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      一種電磁鐵自動(dòng)測(cè)試設(shè)備的制作方法

      文檔序號(hào):11714655閱讀:722來(lái)源:國(guó)知局

      本實(shí)用新型涉及電磁鐵測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域,特別是涉及一種電磁鐵自動(dòng)測(cè)試設(shè)備。



      背景技術(shù):

      電磁鐵是電流磁鐵效應(yīng)的一個(gè)應(yīng)用,與生活聯(lián)系緊密,如電磁繼電器、電磁起重機(jī)、磁懸浮列車、電磁流量計(jì)等。在我國(guó)電磁鐵的生產(chǎn)應(yīng)用技術(shù)和檢測(cè)技術(shù)尚處于起步階段。電磁鐵性能檢測(cè)設(shè)備的檢測(cè)性能單一、檢測(cè)技術(shù)簡(jiǎn)單,往往需要幾種設(shè)備、經(jīng)過(guò)幾道工序、配合有經(jīng)驗(yàn)的檢驗(yàn)員手工操作才能完成檢測(cè)。其缺點(diǎn)是設(shè)備性能低,操作繁瑣,工人勞動(dòng)強(qiáng)度大,而且數(shù)據(jù)可靠性取決于操作者的熟練程度、人為因素較大。



      技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:

      本實(shí)用新型所要解決的技術(shù)問(wèn)題是提供一種電磁鐵自動(dòng)測(cè)試設(shè)備,能夠自動(dòng)完成對(duì)電磁鐵的多種性能的檢測(cè)。

      本實(shí)用新型解決其技術(shù)問(wèn)題所采用的技術(shù)方案是:提供一種電磁鐵自動(dòng)測(cè)試設(shè)備,包括轉(zhuǎn)盤和承載治具放置臺(tái),所述承載治具放置臺(tái)上放置有用于放置待測(cè)電磁鐵的承載治具,所述承載治具能夠通過(guò)移動(dòng)機(jī)構(gòu)從承載治具放置臺(tái)移動(dòng)到所述轉(zhuǎn)盤上;所述轉(zhuǎn)盤周圍設(shè)有漏電測(cè)試機(jī)構(gòu)、動(dòng)作測(cè)試機(jī)構(gòu)、視覺(jué)檢測(cè)機(jī)構(gòu)、吸引力測(cè)試機(jī)構(gòu)和端子視覺(jué)檢測(cè)機(jī)構(gòu);所述轉(zhuǎn)盤還設(shè)有升降機(jī)構(gòu),所述升降機(jī)構(gòu)用于升降所述轉(zhuǎn)盤使得轉(zhuǎn)盤上的承載治具能夠與轉(zhuǎn)盤周圍的漏電測(cè)試機(jī)構(gòu)、動(dòng)作測(cè)試機(jī)構(gòu)、視覺(jué)檢測(cè)機(jī)構(gòu)、吸引力測(cè)試機(jī)構(gòu)和端子視覺(jué)檢測(cè)機(jī)構(gòu)相互配合對(duì)待測(cè)電磁鐵進(jìn)行測(cè)試。

      所述漏電測(cè)試機(jī)構(gòu)包括第一探針、第二探針和探針升降裝置,所述探針升降裝置用于升降第一探針和第二探針,使得第一探針能夠與承載治具上的與待測(cè)電磁鐵的通電接觸點(diǎn)接觸,使得第二探針能夠與待測(cè)電磁鐵接觸;所述第一探針還與高壓產(chǎn)生器相連。

      所述動(dòng)作測(cè)試機(jī)構(gòu)包括第三探針、動(dòng)作升降裝置、可動(dòng)鐵芯拉力治具和荷重傳感器;所述動(dòng)作升降裝置用于升降第三探針和荷重傳感器,使得第三探針能夠與承載治具上的與待測(cè)電磁鐵的通電接觸點(diǎn)接觸,使得可動(dòng)鐵芯拉力治具與待測(cè)電磁鐵的可動(dòng)鐵芯的位置相對(duì)應(yīng);所述第三探針還與電壓產(chǎn)生器相連,所述荷重傳感器與可動(dòng)鐵芯拉力治具相連用于檢測(cè)拉力治具的受到的拉力。

