本發(fā)明是有關(guān)于一種分類方法及裝置，尤指使用在具有不同特性的電子元件上，將多個(gè)電子元件各自依其特性分配至不同收集區(qū)的電子元件分類方法及裝置。

背景技術(shù)：

按，一般電子元件由于具有不同的物理特性，故常需經(jīng)由檢測(cè)、分選的程序來進(jìn)行包裝或分類，由于電子元件的微細(xì)化及量大屬性，用于作檢測(cè)、分類的裝置必須提供精密、迅速的搬送，此外，由于制程因素，同一電子元件的物理特性愈來愈多樣化，因此分類裝置的可分類級(jí)(Bin)數(shù)被要求日益提升，由早期的32級(jí)增加到64級(jí)，至目前常用的128級(jí)或256級(jí)，甚至業(yè)界已有512級(jí)的分類裝置出現(xiàn)，隨著電子元件分類級(jí)數(shù)的提升且因其物理特性具有集中于部分料碼(Bin Code)的情形，遂有如專利號(hào)第I402108號(hào)「用于測(cè)試和分類電子元件的系統(tǒng)」的方式，以兩個(gè)輸送管道將不同特性的電子元件由旋轉(zhuǎn)臺(tái)移動(dòng)到高速容器盤或常規(guī)容器盤來提高分類速度，其中，高速容器盤的接收座數(shù)量小于常規(guī)容器盤。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

惟，已知的兩個(gè)輸送管道搭配兩個(gè)接收座數(shù)量不同的容器盤的分類方式雖可提高分類速度，但需使用在電子元件的特性集中在少數(shù)料碼之前提下，一般是適用于128級(jí)以下的分類，若是使用于256級(jí)以上的分類，此種集中在少數(shù)料碼的情形雖然還是會(huì)存在，但因級(jí)數(shù)的增加，原本高速容器盤的接收座數(shù)量亦需提升，且以256級(jí)的分類為例，在分成一個(gè)是1至128料碼的容器盤，另一個(gè)是129至256料碼的容器盤，在兩個(gè)輸送管道搭配兩個(gè)容器盤的情形下，請(qǐng)參閱圖10，電子元件由旋轉(zhuǎn)臺(tái)間歇旋轉(zhuǎn)搬運(yùn)到定位排出會(huì)有四種邏輯，只要電子元件有從旋轉(zhuǎn)臺(tái)排出一次，就需等待一次電子元件在輸送管道內(nèi)移動(dòng)至容器盤的移動(dòng)時(shí)間，只有在皆不需要排出的﹝無；無﹞情形，才可節(jié)省該次的移動(dòng)時(shí)間，使旋轉(zhuǎn)臺(tái)快速轉(zhuǎn)動(dòng)至下一排出情形發(fā)生，因在256級(jí)的分類下電子元件特性一般會(huì)較集中于第1至128料碼的區(qū)間，故有一輸送管道單獨(dú)使用占了85％的比例，這意謂著另一輸送管道有85％比例閑置，而可節(jié)省移動(dòng)時(shí)間的﹝無；無﹞情形僅有5％比例；換言之，隨著高速容器盤的接收座數(shù)量提升甚至等同于常規(guī)容器盤的接收座數(shù)量時(shí)，將會(huì)導(dǎo)致一個(gè)輸送管道處于過于忙碌狀態(tài)，而另一個(gè)輸送管道大部分處于閑置狀態(tài)，產(chǎn)生電子元件在旋轉(zhuǎn)臺(tái)內(nèi)耗費(fèi)額外時(shí)間等待進(jìn)入輸送管道處的情形，無法均勻分配兩個(gè)輸送管道的效能，電子元件分類速度受到限制。

爰是，本發(fā)明的目的，在于提供一種有效提高電子元件分類速度的電子元件分類方法。

本發(fā)明的另一目的，在于提供一種有效提高電子元件分類速度的電子元件分類裝置。

依據(jù)本發(fā)明目的的電子元件分類方法，包括：使多個(gè)電子元件被一檢測(cè)機(jī)構(gòu)進(jìn)行搬送及特性檢測(cè)，當(dāng)電子元件被檢測(cè)出其料碼歸類為單數(shù)時(shí)，將該電子元件由一第一排出管經(jīng)一第一分配裝置至一第一收集區(qū)收集；當(dāng)電子元件被檢測(cè)出其料碼歸類為雙數(shù)時(shí)，將該電子元件由一第二排出管經(jīng)一第二分配裝置至一第二收集區(qū)收集。

