本發(fā)明屬于激光加工技術(shù),涉及一種去除金屬表面陶瓷涂層的高能短脈沖激光加工方法。
背景技術(shù):
金屬材料表面的陶瓷涂層具有良好的隔熱、耐蝕和抗氧化的作用,可使發(fā)動機渦輪葉片工作溫度提高200~300℃。有報道稱,航空發(fā)動機工作溫度每升高5℃可增加功率1.3%和熱效率0.4%,因而受到了航空航天部門的極大重視。陶瓷涂層所處環(huán)境非常惡劣,在高溫氧化和熱沖擊作用下,易發(fā)生剝落而失效。陶瓷涂層的失效會給飛行器安全帶來巨大危害。因此,為了延長葉片的使用壽命,提高葉片安全性和經(jīng)濟效益,需要定期將葉片送檢,將受損陶瓷涂層完全去除后,再采用沉積或噴涂方法對陶瓷涂層進行修復(fù)。
目前,去除金屬表面的陶瓷涂層一般采用機械或化學(xué)方法。機械方法一般采用刀具加工的方法去掉涂層,然而對于復(fù)雜形狀零件,機械方法難度較大,工藝復(fù)雜;另外,也有采用吹砂法去除涂層,該方法雖然高效,適用范圍廣,但是精度差,而且吹砂所用砂粒可能會嵌入金屬基體中,從而在涂層制備時導(dǎo)致金屬/陶瓷界面引入雜質(zhì),影響后期涂層結(jié)合力;而化學(xué)方法是目前葉片常用的陶瓷涂層去除技術(shù)之一,利用強腐蝕性的堿或酸將陶瓷層腐蝕溶解掉,但是該方法存在環(huán)境污染大、反應(yīng)條件苛刻(高壓、高溫)及可控制性差等不足。
技術(shù)實現(xiàn)要素:
本發(fā)明正是針對上述涂層去除需求而設(shè)計提供了一種去除金屬表面陶瓷涂層的高能短脈沖激光加工方法。
本發(fā)明解決上述問題的技術(shù)方案是:將金屬材料置于真空環(huán)境或氬氣保護氣氛下,利用高能短脈沖激光的兩種直徑的聚焦光斑輻照,分別采用不同方法對面積大于20mm×10mm和面積小于10mm×5mm的金屬表面涂層區(qū)域進行去除。對于面積大于20mm×10mm的表面陶瓷涂層區(qū)域采用如下工藝步驟:
(1)將含表面涂層的金屬基體固定在銅模上,并置于真空環(huán)境或氮氣保護氣氛下,采用直徑為Φ10mm~Φ25mm的圓形聚焦光斑輻照,激光脈沖寬度1ns~50ns,頻率1Hz~10Hz,激光光束與涂層表面的夾角為45°~90°,峰值功率密度達到1MW/cm2以上,光斑搭接率≤30%,當(dāng)搭接率為0時,相鄰兩個圓形光斑邊緣相切,光斑掃描方式為逐點掃描或逐層掃描,每4000~5000次激光照射后暫停,冷卻5min~15min后繼續(xù)激光照射,重復(fù)以上步驟直至涂層完全去除。
對于面積小于10mm×5mm的表面陶瓷涂層區(qū)域采用如下工藝步驟:
(2)將含表面涂層的金屬基體固定在銅模上,并置于真空環(huán)境或氮氣保護氣氛下,采用直徑為Φ2mm~Φ4mm的圓形聚焦光斑輻照,激光脈沖寬度1ns~50ns,頻率1Hz~10Hz,激光光束與涂層表面的夾角為45°~90°,峰值功率密度達到40MW/cm2以上,光斑搭接率為30%~50%,光斑掃描方式為逐點掃描或逐層掃描,每4000~5000次激光照射后暫停,冷卻5min~15min后繼續(xù)激光照射,重復(fù)以上步驟直至涂層完全去除。