      所述視覺(jué)檢測(cè)機(jī)構(gòu)包括推塊和視覺(jué)檢測(cè)儀,所述推塊用于將可動(dòng)鐵芯推入待測(cè)電磁鐵,并使可動(dòng)鐵芯與電磁鐵內(nèi)部磁鐵相吸;所述視覺(jué)檢測(cè)儀用于檢測(cè)電磁鐵與可動(dòng)鐵芯的距離和可動(dòng)鐵芯的尺寸。

      所述吸引力測(cè)試機(jī)構(gòu)包括吸引力測(cè)試?yán)C(jī)構(gòu)和吸引力升降裝置,所述吸引力升降裝置用于升降吸引力測(cè)試?yán)C(jī)構(gòu),使得吸引力測(cè)試?yán)C(jī)構(gòu)與待測(cè)電磁鐵的可動(dòng)鐵芯的位置相對(duì)應(yīng);所述吸引力測(cè)試?yán)C(jī)構(gòu)用于拉動(dòng)所述可動(dòng)鐵芯。

      所述轉(zhuǎn)盤周邊還設(shè)有分類機(jī)構(gòu);所述分類機(jī)構(gòu)包括下料移動(dòng)裝置、下料夾取裝置、翻轉(zhuǎn)裝置和噴碼流水線;所述下料夾取裝置用于夾取待測(cè)電磁鐵;所述下料移動(dòng)裝置在待測(cè)電磁鐵為不良品時(shí)移動(dòng)至不良品落料滑道上方,所述下料夾取裝置松開(kāi)使得不良品沿著所述不良品落料滑道滑到不良品盒中;所述下料移動(dòng)裝置在待測(cè)電磁鐵為良品時(shí)移動(dòng)至翻轉(zhuǎn)裝置上方,所述下料夾取裝置松開(kāi)使得良品掉落至翻轉(zhuǎn)裝置上;所述翻轉(zhuǎn)裝置翻轉(zhuǎn)后使良品進(jìn)入噴碼流水線,噴碼后的良品掉落至良品落料滑道,沿著所述良品落料滑道滑到良品盒中。

      所述承載治具放置臺(tái)下放置有標(biāo)準(zhǔn)電磁鐵承載治具,所述標(biāo)準(zhǔn)電磁鐵承載治具與降低后的轉(zhuǎn)盤處于同一水平面。

      有益效果

      由于采用了上述的技術(shù)方案,本實(shí)用新型與現(xiàn)有技術(shù)相比,具有以下的優(yōu)點(diǎn)和積極效果:本實(shí)用新型通過(guò)在轉(zhuǎn)盤的周圍設(shè)置漏電測(cè)試機(jī)構(gòu)、動(dòng)作測(cè)試機(jī)構(gòu)、視覺(jué)檢測(cè)機(jī)構(gòu)、吸引力測(cè)試機(jī)構(gòu)和端子視覺(jué)檢測(cè)機(jī)構(gòu)對(duì)電磁鐵進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試,并且測(cè)試完成后能夠?qū)α计泛筒涣计愤M(jìn)行分類,從而提升了檢測(cè)的效率,本實(shí)用新型還具備定時(shí)或定量生產(chǎn)后設(shè)備自動(dòng)檢測(cè)各項(xiàng)功能是否正常,從而確保了檢測(cè)的準(zhǔn)確性。

      附圖說(shuō)明

      圖1是本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)示意圖。

      具體實(shí)施方式

      下面結(jié)合具體實(shí)施例,進(jìn)一步闡述本實(shí)用新型。應(yīng)理解,這些實(shí)施例僅用于說(shuō)明本實(shí)用新型而不用于限制本實(shí)用新型的范圍。此外應(yīng)理解,在閱讀了本實(shí)用新型講授的內(nèi)容之后,本領(lǐng)域技術(shù)人員可以對(duì)本實(shí)用新型作各種改動(dòng)或修改,這些等價(jià)形式同樣落于本申請(qǐng)所附權(quán)利要求書所限定的范圍。

