本發(fā)明涉及一種自動(dòng)化測(cè)試分揀設(shè)備，尤其涉及一種針對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行充放電及休眠兼顧測(cè)試的自動(dòng)揀料機(jī)。

背景技術(shù)：

隨著電子科技的飛速發(fā)展和應(yīng)用規(guī)模擴(kuò)大化，現(xiàn)在人們生活的方方面面已無法離開無源電子設(shè)備或各類裝置。而作為此類設(shè)備的核心器件，儲(chǔ)能器的性能優(yōu)越性決定了設(shè)備的使用壽命和用戶感受。為此類似于儲(chǔ)能器的該類器件產(chǎn)品在完成生產(chǎn)后需要經(jīng)歷充電、放電、休眠等多方面高精度、頻度的測(cè)試方可成品投入應(yīng)用的。而傳統(tǒng)此類產(chǎn)品的檢測(cè)做法相對(duì)滯后，大都采用人工逐項(xiàng)檢測(cè)，由此費(fèi)工費(fèi)時(shí)，測(cè)試和不良品分揀的效率低下。無法滿足規(guī)?；a(chǎn)的需求。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

鑒于上述現(xiàn)有技術(shù)存在的缺陷，本發(fā)明的目的是提出一種充放電及休眠測(cè)試的自動(dòng)揀料機(jī)及其運(yùn)作方法，解決產(chǎn)品全項(xiàng)目、高效檢測(cè)、分揀的問題。

本發(fā)明的上述第一個(gè)目的，其得以實(shí)現(xiàn)的技術(shù)解決方案為：一種充放電及休眠測(cè)試的自動(dòng)揀料機(jī)，其特征在于：所述自動(dòng)揀料機(jī)由底座平臺(tái)上組裝相接的電控測(cè)試單元、不良品剔除單元和載具循環(huán)位移單元組成，其中所述電控測(cè)試單元設(shè)有操控部、測(cè)試探針及關(guān)聯(lián)測(cè)試探針驅(qū)動(dòng)和接收處理測(cè)試探針數(shù)據(jù)并判斷良品與否的處理器，所述操控部信號(hào)接入處理器進(jìn)行參數(shù)調(diào)控；

所述不良品剔除單元設(shè)有不良品倉、半包環(huán)繞不良品倉且三軸正交的移軌組件以及裝接于移軌組件上的不良品夾頭；

所述載具循環(huán)位移單元在底座平臺(tái)上設(shè)有呈矩形的滑軌以及對(duì)應(yīng)滑軌四邊的左換料氣缸、右換料氣缸、前換料氣缸、后換料氣缸；滑軌上設(shè)有數(shù)量上具有周轉(zhuǎn)余量的載具，且全部載具受驅(qū)于四個(gè)換料氣缸的進(jìn)退動(dòng)作沿滑軌在上料位、下料位、測(cè)試探針下方的測(cè)試位及排序等待位之間循環(huán)位移。

并且，所述移軌組件、不良品夾頭、四個(gè)換料氣缸的各自驅(qū)動(dòng)端均總線接入處理器受控。

進(jìn)一步地，所述電控測(cè)試單元所設(shè)的測(cè)試探針包含沿滑軌排列的充電測(cè)試探針、放電測(cè)試探針和休眠測(cè)試探針，且三種測(cè)試探針受驅(qū)于處理器和各自的Z軸移軌朝底座平臺(tái)進(jìn)退動(dòng)作。

更進(jìn)一步地，所述底座平臺(tái)中部一體成型設(shè)有Z軸向的豎直壁面，所述三種測(cè)試探針的各自Z軸移軌定位裝接于所述豎直壁面上。

再進(jìn)一步地，所述測(cè)試探針的端部設(shè)有導(dǎo)向易插拔的尖頭部。

進(jìn)一步地，所述電控測(cè)試單元設(shè)有電控箱，且所述操控部為設(shè)于電控箱一側(cè)面上的按鍵旋鈕式控制面板、觸控屏或兩者的復(fù)用組件。

進(jìn)一步地，所述移軌組件包含X軸軌鏈、Y軸軌鏈和Z軸軌鏈，且X軸軌鏈、Y軸軌鏈懸空設(shè)于底座平臺(tái)上，所述不良品夾頭受驅(qū)沿各軸軌鏈移動(dòng)、定位往返于載具及不良品倉之間。

進(jìn)一步地，所述底座平臺(tái)的底部四角設(shè)有高度可調(diào)的支腳，所述左換料氣缸和右換料氣缸設(shè)于底座平臺(tái)頂面且各自對(duì)應(yīng)滑軌一條長(zhǎng)邊相異的兩端，所述前換料氣缸和后換料氣缸設(shè)于底座平臺(tái)底面懸空處且各自對(duì)應(yīng)滑軌一條短邊。

