液晶滴注系統(tǒng)及控制方法
【技術領域】
[0001]本發(fā)明涉及液晶面板制造技術領域，并且特別地涉及一種用于制造液晶面板的液晶滴注系統(tǒng)及相關的控制方法。
【背景技術】
[0002]TFT-1XD基板主要包括彩膜(CF)基板和薄膜晶體管(TFT)基板，兩個基板采用封框膠(Sealant)在貼合工藝段將四周粘合，同時封框膠封住盒內液晶，從而形成液晶面板。目前，較為常用的液晶注入工藝為液晶滴注工藝(One Drop Filling，簡稱0DF)。通常，液晶滴注量的基準值可在理論上通過計算得出，在考慮膜層厚度、彩膜側感光間隙材料(PhotoSpacer，簡稱PS)高度、和對盒后的盒厚等關鍵參數后，制作計算基準值±6%范圍內的多個不同的液晶量(LC Split)，在經過LC Margin評價實驗判定最終的中心液晶量及液晶量的可變范圍(受工藝正常波動的影響)。
[0003]例如，圖1示出了一種根據現有技術的用于液晶滴注系統(tǒng)的控制方法的示例性流程圖。如圖所示，開始后，通過液晶滴注工藝獲得液晶面板(步驟101)，然后對所獲得的液晶面板進行目視檢查(通常在暗室中進行)(步驟102)，通過檢查判斷封框膠是否斷裂、液晶是否未充滿、是否存在外觀不良等通過目視檢查即可的缺陷(步驟103)。確定液晶面板合格之后，檢查程序結束，液晶面板被送入之后的有關流程；如果確定液晶面板存在相應的缺陷，可根據缺陷的嚴重程度決定如何處置該液晶面板，例如，回收或拋棄等，然后檢查程序結束。在確定液晶面板因為工藝(例如，液晶滴注量、液晶滴注精度、液晶圖案等)而產生不良，則如上文所述進行復雜的LC Margin實驗重新確定相關工藝參數(步驟104)，然后根據實驗確定的參數調整ODF工藝的參數。
[0004]上述確定中心液晶量的方式存在諸多弊端:1)基準值為計算所得，計算中無法考慮工程波動導致的盒厚差異(例如，膜厚均勻性差異、Fan-out區(qū)體積差異等)；2)生產過程無有效監(jiān)控液晶滴下量機制，LC margin實驗后方可判定液晶量是否合適，如此會導致評價周期過長，LC Split數量過多等問題。
[0005]另外，當前的液晶滴注工藝缺少對于諸如周邊發(fā)黃、漏光等周邊缺陷的檢查機制，無法在產品完全制成前進行先期檢查，因此容易造成材料和資金的浪費。

【發(fā)明內容】

[0006]本發(fā)明的目的在于提供一種新型的液晶滴注系統(tǒng)，其包括對于液晶滴注工藝過程中產生的缺陷進行有效檢查的檢查系統(tǒng)，從而能夠早期發(fā)現各種缺陷，并及時對液晶滴注工藝進行調整，從而節(jié)約時間和成本。
[0007]根據本發(fā)明的一個方面，提供了一種液晶滴注系統(tǒng)。
[0008]根據示例性的實施例，液晶滴注系統(tǒng)包括:液晶滴注設備，其配置為執(zhí)行液晶滴注工藝以獲得液晶面板；圖像采集設備，其配置為獲取液晶面板的圖像；圖像處理器，其配置為對獲取的圖像進行處理，并基于處理后的圖像確定液晶面板的缺陷；和通信模塊，其配置為將與圖像處理器確定的缺陷相關的信息發(fā)送給液晶滴注設備，使得液晶滴注設備能夠根據所述信息調整液晶滴注工藝的參數。
[0009]根據示例性的實施例，圖像處理器進一步配置為:將獲取的液晶面板的圖像轉化為灰階圖像。
[0010]根據示例性的實施例，圖像處理器進一步配置為:識別灰階圖像中各像素的灰階值，并且將所述灰階圖像中將灰階值落入預定范圍內的區(qū)域識別為正常區(qū)域，將灰階值超出所述預定范圍內的區(qū)域識別為缺陷區(qū)域。