依據(jù)本發(fā)明另一目的的電子元件分類裝置，包括：用以執(zhí)行如權(quán)利要求1所述種電子元件分類方法的裝置。

依據(jù)本發(fā)明另一目的的另一電子元件分類裝置，包括：一檢測(cè)機(jī)構(gòu)，執(zhí)行一間歇旋轉(zhuǎn)的電子元件搬運(yùn)流路并檢測(cè)電子元件的特性，該檢測(cè)機(jī)構(gòu)設(shè)有一測(cè)盤，該測(cè)盤周緣等距環(huán)列布設(shè)有多個(gè)容槽供電子元件容置；一第一收集區(qū)，該第一收集區(qū)設(shè)有多個(gè)第一類料盒，用以收集檢測(cè)后料碼歸類為單數(shù)的電子元件；一第二收集區(qū)，該第二收集區(qū)設(shè)有多個(gè)第二類料盒，用以收集檢測(cè)后料碼歸類為雙數(shù)的電子元件；一第一分配裝置，該第一分配裝置與一第一排出管連通，該第一排出管對(duì)應(yīng)該測(cè)盤其中一容槽，該第一分配裝置設(shè)有一分配頭，該分配頭可選擇性的移動(dòng)對(duì)應(yīng)至一分配座的多個(gè)分配管其中之一，該分配管與該第一收集區(qū)的該第一類料盒相對(duì)應(yīng)；一第二分配裝置，該第二分配裝置與一第二排出管連通，該第二排出管對(duì)應(yīng)該測(cè)盤其中一容槽，該第二分配裝置設(shè)有一分配頭，該分配頭可選擇性的移動(dòng)對(duì)應(yīng)至一分配座的多個(gè)分配管其中之一，該分配管與該第二收集區(qū)的該第二類料盒相對(duì)應(yīng)。

本發(fā)明實(shí)施例的電子元件分類方法及裝置，依電子元件檢測(cè)后被歸類的料號(hào)，將單數(shù)料號(hào)的電子元件，借由第一排出管排出至第一分配裝置，經(jīng)水平位移與上下弧形擺移或以第一方向與第二方向水平位移的移動(dòng)路徑，最后落下至第一收集區(qū)的預(yù)定的第一類料盒被收集；而雙數(shù)料號(hào)的電子元件，借由第二排出管與第二分配裝置，經(jīng)水平位移與上下弧形擺移或以第一方向與第二方向水平位移的移動(dòng)路徑，最后落下至第二收集區(qū)的預(yù)定的第二類料盒被收集；因第一收集區(qū)與第二收集區(qū)分別收集單數(shù)與雙數(shù)料號(hào)的電子元件，第一類料盒與第二類料盒總數(shù)相等，且電子元件由測(cè)盤至第一收集區(qū)或第二收集區(qū)的路徑長(zhǎng)度相等，可降低電子元件單一集中使用于第一排出管或第二排出管的比例，請(qǐng)參閱圖11，因電子元件均勻分配至第一收集區(qū)與第二收集區(qū)，故測(cè)盤排出的四種邏輯會(huì)趨向各25％的比例分配，這意謂著可節(jié)省時(shí)間的﹝無；無﹞情形比例提升，將可有效提高電子元件整體分類的速度。

