本實用新型涉及光學元件加工技術領域，尤其涉及用于光學元件研磨拋光的工裝。

背景技術：

當前的光學元件在研磨拋光前一般用黃蠟或者火漆等將光學元件粘結(jié)在上盤工裝上，組成工件盤。這種上盤工裝及上盤方式在用于小口徑、一般精度要求的光學元件研磨拋光上能取得好的效果，而用于中大口徑、高精度要求的光學元件研磨拋光上則會出現(xiàn)工件卸盤后發(fā)生變形導致精度降低的問題，尤其是大口徑薄型光學元件卸盤后其面形變化大。另外，現(xiàn)有的研磨拋光機可采用工件盤在上，研磨拋光盤在下或者工件盤在下，研磨拋光盤在上兩種工位，操作者在研磨拋光過程中，需要根據(jù)工件的狀況改變工位，但現(xiàn)有工裝在改變工位時需要更換接頭，增加了加工時間，另外更換接頭還增加了工件受到磕碰損壞的幾率。

專利文獻CN203726296U公布了一種耐磨損上盤工裝，該上盤工裝提高了加工的穩(wěn)定性，確保機器頂針總能在頂針座小孔內(nèi)均勻轉(zhuǎn)動，使零件盤也總保持均勻轉(zhuǎn)動的狀態(tài)，使零件的加工精度得到有效保證，同時有效避免了上盤工裝或拋光接頭由于磨損而造成的報廢，節(jié)省了成本。但其主要適用于小口徑光學元件，并且其采用粘結(jié)上盤的方式，不適用于中大口徑、高精度的光學元件。

專利文獻CN203726378U公布了一種消應力上盤工裝，該上盤工裝可以消除光學工件上盤和加工過程中由于熱量或重力施加于工件上的應力，提高工件的面形精度，便于員工對加工過程的控制。但其主要適用于小口徑光學元件，但不適用于平行度要求高的光學元件。

《新技術新工藝》2010年第7期文章《無蠟上盤加工Nd：YAG激光晶體板條》分析了光學元件上盤膠結(jié)變形、熱變形、材料內(nèi)應力引起的變形等幾個引起光圈變形的因素，提出了一種無蠟上盤的解決方案，其加工結(jié)果顯示得到的Nd：YAG激光晶體板條面形干涉條紋均勻，但沒有介紹工件的平行度、光潔度等指標。

目前需要一種無粘結(jié)上盤、卸盤后無面形變化、節(jié)省加工時間，同時可保證工件的平行度和光潔度的低成本工裝，以滿足高精度中大口徑光學元件批量生產(chǎn)需求。

技術實現(xiàn)要素：

本實用新型的目的是提供一種無粘結(jié)上盤、卸盤后無面形變化、節(jié)省加工時間，同時可保證工件的平行度和光潔度的低成本工裝，以滿足高精度中大口徑光學元件批量生產(chǎn)需求。

為實現(xiàn)所述目的本實用新型提供了一種用于光學元件研磨拋光的工裝，該工裝包括：兩用接頭、基板、墊板、擋板、側(cè)面墊片；其中，所述兩用接頭中心設有螺紋盲孔，螺紋盲孔底部中心設有半球形凹孔；所述兩用接頭外側(cè)設有沉頭孔，用于連接所述基板，使所述兩用接頭固定在所述基板中心；所述基板邊緣設有缺口，所述基板邊緣設有螺紋孔，用于連接所述擋板；所述墊板通過環(huán)氧樹脂粘結(jié)在所述基板上；所述擋板中部設有螺紋孔，帶有蝶形螺絲；所述側(cè)面墊片為方形橡膠片。

所述兩用接頭的材料為45#鋼，其表面電鍍處理，其中心設有的螺紋盲孔是用于連接研 磨拋光機主軸，螺紋盲孔底部中心設有的半球形凹孔是用于連接研磨拋光機頂針。

所述基板的材料為6061#鋁，其外部形狀為正方形、長方形、圓形中的任一種，所述基板邊緣設有缺口，所述缺口有4個，所述缺口讓出空間用于測量工件平行度和去除量。

所述墊板的材料為聚氨酯拋光墊，所述墊板通過環(huán)氧樹脂粘結(jié)在所述基板上后整平，其平面度達到-1微米至-3微米。

所述擋板有4個，其材料為6061#鋁，分布于所述基板邊緣；每一個所述擋板配有一個所述側(cè)面墊片。

根據(jù)工件的形狀確定所述基板的外部形狀，工件的形狀為正方形，則所述基板的外部形狀選用正方形，工件的形狀為長方形，則所述基板的外部形狀選用長方形，工件的形狀為圓形，則所述基板的外部形狀選用圓形。

