。
[0070] 優(yōu)選地，還可W將凸起厚度值傳送給矯直機(jī)的漉縫調(diào)節(jié)系統(tǒng)，從而進(jìn)行"二次矯直 +研床研磨"的方法W消除產(chǎn)生的耳子等缺陷。
[0071] 優(yōu)選地，如圖5所示，電橋測(cè)量電路20包括第一電阻R1、第二電阻R2、第Ξ電阻R3和 第四電阻R4，其電阻值分別用Ri、R2、R3和R4表示。優(yōu)選地，參見(jiàn)上文中的實(shí)施例，Ri、化、化和R4 的取值可W是：
[0074] R3 = R4 = Ro。
[0075] 第一電阻R1，其一端與第四電阻R4的一端連接，接電源正極，其另一端與第二電阻 R2的一端連接，作為電橋測(cè)量電路20的第一輸出端。
[0076] 第二電阻R2,其另一端與第Ξ電阻R3的一端連接，接電源負(fù)極。
[0077] 第Ξ電阻R3,其另一端與第四電阻R4的另一端連接，作為電橋測(cè)量電路20的第二 輸出端。
[0078] 第一電阻R1為第一光學(xué)傳感器14,第二電阻R2、第Ξ電阻R3和第四電阻R4的阻值 不變;或者第一電阻R1為第一光學(xué)傳感器14,第二電阻R2為第二光學(xué)傳感器24,第Ξ電阻R3 和第四電阻R4的阻值不變。
[0079] 例如，如圖5所示，A、C兩點(diǎn)間的電壓用化表示，一般化選用5~15 V，B、D兩點(diǎn)間的電 壓用化表示，貝U
[0080]
[0081 ] 設(shè)R3 = R4 = Ro，那么，當(dāng)化=化（即沒(méi)有出現(xiàn)缺陷）時(shí)，電橋處于平衡狀態(tài)，則化=0。
[0082] 當(dāng)R2〉Ri(即出現(xiàn)了缺陷）時(shí)，Uo辛0
[0083] 優(yōu)選地，如圖6所示，上述缺陷消除系統(tǒng)還包括報(bào)警電路50,與放大電路30連接，用 于當(dāng)放大電路30的輸出電壓沒(méi)有超過(guò)預(yù)設(shè)值，即圓棒材沒(méi)有出現(xiàn)缺陷時(shí)，報(bào)警電路不產(chǎn)生 報(bào)警信號(hào)；當(dāng)放大電路30的輸出電壓超過(guò)了預(yù)設(shè)值，即圓棒材出現(xiàn)缺陷時(shí)，報(bào)警電路產(chǎn)生報(bào) 警信號(hào)。優(yōu)選地，報(bào)警電路可W由邏輯電路來(lái)實(shí)現(xiàn)。
[0084] 優(yōu)選地，上述缺陷消除系統(tǒng)還包括顯示電路60,與反饋控制電路40連接，用于顯示 反饋控制電路40輸出的凸起厚度值。
[0085] 顯然，上述實(shí)施例僅僅是為清楚地說(shuō)明所作的舉例，而并非對(duì)實(shí)施方式的限定。對(duì) 于所屬領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來(lái)說(shuō)，在上述說(shuō)明的基礎(chǔ)上還可W做出其它不同形式的變化或 變動(dòng)。運(yùn)里無(wú)需也無(wú)法對(duì)所有的實(shí)施方式予W窮舉。而由此所引伸出的顯而易見(jiàn)的變化或 變動(dòng)仍處于本實(shí)用新型創(chuàng)造的保護(hù)范圍之中。
【主權(quán)項(xiàng)】