【附圖說明】

圖1是本發(fā)明實(shí)施例的電子元件分類裝置的示意圖。

圖2是本發(fā)明實(shí)施例的第一收集區(qū)的第一類料盒與第二收集區(qū)的第二類料盒料碼配置的示意圖。

圖3是本發(fā)明實(shí)施例的第一收集區(qū)的立體示意圖。

圖4是本發(fā)明實(shí)施例的第一分配裝置的立體示意圖。

圖5是本發(fā)明實(shí)施例的分配座的立體示意圖。

圖6是本發(fā)明實(shí)施例的第一分配裝置與第一收集區(qū)的側(cè)面示意圖。

圖7是本發(fā)明實(shí)施例的第一分配裝置的俯視示意圖。

圖8是本發(fā)明另一實(shí)施例的第一分配裝置的立體示意圖。

圖9是本發(fā)明另一實(shí)施例的第一分配裝置的俯視示意圖。

圖10是本發(fā)明比較例的電子元件排出邏輯比例示意圖。

圖11是本發(fā)明實(shí)施例的電子元件排出邏輯比例示意圖。

【符號(hào)說明】

A 檢測(cè)機(jī)構(gòu) A1 測(cè)盤

A11 容槽 A2 送料機(jī)

A21 輸送槽道 A3 檢測(cè)儀器

A4 第一排出管 A5 第二排出管

B 第一收集區(qū) B1 第一類料盒

B2 導(dǎo)料件 B3 拖架

B31 拖座 B311 握把

B4 載臺(tái) B5 撓性管

C 第一收集區(qū) C1 第二類料盒

D 第一分配裝置 D1 模座

D11 操作區(qū)間 D12 第一側(cè)座

D13 第二側(cè)座 D14 第三側(cè)座

D15 滑軌 D2 第一驅(qū)動(dòng)件

D21 皮帶 D3 第二驅(qū)動(dòng)件

D31 輸出軸 D32 驅(qū)動(dòng)臂

D33 連動(dòng)臂 D4 移擺機(jī)構(gòu)

D41 第一固定座 D42 嵌輪

D43 轉(zhuǎn)軸 D44 嵌溝

D45 第二固定座 D46 撥架

D47 分配頭 D48 樞座

D5 分配座 D51 上端緣

D6 分配管 D61 端口

D’ 第一分配裝置 D1’ 模座

D11’ 操作區(qū)間 D12’ 第一側(cè)座

D13’ 第二側(cè)座 D14’ 第三側(cè)座

D2’ 第一驅(qū)動(dòng)件 D21’ 輸出軸

D22’ 樞座 D23’ 嵌溝

D3’ 第一滑軌 D4’ 第二滑軌

D5’ 第二驅(qū)動(dòng)件 D51’ 輸出軸

D52’ 驅(qū)動(dòng)臂 D53’ 連動(dòng)臂

D6’ 滑座 D61’ 第一固定座

D62’ 第二固定座 D63’ 第一嵌輪

D64’ 第二嵌輪 D65’ 皮帶

D66’ 第三滑軌 D67’ 第三固定座

D7’ 分配頭 D8’ 分配座

D9’ 分配管 D91’ 端口

E 第二分配裝置 E’ 第二分配裝置

T 機(jī)臺(tái) W 電子元件

【具體實(shí)施方式】

請(qǐng)參閱圖1，本發(fā)明實(shí)施例的電子元件分選方法可以圖中所示分選裝置為例作說明，包括：

一檢測(cè)機(jī)構(gòu)A，包括一可作間歇旋轉(zhuǎn)的測(cè)盤A1，該測(cè)盤A1受架高于一機(jī)臺(tái)T臺(tái)面上，周緣環(huán)列布設(shè)等間距凹設(shè)的容槽A11，可借自震動(dòng)送料機(jī)A2的輸送槽道A21承載電子元件W以間歇性旋轉(zhuǎn)流路搬送電子元件W；測(cè)盤A1上方可設(shè)置各種物理特性檢測(cè)儀器A3以對(duì)位于測(cè)盤A1周緣容槽A11中的電子元件W進(jìn)行檢測(cè)；檢測(cè)機(jī)構(gòu)A設(shè)有一第一排出管A4與一第二排出管A5，該第一排出管A4與該第二排出管A5分別各對(duì)應(yīng)連通測(cè)盤A1的不同容槽A11，可用以將完成檢測(cè)的電子元件W依其物理特性所歸類的料碼為單數(shù)或雙數(shù)，分別由第一排出管A4或第二排出管A5予以排出分類；