本發(fā)明所涉及的金屬材料為單晶高溫合金、高強鋼或鈦合金,去除的陶瓷涂層為純ZrO2或氧化物穩(wěn)定的ZrO2涂層,涂層厚度大于50μm。
本發(fā)明的優(yōu)點在于:本發(fā)明采用激光去除金屬表面陶瓷涂層,是一種環(huán)境友好的新型表面清潔技術(shù),通過高能(≥106W/cm2)、短脈沖(納秒級)激光束照射材料表面,使粘附的涂層或污染物氣化蒸發(fā),或產(chǎn)生等離子沖擊波破壞涂層(或污染物)和基體之間的結(jié)合力,實現(xiàn)表面涂層去除。相比于傳統(tǒng)使用的機械和化學(xué)去除技術(shù),激光去除技術(shù)綠色環(huán)保,可控性好,精度高,對基體損傷小,所得表面質(zhì)量高,去除效果優(yōu)異。本發(fā)明采用大直徑的聚焦光斑可提高去除效率,而小直徑的聚焦光斑可對小面積的殘留涂層進行精準(zhǔn)去除。通過上述方法可顯著提高涂層去除后金屬基體表面質(zhì)量,從而在后續(xù)涂層再制備時,有利于提高涂層與金屬基體的界面結(jié)合強度。此工藝過程具有綠色環(huán)保、精度高、可控性好的優(yōu)點。
本發(fā)明主要針對單晶高溫合金、高強鋼、鈦合金等零件的表面陶瓷涂層去除的要求,能夠獲得比常規(guī)化學(xué)及機械方法更高的表面質(zhì)量,且不傷及金屬基體,該方法具有綠色環(huán)保、精度高、可控性好等優(yōu)點,適用性廣。該技術(shù)還可在飛機蒙皮、地面燃機葉片、起落架,軸承等其他航空構(gòu)件的受損涂層或污垢的去除上應(yīng)用,前景廣闊。
附圖說明
圖1直徑Φ25mm的聚焦光斑輻照的圓形搭接方式(實圓圈為光斑);
圖2直徑Φ4mm的聚焦光斑輻照的圓形搭接方式(實圓圈為直徑Φ4mm聚焦光斑,虛線箭頭為光斑移動方向,虛線圓圈為步驟(1)中直徑Φ25mm的聚焦光斑輻照);
圖3原始陶瓷涂層表面形貌SEM照片;
圖4去除后的金屬材料表面形貌SEM照片;
圖5直徑Φ25mm的聚焦光斑輻照后陶瓷涂層與金屬基體邊界處的SEM照片
具體實施例1
本發(fā)明中所述的待處理金屬為單晶高溫合金、高強鋼或鈦合金試片,試片面積為40mm×20mm,厚度為2mm,試片表面全部覆蓋有純ZrO2或氧化物穩(wěn)定的ZrO2涂層,該陶瓷涂層采用氣相沉積或熱噴涂的方法制備。
采用如下方法對金屬試片表面的陶瓷涂層進行去除:
(1)為了提高去除速率,采用直徑為Φ25mm的圓形聚焦光斑輻照,對面積大于20mm×10mm的表面陶瓷涂層區(qū)域進行激光去除。采用如下工藝步驟:
先將金屬試片固定在板狀銅模上,并置于真空環(huán)境或氮氣保護氣氛中,激光脈沖寬度為1ns~50ns,頻率為5Hz~10Hz,激光光束與涂層表面的夾角為90°,峰值功率密度達到1MW/cm2以上,當(dāng)此高能短脈沖激光作用在陶瓷涂層表面上,陶瓷被瞬間汽化從而脫離表面,由于脈沖作用時間短,表面以下熱影響區(qū)很小(小于3μm),對金屬基體的熱作用非常小,避免了熱損傷。
