一雙凸透鏡Gl和第一平凹透鏡G2的焦距分別為f n和f 12，第二鏡片20的第二雙凸透 鏡G3和第二平凹透鏡G4的焦距分別為f21和f 22，第三鏡片30的第三雙凸透鏡G5和雙凹 透鏡66的焦距分別為匕1和匕 2。^(12、￥(13、￥(14、^(16分別為第一雙凸透鏡61、第一平凹 透鏡G2、第二雙凸透鏡G3、第二平凹透鏡G4、第三雙凸透鏡G5和雙凹透鏡G6的阿貝常數(shù)， 60 < Vdl= V d3= V d5< 65, 25 < V d2= V d4= V d6< 30。優(yōu)選地，其中該第一雙凸透鏡 Gl 和 第二雙凸透鏡G3以及第三雙凸透鏡G5均由第一種材料制成，該第一平凹透鏡G2、第二平凹 透鏡G4和雙凹透鏡G6均由第二種材料制成，優(yōu)選地，該第一種材料為H-K9L材料，該第二 種材料為H-ZF6,該保護(hù)玻璃4A也為第一種材料制成的薄片。其中帶通濾光片4B的帶寬在 0· 95 μ m~1. 05 μ m，且透光效率大于90 %。
[0027] 上述鏡片G1-G6均設(shè)于一鏡筒430內(nèi)，并且鏡筒430的兩端分別設(shè)有保護(hù)支架410 和帶通濾光片保護(hù)支架420,保護(hù)支架410和帶通濾光片保護(hù)支架420上分別設(shè)有保護(hù)玻 璃4A和帶通濾光片4B，第一鏡片10、第二鏡片20和第三鏡片30依次設(shè)置在鏡筒430內(nèi)， 并且第一鏡片10、第二鏡片20和第三鏡片30之間的鏡筒430上以及該第三鏡片30的前后 兩端分別設(shè)有鏡片固定環(huán)440。所述保護(hù)支架410和帶通濾光片保護(hù)支架420分別與鏡筒 430螺紋連接固定。
[0028] 如圖2所示，為具有該物鏡的硫系玻璃均勻性的檢測裝置，該裝置包括光源1、擴(kuò) 束準(zhǔn)直鏡2、測試樣品架3、物鏡4,搭載三維移動(dòng)平臺(tái)的探測系統(tǒng)5、光源亮度調(diào)節(jié)器6和圖 像采集處理器7。其中光源亮度調(diào)節(jié)器6與光源1相連接，用于調(diào)節(jié)光源的亮度，圖像采集 處理器7與探測系統(tǒng)5連接。優(yōu)選地，其中光源1包括6V/15W的普通照明燈，光源波長為 0.4μπι~12 μ m，測試樣品架3包括可移動(dòng)支架和三角夾用于固定待測的樣品。該物鏡4、 探測系統(tǒng)5中的探測器、光源1均同軸設(shè)置。所述探測系統(tǒng)5包括搭載了 1/2英寸CMOS的 紅外探測器，其響應(yīng)波段為0. 4 μ m~1. 7 μ m，像素為1280 X 1040,并且該探測系統(tǒng)5還包 括x-y-z三維移動(dòng)平臺(tái)。
[0029] 實(shí)施例1 :
[0030] 該實(shí)施例中的物鏡的口徑為110mm，表1列出的是該物鏡的口徑為IIOmm時(shí)，具 有物鏡的硫系玻璃均勻性檢測裝置的各參數(shù)，各片鏡片的表面類型和材料，其中六片鏡片 G1-G6中的厚度表示的是鏡片中的該面到其后一個(gè)面之間的距離。SI、S2為第一雙凸透鏡 Gl的兩個(gè)面，依次類推。
[0031] 表1:
[0032]
【主權(quán)項(xiàng)】
1. 一種檢測硫系玻璃均勻性的物鏡，其特征在于：包括依次間隔設(shè)置的保護(hù)玻璃 (4A)、第一鏡片（10)、第二鏡片（20)、第H鏡片（30)和帶通濾光片（4B)，所述第一鏡片 (10)、第二鏡片（20)和第H鏡片（30)均為正光焦度的粘合鏡片，所述第一鏡片（10)由第 一雙凸透鏡（G1)和第一平凹透鏡（G2)粘合而成，所述第二鏡片（20)由第二雙凸透鏡（G3) 和第二平凹透鏡佑4)粘合而成，所述第H鏡片（30)由第H雙凸透鏡佑5)和雙凹透鏡佑6) 粘合而成。