1. 一種用于圓棒材的缺陷檢測(cè)設(shè)備，其特征在于，包括能繞所述圓棒材(3)的中軸線作 旋轉(zhuǎn)運(yùn)動(dòng)的第一檢測(cè)裝置(1); 所述第一檢測(cè)裝置（1)包括同軸且順次排布的第一凹面鏡（12)、第一紫外線光源（11)、 第一濾光片（13)和第一光學(xué)傳感器(14); 所述第一紫外線光源（11)，位于所述第一凹面鏡（12)的焦點(diǎn)處； 所述圓棒材(3)，位于所述第一紫外線光源（11)和所述第一濾光片（13)之間，其中軸線 與所述第一凹面鏡（12)的主軸垂直相交，其預(yù)設(shè)直徑小于經(jīng)所述第一凹面鏡（12)反射后形 成的紫外平行光束的光斑直徑； 所述第一濾光片（13 )，用于濾除紅外光和可見(jiàn)光，透射紫外光； 所述第一光學(xué)傳感器（14)，用于檢測(cè)所述紫外平行光束經(jīng)所述圓棒材(3)部分遮擋且 經(jīng)所述第一濾光片（13)透射后形成的光斑圖像，產(chǎn)生第一電阻值。2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的缺陷檢測(cè)設(shè)備，其特征在于，所述第一光學(xué)傳感器（14)為光敏 電阻器。3. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的缺陷檢測(cè)設(shè)備，其特征在于，還包括第二檢測(cè)裝置(2); 所述第二檢測(cè)裝置(2)包括同軸且順次排布的第二凹面鏡(22)、第二紫外線光源(21)、 第二濾光片(23)和第二光學(xué)傳感器(24); 所述第二紫外線光源(21)，位于所述第二凹面鏡(22)的焦點(diǎn)處； 所述圓棒材(3)，位于所述第二紫外線光源(21)和所述第二濾光片（23)之間，其中軸 線與所述第二凹面鏡(22)的主軸垂直相交，其預(yù)設(shè)直徑小于經(jīng)所述第二凹面鏡(22)反射后 形成的紫外平行光束的光斑直徑； 所述第二濾光片(23)，用于濾除紅外光和可見(jiàn)光，透射紫外光； 所述第二光學(xué)傳感器(24)，用于檢測(cè)所述紫外平行光束經(jīng)所述圓棒材(3)部分遮擋且 經(jīng)所述第二濾光片(23)透射后形成的光斑圖像，產(chǎn)生第二電阻值。4. 根據(jù)權(quán)利要求3所述的缺陷檢測(cè)設(shè)備，其特征在于，所述第二檢測(cè)裝置(2)用于能繞 所述圓棒材(3)的中軸線作旋轉(zhuǎn)運(yùn)動(dòng)。5. 根據(jù)權(quán)利要求3所述的缺陷檢測(cè)設(shè)備，其特征在于，所述第二光學(xué)傳感器(24)為光敏 電阻器。6. -種用于圓棒材的缺陷消除系統(tǒng)，其特征在于，包括:權(quán)利要求1或2所述的缺陷檢測(cè) 設(shè)備(10)、電橋測(cè)量電路(20)、放大電路(30)和反饋控制電路(40); 所述電橋測(cè)量電路（20)，與所述缺陷檢測(cè)設(shè)備（10)連接，用于將所述缺陷檢測(cè)設(shè)備 (1 〇)輸出的電阻值轉(zhuǎn)換成電壓信號(hào)輸出； 所述放大電路(30)，與所述電橋測(cè)量電路(20)連接，用于將所述電橋測(cè)量電路(20)輸 出的電壓信號(hào)進(jìn)行放大并輸出； 所述反饋控制電路(40)，與所述放大電路(30)連接，用于根據(jù)所述放大電路(30)輸出 的電壓信號(hào)進(jìn)行分析處理，獲得缺陷的凸起厚度值，并根據(jù)所述凸起厚度值產(chǎn)生反饋控制 信號(hào)，以消除所述缺陷。7. 根據(jù)權(quán)利要求6所述的缺陷消除系統(tǒng)，其特征在于，所述電橋測(cè)量電路(20)包括第一 電阻(R1)、第二電阻(R2)、第三電阻(R3)和第四電阻(R4); 所述第一電阻(R1)，其一端與所述第四電阻(R4)的一端連接，接電源正極，其另一端與 所述第二電阻(R2)的一端連接，作為所述電橋測(cè)量電路(20)的第一輸出端； 所述第二電阻(R2)，其另一端與所述第三電阻(R3)的一端連接，接電源負(fù)極； 所述第三電阻(R3)，其另一端與所述第四電阻(R4)的另一端連接，作為所述電橋測(cè)量 電路(20)的第二輸出端； 所述第一電阻(R1)為所述第一光學(xué)傳感器（14)，所述第二電阻(R2)、第三電阻(R3)和 第四電阻(R4)的阻值不變。