技術(shù)特征：

1.一種雙模冗余的故障檢測裝置，用于檢測胚胎電子細(xì)胞陣列的故障，包括信號輸入端、功能輸出端和檢測信號輸出端，其特征在于，還包括功能電路、雙模冗余電路和檢測器；所述功能電路、雙模冗余電路和檢測器均包括所述胚胎電子細(xì)胞陣列中的多個(gè)胚胎電子細(xì)胞；

所述功能電路的輸入端和所述雙模冗余電路的輸入端均與所述信號輸入端相連；所述功能電路的輸出端與所述功能輸出端相連；

所述雙模冗余電路的輸出端與所述檢測器的輸入端相連；

所述檢測器的輸入端還與所述功能電路的輸出端相連；所述檢測器的輸出端與所述檢測信號輸出端相連；

所述檢測器用于檢測所述功能電路的輸出信號和所述雙模冗余電路的輸出信號是否相同：若不同，則所述檢測器輸出故障信息；否則，所述檢測器輸出正常信息。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的雙模冗余的故障檢測裝置，其特征在于，所述檢測器包括多個(gè)并行的查找表單元；

所述查找表單元，用于檢測所述功能電路的兩路輸出信號與所述雙模冗余電路的兩路輸出信號是否對應(yīng)相同：若全相同，所述查找表單元輸出正常信息；否則，所述查找表單元輸出故障信息；

且所有的所述查找表單元均輸出正常信息時(shí)，表示所述檢測器沒有檢測到故障；否則，表示檢測器檢測到故障。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的雙模冗余的故障檢測裝置，其特征在于，所述檢測器包括N個(gè)所述查找表單元，每個(gè)所述查找表單元具有兩個(gè)邏輯相鄰的查找表單元；N大于等于2的整數(shù)；

對于第i個(gè)查找表單元，所述功能電路的兩路輸出信號分別為I_i和I_i+1，所述雙模冗余電路的兩路輸出信號分別為I'_i和I'_i+1，第i個(gè)查找表單元的輸出值記為Y_i；且I_i和I'_i的比較結(jié)果為X_i，I_i+1和I'_i+1的比較結(jié)果為X_i+1；

則第i個(gè)查找表單元的輸入和輸出之間的邏輯關(guān)系為：

$\left\{\begin{array}{cccc}{I}_i& \⊕& {I^{\′}}_i& =X_i\\ I_{i+1}& \⊕& {I^{\′}}_{i+1}& =X_{i+1}\\ X_i& +& X_{i+1}& =Y_i\end{array}\right.$

所述檢測器的輸入和輸出的關(guān)系為：

$\left\{\begin{array}{cccc}{X}_1& +& X_2& =Y_1\\ X_2& +& X_3& =Y_2\\ ...& ...& ...& ...\\ X_N& +& X_1& =Y_N\end{array}\right.$

則通過輸出值Y₁，Y₂，…，Y_N求解X₁，X₂，…，X_N時(shí)，若X₁，X₂，…，X_N都有解，則所述檢測器無故障；否則，所述檢測器存在故障。

4.一種基于權(quán)利要求1至3任一項(xiàng)所述的雙模冗余的故障檢測裝置的設(shè)計(jì)方法，其特征在于，包括：

輸入需要進(jìn)行雙模冗余的功能電路的描述文件；

從所述描述文件中提取目標(biāo)電路，并將所提取出的目標(biāo)電路生成電路網(wǎng)表結(jié)構(gòu)；

將所述電路網(wǎng)表結(jié)構(gòu)映射到電子胚胎細(xì)胞陣列中，生成包括查找表和D觸發(fā)器的電路網(wǎng)表。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的設(shè)計(jì)方法，其特征在于，所述將所述電路網(wǎng)表結(jié)構(gòu)映射到電子胚胎細(xì)胞陣列中包括：

通過邏輯綜合優(yōu)化過程，將所述電路網(wǎng)表結(jié)構(gòu)進(jìn)行優(yōu)化；

將經(jīng)過優(yōu)化后的所述電路網(wǎng)表結(jié)構(gòu)映射到電子胚胎細(xì)胞陣列中。

6.一種基于權(quán)利要求1至3任一項(xiàng)所述的雙模冗余的故障檢測裝置的故障檢測方法，其特征在于，包括：

根據(jù)待測電路生成待驗(yàn)證電路；

對所述待驗(yàn)證電路中的所有節(jié)點(diǎn)依次進(jìn)行單固定型故障注入；

將故障注入后的所述待驗(yàn)證電路與故障注入前的所述待驗(yàn)證電路進(jìn)行等價(jià)性驗(yàn)證，并記錄等價(jià)性驗(yàn)證結(jié)果；

在所述待驗(yàn)證電路的所有節(jié)點(diǎn)均完成故障注入和等價(jià)驗(yàn)證后，根據(jù)所述等價(jià)驗(yàn)證結(jié)果得出所述待測電路的故障檢測率。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的故障檢測方法，其特征在于，所述待測電路包括第一功能電路和第一錯(cuò)誤檢測電路，所述第一錯(cuò)誤檢測電路包括第一雙模冗余電路和第一檢測器；所述根據(jù)待測電路生成待驗(yàn)證電路具體為：

復(fù)制所述待測電路；復(fù)制所述待測電路生成的電路包括第二功能電路和第二錯(cuò)誤檢測電路，所述第二錯(cuò)誤檢測電路包括第二雙模冗余電路和第二檢測器；所述待驗(yàn)證電路包括所述待測電路和復(fù)制所述待測電路生成的電路；所述待驗(yàn)證電路的輸入端與所述第一功能電路的輸入端、第一錯(cuò)誤檢測電路的輸入端、第二功能電路的輸入端和第二錯(cuò)誤檢測電路的輸入端相連；

在所述第一錯(cuò)誤檢測電路的輸出端串聯(lián)第一附加檢測器，以及在所述第二錯(cuò)誤檢測電路的輸出端串聯(lián)第二附加檢測器；其中，所述第一附加檢測器具有第一特征信號輸出端和第一自檢信號輸出端；所述第二附加檢測器具有第二特征信號輸出端和第二自檢信號輸出端；

將所述第一功能電路和所述第二功能電路連接成為miter電路；

將所述第一附加檢測器的特征信號輸出端和所述第二附加檢測器的特征信號輸出端異或相連，形成第一異或輸出端；

將所述miter電路和所述第一異或輸出端異或連接，形成第二異或輸出端；

將所述第一附加檢測器的自檢信號輸出端和所述第二附加檢測器的自檢信號輸出端同或相連，形成第一同或輸出端；

將所述第二異或輸出端和所述第一同或輸出端與連接，形成第一與輸出端，且所述第一與輸出端與所述待驗(yàn)證電路的輸出端相連。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的故障檢測方法，其特征在于，所述第一附加檢測器和所述第二附加檢測器均包括N個(gè)與門、一個(gè)N輸入的第一或門和一個(gè)N輸入的第二或門；

所述第一或門的輸入端與所述錯(cuò)誤檢測電路的各個(gè)輸出端相連；所述第一或門的輸出端與所述特征信號輸出端相連；

各個(gè)所述與門的輸入端與所述檢測器的相鄰三個(gè)輸出端相連，各個(gè)所述與門的輸出端與所述第二或門的輸入端相連；所述第二或門的輸出端與所述自檢信號輸出端相連。