進(jìn)一步地，所述底座平臺(tái)的底部對(duì)應(yīng)測(cè)試探針?biāo)谖恢迷O(shè)有固定載具的定位氣缸。

本發(fā)明的上述第二個(gè)目的，其得以實(shí)現(xiàn)的技術(shù)解決方案：一種充放電及休眠測(cè)試的運(yùn)作方法，基于上述自動(dòng)揀料機(jī)實(shí)現(xiàn)，且測(cè)試探針包含沿滑軌排列的充電測(cè)試探針、放電測(cè)試探針和休眠測(cè)試探針，其特征在于包括步驟：

Ⅰ、通過操控部對(duì)電控測(cè)試單元的處理器進(jìn)行參數(shù)調(diào)控，設(shè)定處理器在單位測(cè)試效率下各移軌組件、不良品夾頭、四個(gè)換料氣缸的各自驅(qū)動(dòng)端之間的互配動(dòng)作，并啟動(dòng)自動(dòng)揀料機(jī)各單元；

Ⅱ、載具在滑軌上循環(huán)位移，并在預(yù)設(shè)的上料位通過外部裝載器對(duì)載具進(jìn)行待測(cè)樣件的裝料；

Ⅲ、載具在滑軌上循環(huán)位移，測(cè)試探針受驅(qū)于處理器和各自的Z軸移軌朝底座平臺(tái)周期性反復(fù)進(jìn)退動(dòng)作，當(dāng)載有待測(cè)樣件的載具移至各測(cè)試位時(shí)定位、測(cè)試探針插入待測(cè)樣件進(jìn)行測(cè)試并回收測(cè)試結(jié)果的信號(hào)數(shù)據(jù)，且當(dāng)任一個(gè)待測(cè)樣件遍歷全部測(cè)試探針后處理器分析判定良品與否；

Ⅳ、對(duì)于判定為不良品的待測(cè)樣件，不良品剔除單元的不良品夾頭受控夾鉗不良的待測(cè)樣件，并通過移軌組件運(yùn)送至不良品倉歸集，對(duì)于判定為良品的待測(cè)樣件，保留并隨載具位移至下料位，卸料。

進(jìn)一步地，在所述底座平臺(tái)的底部對(duì)應(yīng)測(cè)試探針?biāo)谖恢迷O(shè)置定位氣缸，并將定位氣缸的驅(qū)動(dòng)端接入處理器，步驟Ⅲ中當(dāng)載有待測(cè)樣件的載具移至各測(cè)試位時(shí)，定位氣缸一并啟動(dòng)、固定所述載具。

本發(fā)明自動(dòng)揀料機(jī)的突出創(chuàng)新效果為：通過合理化構(gòu)建包括電控測(cè)試、不良品分揀和載具的空間循環(huán)位移于一臺(tái)設(shè)備中，只需輸入測(cè)試的相關(guān)參數(shù)即可自動(dòng)化作業(yè)，切實(shí)提高了產(chǎn)品自動(dòng)化檢測(cè)的效率，解放了人力成本。并且該自動(dòng)揀料機(jī)整合程度高、設(shè)備體積小巧，便于工業(yè)化普及和局部維護(hù)保養(yǎng)。

附圖說明

圖1是本發(fā)明自動(dòng)揀料機(jī)的立體結(jié)構(gòu)示意圖。

圖2是圖1所示自動(dòng)揀料機(jī)的正視結(jié)構(gòu)示意圖。

具體實(shí)施方式

本發(fā)明的目的、優(yōu)點(diǎn)和特點(diǎn)，將通過下面優(yōu)選實(shí)施例的非限制性說明進(jìn)行圖示和解釋。這些實(shí)施例僅是應(yīng)用本發(fā)明技術(shù)方案的典型范例，凡采取等同替換或者等效變換而形成的技術(shù)方案，均落在本發(fā)明要求保護(hù)的范圍之內(nèi)。

本發(fā)明設(shè)計(jì)者針對(duì)傳統(tǒng)人工手動(dòng)測(cè)試、分揀效率低下的問題，經(jīng)創(chuàng)造性的研究并創(chuàng)新提出的一種充放電及休眠測(cè)試的自動(dòng)揀料機(jī)，并進(jìn)一步提供了該設(shè)備的運(yùn)作方法。從而為現(xiàn)有儲(chǔ)能器件進(jìn)行良品檢測(cè)和不良品分揀提供了行之有效的技術(shù)解決方案。