2. 如權(quán)利要求1所述的檢測硫系玻璃均勻性的物鏡，其特征在于：滿足W下條件：〇. 01 < f/fi< 0. 02，|f。| > Ifni，0. 6 < f/f2< 0. 7, f 21< f 22, 0. 55 < f/f3< 0. 65，|f 31 < |f32l，6〇<Vdi=Vd3=Vd5< 65,25 <Vd2= Vd4= V 化<30; 其中f為整個(gè)物鏡的焦距，fi、f2和f 3分別為第一鏡片（10)、第二鏡片（20)和第H鏡 片（30)的焦距，第一鏡片（10)中的第一雙凸透鏡（G1)和第一平凹透鏡（G2)的焦距分別 為fii和f 12,第二鏡片（20)的第二雙凸透鏡佑3)和第二平凹透鏡佑4)的焦距分別為和 f22,第H鏡片（30)的第H雙凸透鏡佑5)和雙凹透鏡佑6)的焦距分別為fsi和f32;Vdl、Vd2、 Vd3、Vd4、Vde、Vde分別為第一雙凸透鏡佑1)、第一平凹透鏡佑。、第二雙凸透鏡佑扣、第二平 凹透鏡佑4)、第H雙凸透鏡（G5)和雙凹透鏡（G6)的阿貝常數(shù)。
3. 如權(quán)利要求1或2所述的檢測硫系玻璃均勻性的物鏡，其特征在于；所述第一雙凸 透鏡（G1)、第一平凹透鏡（G2)、第二雙凸透鏡（G3)、第二平凹透鏡（G4)、第H雙凸透鏡（G5) 和雙凹透鏡（G6)均設(shè)于一鏡筒（430)內(nèi)，并且所述鏡筒（430)的兩端分別設(shè)有保護(hù)支架 (410)和帶通濾光片保護(hù)支架（420)，所述保護(hù)支架（410)和帶通濾光片保護(hù)支架（420)上 分別設(shè)有保護(hù)玻璃（4A)和帶通濾光片（4B)。
4. 如權(quán)利要求3所述的檢測硫系玻璃均勻性的物鏡，其特征在于；所述第一鏡片（10)、 第二鏡片（20)和第H鏡片（30)之間的鏡筒（430) W及第H鏡片（30)的前后兩端的鏡筒 (430)上分別設(shè)有鏡片固定環(huán)（440)。
5. 如權(quán)利要求1或2所述的檢測硫系玻璃均勻性的物鏡，其特征在于；所述帶通濾光 片（4B)的帶寬波長為0. 95ym~1.05ym，透光率大于90%。
6. -種具有上述權(quán)利要求1-5中任一項(xiàng)所述的物鏡的硫系玻璃均勻性檢測裝置，其特 征在于：包括依次設(shè)置的光源（1)、擴(kuò)束準(zhǔn)直鏡（2)、測試樣品架（3)、物鏡（4)和探測系統(tǒng) 巧），光源亮度調(diào)節(jié)器（6)連接至所述光源（1)并且控制所述光源（1)的亮度，一圖像采集 處理器（7)連接至所述探測系統(tǒng)巧）。
7. 如權(quán)利要求6所述的硫系玻璃均勻性檢測裝置，其特征在于；所述探測系統(tǒng)（5) 包括搭載了 1/2英寸CMOS的紅外探測器，其響應(yīng)波段為0.4ym~1.7ym，像素為 1280 X 1040,并且該探測系統(tǒng)（5)還包括x-y-z H維移動(dòng)平臺(tái)。
【專利摘要】一種檢測硫系玻璃均勻性的物鏡，其特征在于：包括依次間隔設(shè)置的保護(hù)玻璃、第一鏡片、第二鏡片、第三鏡片和帶通濾光片，所述第一鏡片、第二鏡片和第三鏡片均為正光焦度的粘合鏡片，所述第一鏡片由第一雙凸透鏡和第一平凹透鏡粘合而成，所述第二鏡片由第二雙凸透鏡和第二平凹透鏡粘合而成，所述第三鏡片由第三雙凸透鏡和雙凹透鏡粘合而成。本實(shí)用新型的檢測硫系玻璃均勻性的物鏡以及具有其的檢測裝置，具有較好的光學(xué)性能，實(shí)現(xiàn)了硫系玻璃均勻性的檢測，而且成像質(zhì)量佳，性能穩(wěn)定。
【IPC分類】G02B13-00, G01N21-958, G01N21-84
【公開號(hào)】CN204374505
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201420817774
【發(fā)明人】吳越豪, 姜波, 戴世勛, 張培全, 聶秋華, 王訓(xùn)四, 沈祥, 張巍, 張培晴
【申請(qǐng)人】寧波大學(xué)
【公開日】2015年6月3日
【申請(qǐng)日】2014年12月22日