加熱烹調(diào)器的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及加熱烹調(diào)器，尤其涉及利用紅外線傳感器邊檢測加熱室內(nèi)的溫度邊進(jìn)行烹調(diào)的加熱烹調(diào)器。
【背景技術(shù)】
[0002]市售的加熱烹調(diào)器中存在如下的加熱烹調(diào)器:其具有由紅外線傳感器檢測加熱室內(nèi)的食品溫度的功能。具體而言，公知有用單眼傳感器檢測食品的固定位置的溫度的加熱烹調(diào)器，以及通過使直線狀的多個紅外線傳感器擺動而測量食品的溫度分布的加熱烹調(diào)器。
[0003]按照日本專利公開公報(bào)特開2002-317937號(專利文獻(xiàn)I)，在微波加熱的烹調(diào)裝置中，烹調(diào)室的頂棚面上固定有二維的紅外線個體攝像元件。在開始加熱前，從基于紅外線個體攝像元件輸出得到的室內(nèi)的測溫區(qū)域(縱15X橫15 = 225像素)的溫度，來測量食品的表面溫度，并根據(jù)測量溫度控制加熱控制量和加熱時間。
[0004]按照日本專利公開公報(bào)特開2001-065871號(專利文獻(xiàn)2)，具備檢測微波爐的型腔內(nèi)的紅外線的紅外線傳感器，并根據(jù)紅外線傳感器的檢測判斷型腔內(nèi)有無食品，從而防止空加熱。
[0005]專利文獻(xiàn)1:日本專利公開公報(bào)特開2002-317937號
[0006]專利文獻(xiàn)2:日本專利公開公報(bào)特開2001-65871號
[0007]上述的專利文獻(xiàn)2把紅外線傳感器的輸出用于檢測有無食品，不是用于對加熱控制量進(jìn)行可變控制。專利文獻(xiàn)I從基于紅外線個體攝像元件的輸出而測量出的食品的表面溫度，將加熱控制量設(shè)為可變?？墒牵?yàn)橹皇窃陂_始加熱前按照基于紅外線個體攝像元件的輸出而測量出的食品的表面溫度，來控制加熱控制量和加熱時間，而不是用紅外線檢測開始加熱后的加熱烹調(diào)中的食品溫度并基于所述檢測控制加熱控制量，因此不同食品的成品狀態(tài)會出現(xiàn)偏差。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0008]因此，本發(fā)明的目的是提供一種加熱烹調(diào)器，通過采用紅外線進(jìn)行溫度檢測，能進(jìn)行比以往精度高的食品等被加熱物的加熱。
[0009]本發(fā)明一個方面的加熱烹調(diào)器包括:加熱室，用于收容被加熱物；紅外線傳感器，檢測包含被加熱物的視場角內(nèi)的多個部位的溫度；高頻波產(chǎn)生裝置，產(chǎn)生用于加熱被加熱物的高頻波；以及控制部，根據(jù)加熱序列控制高頻波產(chǎn)生裝置，來控制被加熱物的加熱?？刂撇堪ǚN類檢測部，所述種類檢測部根據(jù)紅外線傳感器對多個部位的檢測溫度，來檢測被加熱物的種類，控制部根據(jù)檢測出的種類，控制對所述被加熱物的加熱。
[0010]按照本發(fā)明，利用加熱中的紅外線對多個部位進(jìn)行檢測溫度，檢測出食品等被加熱物的種類，并根據(jù)檢測結(jié)果控制隨后的加熱，從而可以進(jìn)行高精度加熱。
【附圖說明】
[0011]圖1是本發(fā)明實(shí)施方式的加熱烹調(diào)器的主視圖。
[0012]圖2是示意性表示本發(fā)明實(shí)施方式的加熱烹調(diào)器內(nèi)部的圖。
[0013]圖3是本發(fā)明實(shí)施方式的加熱烹調(diào)器的框圖。
[0014]圖4是表示本發(fā)明實(shí)施方式的被測量物的溫度分布的一例的圖。