一第一收集區(qū)B，該第一收集區(qū)B設(shè)于機(jī)臺(tái)T臺(tái)面下方，用以收集檢測(cè)后料碼歸類為單數(shù)的電子元件W；

一第二收集區(qū)C，該第二收集區(qū)C設(shè)于機(jī)臺(tái)T臺(tái)面下方，用以收集檢測(cè)后料碼歸類為雙數(shù)的電子元件W；

一第一分配裝置D，該第一分配裝置D設(shè)于第一收集區(qū)B上方，并與第一排出管A4連通，料碼為單數(shù)的電子元件W經(jīng)第一分配裝置D落下至第一收集區(qū)B；

一第二分配裝置E，該第二分配裝置E設(shè)于第二收集區(qū)C上方，并與第二排出管A5連通，料碼為雙數(shù)的電子元件W經(jīng)第二分配裝置E落下至第二收集區(qū)C。

請(qǐng)參閱圖1、2，該第一收集區(qū)B與第二收集區(qū)C內(nèi)各設(shè)有多個(gè)第一類料盒B1與第二類料盒C1，該第一類料盒B1是提供料碼為單數(shù)的電子元件W的存儲(chǔ)空間，該第二類料盒C1是提供料碼為雙數(shù)的電子元件W的存儲(chǔ)空間，該第一類料盒B1的總數(shù)等于該第二類料盒C1總數(shù)且分別以矩陣方式排列，在本發(fā)明實(shí)施例中，是將電子元件W分成256級(jí)，故第一收集區(qū)B的多個(gè)第一類料盒B1的料碼分別為1、3、5、…、255，第二收集區(qū)C的多個(gè)第二類料盒C1的料碼分別為2、4、6、…、256，各采13×10的矩陣排列且各有兩個(gè)位于角落的第一類料盒B1與第二類料盒C1閑置未使用。

請(qǐng)參閱圖1、3，第一收集區(qū)B與第二收集區(qū)C左右對(duì)稱且具有相同的機(jī)構(gòu)，在此僅以第一收集區(qū)B作為表示，第一收集區(qū)B包括：多個(gè)第一類料盒B1與多個(gè)導(dǎo)料件B2；多個(gè)第一類料盒B1以矩陣方式排列于一拖架B3中，該拖架B3下部設(shè)有一拖座B31，該拖座B31上設(shè)有可供手執(zhí)拖移的握把B311；該多個(gè)導(dǎo)料件B2各為管狀體且以矩陣方式排列于一載臺(tái)B4上，各導(dǎo)料件B2分別各對(duì)應(yīng)一種料號(hào)的第一類料盒B1，并各位于所對(duì)應(yīng)第一類料盒B1的相對(duì)上方。

請(qǐng)參閱圖1、4，第一分配裝置D與第二分配裝置E左右對(duì)稱且具有相同的機(jī)構(gòu)僅左、右配置相反，在此僅以第一分配裝置D作為表示，第一分配裝置D包括：一設(shè)于機(jī)臺(tái)T上的模座D1，其設(shè)有一鏤空的操作區(qū)間D11，并經(jīng)由該鏤空的操作區(qū)間D11將模座D1區(qū)隔出位于操作區(qū)間D11一側(cè)的第一側(cè)座D12，以及對(duì)應(yīng)第一側(cè)座D12并與其平行且位于操作區(qū)間D11另一側(cè)的第二側(cè)座D13，和位于第一側(cè)座D12與第二側(cè)座D13間，朝相對(duì)遠(yuǎn)離測(cè)盤A1方向的操作區(qū)間D11另一側(cè)的第三側(cè)座D14；