如圖1和圖2所示的該充放電及休眠測(cè)試的自動(dòng)揀料機(jī)的立體結(jié)構(gòu)示意圖和正視結(jié)構(gòu)示意圖可見，概括而言該自動(dòng)揀料機(jī)由底座平臺(tái)1上組裝相接的電控測(cè)試單元2、不良品剔除單元3和載具循環(huán)位移單元4組成，而本設(shè)計(jì)創(chuàng)新地將該些功能各異的獨(dú)立單元整合成為一臺(tái)整裝設(shè)備，使其具備了自動(dòng)化檢測(cè)和分揀的綜合功能。

從各組成單元的細(xì)化結(jié)構(gòu)來看，如圖是實(shí)施例中首先該電控測(cè)試單元2設(shè)有操控部21、測(cè)試探針及關(guān)聯(lián)測(cè)試探針驅(qū)動(dòng)和接收處理測(cè)試探針數(shù)據(jù)并判斷良品與否的處理器（內(nèi)部器件未圖示，其可以是微處理器，也可以工控PC處理器）。更詳細(xì)地，該電控測(cè)試單元2所設(shè)的測(cè)試探針包含沿滑軌排列的充電測(cè)試探針22a、放電測(cè)試探針22b和休眠測(cè)試探針22c，且三種測(cè)試探針受驅(qū)于處理器和各自的Z軸移軌22朝底座平臺(tái)1進(jìn)退動(dòng)作。這里，優(yōu)選的方式是三種測(cè)試探針在進(jìn)行檢測(cè)作業(yè)時(shí)同步動(dòng)作，對(duì)不同載具中的待測(cè)樣品進(jìn)行分別的測(cè)試，而當(dāng)載具步進(jìn)移位后，其中一個(gè)測(cè)試探針對(duì)新的待測(cè)樣品開始專項(xiàng)檢測(cè)，而另兩個(gè)測(cè)試探針則對(duì)之前已經(jīng)歷他項(xiàng)檢測(cè)的待測(cè)樣品進(jìn)行對(duì)應(yīng)新項(xiàng)目的檢測(cè)（即充電、放電、休眠之一）。

該電控測(cè)試單元2設(shè)有電控箱23，其中集成了與處理器相關(guān)聯(lián)的各類器件。且該操控部21為設(shè)于電控箱23一側(cè)面上的按鍵旋鈕式控制面板21a、觸控屏21b或兩者的復(fù)用組件。該操控部21信號(hào)接入處理器進(jìn)行參數(shù)調(diào)控；從而滿足不同的作業(yè)需求，可由工作人員靈活調(diào)控。

作為進(jìn)一步的優(yōu)化設(shè)計(jì)，該底座平臺(tái)1中部一體成型設(shè)有Z軸向的豎直壁面11，上述三種測(cè)試探針的各自Z軸移軌22定位裝接于該豎直壁面11上，從而提升測(cè)試探針移動(dòng)的同步、同軸性。而且為了便于提升測(cè)試探針插接的準(zhǔn)確性和順利性，該些測(cè)試探針的端部設(shè)有導(dǎo)向易插拔的尖頭部，避免因細(xì)微的錯(cuò)位而導(dǎo)致測(cè)試探針無法插接、撞壞產(chǎn)品或探針的情況出現(xiàn)。

其次，上述不良品剔除單元3設(shè)有不良品倉31、半包環(huán)繞不良品倉31且三軸正交的移軌組件32以及裝接于移軌組件上的不良品夾頭33。該移軌組件包含X軸軌鏈、Y軸軌鏈和Z軸軌鏈，且X軸軌鏈、Y軸軌鏈懸空設(shè)于底座平臺(tái)1上。由此則該不良品夾頭33可以受驅(qū)沿各軸軌鏈移動(dòng)、定位往返于載具及不良品倉31之間。