      本實(shí)用新型的實(shí)施方式涉及一種電磁鐵自動(dòng)測(cè)試設(shè)備,如圖1所示,包括轉(zhuǎn)盤1和承載治具放置臺(tái)2,所述承載治具放置臺(tái)2上放置有用于放置待測(cè)電磁鐵的承載治具3,所述承載治具3能夠通過(guò)移動(dòng)機(jī)構(gòu)4從承載治具放置臺(tái)2移動(dòng)到所述轉(zhuǎn)盤1上;所述轉(zhuǎn)盤1周圍設(shè)有漏電測(cè)試機(jī)構(gòu)、動(dòng)作測(cè)試機(jī)構(gòu)、視覺(jué)檢測(cè)機(jī)構(gòu)、吸引力測(cè)試機(jī)構(gòu)和端子視覺(jué)檢測(cè)機(jī)構(gòu);所述轉(zhuǎn)盤1還設(shè)有升降機(jī)構(gòu)5,所述升降機(jī)構(gòu)5用于升降所述轉(zhuǎn)盤1使得轉(zhuǎn)盤1上的承載治具3能夠與轉(zhuǎn)盤1周圍的漏電測(cè)試機(jī)構(gòu)、動(dòng)作測(cè)試機(jī)構(gòu)、視覺(jué)檢測(cè)機(jī)構(gòu)、吸引力測(cè)試機(jī)構(gòu)和端子視覺(jué)檢測(cè)機(jī)構(gòu)相互配合對(duì)待測(cè)電磁鐵進(jìn)行測(cè)試。

      所述漏電測(cè)試機(jī)構(gòu)包括第一探針6、第二探針7和探針升降裝置8,所述探針升降裝置8用于升降第一探針6和第二探針7,使得第一探針6能夠與承載治具3上的與待測(cè)電磁鐵的通電接觸點(diǎn)接觸,使得第二探針7能夠與待測(cè)電磁鐵接觸;所述第一探針6還與高壓產(chǎn)生器相連。

      所述動(dòng)作測(cè)試機(jī)構(gòu)包括第三探針9、動(dòng)作升降裝置10、可動(dòng)鐵芯拉力治具11和荷重傳感器12;所述動(dòng)作升降裝置10用于升降第三探針9和荷重傳感器12,使得第三探針9能夠與承載治具3上的與待測(cè)電磁鐵的通電接觸點(diǎn)接觸,使得可動(dòng)鐵芯拉力治具11與待測(cè)電磁鐵的可動(dòng)鐵芯的位置相對(duì)應(yīng);所述第三探針9還與電壓產(chǎn)生器相連,所述荷重傳感器12與可動(dòng)鐵芯拉力治具11相連用于檢測(cè)拉力治具的受到的拉力。

      所述視覺(jué)檢測(cè)機(jī)構(gòu)包括推塊13和視覺(jué)檢測(cè)儀14,所述推塊13用于將可動(dòng)鐵芯推入待測(cè)電磁鐵,并使可動(dòng)鐵芯與電磁鐵內(nèi)部磁鐵相吸;所述視覺(jué)檢測(cè)儀14用于檢測(cè)電磁鐵與可動(dòng)鐵芯的距離和可動(dòng)鐵芯的尺寸。

      所述吸引力測(cè)試機(jī)構(gòu)包括吸引力測(cè)試?yán)C(jī)構(gòu)15和吸引力升降裝置16,所述吸引力升降裝置16用于升降吸引力測(cè)試?yán)C(jī)構(gòu)15,使得吸引力測(cè)試?yán)C(jī)構(gòu)15與待測(cè)電磁鐵的可動(dòng)鐵芯的位置相對(duì)應(yīng);所述吸引力測(cè)試?yán)C(jī)構(gòu)15用于拉動(dòng)所述可動(dòng)鐵芯。

      所述轉(zhuǎn)盤1周邊還設(shè)有分類機(jī)構(gòu);所述分類機(jī)構(gòu)包括下料移動(dòng)裝置17、下料夾取裝置18、翻轉(zhuǎn)裝置19和噴碼流水線20;所述下料夾取裝置18用于夾取待測(cè)電磁鐵;所述下料移動(dòng)裝置17在待測(cè)電磁鐵為不良品時(shí)移動(dòng)至不良品落料滑道21上方,所述下料夾取裝置17松開(kāi)使得不良品沿著所述不良品落料滑道21滑到不良品盒22中;所述下料移動(dòng)裝置17在待測(cè)電磁鐵為良品時(shí)移動(dòng)至翻轉(zhuǎn)裝置19上方,所述下料夾取裝置18松開(kāi)使得良品掉落至翻轉(zhuǎn)裝置19上;所述翻轉(zhuǎn)裝置19翻轉(zhuǎn)后使良品進(jìn)入噴碼流水線20,噴碼后的良品掉落至良品落料滑道23,沿著所述良品落料滑道23滑到良品盒24中。

      所述承載治具放置臺(tái)2下放置有標(biāo)準(zhǔn)電磁鐵承載治具25,所述標(biāo)準(zhǔn)電磁鐵承載治具25與降低后的轉(zhuǎn)盤1處于同一水平面,在經(jīng)過(guò)一定的時(shí)間或是數(shù)量的測(cè)試后,使用標(biāo)準(zhǔn)電磁鐵對(duì)測(cè)試設(shè)備進(jìn)行檢測(cè),如果測(cè)試設(shè)備一切正常則繼續(xù)測(cè)試,否則,發(fā)出報(bào)警信號(hào)。

