述控制所述位移臺(tái)繼續(xù)移動(dòng)或停止的方法與所述定位臺(tái)的控制方法相類似，在此不再贅述。
[0074]優(yōu)選地，本實(shí)用新型細(xì)胞力學(xué)的測(cè)量方法還包括:實(shí)時(shí)采集顯示有所述測(cè)量單元與所述細(xì)胞樣品的位置關(guān)系的圖像，以便在所述測(cè)量單元與細(xì)胞樣品的位置出現(xiàn)偏差時(shí)能夠及時(shí)調(diào)整，確保測(cè)量信息的準(zhǔn)確性。
[0075]下面以一具體實(shí)施例詳細(xì)介紹本實(shí)用新型細(xì)胞力學(xué)的測(cè)量方法(如圖6所示)。
[0076]通過(guò)CCD觀察并對(duì)應(yīng)水平移動(dòng)位移臺(tái)，使探針垂直對(duì)準(zhǔn)待測(cè)區(qū)域內(nèi)的第一個(gè)待測(cè)細(xì)胞樣品的中央位置；然后控制位移臺(tái)在Z方向運(yùn)動(dòng)，使所述待測(cè)細(xì)胞樣品逼近探針；控制壓電陶瓷堆帶動(dòng)探針在Z方向運(yùn)動(dòng)，以調(diào)整所述探針與細(xì)胞樣品的接觸程度，獲取接觸程度變化期間內(nèi)所述細(xì)胞樣品的力學(xué)參數(shù)；在一個(gè)細(xì)胞樣品測(cè)量結(jié)束后，控制定位臺(tái)水平移動(dòng)，使探針對(duì)準(zhǔn)下一個(gè)待測(cè)細(xì)胞中央(如圖3所示，掃描范圍可為200 μ mX 200 μ m，步距為40 μπι);判斷是否抵達(dá)所述定位臺(tái)的最大掃描范圍，如果沒(méi)有則重復(fù)上述操作，繼續(xù)測(cè)量同一測(cè)量區(qū)域中的不同細(xì)胞樣品，否則，控制位移臺(tái)水平和/或垂直運(yùn)動(dòng)，以對(duì)下一個(gè)測(cè)量區(qū)域內(nèi)的細(xì)胞樣品進(jìn)行測(cè)量；判斷是否完成全部區(qū)域的掃描，如果完成則結(jié)束操作，否則重復(fù)上述操作，繼續(xù)測(cè)量。
[0077]本實(shí)用新型細(xì)胞力學(xué)的測(cè)量裝置利用定位臺(tái)具有定位速度快、精度高的優(yōu)點(diǎn)，進(jìn)行X、Y方向小范圍內(nèi)的快速和重復(fù)定位，迅速使探針對(duì)準(zhǔn)樣品盤中的待測(cè)細(xì)胞樣品的中央位置；利用位移臺(tái)具有移動(dòng)范圍大、精度高、負(fù)載能力強(qiáng)的優(yōu)點(diǎn)，使其帶動(dòng)其上的定位臺(tái)及樣品盤自動(dòng)切換樣品檢測(cè)區(qū)域，避免由于定位臺(tái)移動(dòng)范圍小，手動(dòng)切換樣品掃描區(qū)域耗時(shí)長(zhǎng)的弊端，操作方便，測(cè)量效率高。
[0078]以上結(jié)合附圖詳細(xì)描述了本實(shí)用新型的優(yōu)選實(shí)施方式，但是，本實(shí)用新型并不限于上述實(shí)施方式中的具體細(xì)節(jié)，在本實(shí)用新型的技術(shù)構(gòu)思范圍內(nèi)，可以對(duì)本實(shí)用新型的技術(shù)方案進(jìn)行多種簡(jiǎn)單變型，這些簡(jiǎn)單變型均屬于本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。
[0079]另外需要說(shuō)明的是，在上述【具體實(shí)施方式】中所描述的各個(gè)具體技術(shù)特征，在不矛盾的情況下，可以通過(guò)任何合適的方式進(jìn)行組合，為了避免不必要的重復(fù)，本實(shí)用新型對(duì)各種可能的組合方式不再另行說(shuō)明。
