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      液晶顯示面板及其制作方法與檢測方法

      文檔序號:9452277閱讀:652來源:國知局
      液晶顯示面板及其制作方法與檢測方法
      【技術(shù)領(lǐng)域】
      [0001]本發(fā)明涉及液晶顯示技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種液晶顯示面板及其制作方法與檢測方法。
      【背景技術(shù)】
      [0002]液晶顯示面板是液晶顯示器的重要組成部分。液晶顯示面板是在薄膜晶體管陣列基板(Thin Film Transistor Array Substrate,TFT Array Substrate)與彩色濾光片(Color Filter, CF)基板之間加入液晶分子,并在兩片基板上施加驅(qū)動電壓來控制液晶分子的旋轉(zhuǎn)方向,改變光的偏振狀態(tài),并藉由偏光板實(shí)現(xiàn)光路的穿透與阻擋,實(shí)現(xiàn)顯示目的。
      [0003]為了使CF基板和TFT陣列基板之間密封,以切斷液晶分子與外界的接觸、維持CF基板和TFT陣列基板之間的盒厚、以及確保液晶顯示面板的顯示效果。CF基板和TFT陣列基板通過框膠(Sealant)進(jìn)行貼合,框膠位于液晶顯示面板的四周??蚰z一般由壓克力、環(huán)氧樹脂、光起始劑等組成,通過UV光照射和加熱進(jìn)行固化。
      [0004]目前一般通過氮?dú)鈹D壓或螺桿推動使框膠材料從針筒中吐出,并通過針筒、龍門、基臺的相對移動,使框膠按照需要的路徑涂布在基板上。然而針筒、龍門、基臺的對位和移動不可避免的會存在誤差,所以框膠的涂布位置容易出現(xiàn)偏差;另外,框膠的涂布寬度受壓力、噴嘴高度、框膠粘度、移動速度等諸多因素的影響,也不可避免的存在誤差。
      [0005]框膠涂布位置或?qū)挾瘸霈F(xiàn)偏差時都有可能會影響顯示效果或影響切割工藝良率。因此在新產(chǎn)品試產(chǎn)或量產(chǎn)品開線時需要進(jìn)行大量測試,量產(chǎn)階段也會對產(chǎn)品進(jìn)行抽檢以保證廣品品質(zhì)。
      [0006]目前出于對液晶顯示產(chǎn)品窄邊框的需求,在CF基板一側(cè),通常將框膠設(shè)置于黑色矩陣(Black Matrix, BM)上面;在TFT陣列基板一側(cè),通常將框膠設(shè)置于周邊金屬電路上面,即框膠位于黑色矩陣及TFT陣列基板上的周邊金屬電路之間。由于黑色矩陣為不透光,TFT陣列基板上的周邊金屬電路透光間隙很窄而透光率很低,則不能直接從TFT陣列基板側(cè)或CF基板側(cè)直接對框膠進(jìn)行觀察檢測。
      [0007]因此,將框膠涂布于黑色矩陣和TFT陣列基板的周邊線路之間,雖然能夠減小液晶顯示面板的寬度,但是無法直接量測框膠的寬度和位置,需要先將TFT陣列基板和CF基板分離,再量測框膠的寬度和位置。這種膠框量測效率低,而且是破壞性的,會損失良品。

      【發(fā)明內(nèi)容】

      [0008]本發(fā)明的目的在于提供一種液晶顯示面板,TFT陣列基板上設(shè)有檢測視窗,能夠直接對框膠的寬度和位置進(jìn)行檢測,進(jìn)而提高了膠框的檢測效率。
      [0009]本發(fā)明的目的還在于提供一種液晶顯示面板的制作方法,膠框涂布后,通過TFT陣列基板上的檢測視窗直接量測框膠的寬度和位置,從而及時調(diào)整框膠的涂布參數(shù),進(jìn)而提尚液晶顯不面板的生廣效率、及廣品良率。
      [0010]本發(fā)明的目的又在于提供一種液晶顯示面板的檢測方法,通過TFT陣列基板上的檢測視窗直接量測框膠的寬度和位置,檢測效率高,不會損失良品。
      [0011]為實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明提供了一種液晶顯示面板,包括:CF基板與所述CF基板相對設(shè)置的TFT陣列基板、及連接所述CF基板和TFT陣列基板的框膠;
