本實(shí)用新型涉及校正裝置技術(shù)領(lǐng)域，具體為一種焊接校正機(jī)構(gòu)。

背景技術(shù)：

現(xiàn)有焊接裝置主要是通過(guò)夾具將工件夾持，然后通過(guò)機(jī)械臂或者人工進(jìn)行焊接的，這種焊接方式雖然說(shuō)比較快捷有效，但是在實(shí)際的操作中容易出現(xiàn)偏離，需要進(jìn)行校正。而這種偏離的原因在于調(diào)整方位時(shí)機(jī)械臂的調(diào)整氣缸由于需要頻繁的進(jìn)行伸縮壓緊過(guò)程中的位移導(dǎo)致的。

為了以提高焊接的精準(zhǔn)性，目前來(lái)說(shuō)開發(fā)了很多種的校正機(jī)構(gòu)，但是目前的校正機(jī)構(gòu)對(duì)于現(xiàn)有的焊接夾具來(lái)說(shuō)操作十分的繁瑣，在實(shí)際的工作過(guò)程中，校正機(jī)構(gòu)很有可能會(huì)限制焊接頭的焊接運(yùn)移軌跡，這是在目前的校正機(jī)構(gòu)中最為常見的一個(gè)問(wèn)題。而且在現(xiàn)有的校正機(jī)構(gòu)中，校正探頭的數(shù)量為單個(gè)，這就表明在實(shí)際的校正過(guò)程中，只能進(jìn)行簡(jiǎn)單的一維或者二維的平面校正，而不能達(dá)到實(shí)際過(guò)程中需求的三維校正，而探頭在進(jìn)行工件校正的過(guò)程中會(huì)非常靠近工件的調(diào)整位移路徑，即有可能在進(jìn)行另外方向的調(diào)整時(shí)影響現(xiàn)有位置的調(diào)整，導(dǎo)致校正相互矛盾的產(chǎn)生。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

為實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型提供如下技術(shù)方案：一種焊接校正機(jī)構(gòu)，包括校正軌道、工件載體和光敏探頭，所述校正軌道的數(shù)量為兩個(gè)，且兩個(gè)校正軌道之間互成90°，所述校正軌道的連接處位于工件載體內(nèi)部，且校正軌道與工件載體的連接處還安裝有對(duì)接軌道，所述工件載體為矩形體，且在工件載體的側(cè)面設(shè)有鋸型齒，所述光敏探頭的數(shù)量為四個(gè)，且每條校正軌道上分別設(shè)有兩個(gè)光敏探頭，所述光敏探頭均通過(guò)主軸驅(qū)動(dòng)，用于提供校正移動(dòng)動(dòng)力，所述光敏探頭由機(jī)械零點(diǎn)、對(duì)刀探頭和光敏電阻組成，所述光敏電阻固定安裝在機(jī)械零點(diǎn)上方，所述光敏電阻側(cè)面還固定安裝有遮光板。

作為本實(shí)用新型一種優(yōu)選的技術(shù)方案，所述校正軌道在兩個(gè)相互垂直的平面內(nèi)，且在同一個(gè)平面的垂直距離為10cm。

作為本實(shí)用新型一種優(yōu)選的技術(shù)方案，所述對(duì)接軌道的延伸方向與校正軌道方向一致，且對(duì)接軌道固定安裝在工件載體內(nèi)表面。

作為本實(shí)用新型一種優(yōu)選的技術(shù)方案，所述機(jī)械零點(diǎn)和對(duì)刀探頭固定連接在一起形成一體化結(jié)構(gòu)，且對(duì)刀探頭固定安裝于機(jī)械零頭下方。

作為本實(shí)用新型一種優(yōu)選的技術(shù)方案，所述遮光板的延伸方向與校正軌道的延伸方向一致，且遮光板的長(zhǎng)度為光敏電阻的4倍。

與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實(shí)用新型的有益效果是：該焊接校正機(jī)構(gòu)，通過(guò)設(shè)置空間內(nèi)的校正軌道，將其調(diào)整范圍分布在三維空間內(nèi)部，并通過(guò)光敏電阻上的對(duì)刀探頭和光敏電阻進(jìn)行工件的位置和方向的探測(cè)，機(jī)械零點(diǎn)控制其余校正軌道的距離和方位，防止偏離校正軌道導(dǎo)致誤差校正甚至錯(cuò)誤校正，在實(shí)際中，探頭依靠光敏進(jìn)行探測(cè)，離工件都具有一定的而距離，即在進(jìn)行某一維度的調(diào)整時(shí)不影響其他維度的調(diào)整，更不會(huì)影響焊槍的調(diào)整，總體上來(lái)說(shuō)，根據(jù)光敏進(jìn)行調(diào)整，具有精度更高，調(diào)整范圍更廣，適用面更廣的優(yōu)點(diǎn)。

附圖說(shuō)明

圖1為本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2為本實(shí)用新型光敏電阻位置結(jié)構(gòu)示意圖。