[0015]圖5是本發(fā)明實(shí)施方式的加熱烹調(diào)的簡要處理流程圖。
[0016]圖6是本發(fā)明實(shí)施方式的加熱烹調(diào)的詳細(xì)處理流程圖。
[0017]圖7是本發(fā)明實(shí)施方式的加熱烹調(diào)的詳細(xì)處理流程圖。
[0018]圖8是本發(fā)明實(shí)施方式的加熱烹調(diào)的詳細(xì)處理流程圖。
[0019]圖9是示意性表示本發(fā)明實(shí)施方式在加熱時的食品變形的圖。
[0020]附圖標(biāo)記說明
[0021]I加熱烹調(diào)器
[0022]3 加熱室
[0023]5控制電路
[0024]6 CPU
[0025]7存儲器
[0026]8計(jì)時器
[0027]11被加熱物
[0028]21紅外線陣列傳感器
[0029]31磁控管
【具體實(shí)施方式】
[0030]以下參照附圖具體說明本發(fā)明的實(shí)施方式。另外，對相同或相當(dāng)?shù)牟糠謽?biāo)注相同的附圖標(biāo)記，并省略其說明。本實(shí)施方式中作為加熱烹調(diào)器，例示了便利店等設(shè)置的商業(yè)用的高頻波加熱烹調(diào)器。
[0031](實(shí)施方式I)
[0032](加熱烹調(diào)器的結(jié)構(gòu))
[0033]圖1是本發(fā)明實(shí)施方式的加熱烹調(diào)器的主視圖。圖2示意性表示了加熱烹調(diào)器I的內(nèi)部結(jié)構(gòu)，圖3表示了加熱烹調(diào)器I的框圖結(jié)構(gòu)。
[0034]參照圖1和圖2，在加熱烹調(diào)器I的箱體內(nèi)部設(shè)置有前表面開口的作為箱內(nèi)的加熱室3。門2能轉(zhuǎn)動地安裝于加熱室3的前表面開口。門2上安裝有窗玻璃以便能目視加熱室3內(nèi)部。窗玻璃實(shí)施有防止高頻波泄漏的措施。
[0035]在箱體的前表面且門2的上部，設(shè)置有觸摸面板22。觸摸面板22包含:鍵輸入部，在選擇菜單和選擇加熱模式時作為輸入部被觸摸操作等；以及IXD (Liquid CrystalDisplay液晶顯示器)等顯示部226，顯示用于選擇烹調(diào)方法的菜單信息或與加熱烹調(diào)相關(guān)的信息。用戶也可以通過觸摸顯示部226的顯示信息，將所述信息輸入加熱烹調(diào)器I。
[0036]鍵輸入部包含:用于指定后述的加熱模式Al、A2、A3而操作的模式鍵221、222、223 ;用于開始加熱烹調(diào)而操作的開始鍵224 ;以及取消或停止鍵225。取消或停止鍵225用于進(jìn)行操作以便取消操作或停止加熱烹調(diào)。
[0037]為了進(jìn)行高頻波加熱，在箱體內(nèi)的里面?zhèn)仍O(shè)有作為高頻波產(chǎn)生裝置的磁控管
31(參照后述的圖3)。由磁控管31生成的高頻波(也稱為微波)利用未圖示的波導(dǎo)管等而在加熱室3內(nèi)擴(kuò)散，并向加熱室3內(nèi)的被加熱物11照射。
[0038]參照圖2，在加熱室3的頂棚和附圖右側(cè)的右側(cè)壁的交線上，設(shè)有紅外線陣列傳感器21。紅外線陣列傳感器21包括:在半導(dǎo)體基板上矩陣狀排列的多個紅外線傳感器元件；以及用于將紅外線聚集于紅外線傳感器元件的菲涅耳透鏡。紅外線陣列傳感器21通過檢測從視場角α內(nèi)的被測量物(包含被加熱物11)輻射的紅外線，測量出被測量物表面的多個部位的溫度并輸出測量結(jié)果。各紅外線傳感器元件例如可以使用熱電堆和熱釋傳感器。通過將幾十對熱電偶串聯(lián)而構(gòu)成熱電堆。