      [0012]所述TFT陣列基板包括板體、及設(shè)于板體上的金屬線路;
      [0013]所述CF基板、及所述TFT陣列基板共同形成用于顯示畫面的顯示區(qū)域、及位于所述顯示區(qū)域外圍的周邊區(qū)域;所述金屬線路在所述TFT陣列基板的周邊區(qū)域圍出數(shù)個透光的檢測視窗,用于檢測框膠的寬幅精度、及位置精度。
      [0014]所述金屬線路在所述數(shù)個檢測視窗處設(shè)有尺寸標(biāo)示線。
      [0015]所述數(shù)個檢測視窗為連續(xù)分布。
      [0016]本發(fā)明還提供一種液晶顯示面板的制作方法,包括如下步驟:
      [0017]步驟1、提供一 CF基板整板和一 TFT陣列基板整板,所述CF基板整板上設(shè)有多個CF基板,所述TFT陣列基板整板上對應(yīng)所述數(shù)個CF基板設(shè)有數(shù)個TFT陣列基板;
      [0018]所述TFT陣列基板包括板體、及設(shè)于板體上的金屬線路;所述CF基板、及所述TFT陣列基板共同形成用于顯示畫面的顯示區(qū)域、及位于所述顯示區(qū)域外圍的周邊區(qū)域;所述金屬線路在所述TFT陣列基板的周邊區(qū)域圍出數(shù)個透光的檢測視窗;
      [0019]步驟2、在所述數(shù)個CF基板或所述數(shù)個TFT陣列基板的周邊區(qū)域上涂布框膠,將所述CF基板整板和所述TFT陣列基板整板相對貼合;
      [0020]步驟3、對所述框膠進(jìn)行固化,在所述框膠進(jìn)行固化前、或者進(jìn)行固化后,通過所述數(shù)個檢測視窗檢測所述框膠的位置精度和寬度精度;根據(jù)對所述框膠的檢測數(shù)據(jù),對框膠涂布參數(shù)進(jìn)行調(diào)整;
      [0021 ] 步驟4、對所述CF基板整板及TFT陣列基板整板進(jìn)行切割作業(yè),得到數(shù)個液晶顯示面板。
      [0022]所述步驟3中,在所述框膠固化前,通過所述數(shù)個檢測視窗檢測所述框膠的位置精度和寬度精度,具體為,采用CCD圖像采集系統(tǒng)對所述數(shù)個檢測視窗處框膠的分布數(shù)據(jù)進(jìn)行采集,與所述CCD圖像采集系統(tǒng)相連接的計算機(jī)根據(jù)該分布數(shù)據(jù)進(jìn)行分析并反饋框膠的位置精度、寬度精度,并對步驟2中框膠涂布參數(shù)進(jìn)行調(diào)整。
      [0023]所述步驟3中,在所述框膠固化后,通過所述數(shù)個檢測視窗檢測所述框膠的位置精度和寬度精度,具體為,采用CCD圖像采集系統(tǒng)對所述數(shù)個檢測視窗處框膠的分布數(shù)據(jù)進(jìn)行采集,與所述CCD圖像采集系統(tǒng)相連接的計算機(jī)根據(jù)該分布數(shù)據(jù)進(jìn)行分析并反饋框膠的位置精度、寬度精度,并對步驟2中框膠涂布參數(shù)進(jìn)行調(diào)整。
      [0024]所述步驟3中,在所述框膠固化后,采用光學(xué)顯微鏡觀察所述數(shù)個檢測視窗處框膠的分布情況并分析,得出所述框膠的位置精度、寬度精度,根據(jù)分析結(jié)果,對所述步驟2中框膠涂布參數(shù)進(jìn)行調(diào)整。
      [0025]所述金屬線路在所述數(shù)個檢測視窗處設(shè)有尺寸標(biāo)示線。
      [0026]所述數(shù)個檢測視窗為連續(xù)分布。
      [0027]本發(fā)明還提供一種液晶顯示面板的檢測方法,采用光學(xué)顯微鏡觀察所述數(shù)個檢測視窗處框膠的分布情況并分析,判斷所述液晶顯示面板上的框膠為合格或不合格。