該第一側(cè)座D12上方設(shè)有由馬達(dá)構(gòu)成的第一驅(qū)動(dòng)件D2，其輸出軸(圖中未示)平行第一側(cè)座D12表面，并朝在遠(yuǎn)離測(cè)盤A1的方向伸設(shè)；第二側(cè)座D13下方設(shè)有一由馬達(dá)構(gòu)成的第二驅(qū)動(dòng)件D3，其偏靠朝遠(yuǎn)離測(cè)盤A1的方向設(shè)置，其輸出軸D31垂直第二側(cè)座D13表面，并凸伸于第二側(cè)座D13表面；第三側(cè)座D14上設(shè)置一移擺機(jī)構(gòu)D4，其以一第一固定座D41樞設(shè)一嵌輪D42，嵌輪D42中設(shè)有一轉(zhuǎn)軸D43，該轉(zhuǎn)軸D43的圓周設(shè)有軸向嵌溝D44，轉(zhuǎn)軸D43的軸向與該第一側(cè)座D12上的第一驅(qū)動(dòng)件D2輸出軸平行，轉(zhuǎn)軸D43的一端凸伸于嵌輪D42后端，轉(zhuǎn)軸D43借該嵌溝D44嵌卡并與嵌輪D42旋轉(zhuǎn)連動(dòng)，但轉(zhuǎn)軸D43可自由伸經(jīng)嵌輪D42并于其中前后滑移；該轉(zhuǎn)軸D43位于嵌輪D42的另一端伸經(jīng)第一固定座D41而與一第二固定座D45固定并在軸向位移上連動(dòng)，但轉(zhuǎn)軸D43的旋轉(zhuǎn)不與第二固定座D45連動(dòng)；該第二固定座D45呈L型而以一側(cè)設(shè)于第二側(cè)座D13上一滑軌D15，該滑軌D15與轉(zhuǎn)軸D43的軸向平行；轉(zhuǎn)軸D43伸經(jīng)第二固定座D45前方并于端部固設(shè)一與轉(zhuǎn)軸D43軸向垂直的撥架D46，撥架D46底端設(shè)有一分配頭D47，該分配頭D47連通第一排出管A4尾端以承接電子元件W；該第一側(cè)座D12上的第一驅(qū)動(dòng)件D2輸出軸(圖中未示)以一與輸出軸軸向垂直圈設(shè)的皮帶D21與移擺機(jī)構(gòu)D4嵌輪D42形成連動(dòng)，使水平設(shè)置的轉(zhuǎn)軸D43可被驅(qū)動(dòng)進(jìn)行間歇性轉(zhuǎn)動(dòng)，而帶動(dòng)其前端的撥架D46進(jìn)行與轉(zhuǎn)軸D43軸向垂直之間歇性旋擺運(yùn)動(dòng)；

該第二側(cè)座D13的第二驅(qū)動(dòng)件D3的輸出軸D31固設(shè)一與輸出軸D31垂直設(shè)置的驅(qū)動(dòng)臂D32一端，驅(qū)動(dòng)臂D32另一端則樞設(shè)一連動(dòng)臂D33一端，該連動(dòng)臂D33另一端則與該移擺機(jī)構(gòu)D4第二固定座D45上一樞座D48樞設(shè)，并借此形成連動(dòng)，以借單獨(dú)驅(qū)動(dòng)第二固定座D45在滑軌D15上滑移作間歇性直線運(yùn)動(dòng)時(shí)，將帶動(dòng)轉(zhuǎn)軸D43可沿轉(zhuǎn)軸軸向作間歇性水平位移，并連動(dòng)撥架D46及其上分配頭D47在轉(zhuǎn)軸D43軸向前、后伸移地作間歇性水平位移，此時(shí)分配頭D47的移動(dòng)路徑為一直線并與轉(zhuǎn)軸D43軸向在相隔一間距下相互平行；

請(qǐng)同時(shí)配合參閱圖5、6，在鏤空的操作區(qū)間D11下方設(shè)有一三度空間的矩形立體向下凹陷的凹弧狀平面的分配座D5，其三度空間的矩形立體向下凹陷的凹弧狀平面兩側(cè)上端緣D51分別各固設(shè)于操作區(qū)間D11兩側(cè)的第一側(cè)座D12及第二側(cè)座D13上，而由兩側(cè)的第一側(cè)座D12及第二側(cè)座D13處向下凹陷弧設(shè)，分配座D5矩形的凹弧狀平面上設(shè)有多個(gè)分配管D6，各分配管D6的配設(shè)呈由上往下的扇形放射狀配置，其下端各分別接設(shè)一透明撓性管B5至對(duì)應(yīng)的導(dǎo)料件B2，各分配管D6上方端口D61呈凹弧狀平面排列布設(shè)，分配頭D47是在各分配管D6上方端口D61排列布設(shè)的凹弧狀平面作上、下的弧形擺移。

