一種噴涂表面缺陷檢測(cè)機(jī)的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及一種噴涂表面缺陷檢測(cè)機(jī)。
【背景技術(shù)】
[0002]目前手機(jī)行業(yè)有很大部分手機(jī)殼體都需要做表面噴涂處理，以達(dá)到想要的表面效果，但是噴涂過程中有很多不確定因素都會(huì)造成表面噴涂效果不良，不良品目前沒有什么非常有效的檢測(cè)設(shè)備，基本上都是由作業(yè)員在燈光和放大鏡下目測(cè)出來的，同時(shí)人工檢測(cè)穩(wěn)定性不高，經(jīng)常出現(xiàn)漏檢，并且一些細(xì)微的斑點(diǎn)很難辨別出來，檢測(cè)時(shí)間長(zhǎng)了容易導(dǎo)致作業(yè)員疲勞，甚至對(duì)作業(yè)員視力造成不良影響。
【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0003]本實(shí)用新型的主要目的在于針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)的不足，提供一種高效、精準(zhǔn)且高度自動(dòng)化的噴涂表面缺陷檢測(cè)機(jī)。
[0004]為實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型采用以下技術(shù)方案:
[0005]—種噴涂表面缺陷檢測(cè)機(jī)，包括機(jī)箱體和設(shè)置在機(jī)箱體中的電控箱，還包括設(shè)置在機(jī)箱體中的入料口、出料口、送料機(jī)構(gòu)以及設(shè)置在所述入料口與所述出料口之間的第一CO) (Charge-coupled Device，電荷親合元件)檢測(cè)模塊和第二 CO)檢測(cè)模塊，其中所述第一 CCD檢測(cè)模塊相對(duì)于所述第二 CCD檢測(cè)模塊靠近所述入料口設(shè)置，所述第一 CCD檢測(cè)模塊用于對(duì)產(chǎn)品的表面缺陷進(jìn)行CCD粗檢，并將經(jīng)檢測(cè)具有預(yù)定的較大表面缺陷的不良產(chǎn)品剔除，所述第二 CCD檢測(cè)模塊用于對(duì)產(chǎn)品的表面缺陷進(jìn)行CCD微檢，并將經(jīng)檢測(cè)具有預(yù)定的較小表面缺陷的不良產(chǎn)品剔除。
[0006]進(jìn)一步地:
[0007]所述第一 (XD檢測(cè)模塊包括第一輸送皮帶、第一輸送皮帶傳感器、第一支架、第一CCD檢測(cè)單元、同軸光源和第一不良品剔除機(jī)構(gòu)，所述第一輸送皮帶傳感器用于在檢測(cè)到待檢產(chǎn)品到達(dá)時(shí)觸發(fā)所述第一輸送皮帶啟動(dòng)，所述第一 CCD檢測(cè)單元和所述同軸光源設(shè)置在所述第一支架上，所述同軸光源位于所述第一輸送皮帶上方，所述第一 CCD檢測(cè)單元位于所述同軸光源上方，所述第一不良品剔除機(jī)構(gòu)設(shè)置在所述第一 CCD檢測(cè)單元的檢測(cè)位置的前方，用于將所述第一 CCD檢測(cè)單元檢測(cè)到的不良產(chǎn)品剔除。
[0008]所述第二 (XD檢測(cè)模塊包括第二輸送皮帶、第二輸送皮帶傳感器、第二 (XD檢測(cè)單元、明暗柵格光源、光源移動(dòng)機(jī)構(gòu)、光源調(diào)節(jié)支架和第二不良品剔除機(jī)構(gòu)，所述第二輸送皮帶傳感器用于在檢測(cè)到待檢產(chǎn)品達(dá)到時(shí)觸發(fā)所述第二輸送皮帶暫停運(yùn)行，所述光源移動(dòng)機(jī)構(gòu)設(shè)置在光源調(diào)節(jié)支架上，所述明暗柵格光源設(shè)置在所述光源移動(dòng)機(jī)構(gòu)上并位于所述第二輸送皮帶上方，所述明暗柵格光源能夠在所述光源移動(dòng)機(jī)構(gòu)的帶動(dòng)下移動(dòng)，所述第二 CCD檢測(cè)單元用于在所述明暗柵格光源處在不同位置時(shí)拍攝待檢產(chǎn)品的多幅圖像，并經(jīng)圖像合成后檢測(cè)其是否為不良產(chǎn)品，拍攝完畢后觸發(fā)所述第二輸送皮帶重新啟動(dòng)，所述第二不良品剔除機(jī)構(gòu)設(shè)置在所述第二 CCD檢測(cè)單元的檢測(cè)位置的前方，用于將所述第二 CCD檢測(cè)單元檢測(cè)到的不良產(chǎn)品剔除。
[0009]所述光源移動(dòng)機(jī)構(gòu)包括同步帶傳動(dòng)結(jié)構(gòu)、伺服電機(jī)、支撐板、光源移動(dòng)導(dǎo)軌、滑塊和光源固定支架，所述明暗柵格光源固定在所述光源固定支架上，所述光源固定支架通過所述滑塊以可滑動(dòng)的方式安裝在所述光源移動(dòng)導(dǎo)軌上，所述伺服電機(jī)耦合并驅(qū)動(dòng)所述同步帶傳動(dòng)結(jié)構(gòu)，所述同步帶傳動(dòng)結(jié)構(gòu)耦合并驅(qū)動(dòng)所述光源固定支架沿所述光源移動(dòng)導(dǎo)軌移動(dòng)，所述光源移動(dòng)導(dǎo)軌和所述同步帶傳動(dòng)結(jié)構(gòu)固定在所述支撐板上，所述支撐板固定在所述光源調(diào)節(jié)支架上。
[0010]所述光源移動(dòng)機(jī)構(gòu)還包括一對(duì)光源角度調(diào)節(jié)盤，所述支撐板通過所述光源角度調(diào)節(jié)盤安裝到所述光源調(diào)節(jié)支架上，且通過所述光源角度調(diào)節(jié)盤能夠調(diào)節(jié)所述支撐板相對(duì)于水平面的傾角。
[0011]所述明暗柵格光源包括平面光源和平行設(shè)置在所述平面光源下方的明暗柵格板。
[0012]所述光源移動(dòng)導(dǎo)軌沿著平行于所述第二輸送皮帶的方向設(shè)置。
[0013]還包括與所述第一不良品剔除機(jī)構(gòu)相對(duì)應(yīng)設(shè)置的不良品導(dǎo)槽，所述不良品導(dǎo)槽的尾端設(shè)置有不良品收納盒。
[0014]本實(shí)用新型的有益效果:
[0015]本實(shí)用新型能夠高效地檢測(cè)出電子產(chǎn)品如手機(jī)的外殼噴涂后表面的各種外觀缺陷，如顆粒、劃傷、細(xì)微斑點(diǎn)、色差等，快速準(zhǔn)確地分離出良品與不良品，尤其具有以下優(yōu)占.