[0080]此外，本實(shí)用新型的各種不同的實(shí)施方式之間也可以進(jìn)行任意組合，只要其不違背本實(shí)用新型的思想，其同樣應(yīng)當(dāng)視為本實(shí)用新型所公開(kāi)的內(nèi)容。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種細(xì)胞力學(xué)的測(cè)量裝置，其特征在于，所述測(cè)量裝置包括: 樣品盤(I)，用于放置細(xì)胞樣品； 測(cè)量單元(2)，用于與所述樣品盤(I)中的細(xì)胞樣品接觸，獲取所述細(xì)胞樣品的力學(xué)參數(shù)；以及 控制單元(3)，與所述測(cè)量單元(2)連接，用于根據(jù)所述力學(xué)參數(shù)控制所述測(cè)量單元(2)垂直運(yùn)動(dòng)，以改變所述測(cè)量單元(2)與所述細(xì)胞樣品的接觸程度，使所述測(cè)量單元(2)獲取所述接觸程度變化期間內(nèi)所述細(xì)胞樣品的力學(xué)參數(shù)。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的細(xì)胞力學(xué)的測(cè)量裝置，其特征在于，所述控制單元(3)根據(jù)所述力學(xué)參數(shù)控制所述測(cè)量單元(2)垂直運(yùn)動(dòng)包括: 所述控制單元(3)將所述測(cè)量單元(2)所獲取的力學(xué)參數(shù)與設(shè)定值進(jìn)行比較，用于:在所述力學(xué)參數(shù)〉設(shè)定值時(shí)，控制所述測(cè)量單元(2)垂直向上運(yùn)動(dòng)，使所述測(cè)量單元(2)與所述細(xì)胞樣品的接觸程度減弱，直到再次獲取的力學(xué)參數(shù)=所述設(shè)定值時(shí)停止運(yùn)動(dòng)； 在所述力學(xué)參數(shù)〈設(shè)定值時(shí)，控制所述測(cè)量單元(2)垂直向下運(yùn)動(dòng)，使所述測(cè)量單元(2)與所述細(xì)胞樣品的接觸程度增強(qiáng)，直到再次獲取的力學(xué)參數(shù)=所述設(shè)定值時(shí)停止運(yùn)動(dòng)。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的細(xì)胞力學(xué)的測(cè)量裝置，其特征在于，所述測(cè)量單元⑵包括: 激光器(21)，用于垂直于所述樣品盤(I)發(fā)射光束； 檢測(cè)模塊，能夠垂直運(yùn)動(dòng)，用于與所述樣品盤(I)中的細(xì)胞樣品接觸并相互作用，同時(shí)將所述激光器(21)發(fā)射的光束反射成表征力學(xué)參數(shù)的光斑信號(hào)；以及 光電轉(zhuǎn)換模塊(22)，用于接收所述光斑信號(hào)并轉(zhuǎn)換為表征力學(xué)參數(shù)的電信號(hào)并發(fā)送至所述控制單元(3)； 所述控制單元(3)分別連接所述光電轉(zhuǎn)換模塊(22)和檢測(cè)模塊，用于接收所述表征力學(xué)參數(shù)的電信號(hào)，并根據(jù)所述力學(xué)參數(shù)控制所述檢測(cè)模塊垂直運(yùn)動(dòng)，以改變所述檢測(cè)模塊與所述細(xì)胞樣品的接觸程度。4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的細(xì)胞力學(xué)的測(cè)量裝置，其特征在于，所述檢測(cè)模塊包括: 探針檢測(cè)器(23)，用于與細(xì)胞樣品接觸并相互作用，同時(shí)將光束反射成表征力學(xué)參數(shù)的光斑信號(hào)；以及 壓電陶瓷堆(24)，與所述探針檢測(cè)器(23)連接；用于由所述控制單元(3)控制，并帶動(dòng)所述探針檢測(cè)器(23)垂直運(yùn)動(dòng)。