請(qǐng)參閱圖1、6、7，本發(fā)明實(shí)施例的電子元件分類裝置在實(shí)施上，使多個(gè)電子元件W容置于檢測(cè)機(jī)構(gòu)A的測(cè)盤A1的容槽A11中被測(cè)盤A1進(jìn)行搬送及受測(cè)盤A1上方的檢測(cè)儀器A3檢測(cè)，當(dāng)電子元件W被檢測(cè)出其料碼歸類為單數(shù)時(shí)，將該電子元件W由一第一排出管A4排出至第一分配裝置D的分配頭D47，在電子元件W尚未經(jīng)分配頭D47排進(jìn)預(yù)定分配管D6前，第一驅(qū)動(dòng)件D2驅(qū)動(dòng)嵌輪D42連動(dòng)轉(zhuǎn)軸D43旋轉(zhuǎn)，使撥架D46載動(dòng)分配頭D47作間歇性旋擺運(yùn)動(dòng)，并貼靠在分配座D5上方凹弧狀平面排列布設(shè)的各分配管D6上方端口D61上緣作上、下的弧形擺移，同時(shí)第二驅(qū)動(dòng)件D3也使驅(qū)動(dòng)臂D32驅(qū)動(dòng)連動(dòng)臂D33使第二固定座D45在滑軌D15上以間歇性直線運(yùn)動(dòng)作前、后的水平位移，以連動(dòng)撥架D46載動(dòng)分配頭D47作前或后位移，而由該弧形擺移配合直線滑移將撥架D46上分配頭D47選擇性的移動(dòng)到預(yù)定的分配管D6上方端口D61，以令第一排出管A4中的電子元件W經(jīng)分配頭D47被卸放至預(yù)定的分配管D6中再自撓性管B5落下至第一收集區(qū)B預(yù)定的第一類料盒B1被收集；而當(dāng)電子元件W被檢測(cè)出其料碼歸類為雙數(shù)時(shí)，將該電子元件W由一第二排出管A5排出經(jīng)第二分配裝置E至第二收集區(qū)C被收集，因第二分配裝置E、第二收集區(qū)C與第一分配裝置D、第一收集區(qū)B的機(jī)構(gòu)相同，實(shí)施方式相同于上述，在此不多加贅述，且電子元件W由測(cè)盤A1排出至第一收集區(qū)B的移動(dòng)路徑長(zhǎng)度等于排出至第二收集區(qū)C的移動(dòng)路徑長(zhǎng)度。

請(qǐng)參閱圖1、8、9，本發(fā)明另一實(shí)施例的第一分配裝置D’與第二分配裝置E’左右對(duì)稱且具有相同的機(jī)構(gòu)僅左、右配置相反，在此僅以第一分配裝置D’作為表示，第一分配裝置D’包括：一設(shè)于機(jī)臺(tái)T上的模座D1’，其設(shè)有一操作區(qū)間D11’，并經(jīng)由該操作區(qū)間D11’將模座D1’區(qū)隔出位于操作區(qū)間D11’一側(cè)的第一側(cè)座D12’，以及對(duì)應(yīng)第一側(cè)座D12’并與其平行且位于操作區(qū)間D11’另一側(cè)的第二側(cè)座D13’，和位于第一側(cè)座D12’與第二側(cè)座D13’間，且朝相對(duì)遠(yuǎn)離測(cè)盤A1方向的操作區(qū)間D11’另一側(cè)的第三側(cè)座D14’；

該第一側(cè)座D12’上方設(shè)有由馬達(dá)構(gòu)成的第一驅(qū)動(dòng)件D2’，其輸出軸D21’平行第一側(cè)座D12’表面，并朝在靠近測(cè)盤A1的方向伸設(shè)，輸出軸D21’末端與模座D1’上一樞座D22’樞設(shè)；第一側(cè)座D12’同時(shí)設(shè)有第一滑軌D3’，該第一滑軌D3’與輸出軸D21’平行并位于輸出軸D21’與操作區(qū)間D11’間；該第二側(cè)座D13’上設(shè)有一第二滑軌D4’設(shè)于第二側(cè)座D13’上并與第一滑軌D3’平行；該第三側(cè)座D14’下方設(shè)有一由馬達(dá)構(gòu)成的第二驅(qū)動(dòng)件D5’，其輸出軸D51垂直第二側(cè)座D13’表面，并凸伸于第二側(cè)座D13’表面；輸出軸D51’固設(shè)一與輸出軸D51’垂直設(shè)置的驅(qū)動(dòng)臂D52’一端，驅(qū)動(dòng)臂D52’另一端則樞設(shè)一連動(dòng)臂D53’一端，連動(dòng)臂D53’另一端則與一滑座D6’樞接并與其連動(dòng)；該第二驅(qū)動(dòng)件D5’的輸出軸D51’位于第二側(cè)座D13’一端之外側(cè)朝遠(yuǎn)離測(cè)盤A1的方向設(shè)置，其并位于第一滑軌D3’與第二滑軌D4’間；

該滑座D6’與第一滑軌D3’、第二滑軌D4’垂直并設(shè)于其上，可受該第二驅(qū)動(dòng)件D5’的連動(dòng)臂D53’一端連動(dòng)，而受第二驅(qū)動(dòng)件D3’驅(qū)動(dòng)在第一滑軌D3’與第二滑軌D4’上作滑移；滑座D6’的兩端各伸跨該第一側(cè)座D12’、第二側(cè)座D13’的上方，且兩端對(duì)應(yīng)在近第一滑軌D3’與第二滑軌D4’上方處分別各設(shè)有第一固定座D61’、第二固定座D62’，第一固定座D61’上設(shè)有第一嵌輪D63’，第二固定座D62’上設(shè)有第二嵌輪D64’，其特征在于，第一驅(qū)動(dòng)件D2’的輸出軸D21’樞經(jīng)第一嵌輪D63’并借輸出軸D21’上設(shè)有軸向嵌溝D23’而與其嵌設(shè)并連動(dòng)進(jìn)行轉(zhuǎn)動(dòng)，但第一嵌輪D63’則可于輸出軸D21’上隨第一固定座D61’作滑移，同時(shí)于第一嵌輪D63’、第二嵌輪D64’之間繞設(shè)有一皮帶D65’；該滑座D6’上設(shè)有一橫跨兩端并與第一滑軌D3’、第二滑軌D4’垂直的第三滑軌D66’，皮帶D65’在保持一上、下之間距下設(shè)于滑座D6’的第三滑軌D66’上方，第三滑軌D66’上設(shè)有一第三固定座D67’，其與繞設(shè)的皮帶D65’下方段固設(shè)并受其連動(dòng)地可在第三滑軌D66’上作間歇性位移，第三固定座D67’上設(shè)有一分配頭D7’；該分配頭D7’一端以該第三固定座D67’設(shè)于第三滑軌D66’上而僅能作第一方向的位移，其與該電子元件W的第一排出管A4連結(jié)且呈懸空于該第三滑軌D66’外一側(cè)的分配座D8’上方；

該分配頭D7’一端連接第一排出管A4以承接電子元件W，其下方位于該操作區(qū)間D11’上方；該操作區(qū)間D11’中設(shè)有分配座D8’，其上設(shè)有多數(shù)個(gè)分配管D9’，其各分配管D9’的配設(shè)呈由上往下的直向狀配置，其下端各分別接設(shè)一透明撓性管B5至對(duì)應(yīng)的導(dǎo)料件B2(圖6)，各分配管D9’上方端口D91’呈平面排列布設(shè)，分配頭D7’是在各分配管D9’上方端口D91’排列布設(shè)的平面作前、后、左、右的位移。