工作時，先將所述用于光學元件研磨拋光的工裝水平放置在桌面上，所述兩用接頭接觸桌面，將工件放置在所述墊板上，調(diào)節(jié)工件位置使工件位于墊板中部，然后將所述側(cè)面墊片放置在所述擋板與工件的間隙中，調(diào)節(jié)所述擋板上的蝶形螺絲頂住所述側(cè)面墊片夾持工件，形成工件盤；當選取工件盤在上，研磨拋光盤在下的工位時，將工件盤放置在研磨拋光盤上，利用所述兩用接頭上的半球形凹孔連接研磨拋光機頂針；當選取工件盤在下，研磨拋光盤在上的工位時，利用所述兩用接頭的螺紋盲孔連接研磨拋光機的主軸。在研磨拋光過程中需測量工件的平行度或去除量時，則可通過所述缺口讓出的空間測量；研磨拋光完成時，將工件盤取下，水平放置在桌面上，兩用接頭接觸桌面，調(diào)節(jié)所述擋板上的蝶形螺絲，松開夾持工件，取下工件。

本實用新型的有益效果是：

本實用新型采用兩用接頭的結(jié)構(gòu)克服了改變工位時需要更換接頭的困難，同時實現(xiàn)可在盤上測量去除量和平行度，節(jié)省了加工時間，減少了光學元件受到磕碰損壞的幾率；另外，本實用新型采用夾持的方式固定光學元件，無膠結(jié)上盤，避免了膠結(jié)上盤的應力影響，下盤后光學元件的面形無變化，提高了光學元件研磨拋光的精度。

為了使本實用新型便于理解和更加清晰，下面通過附圖和實施例對其作進一步說明。

附圖說明

圖1是本實用新型所述用于光學元件研磨拋光的工裝的剖面結(jié)構(gòu)示意圖。

圖2是本實用新型所述用于光學元件研磨拋光的工裝的俯視圖。

圖3是本實用新型工件盤在上研磨拋光盤在下的工作狀態(tài)示意圖。

圖4是本實用新型工件盤在下研磨拋光盤在上的工作狀態(tài)示意圖。

具體實施方式

參看圖1、圖2、圖3和圖4，本實用新型公開了一種用于光學元件研磨拋光的工裝，該工裝包括：兩用接頭1、基板2、墊板3、擋板4、側(cè)面墊片5；其中，所述兩用接頭1中心設有螺紋盲孔101，螺紋盲孔101底部中心設有半球形凹孔102；所述兩用接頭1外側(cè)設有沉頭孔103，用于連接所述基板2，使所述兩用接頭1固定在所述基板2中心；所述基板2邊緣設有缺口201，所述基板邊緣設有螺紋孔202，用于連接所述擋板4；所述墊板3通過環(huán)氧樹脂粘結(jié)在所述基板2上；所述擋板4中部設有螺紋孔401，帶有蝶形螺絲402；所述側(cè)面墊片 5為方形橡膠片。

所述兩用接頭1的材料為45#鋼，其表面電鍍處理，其中心設有的螺紋盲孔101是用于連接研磨拋光機主軸7，螺紋盲孔101底部中心設有的半球形凹孔102是用于連接研磨拋光機頂針8。

所述基板2的材料為6061#鋁，其外部形狀為正方形，所述基板2邊緣設有缺口，所述缺口201有4個，所述缺口201讓出空間用于測量工件6平行度和去除量。

所述墊板3的材料為聚氨酯拋光墊，所述墊板3通過環(huán)氧樹脂粘結(jié)在所述基板2上后整平，其平面度達到-1微米至-3微米。

所述擋板4有4個，其材料為6061#鋁，分布于所述基板2邊緣；每一個所述擋板4配有一個所述側(cè)面墊片5。

工作時，先將所述用于光學元件研磨拋光的工裝水平放置在桌面上，所述兩用接頭1接觸桌面，將工件6放置在所述墊板5上，調(diào)節(jié)工件6位置使其位于所述墊板3中部，然后將所述側(cè)面墊片5放置在所述擋板4與工件6的間隙中，調(diào)節(jié)所述擋板4上的蝶形螺絲402頂住所述側(cè)面墊片5夾持工件6，形成工件盤；當選取工件盤在上，研磨拋光盤在下的工位時，將工件6盤放置在研磨拋光盤8上，利用所述兩用接頭1上的半球形凹孔102連接研磨拋光機頂針9；當選取工件盤在下，研磨拋光盤在上的工位時，利用所述兩用接頭1的螺紋盲孔101連接研磨拋光機的主軸7。在研磨拋光過程中需測量工件6的平行度或去除量時，則可通過所述缺口201讓出的空間測量；研磨拋光完成時，將工件盤取下，水平放置在桌面上，兩用接頭1接觸桌面，調(diào)節(jié)所述擋板4上的蝶形螺絲402，松開夾持工件6，取下工件6。

以上僅為本實用新型之較佳實施例，但其并不限制本實用新型的實施范圍，即不偏離本實用新型的權(quán)利要求所作之等同變化與修飾，仍應屬于本實用新型之保護范圍。