本發(fā)明涉及微波暗室測試升降車，具體涉及微波暗室多態(tài)集成測試手輪調控升降平臺。

背景技術：

1、微波暗室是一個由吸波材料和金屬屏蔽體組建的特殊房間，用于模擬無反射的電磁環(huán)境。它常用于測試天線的輻射特性、測量反射率等，確保測試的準確性和可靠性。在微波暗室測試中，手搖升降設備主要用于承載被測樣品或測試設備，并在測試過程中根據(jù)需要進行升降調節(jié)。

2、現(xiàn)有的微波暗室測試升降設備主要包括升降機構和水平調節(jié)機構，通過升降機構帶動測試設備或者樣品調節(jié)至不同高度位置進行測試，通過水平調節(jié)機構橫向調節(jié)位置，并且在進行升降調節(jié)時采取手搖機構卷繞升降鋼絲或者牽引繩，使得升降鋼絲或者牽引繩拉動升降機構運動，由于微波暗室的主要目的是提供一個無反射的電磁環(huán)境，以便準確測量天線的輻射特性等。故電子儀器開關在操作過程中可能會產(chǎn)生電磁輻射或電磁干擾，這種干擾可能會影響到微波暗室內的電磁場分布，進而影響測試結果的準確性，故采取手搖機構進行升降操控較為合理，不便于采用電動驅動機構進行調節(jié)。

3、現(xiàn)有微波暗室測試升降設備存在的不足之處在于：現(xiàn)有微波暗室測試升降設備由于測試環(huán)境需要只能選擇手搖手動類的操作機構進行升降操作，而現(xiàn)有升降設備每次通過手搖機構手搖調節(jié)升降高度之后，都需要通過設置的鎖止機構單獨手動操作鎖住手搖機構，無法自主停在調節(jié)的高度位置，如此便會導致操作不夠便捷，并且當升降設備裝載的測試設備較重時，操作者旋轉搖柄操作過程中則可能會發(fā)生意外脫手，一旦脫手，測試設備便會直接墜落，容易造成危險；并且因為測試環(huán)境不便于安裝過多電子類儀器，現(xiàn)有的升降設備的升降導軌在測量升降高度時也只能在升降導軌上分布長度刻度線，方便在操作升降時根據(jù)分布的刻度線確定高度位置，但是現(xiàn)有升降設備的升降導軌具有一定高度，操作者在調節(jié)升降高度時，若調節(jié)位置較高，則需要抬頭看較高位置的刻度線，若調節(jié)位置較低，則需要低頭看較低位置，導致升降調節(jié)過程中不便于讀取確定高度數(shù)值。

技術實現(xiàn)思路

1、本發(fā)明的目的在于提供微波暗室多態(tài)集成測試手輪調控升降平臺，以解決現(xiàn)有技術中微波暗室測試升降車通過手搖機構進行升降調節(jié)時，手搖機構不便于自鎖，需要單獨鎖止操作，導致操作不夠便捷的技術問題。

2、本發(fā)明所要解決的技術問題可以通過以下技術方案實現(xiàn)：

3、微波暗室多態(tài)集成測試手輪調控升降平臺，包括移動底座、升降移動機構和手搖機構，所述升降移動機構和手搖機構安裝在移動底座，且手搖機構用于驅動升降移動機構移動；所述手搖機構包括：

4、聯(lián)動軸、自鎖傳動機構和搖柄，所述聯(lián)動軸通過自鎖傳動機構與升降移動機構配合連接，所述搖柄用于帶動聯(lián)動軸旋轉，自鎖傳動機構在搖柄靜止時鎖定升降移動機構，

5、行程測量機構和可調節(jié)定點停機機構，所述聯(lián)動軸遠離搖柄的一端與行程測量機構配合連接，所述行程測量機構包括測量滑環(huán)，行程測量機構通過測量滑環(huán)標記測量升降移動機構的升降高度，所述可調節(jié)定點停機機構與行程測量機構的測量滑環(huán)相配合。