圖中：1-校正軌道；2-工件載體；3-光敏探頭；4-對(duì)接軌道；5-鋸型齒；6-主軸；7-機(jī)械零點(diǎn)；8-對(duì)刀探頭；9-光敏電阻；10-遮光板。

具體實(shí)施方式

下面將結(jié)合本實(shí)用新型實(shí)施例中的附圖，對(duì)本實(shí)用新型實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例僅僅是本實(shí)用新型一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例?；诒緦?shí)用新型中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本實(shí)用新型保護(hù)的范圍。

實(shí)施例：

請(qǐng)參閱圖1和圖2，本實(shí)用新型提供一種技術(shù)方案：一種焊接校正機(jī)構(gòu)，包括校正軌道1、工件載體2和光敏探頭3，所述校正軌道1的數(shù)量為兩個(gè)，且兩個(gè)校正軌道1之間互成90°，所述校正軌道1的連接處位于工件載體2內(nèi)部，且校正軌道1與工件載體2的連接處還安裝有對(duì)接軌道4，所述工件載體2為矩形體，且在工件載體2的側(cè)面設(shè)有鋸型齒5，所述光敏探頭3的數(shù)量為四個(gè)，且每條校正軌道1上分別設(shè)有兩個(gè)光敏探頭3，所述光敏探頭3均通過(guò)主軸6驅(qū)動(dòng)，用于提供校正移動(dòng)動(dòng)力，所述光敏探頭3由機(jī)械零點(diǎn)7、對(duì)刀探頭8和光敏電阻9組成，所述光敏電阻9固定安裝在機(jī)械零點(diǎn)7上方，所述光敏電阻9側(cè)面還固定安裝有遮光板10。

優(yōu)選的是，所述校正軌道1在兩個(gè)相互垂直的平面內(nèi)，且在同一個(gè)平面的垂直距離為10cm；所述對(duì)接軌道4的延伸方向與校正軌道1方向一致，且對(duì)接軌道4固定安裝在工件載體3內(nèi)表面；所述機(jī)械零點(diǎn)7和對(duì)刀探頭8固定連接在一起形成一體化結(jié)構(gòu)，且對(duì)刀探頭8固定安裝于機(jī)械零頭7下方；所述遮光板10的延伸方向與校正軌道1的延伸方向一致，且遮光板10的長(zhǎng)度為光敏電阻9的4倍。

具體使用方式及優(yōu)點(diǎn)：該焊接校正機(jī)構(gòu)，通過(guò)設(shè)置空間內(nèi)的校正軌道，將其調(diào)整范圍分布在三維空間內(nèi)部，并通過(guò)光敏電阻上的對(duì)刀探頭和光敏電阻進(jìn)行工件的位置和方向的探測(cè)，機(jī)械零點(diǎn)控制其余校正軌道的距離和方位，防止偏離校正軌道導(dǎo)致誤差校正甚至錯(cuò)誤校正，在實(shí)際中，探頭依靠光敏進(jìn)行探測(cè)，離工件都具有一定的而距離，即在進(jìn)行某一維度的調(diào)整時(shí)不影響其他維度的調(diào)整，更不會(huì)影響焊槍的調(diào)整，總體上來(lái)說(shuō)，根據(jù)光敏進(jìn)行調(diào)整，具有精度更高，調(diào)整范圍更廣，適用面更廣的優(yōu)點(diǎn)。

本實(shí)用新型的工作原理：通過(guò)光敏探頭感應(yīng)工件的位置，而光敏探頭依靠對(duì)刀探頭進(jìn)行位置和方向的校正，機(jī)械零點(diǎn)控制光敏探頭的距離校正軌道的高度，通過(guò)遮光板校正減弱其他光源對(duì)光敏電阻的影響，在進(jìn)行探頭探明位置信息后通過(guò)主軸調(diào)整探頭的位置進(jìn)行下一步的探測(cè)，與此同時(shí)，通過(guò)校正軌道和對(duì)接軌道的相對(duì)滑動(dòng)調(diào)整具體位置進(jìn)而達(dá)到校正的目的，進(jìn)而通過(guò)焊接槍來(lái)達(dá)到精準(zhǔn)焊接的目的。

對(duì)于本領(lǐng)域技術(shù)人員而言，顯然本實(shí)用新型不限于上述示范性實(shí)施例的細(xì)節(jié)，而且在不背離本實(shí)用新型的精神或基本特征的情況下，能夠以其他的具體形式實(shí)現(xiàn)本實(shí)用新型。因此，無(wú)論從哪一點(diǎn)來(lái)看，均應(yīng)將實(shí)施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本實(shí)用新型的范圍由所附權(quán)利要求而不是上述說(shuō)明限定，因此旨在將落在權(quán)利要求的等同要件的含義和范圍內(nèi)的所有變化囊括在本實(shí)用新型內(nèi)。不應(yīng)將權(quán)利要求中的任何附圖標(biāo)記視為限制所涉及的權(quán)利要求。