      [0028]本發(fā)明的有益效果:本發(fā)明提供的一種液晶顯示面板及其制作方法與檢測方法。本發(fā)明的液晶顯示面板,TFT陣列基板上的金屬線路在周邊區(qū)域形成數(shù)個透光的檢測視窗,從而不需要分離TFT陣列基板和CF基板,可直接通過檢測視窗對框膠進(jìn)行檢測,有效提高框膠的檢測效率;本發(fā)明的液晶顯示面板的制作方法,通過調(diào)整TFT陣列基板周邊區(qū)域上金屬線路的分布,使金屬線路圍出數(shù)個透光的檢測視窗,涂布框膠后,通過TFT陣列基板上的檢測視窗直接檢測框膠的寬度和位置,檢測中不需分離TFT陣列基板和CF基板,不對產(chǎn)品進(jìn)行破壞,從而能及時反饋異常,并及時對框膠涂布參數(shù)進(jìn)行調(diào)整,提高了產(chǎn)線生產(chǎn)效率、及產(chǎn)品良率,節(jié)省成本;本發(fā)明的液晶顯示面板的檢測方法,通過TFT陣列基板上的檢測視窗直接量測框膠的寬度和位置,檢測效率高,不會損失良品。
      [0029]為了能更進(jìn)一步了解本發(fā)明的特征以及技術(shù)內(nèi)容,請參閱以下有關(guān)本發(fā)明的詳細(xì)說明與附圖,然而附圖僅提供參考與說明用,并非用來對本發(fā)明加以限制。
      【附圖說明】
      [0030]下面結(jié)合附圖,通過對本發(fā)明的【具體實(shí)施方式】詳細(xì)描述,將使本發(fā)明的技術(shù)方案及其它有益效果顯而易見。
      [0031]附圖中,
      [0032]圖1a為本發(fā)明的液晶顯示面板的剖面結(jié)構(gòu)示意圖;
      [0033]圖1b為圖1a中沿A-A方向的剖面示意圖;
      [0034]圖2a為本發(fā)明的檢測視窗在TFT陣列基板上的分布示意圖;
      [0035]圖2b為檢測視窗在TFT陣列基板上的另一種分布不意圖;
      [0036]圖3為本發(fā)明的液晶顯示面板的制作方法的步驟3中通過檢測視窗檢測到正常的框膠的示意圖;
      [0037]圖4為本發(fā)明的液晶顯示面板的制作方法的步驟3中通過檢測視窗檢測到寬度過寬的框膠的示意圖;
      [0038]圖5為本發(fā)明的液晶顯示面板的制作方法的步驟3中通過檢測視窗檢測到寬度過窄的框膠的示意圖;
      [0039]圖6為本發(fā)明的液晶顯示面板的制作方法的步驟3中通過檢測視窗檢測到偏移的框膠的示意圖。
      【具體實(shí)施方式】
      [0040]為更進(jìn)一步闡述本發(fā)明所采取的技術(shù)手段及其效果,以下結(jié)合本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例及其附圖進(jìn)行詳細(xì)描述。
      [0041]如圖la、圖1b所示,本發(fā)明首先提供一種液晶顯示面板,包括:CF基板10、與所述CF基板10相對設(shè)置的TFT陣列基板20、及連接所述CF基板10和TFT陣列基板20的框膠30 ;
      [0042]所述TFT陣列基板20包括板體21、及設(shè)于板體21上的金屬線路22 ;
      [0043]所述CF基板10上設(shè)有黑色矩陣11,所述框膠30位于所述黑色矩陣11與金屬線路22之間;
      [0044]所述CF基板10、及所述TFT陣列基板20共同形成用于顯示畫面的顯示區(qū)域、及位于所述顯示區(qū)域外圍的周邊區(qū)域;結(jié)合圖1b和圖2a,所述金屬線路22在所述TFT陣列基板20的周邊區(qū)域圍出數(shù)個透光的檢測視窗221,用于檢測框膠30的寬幅精度、及位置精度。
      [0045]具體的,所述金屬線路22在所述數(shù)個檢測視窗221處設(shè)有尺寸標(biāo)示線,以便于對框膠寬度精度、位置精度的檢測;位于TFT陣列基板20周邊區(qū)域上的金屬線路22包括門電極驅(qū)動(Gate Driver on Array,GOA)元件、靜電防護(hù)(Electro-Static discharge,ESD)電路、扇出(Fan out)引線、以及地線(Ground,GND),則通過在形成門電極驅(qū)動(Gate Driveron Array, GOA)元件、靜電防護(hù)(Electro-Static discharge, ESD)電路、扇出(Fan out)引線、或地線(Ground,GND)時進(jìn)行微調(diào)位置,修改金屬線路22的透光間
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