1.一種三價鈰離子的閃爍體材料,其特征在于,所述閃爍體材料的化學組成表示式為:Sr3-2xCexMxMgSi2O8;
其中,Ce3+為激活離子,M+為電荷補償離子,x為Ce3+相對堿土金屬離子Sr2+所占的摩爾百分比系數(shù),x的選取范圍為0.001≤x≤0.10。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的閃爍體材料,其特征在于,所述電荷補償離子為堿金屬離子。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的閃爍體材料,其特征在于,所述x的選取范圍為0.005≤x≤0.07。
4.權(quán)利要求1所述的閃爍體材料的制備方法,其特征在于,包括以下步驟:
按照所述閃爍體材料的化學組成表示式的化學計量比稱取原料,研磨、混合均勻,將所述混合后的原料置于還原性氣體的氣氛中焙燒,然后冷卻,研磨,即得到所述閃爍體材料;所述焙燒的條件為:焙燒溫度為650~1200 ℃,焙燒時間為4~12小時;
所述原料包括含鈰化合物、含鍶化合物、含鎂化合物、電荷補償劑、二氧化硅。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的制備方法,其特征在于,所述含鈰化合物為鈰氧化物、鈰草酸鹽、鈰碳酸鹽、鈰硝酸鹽中的一種或多種的組合。
6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的制備方法,其特征在于,所述含鍶化合物為碳酸鍶、硝酸鍶、氟化鍶中的一種或多種的組合。
7.根據(jù)權(quán)利要求4所述的制備方法,其特征在于,所述含鎂化合物為氧化鎂或堿式碳酸鎂。
8.根據(jù)權(quán)利要求4所述的制備方法,其特征在于,所述原料還包括助熔劑。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的制備方法,其特征在于,所述助熔劑為氯化銨或硼酸。
10. Sr3-2xCexMxMgSi2O8在作為X射線探測用閃爍體材料中的應用,其特征在于,Ce3+為激活離子,M+為電荷補償離子,x為Ce3+相對堿土金屬離子Sr2+占的摩爾百分比系數(shù),x的選取范圍為0.001≤x≤0.10。