[0039]當(dāng)加熱烹調(diào)被加熱物11時，在將被加熱物11承載在加熱室3底面上的狀態(tài)下進(jìn)行加熱烹調(diào)。
[0040]上述的視場角α表示能承載被加熱物11的區(qū)域，更具體而言，是以加熱室3的底面的整個區(qū)域?yàn)橐晥龅慕嵌取?br>[0041]參照圖2，加熱烹調(diào)器I具備控制電路5以及與控制電路5連接的結(jié)構(gòu)要素。結(jié)構(gòu)要素包括:觸摸面板22、紅外線傳感器控制部23、使發(fā)送高頻波的旋轉(zhuǎn)天線4旋轉(zhuǎn)的天線電機(jī)32、檢測天線電機(jī)32的轉(zhuǎn)角的轉(zhuǎn)角檢測器24、熱敏電阻等箱內(nèi)溫度檢測器25、多個磁控管31、傳感器冷卻風(fēng)扇37、磁控管冷卻風(fēng)扇38和供氣風(fēng)扇39。與多個磁控管31分別對應(yīng)地具備波導(dǎo)管、旋轉(zhuǎn)天線4、天線電機(jī)32和轉(zhuǎn)角檢測器24。
[0042]控制電路5以微機(jī)為基礎(chǔ)而構(gòu)成，其包含CPU (Central Processing Unit、中央處理器)6、存儲器7和計(jì)時器8等。存儲器7由易失性或非易失性存儲器構(gòu)成，存儲包含各種程序和表TB (具體后述)的各種數(shù)據(jù)。
[0043]紅外線傳感器控制部23控制紅外線陣列傳感器21的受光動作，并且輸入來自紅外線陣列傳感器21的視場內(nèi)的測量溫度的信號，對輸入信號進(jìn)行噪聲處理并進(jìn)行AD(Analog-digital、模擬數(shù)字)轉(zhuǎn)換，作為溫度數(shù)據(jù)輸出。
[0044]由磁控管31生成的微波經(jīng)由對應(yīng)的波導(dǎo)管被引導(dǎo)到旋轉(zhuǎn)天線4。旋轉(zhuǎn)天線4使微波擴(kuò)散并向被加熱物11照射。設(shè)有旋轉(zhuǎn)天線4的空間與加熱室3被隔板分隔。為了能透過高頻波，隔板由玻璃和陶瓷等電介質(zhì)形成。旋轉(zhuǎn)天線4的未圖示的轉(zhuǎn)軸被對應(yīng)的天線電機(jī)32驅(qū)動而旋轉(zhuǎn)。在轉(zhuǎn)軸的附近設(shè)有對應(yīng)的轉(zhuǎn)角檢測器24，用于檢測轉(zhuǎn)軸上設(shè)置的突起部的位置?？梢杂赊D(zhuǎn)角檢測器24決定旋轉(zhuǎn)天線4的轉(zhuǎn)角的原點(diǎn)。控制電路5通過以所述原點(diǎn)為基準(zhǔn)控制各天線電機(jī)32，能使各旋轉(zhuǎn)天線4停止于期望的轉(zhuǎn)角。
[0045]為了減少紅外線陣列傳感器21的檢測輸出中所含的由周圍溫度變化引起的噪聲，由傳感器冷卻風(fēng)扇37冷卻紅外線陣列傳感器21。
[0046]利用磁控管31進(jìn)行高頻波振蕩時，磁控管31等與高頻波產(chǎn)生相關(guān)的部件會隨之發(fā)熱，所以由磁控管冷卻風(fēng)扇38冷卻這些部件。
[0047]供氣風(fēng)扇39在高頻波加熱時使用，借助形成在箱體的壁面上的供氣口(未圖示)向加熱室3內(nèi)供給外部的新鮮空氣，并且把食材產(chǎn)生的含水蒸氣的空氣送到加熱室3外。
[0048]這些結(jié)構(gòu)要素由電路實(shí)現(xiàn)，或者由程序及電路組合實(shí)現(xiàn)。程序存儲在存儲器7的預(yù)定的存儲區(qū)域中。通過由控制電路5的CPU6執(zhí)行從存儲器7讀出的所述程序，來控制這些結(jié)構(gòu)要素。
[0049](溫度分布的檢測)
[0050]圖4表示了被測量物的溫度分布的一例。在本實(shí)施方式中，紅