[0011]根據示例性的實施例，圖像處理器進一步配置為:根據缺陷區(qū)域的灰階值確定缺陷的類型。
[0012]根據進一步的實施例，圖像處理器配置為:將缺陷區(qū)域中的灰階值落入第一灰度值范圍內的區(qū)域識別為過充滿缺陷區(qū)域；將缺陷區(qū)域中的灰階值落入第二灰度值范圍內的區(qū)域識別為周邊發(fā)黃缺陷區(qū)域；和/或將缺陷區(qū)域中的灰階值落入第三灰度值范圍內的區(qū)域識別為漏光缺陷區(qū)域。
[0013]根據示例性的實施例，圖像處理器配置為執(zhí)行以下項目中的一種或多種:計算缺陷區(qū)域的灰階值與正常區(qū)域的灰階值之差；計算每個缺陷區(qū)域的面積；計算每個缺陷區(qū)域的面積與液晶面板的面積之比；以及確定每個缺陷區(qū)域在液晶面板上的位置。
[0014]根據進一步的實施例，圖像處理器配置為:依據缺陷區(qū)域的灰階值與正常區(qū)域的灰階值之差、缺陷區(qū)域的面積、缺陷區(qū)域的面積與液晶面板的面積之比、缺陷區(qū)域在液晶面板上的位置中的至少一項確定每個缺陷區(qū)域的缺陷嚴重等級和/或液晶面板的質量等級。
[0015]根據示例性的實施例，通信模塊進一步配置為:將圖像處理器確定的缺陷等級、液晶面板的質量等級、以及相應的確定依據通知操作人員；和/或將所述確定依據發(fā)送到液晶滴注設備。
[0016]本發(fā)明的另一方面，提供了一種液晶滴注系統(tǒng)的控制方法
[0017]根據示例性的實施例，所述控制方法包括以下步驟:獲取液晶面板的圖像；對獲取的圖像進行處理；基于處理后的圖像確定液晶面板的缺陷；以及根據與缺陷相關的信息調整液晶滴注工藝的參數。
[0018]根據示例性的實施例，對獲取的圖像進行處理的步驟包括:將所述圖像轉化為灰階圖像。
[0019]根據示例性的實施例，基于處理后的圖像確定液晶面板的缺陷的步驟包括:識別灰階圖像中各像素的灰階值，并將所述灰階圖像中灰階值落入預定范圍內的區(qū)域識別為正常區(qū)域，將灰階值超出所述預定范圍內的區(qū)域識別為缺陷區(qū)域。
[0020]根據示例性的實施例，基于處理后的圖像確定液晶面板的缺陷的步驟還包括:根據缺陷區(qū)域的灰階值確定缺陷的類型。
[0021]根據進一步的實施例，根據缺陷區(qū)域的灰階值確定缺陷的類型的步驟包括:將缺陷區(qū)域中的灰階值落入第一灰度值范圍內的區(qū)域識別為過充滿缺陷區(qū)域；將缺陷區(qū)域中的灰階值落入第二灰度值范圍內的區(qū)域識別為周邊發(fā)黃缺陷區(qū)域；和/或將缺陷區(qū)域中的灰階值落入第三灰度值范圍內的區(qū)域識別為漏光缺陷區(qū)域。
[0022]根據示例性的實施例，所述的控制方法還包括以下步驟中的一個或多個:計算缺陷區(qū)域的灰階值與正常區(qū)域的灰階值之差；計算每個缺陷區(qū)域的面積；計算每個缺陷區(qū)域的面積與液晶面板的面積之比；以及確定每個缺陷區(qū)域在液晶面板上的位置。
[0023]根據示例性的實施例，所述控制方法還包括:依據缺陷區(qū)域的灰階值與正常區(qū)域的灰階值之差、缺陷區(qū)域的面積、缺陷區(qū)域的面積與液晶面板的面積之比、缺陷區(qū)域在液晶面板上的位置中的至少一項確定每個缺陷區(qū)域的缺陷嚴重等級和/或液晶面板的質量等級。
[0024]根據示例性的實施例，所述控制方法，還包括:將確定的缺陷等級、液晶面板的質量等級、以及相應的確定依據通知操作人員；和/或將所述確定依據發(fā)送到液晶滴注設備。
【附圖說明】
[0025]現在將通過舉例的方式結合附圖對本發(fā)明的優(yōu)選實施例進行描述，其中: