)生干涉現(xiàn)象,以及容易產(chǎn)生尖端放電現(xiàn)象,且所得掩膜的精度不高等。另外,本發(fā)明的光柵制造方法,不涉及化學(xué)腐蝕過程,工藝綠色簡(jiǎn)單且成本較低。
      [0020]具體來說:
      本發(fā)明的裝置采用熱感生電場(chǎng)代替高壓電場(chǎng),可以避免近場(chǎng)電紡直寫噴頭離基板距離近時(shí)容易產(chǎn)生尖端放電現(xiàn)象,且直寫過程更安全;
      使用平板帶孔的擠出板代替?zhèn)鹘y(tǒng)靜電紡絲的針頭,電場(chǎng)分布情況更集中,產(chǎn)生泰勒錐尖需要的感生電壓閥值更小,且能適用于多射流直寫,而不會(huì)出現(xiàn)傳統(tǒng)多針頭靜電紡絲的干涉現(xiàn)象,可以同時(shí)直寫多條柵線掩膜,效率更高;
      直寫過程相比近場(chǎng)電紡更穩(wěn)定,減弱了電紡過程中的射流不穩(wěn)定性,直寫柵線掩膜的精度更高;
      避免了機(jī)械刻劃光柵過程中,由于附加切削力導(dǎo)致的定位精度降低、基材變形、刀架系統(tǒng)顫振、刀具磨損導(dǎo)致的光柵質(zhì)量下降等不利影響;
      成型柵線尺寸不受噴頭內(nèi)徑、刀具尺寸或光刻曝光光束限制;
      不需要化學(xué)腐蝕過程和額外的刻蝕設(shè)備,制造工藝更簡(jiǎn)單,成本更低;
      克服了化學(xué)腐蝕本身工藝的局限性,其柵線精度由鍍膜技術(shù)決定,利用現(xiàn)有鍍膜技術(shù),極容易實(shí)現(xiàn)納米精度鍍膜,柵線成型效果好、質(zhì)量高;
      制造效率高,成本低,工藝參數(shù)容易控制,良品率高。
      【附圖說明】
      [0021]圖1是柵線掩膜制造裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。
      [0022]圖2為光柵制造流程圖。
      【具體實(shí)施方式】
      [0023]如圖1所示,柵線掩膜制造裝置,包括控制系統(tǒng)I,熱源2,接收平臺(tái)3,熱電材料4,擠出平臺(tái)5,供液裝置6;
      其中,控制系統(tǒng)分別與熱源、接收平臺(tái)、擠出平臺(tái)、供液裝置相連;熱源用于向熱電材料提供熱輻射以產(chǎn)生感生電場(chǎng);供液裝置與擠出平臺(tái)相連并用于向擠出平臺(tái)提供流動(dòng)態(tài)高分子材料;擠出平臺(tái)用于向接收平臺(tái)輸出流動(dòng)態(tài)高分子材料;接收平臺(tái)用于接收流動(dòng)態(tài)高分子材料。
      [0024]優(yōu)選的,所述的擠出平臺(tái)上設(shè)有多個(gè)輸出口。
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