最后，上述載具循環(huán)位移單元4在底座平臺(tái)1上設(shè)有呈矩形的滑軌41以及對(duì)應(yīng)滑軌41四邊的左換料氣缸43a、右換料氣缸43b、前換料氣缸43c、后換料氣缸43d；滑軌31上設(shè)有數(shù)量上具有周轉(zhuǎn)余量的載具42，且全部載具受驅(qū)于四個(gè)換料氣缸的進(jìn)退動(dòng)作沿滑軌在上料位A、下料位B、測(cè)試探針下方的測(cè)試位C及排序等待位之間循環(huán)位移；并且，上述移軌組件32、不良品夾頭33、四個(gè)換料氣缸的各自驅(qū)動(dòng)端均總線接入處理器受控。作為優(yōu)選實(shí)施例的進(jìn)一步完善，該底座平臺(tái)1的底部四角設(shè)有高度可調(diào)的支腳12，該左換料氣缸43a和右換料氣缸43b設(shè)于底座平臺(tái)1頂面且各自對(duì)應(yīng)滑軌一條長(zhǎng)邊相異的兩端，而前換料氣缸43c和后換料氣缸43d設(shè)于底座平臺(tái)1底面懸空處且各自對(duì)應(yīng)滑軌一條短邊。由此，四個(gè)周向分布的換料氣缸各司其職，通過協(xié)同配合的進(jìn)退動(dòng)作帶動(dòng)滑軌上的載具循環(huán)位移。而該協(xié)同配合的進(jìn)退動(dòng)作依賴于處理器的合理化驅(qū)動(dòng)速出。此外，該底座平臺(tái)1的底部對(duì)應(yīng)測(cè)試探針?biāo)谖恢迷O(shè)有固定載具的定位氣缸44。

基于上述自動(dòng)揀料機(jī)的優(yōu)選實(shí)施例，是如何來實(shí)現(xiàn)待檢樣品的自動(dòng)化檢測(cè)和分揀的,以下便提供了該裝置詳細(xì)的運(yùn)作方法。通過各個(gè)環(huán)節(jié)過程化的描述，可以清楚理解到其技術(shù)效果是著實(shí)可實(shí)現(xiàn)的。

其運(yùn)作步驟如下：Ⅰ、通過操控部對(duì)電控測(cè)試單元的處理器進(jìn)行參數(shù)調(diào)控，設(shè)定處理器在單位測(cè)試效率下各移軌組件、不良品夾頭、四個(gè)換料氣缸的各自驅(qū)動(dòng)端之間的互配動(dòng)作，并啟動(dòng)自動(dòng)揀料機(jī)各單元；Ⅱ、載具在滑軌上循環(huán)位移，并在預(yù)設(shè)的上料位通過外部裝載器對(duì)載具進(jìn)行待測(cè)樣件的裝料；Ⅲ、載具在滑軌上循環(huán)位移，測(cè)試探針受驅(qū)于處理器和各自的Z軸移軌朝底座平臺(tái)周期性反復(fù)進(jìn)退動(dòng)作，當(dāng)載有待測(cè)樣件的載具移至各測(cè)試位時(shí)定位、測(cè)試探針插入待測(cè)樣件進(jìn)行測(cè)試并回收測(cè)試結(jié)果的信號(hào)數(shù)據(jù)，且當(dāng)任一個(gè)待測(cè)樣件遍歷全部測(cè)試探針后處理器分析判定良品與否；Ⅳ、對(duì)于判定為不良品的待測(cè)樣件，不良品剔除單元的不良品夾頭受控夾鉗不良的待測(cè)樣件，并通過移軌組件運(yùn)送至不良品倉歸集，對(duì)于判定為良品的待測(cè)樣件，保留并隨載具位移至下料位，卸料。

特殊地，更優(yōu)選的方案，為避免測(cè)試探針插接待檢產(chǎn)品時(shí)發(fā)生載具的位移而意外發(fā)生產(chǎn)品損壞，故在底座平臺(tái)的底部對(duì)應(yīng)測(cè)試探針?biāo)谖恢迷O(shè)置定位氣缸，并將定位氣缸的驅(qū)動(dòng)端接入處理器，步驟Ⅲ中當(dāng)載有待測(cè)樣件的載具移至各測(cè)試位時(shí)，定位氣缸一并啟動(dòng)、固定載具。

需要說明的是，上述步驟Ⅰ至步驟Ⅳ沒有嚴(yán)格的先后順序，只是對(duì)相應(yīng)的操作和實(shí)際運(yùn)作過程進(jìn)行了按步驟分類的闡述，特請(qǐng)理解。

綜上結(jié)合圖示的實(shí)施例詳細(xì)描述可見，本發(fā)明自動(dòng)揀料機(jī)的突出創(chuàng)新效果為：通過合理化構(gòu)建包括電控測(cè)試、不良品分揀和載具的空間循環(huán)位移于一臺(tái)設(shè)備中，只需輸入測(cè)試的相關(guān)參數(shù)即可自動(dòng)化作業(yè)，切實(shí)提高了產(chǎn)品自動(dòng)化檢測(cè)的效率，解放了人力成本。并且該自動(dòng)揀料機(jī)整合程度高、設(shè)備體積小巧，便于工業(yè)化普及和局部維護(hù)保養(yǎng)。

本發(fā)明尚有多種實(shí)施方式，凡采用等同變換或者等效變換而形成的所有技術(shù)方案，均落在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。