6、作為本發(fā)明進一步的方案：所述升降移動機構包括升降導軌和橫向導軌，所述升降導軌固定連接在移動底座上，所述升降導軌外部滑動套設有主滑座，所述橫向導軌水平固定連接在主滑座的一側，且橫向導軌上滑動分布有載物滑座，所述升降導軌為空心結構，且升降導軌內部穿設有升降繩，所述升降繩一端繞過升降導軌頂部，且與主滑座固定連接，另一端繞過升降導軌底部，且與手搖機構配合連接。

7、作為本發(fā)明進一步的方案：所述手搖機構還包括安裝框和卷繞柱，所述安裝框固定安裝在移動底座上，所述聯(lián)動軸水平轉動連接在安裝框的內底部，所述卷繞柱水平轉動連接在所述安裝框內頂部，所述卷繞柱與聯(lián)動軸之間通過自鎖傳動機構配合連接，所述卷繞柱的一端與升降繩連接，所述安裝框上還設置有用于排布升降繩的排線機構。

8、作為本發(fā)明進一步的方案：所述自鎖傳動機構包括蝸桿和蝸輪，所述蝸桿轉動設置在安裝框的內部，所述蝸桿靠近聯(lián)動軸的一端同軸固定連接有第一轉向錐齒輪，所述聯(lián)動軸上同軸固定連接有與第一轉向錐齒輪嚙合的第二轉向錐齒輪，所述蝸輪與卷繞柱同軸固定連接，且蝸輪與蝸桿相嚙合。

9、作為本發(fā)明進一步的方案：所述排線機構包括第一螺桿、螺套和線套，所述第一螺桿水平轉動連接在安裝框內，且第一螺桿與卷繞柱平行，所述第一螺桿和卷繞柱之間配合設置有傳動帶，所述螺套螺紋連接在第一螺桿上，且螺套一側貫穿設置有導向桿，導向桿的一端與安裝框固定連接，所述線套與螺套固定連接，且升降繩貫穿線套。

10、作為本發(fā)明進一步的方案：所述行程測量機構包括第二螺桿和第一測量尺桿，所述第二螺桿與聯(lián)動軸同軸固定連接，所述測量滑環(huán)螺紋連接在第二螺桿上，所述第一測量尺桿貫穿測量滑環(huán)的一側，且第一測量尺桿與安裝框外壁固定連接，第一測量尺桿與第二螺桿平行。

11、作為本發(fā)明進一步的方案：所述可調節(jié)定點停機機構包括第二測量尺桿和彈性卡件，所述第二測量尺桿平行設置在第一測量尺桿的一側，所述彈性卡件設置有多組，且滑動分布在第二測量尺桿上，所述測量滑環(huán)靠近第二測量尺桿的一側設置有斜切面，且測量滑環(huán)上還開設有卡槽，所述斜切面和卡槽均與彈性卡件相配合，所述第二測量尺桿與搖柄之間配合設置有解鎖機構。

12、作為本發(fā)明進一步的方案：每組所述彈性卡件均包括滑套和卡栓，所述滑套滑動套設在第二測量尺桿上，所述滑套上固定連接有導套，所述卡栓滑動貫穿導套，所述卡栓與導套之間連接有第一限位彈簧，所述滑套一側螺紋連接有緊固螺栓。