8. -種用于圓棒材的缺陷消除系統(tǒng)，其特征在于，包括:權(quán)利要求3-5任一項(xiàng)所述的缺 陷檢測(cè)設(shè)備(10)、電橋測(cè)量電路(20)、放大電路(30)和反饋控制電路(40); 所述電橋測(cè)量電路（20)，與所述缺陷檢測(cè)設(shè)備（10)連接，用于將所述缺陷檢測(cè)設(shè)備 (1 〇)輸出的電阻值轉(zhuǎn)換成電壓信號(hào)輸出； 所述放大電路(30)，與所述電橋測(cè)量電路(20)連接，用于將所述電橋測(cè)量電路(20)輸 出的電壓信號(hào)進(jìn)行放大并輸出； 所述反饋控制電路(40)，與所述放大電路(30)連接，用于根據(jù)所述放大電路(30)輸出 的電壓信號(hào)進(jìn)行分析處理，獲得缺陷的凸起厚度值，并根據(jù)所述凸起厚度值產(chǎn)生反饋控制 信號(hào)，以消除所述缺陷。9. 根據(jù)權(quán)利要求8所述的缺陷消除系統(tǒng)，其特征在于，所述電橋測(cè)量電路(20)包括第一 電阻(R1)、第二電阻(R2)、第三電阻(R3)和第四電阻(R4); 所述第一電阻(R1)，其一端與所述第四電阻(R4)的一端連接，接電源正極，其另一端與 所述第二電阻(R2)的一端連接，作為所述電橋測(cè)量電路(20)的第一輸出端； 所述第二電阻(R2)，其另一端與所述第三電阻(R3)的一端連接，接電源負(fù)極； 所述第三電阻(R3)，其另一端與所述第四電阻(R4)的另一端連接，作為所述電橋測(cè)量 電路(20)的第二輸出端； 所述第一電阻(R1)為所述第一光學(xué)傳感器（14)，所述第二電阻(R2)為所述第二光學(xué)傳 感器(24)，所述第三電阻(R3)和第四電阻(R4)的阻值不變。
【專利摘要】本實(shí)用新型公開(kāi)了一種用于圓棒材的缺陷檢測(cè)設(shè)備及缺陷消除系統(tǒng)，其中該設(shè)備包括能繞圓棒材的中軸線作旋轉(zhuǎn)運(yùn)動(dòng)的第一檢測(cè)裝置，其包括同軸且順次排布的第一凹面鏡、第一紫外線光源、第一濾光片和第一光學(xué)傳感器；第一紫外線光源位于第一凹面鏡的焦點(diǎn)處；圓棒材位于第一紫外線光源和第一濾光片之間，其中軸線與第一凹面鏡的主軸垂直相交，其預(yù)設(shè)直徑小于經(jīng)第一凹面鏡反射后形成的紫外平行光束的光斑直徑；第一濾光片用于濾除紅外光和可見(jiàn)光，透射紫外光；第一光學(xué)傳感器，用于檢測(cè)紫外平行光束經(jīng)圓棒材部分遮擋且經(jīng)第一濾光片透射后形成的光斑圖像，產(chǎn)生第一電阻值。本實(shí)用新型具有檢測(cè)精度高、成本低、算法簡(jiǎn)單、檢測(cè)效率高的優(yōu)點(diǎn)。
【IPC分類】B21B37/00, B21B38/00
【公開(kāi)號(hào)】CN205217620
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201520972801
【發(fā)明人】姚柳
【申請(qǐng)人】張家港江蘇科技大學(xué)產(chǎn)業(yè)技術(shù)研究院
【公開(kāi)日】2016年5月11日
【申請(qǐng)日】2015年11月30日