本發(fā)明另一實(shí)施例的電子元件分類裝置在實(shí)施上，使多個(gè)電子元件W容置于于檢測(cè)機(jī)構(gòu)A的測(cè)盤A1的容槽A11中被測(cè)盤A1進(jìn)行搬送及受測(cè)盤A1上方的檢測(cè)儀器A3檢測(cè)，當(dāng)電子元件W被檢測(cè)出其料碼歸類為單數(shù)時(shí)，將該電子元件W由一第一排出管A4排出至第一分配裝置D’的分配頭D7’，在電子元件W尚未經(jīng)分配頭D7’排進(jìn)預(yù)定分配管D9’前，第一驅(qū)動(dòng)件D2’驅(qū)動(dòng)第一嵌輪D63’旋轉(zhuǎn)以連動(dòng)皮帶D65’繞轉(zhuǎn)，使帶動(dòng)第三固定座D67’在第三滑軌D66’上作間歇性位移，并載動(dòng)分配頭D7’以間歇性直線運(yùn)動(dòng)作面對(duì)操作者左、右水平直線的第一方向位移，并貼靠在分配座D8’上方平面排列布設(shè)的各分配管D9’上方端口D91’上緣作左、右水平直線位移，同時(shí)第二驅(qū)動(dòng)件D5’也使驅(qū)動(dòng)臂D52’驅(qū)動(dòng)連動(dòng)臂D53’使該滑座D6’在第一滑軌D3’、第二滑軌D4’上以間歇性直線運(yùn)動(dòng)作面對(duì)操作者前、后水平直線的第二方向位移，以連動(dòng)分配頭D7’作前、后位移，而由該左、右水平直線位移配合前、后的水平直線位移將分配頭D7’選擇性的移動(dòng)到預(yù)定的分配管D9’上方端口D91’，以令第一排出管A4中的電子元件W經(jīng)分配頭D7’被卸放至預(yù)定的分配管D9’再自撓性管B5落下至第一收集區(qū)B預(yù)定的第一類料盒B1被收集；而當(dāng)電子元件W被檢測(cè)出其料碼歸類為雙數(shù)時(shí)，將該電子元件W由一第二排出管A5排出經(jīng)第二分配裝置E’至第二收集區(qū)C被收集，因第二分配裝置E’、第二收集區(qū)C與第一分配裝置D’、第一收集區(qū)B的機(jī)構(gòu)相同，實(shí)施方式相同于上述，在此不多加贅述，且電子元件W由測(cè)盤A1排出至第一收集區(qū)B的移動(dòng)路徑長(zhǎng)度等于排出至第二收集區(qū)C的移動(dòng)路徑長(zhǎng)度。

本發(fā)明實(shí)施例的電子元件分類方法及裝置，依電子元件W檢測(cè)后被歸類的料號(hào)，將單數(shù)料號(hào)的電子元件W，借由第一排出管A4排出至第一分配裝置D，經(jīng)水平位移與上下弧形擺移或以第一方向與第二方向水平位移的移動(dòng)路徑，最后落下至第一收集區(qū)B的預(yù)定的第一類料盒B1被收集；而雙數(shù)料號(hào)的電子元件W，借由第二排出管A5與第二分配裝置E，經(jīng)水平位移與上下弧形擺移或以第一方向與第二方向水平位移的移動(dòng)路徑，最后落下至第二收集區(qū)C的預(yù)定的第二類料盒C1被收集；因第一收集區(qū)B與第二收集區(qū)C分別收集單數(shù)與雙數(shù)料號(hào)的電子元件W，第一類料盒B1與第二類料盒C1總數(shù)相等，且電子元件W由測(cè)盤A1至第一收集區(qū)B或第二收集區(qū)C的路徑長(zhǎng)度相等，可降低電子元件W單一集中使用于第一排出管A4或第二排出管A5的比例，請(qǐng)參閱圖11，因電子元件W均勻分配至第一收集區(qū)B與第二收集區(qū)C，故測(cè)盤A1排出的四種邏輯會(huì)趨向各25％的比例分配，這意謂著可節(jié)省時(shí)間的﹝無；無﹞情形比例提升，將可有效提高電子元件W整體分類的速度。

惟以上所述者，僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例而已，當(dāng)不能以此限定本發(fā)明實(shí)施的范圍，即大凡依本發(fā)明申請(qǐng)專利范圍及發(fā)明說明內(nèi)容所作的簡(jiǎn)單的等效變化與修飾，皆仍屬本發(fā)明專利涵蓋的范圍內(nèi)。