13、作為本發(fā)明進一步的方案：所述解鎖機構包括u型滑架和聯(lián)動環(huán)，所述安裝框的兩側外壁上均水平開設有連接滑槽，所述u型滑架兩端分別與對應的連接滑槽滑動連接，且u型滑架兩端還分別與對應的連接滑槽之間連接有第二限位彈簧，所述第二測量尺桿與u型滑架的一端固定連接，所述聯(lián)動軸靠近搖柄的一端貫穿安裝框，且同軸固定連接有方形對接頭，所述搖柄上開設有與方形對接頭滑動配合的方形滑槽，且方形對接頭與方形滑槽之間連接有調節(jié)彈簧，所述聯(lián)動環(huán)套設在方形對接頭的外部，且聯(lián)動環(huán)與安裝框外壁之間連接有伸縮連接桿，所述聯(lián)動環(huán)與搖柄相配合，所述聯(lián)動環(huán)一側通過鉸鏈活動連接有聯(lián)動桿，且聯(lián)動桿的末端通過鉸鏈與u型滑架活動連接。

14、作為本發(fā)明進一步的方案：所述主滑座遠離橫向導軌的一側固定連接橫桿，且橫桿上配合設置有配重塊，配重塊上開設有穿孔。

15、本發(fā)明的有益效果：

16、1、本發(fā)明通過搖柄旋轉調節(jié)高度時，搖柄帶動聯(lián)動軸旋轉，聯(lián)動軸便通過第一轉向錐齒輪和第二轉向錐齒輪傳動配合使得蝸桿旋轉，蝸桿則帶動蝸輪和卷繞柱旋轉，實現(xiàn)對升降繩卷繞，即蝸桿作為主動件帶動蝸輪旋轉，當松開搖柄或者意外脫手時，由于蝸輪蝸桿自鎖作用，此時即便升降繩受主滑座重力作用，卷繞柱也無法反轉，無需人工手動操作鎖止，當需要再次調節(jié)高度時，則直接操作搖柄，無需解鎖，從而提升操作便捷性和安全性。

17、2、本發(fā)明操作搖柄旋轉進行升降調節(jié)時，搖柄帶動設置的聯(lián)動軸旋轉，聯(lián)動軸則帶動同軸連接的第二螺桿旋轉，第二螺桿上螺紋連接的測量滑環(huán)便在沿著橫向分布的第一測量尺桿橫移，第一測量尺桿的長度小于升降導軌的長度，其上面的距離刻度線按比例換算而來，故測量滑環(huán)在第一測量尺桿上停留的位置則與對應的升降高度相對應，從而便于操作者讀取，方便進行升降位置調節(jié)。

18、3、本發(fā)明在需要對多個高度位置進行測量實驗時，則事先直接將多個滑套分別分布在第二測量尺桿對應位置處，然后再通過搖柄操作升降，此過程中測量滑環(huán)依次經(jīng)過各個位置滑套所在位置，每經(jīng)過一個滑套所在位置，測量滑環(huán)便與對應的卡栓擠壓，且最終卡接在一起，自動定位停下，每個高度位置測試完成之后，直接按壓搖柄，使得搖柄聯(lián)動對應的卡栓脫離測量滑環(huán)，然后繼續(xù)旋轉搖柄，方便測量滑環(huán)與下一個位置的滑套所對應的卡栓對接，如此便可在實現(xiàn)設置好測量點的情況下，直接操作搖柄，無需每個高度位置測量后重新解鎖定位并固定，避免間隔時間過長，影響測試效果。

19、4、本發(fā)明通過排線機構將升降繩均勻排布在卷繞柱上，如此可確保卷繞柱每轉一圈所卷繞的升降繩長度相同，如此便可確定主滑座升降的高度是一定的，從而便于和測量滑環(huán)位移是相對應的，從而保證操作者通過測量滑環(huán)與第一測量尺桿配合讀取的數(shù)值是準確的。

20、5、本發(fā)明在微波暗室內進行不同測試時，可將不同設備器材裝配在載物滑座上，然后根據(jù)需要旋轉搖柄，使得卷繞柱卷繞或者放出升降繩，從而使得主滑座帶動裝配的設備器材調節(jié)高度，完成不同高度位置測試，還可根據(jù)需要移動升降車達到指定位置，使得多種測試功能集成在升降平臺上，可進行多種模態(tài)的測試。