      本實(shí)用新型的工作過(guò)程如下:把電磁鐵放至弧形的承載治具放置臺(tái)的承載治具上,移動(dòng)機(jī)構(gòu)移動(dòng)把承載治具推至轉(zhuǎn)盤,轉(zhuǎn)盤逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)45度,轉(zhuǎn)盤升降機(jī)構(gòu)與探針升降機(jī)構(gòu)下降,使得第一探針能夠與承載治具上的與待測(cè)電磁鐵的通電接觸點(diǎn)接觸,使得第二探針能夠與待測(cè)電磁鐵接觸,高壓產(chǎn)生器施予第一探針1200V高壓,設(shè)備會(huì)經(jīng)由第二探針檢測(cè)電磁鐵是否產(chǎn)生漏電流,測(cè)試結(jié)果在規(guī)格內(nèi)為良品,超出規(guī)格即為不良品,轉(zhuǎn)盤升降機(jī)構(gòu)與探針升降機(jī)構(gòu)上升,轉(zhuǎn)盤逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)45度,轉(zhuǎn)盤升降機(jī)構(gòu)降,使第三探針能夠與承載治具上的與待測(cè)電磁鐵的通電接觸點(diǎn)接觸,設(shè)備經(jīng)由第三探針測(cè)試電磁鐵阻抗值,測(cè)試結(jié)果在規(guī)格內(nèi)為良品,超出規(guī)格即為不良品,動(dòng)作測(cè)試升降裝置下降,電壓產(chǎn)生器經(jīng)由第三探針給電磁鐵工作電壓使可動(dòng)鐵芯形成向電磁鐵方向移動(dòng),可動(dòng)鐵芯移動(dòng)同時(shí)與可動(dòng)鐵芯拉力治具接觸,經(jīng)動(dòng)作測(cè)試荷重傳感器判定,測(cè)試結(jié)果在規(guī)格內(nèi)為良品,超出規(guī)格即為不良品,轉(zhuǎn)盤升降機(jī)構(gòu)上升,轉(zhuǎn)盤逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)45度,推塊把可動(dòng)鐵芯推入電磁鐵,使可動(dòng)鐵芯與電磁鐵內(nèi)部磁鐵相吸,可動(dòng)鐵芯視覺(jué)檢測(cè)儀檢測(cè)電磁鐵與可動(dòng)鐵芯的距離與以及可動(dòng)鐵芯的尺寸,轉(zhuǎn)盤逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)45度,吸引力測(cè)試升降裝置下降,吸引力測(cè)試?yán)C(jī)構(gòu)經(jīng)由吸引力測(cè)試治具與可動(dòng)鐵芯做吸引力測(cè)試,測(cè)試結(jié)果在規(guī)格內(nèi)為良品,超出規(guī)格即為不良品,轉(zhuǎn)盤逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)45度,此時(shí)若電磁鐵是不良品,不良品印戳依不良品類別做不良品標(biāo)記,下料移動(dòng)機(jī)構(gòu)移至電磁鐵上方夾取電磁鐵,下料移動(dòng)機(jī)構(gòu)移至不良品落料滑道上方,下料夾取機(jī)構(gòu)松開(kāi),使不良品落入不良品落料滑道,經(jīng)過(guò)不良品落料滑道落入不良品盒,此時(shí)若電磁鐵是良品,下料移動(dòng)機(jī)構(gòu)移至電磁鐵上方夾取電磁鐵,再移至端子視覺(jué)檢測(cè)機(jī)構(gòu),經(jīng)過(guò)端子視覺(jué)檢測(cè)機(jī)構(gòu)檢測(cè),若是端子不良,下料移動(dòng)機(jī)構(gòu)移至不良品落料滑道上方,下料夾取機(jī)構(gòu)松開(kāi),使不良品落入不良品落料滑道,經(jīng)過(guò)不良品落料滑道落入不良品盒,若端子是良品,下料移動(dòng)機(jī)構(gòu)移至翻轉(zhuǎn)裝置,下料夾取機(jī)構(gòu)打開(kāi),電磁鐵放置在翻轉(zhuǎn)裝置上,翻轉(zhuǎn)裝置啟動(dòng)旋轉(zhuǎn)90度停止,將良品推入噴碼流水線,電磁鐵在噴碼流水線經(jīng)過(guò)噴碼頭下方,噴碼頭感應(yīng)到電磁鐵,即進(jìn)行噴碼,噴碼后的電磁鐵會(huì)掉落至良品落料滑道,經(jīng)過(guò)良品落料滑道落至良品盒。此臺(tái)自動(dòng)測(cè)試設(shè)備依照程序設(shè)生產(chǎn)一定的時(shí)間或是數(shù)量后,承載治具移載機(jī)構(gòu)會(huì)移至標(biāo)準(zhǔn)電磁鐵承載治具上方,將標(biāo)準(zhǔn)電磁鐵承載治具中的標(biāo)準(zhǔn)電磁鐵推動(dòng)至轉(zhuǎn)盤上進(jìn)行自動(dòng)檢測(cè),檢測(cè)結(jié)果會(huì)進(jìn)行資料比對(duì),比對(duì)資料若是超出規(guī)格會(huì)發(fā)出警告,若比對(duì)結(jié)果正確則繼續(xù)進(jìn)行生產(chǎn)。

      不難發(fā)現(xiàn),本實(shí)用新型通過(guò)在轉(zhuǎn)盤的周圍設(shè)置漏電測(cè)試機(jī)構(gòu)、動(dòng)作測(cè)試機(jī)構(gòu)、視覺(jué)檢測(cè)機(jī)構(gòu)、吸引力測(cè)試機(jī)構(gòu)和端子視覺(jué)檢測(cè)機(jī)構(gòu)對(duì)電磁鐵進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試,并且測(cè)試完成后能夠?qū)α计泛筒涣计愤M(jìn)行分類,從而提升了檢測(cè)的效率,本實(shí)用新型還具備定時(shí)或定量生產(chǎn)后設(shè)備自動(dòng)檢測(cè)各項(xiàng)功能是否正常,從而確保了檢測(cè)的準(zhǔn)確性。

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