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      用于在晶片中消除沉積谷的新基座設(shè)計的制作方法

      文檔序號:11446634閱讀:來源:國知局

      技術(shù)特征:

      技術(shù)總結(jié)
      本文的實施方式大致涉及半導(dǎo)體基板的熱處理的基座。在一個實施方式中,基座包括第一緣、耦接至第一緣并被第一緣環(huán)繞的內(nèi)部區(qū)域、及一個或多個形成在內(nèi)部區(qū)域上的環(huán)狀突出。所述一個或多個環(huán)狀突出可被形成在內(nèi)部區(qū)域上的與被形成在基板上的谷的位置對應(yīng)的位置處,并且所述一個或多個環(huán)狀突出有助于減少或消除谷的形成。

      技術(shù)研發(fā)人員:卡廷克·拉馬斯瓦米;卡爾蒂克·薩哈;尼歐·O·謬;舒伯特·S·楚;杰弗里·托賓;埃羅爾·安東尼奧·C·桑切斯;帕拉姆拉里·賈金德拉
      受保護的技術(shù)使用者:應(yīng)用材料公司
      技術(shù)研發(fā)日:2015.12.22
      技術(shù)公布日:2017.08.29
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