另外,光斑搭接率為0%(當(dāng)搭建率為0時,相鄰兩個圓形光斑邊緣相切,如圖1所示)。光斑掃描方式采用逐點掃描法,即將光斑停留在第一個位置,持續(xù)照射直至露出金屬表面后停止,移動光斑至下一個位置,持續(xù)照射至露出金屬表面,依次類推,直至整個表面露出金屬表面。為了防止金屬試片溫度太高,每4000~5000次激光照射后暫停,依靠金屬與銅模的熱傳導(dǎo)實現(xiàn)冷卻,約15min后繼續(xù)進行激光照射,重復(fù)以上步驟直至涂層完全去除,露出金屬表面。
(2)由于相鄰光斑之間存在間隙,部分區(qū)域仍會殘留陶瓷涂層,因此,對于這些面積小于10mm×5mm的表面陶瓷涂層區(qū)域采用如下工藝步驟:
將金屬試片固定在板狀銅模上,并置于真空環(huán)境或氮氣保護氣氛中,采用直徑為Φ4mm的圓形聚焦光斑輻照,激光脈沖寬度1ns~50ns,頻率1Hz~10Hz,激光光束與涂層表面的夾角為90°,峰值功率密度達到40MW/cm2以上,光斑搭接率為50%(如圖2所示),光斑掃描方式采用逐層掃描法,即將光斑停留在第一個位置輻照一次后,移動至第二個位置,再輻照一次后,依次類推,直至覆蓋整個區(qū)域,重復(fù)以上掃描路徑多次,直至整個表面露出金屬表面。為了防止金屬試片溫度太高,每4000~5000次激光照射后暫停,依靠金屬與銅模的熱傳導(dǎo)實現(xiàn)冷卻,約5min后繼續(xù)進行激光照射,重復(fù)以上步驟直至涂層完全去除,露出金屬表面。
(3)待涂層完全去除后,將金屬試片放入酒精或丙酮中超聲清洗后晾干。
分別對原始試片和去除陶瓷層的試片表面進行掃描電鏡觀察。圖3為原始陶瓷涂層的表面SEM形貌,可見陶瓷層均勻分布在試片表面。而經(jīng)過激光去除陶瓷層后,金屬基體表面的SEM形貌如圖4所示,可見表面陶瓷層被完全去除,而下面的粘結(jié)層幾乎沒有損傷。圖5為聚焦光斑輻照后陶瓷層與金屬基體邊界處的SEM形貌,可見邊界邊緣輪廓清晰,去除過程表現(xiàn)出良好的可控性。綜上所述,該方法能夠有效去除金屬基體表面的陶瓷層,獲得較高的表面質(zhì)量,并且具有綠色環(huán)保,可控性好,精度高,適用性廣的優(yōu)點。
具體實施例2
具體過程與實施例1基本相同,不同點如下:
1、本發(fā)明中所述的待處理金屬為單晶高溫合金葉片,葉身表面積大于40mm×60mm,葉身表面全部覆蓋有氧化物穩(wěn)定的ZrO2涂層,該陶瓷涂層采用氣相沉積的方法制備;
2、步驟(1)中將葉片固定在仿形的凹形銅模內(nèi),采用直徑為Φ10mm的圓形聚焦光斑輻照,頻率為1Hz~5Hz,激光光束與涂層表面的夾角為45°;
3、步驟(2)中將葉片固定在仿形的凹形銅模內(nèi),采用直徑為Φ2mm的圓形聚焦光斑輻照,激光光束與涂層表面的夾角為45°,光斑搭接率為30%。
具體實施例3
具體過程與實施例1基本相同,不同點如下:
1、本發(fā)明中所述的待處理金屬為Φ60mm×60mm的高強鋼或鈦合金圓柱體,表面的涂層為采用熱噴涂工藝制備的純ZrO2陶瓷層;
2、步驟(1)中將圓柱體固定在仿形的凹形銅模內(nèi),采用直徑為Φ20mm的圓形聚焦光斑輻照,光斑搭接率為30%,光斑掃描方式采用逐層掃描法;
3、步驟(2)中將圓柱體固定在仿形的凹形銅模內(nèi),采用直徑為Φ3mm的圓形聚焦光斑輻照,光斑搭接率為30%,光斑掃描方式采用逐點掃描法。