5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的細(xì)胞力學(xué)的測(cè)量裝置，其特征在于，所述測(cè)量單元還包括: 微調(diào)模塊，與所述光電轉(zhuǎn)換模塊(22)連接，用于調(diào)整所述光電轉(zhuǎn)換模塊(22)的位置以接收所述光斑信號(hào)。6.根據(jù)權(quán)利要求3所述的細(xì)胞力學(xué)的測(cè)量裝置，其特征在于，所述測(cè)量單元(2)還包括: 圖像采集模塊(25)，用于實(shí)時(shí)采集顯示有所述檢測(cè)模塊與細(xì)胞樣品位置關(guān)系的圖像。7.根據(jù)權(quán)利要求1-6中任一項(xiàng)所述的細(xì)胞力學(xué)的測(cè)量裝置，其特征在于，所述樣品盤(I)包括多個(gè)測(cè)量區(qū)域，各所述測(cè)量區(qū)域均成點(diǎn)陣式的棋盤格分布。8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的細(xì)胞力學(xué)的測(cè)量裝置，其特征在于，各所述棋盤格內(nèi)部具有促進(jìn)細(xì)胞貼壁的促進(jìn)層，相鄰棋盤格間具有抑制細(xì)胞貼壁的抑制層。9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的細(xì)胞力學(xué)的測(cè)量裝置，其特征在于，所述測(cè)量裝置還包括: 定位臺(tái)(4)，與所述控制單元(3)連接，且所述定位臺(tái)⑷上設(shè)置有所述樣品盤⑴，用于由所述控制單元⑶控制，并帶動(dòng)所述樣品盤⑴水平和/或垂直運(yùn)動(dòng)，以使所述測(cè)量單元⑵測(cè)量所述樣品盤⑴中同一測(cè)量區(qū)域的不同細(xì)胞樣品。10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的細(xì)胞力學(xué)的測(cè)量裝置，其特征在于，所述測(cè)量裝置還包括: 位移臺(tái)(5)，與所述控制單元(3)連接，且所述位移臺(tái)(5)上設(shè)置有所述定位臺(tái)(4)，用于由所述控制單元⑶控制，帶動(dòng)所述定位臺(tái)⑷水平和/或垂直運(yùn)動(dòng)，以使所述測(cè)量單元(2)測(cè)量所述樣品盤中不同的測(cè)量區(qū)域的細(xì)胞樣品。
【專利摘要】本實(shí)用新型涉及一種測(cè)量裝置，公開(kāi)了一種細(xì)胞力學(xué)的測(cè)量裝置，所述測(cè)量裝置包括：樣品盤(1)，用于放置細(xì)胞樣品；測(cè)量單元(2)，用于與所述樣品盤(1)中的細(xì)胞樣品接觸，獲取所述細(xì)胞樣品的力學(xué)參數(shù)；以及控制單元(3)，與所述測(cè)量單元(2)連接，用于根據(jù)所述力學(xué)參數(shù)控制所述測(cè)量單元(2)垂直運(yùn)動(dòng)，以改變所述測(cè)量單元(2)與所述細(xì)胞樣品的接觸程度，使所述測(cè)量單元(2)獲取所述接觸程度變化期間內(nèi)所述細(xì)胞樣品的力學(xué)參數(shù)。本實(shí)用新型細(xì)胞力學(xué)的測(cè)量裝置可準(zhǔn)確獲得細(xì)胞的力學(xué)參數(shù)。
【IPC分類】C12M1/36, C12M1/34
【公開(kāi)號(hào)】CN204714807
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201520356202
【發(fā)明人】馮建濤, 張悅, 梁捷, 杜建英
【申請(qǐng)人】三捷生物科技（北京）有限公司
【公開(kāi)日】2015年10月21日
【申請(qǐng)日】2015年5月28日