[0016]1.粗檢和微檢分開進(jìn)行，節(jié)省了時(shí)間，提高了效率。
[0017]2.由于粗檢之后有微檢過程，可以確保對(duì)非常細(xì)微的缺陷進(jìn)行檢測(cè)，防止漏檢。
[0018]3.大大減輕操作人員的勞動(dòng)強(qiáng)度。
[0019]4.實(shí)現(xiàn)自動(dòng)在線檢測(cè)，可配合全自動(dòng)生產(chǎn)線上段工藝與下段工藝，無需人工參與，自動(dòng)化程度高。
【附圖說明】
[0020]圖1是本實(shí)用新型實(shí)施例的噴涂表面缺陷檢測(cè)機(jī)的外觀立體圖；
[0021]圖2是圖1所不嗔涂表面缺陷檢測(cè)機(jī)內(nèi)部視圖；
[0022]圖3是本實(shí)用新型實(shí)施例的噴涂表面缺陷檢測(cè)機(jī)的俯視圖；
[0023]圖4是本實(shí)用新型實(shí)施例中的第一(XD檢測(cè)模塊的立體示意圖；
[0024]圖5是本實(shí)用新型實(shí)施例中的第二(XD檢測(cè)模塊的立體示意圖；
[0025]圖6是本實(shí)用新型實(shí)施例中的光源移動(dòng)機(jī)構(gòu)的立體示意圖；
[0026]圖7是本實(shí)用新型實(shí)施例中的第二(XD檢測(cè)模塊的成像示意圖；
[0027]圖8是本實(shí)用新型實(shí)施例的噴涂表面缺陷檢測(cè)機(jī)工作流程圖。
【具體實(shí)施方式】
[0028]以下對(duì)本實(shí)用新型的實(shí)施方式作詳細(xì)說明。應(yīng)該強(qiáng)調(diào)的是，下述說明僅僅是示例性的，而不是為了限制本實(shí)用新型的范圍及其應(yīng)用。
[0029]參閱圖1至圖7，在一種實(shí)施例中，一種噴涂表面缺陷檢測(cè)機(jī)，包括機(jī)箱體、設(shè)置在機(jī)箱體中的電控箱、入料口 1、出料口 2、送料機(jī)構(gòu)以及設(shè)置在所述入料口 1與所述出料口 2之間的第一 c⑶檢測(cè)模塊3和第二 (XD檢測(cè)模塊4，其中所述第一 (XD檢測(cè)模塊3相對(duì)于所述第二 (XD檢測(cè)模塊4靠近所述入料口 1設(shè)置，所述第一 (XD檢測(cè)模塊3用于對(duì)產(chǎn)品25的表面缺陷進(jìn)行CCD粗檢，并將經(jīng)檢測(cè)具有預(yù)定的較大表面缺陷的不良產(chǎn)品剔除，所述第二CCD檢測(cè)模塊4用于對(duì)產(chǎn)品25的表面缺陷進(jìn)行CCD微檢，并將經(jīng)檢測(cè)具有預(yù)定的較小表面缺陷的不良產(chǎn)品剔除。通過采用2個(gè)(XD檢測(cè)模塊，第一 (XD檢測(cè)模塊3對(duì)一些比較大的缺陷進(jìn)行檢測(cè)，第二 CCD檢測(cè)模塊4針對(duì)非常細(xì)微的缺陷進(jìn)行檢測(cè)，既能保證不對(duì)產(chǎn)品的細(xì)微缺陷漏檢，又能夠顯著提高整體的檢測(cè)效率。噴涂表面缺陷檢測(cè)機(jī)的工作流程如圖8所不ο
[0030]在優(yōu)選的實(shí)施例中，所述第一 (XD檢測(cè)模塊3包括第一輸送皮帶5、第一輸送皮帶傳感器(未圖示)、第一支架6、第一 CCD檢測(cè)單元7、同軸光源8和第一不良品剔除機(jī)構(gòu)9，所述第一輸送皮帶傳感器用于在檢測(cè)到待檢產(chǎn)品到達(dá)時(shí)觸發(fā)所述第一輸送皮帶5啟動(dòng)，所述第一 CCD檢測(cè)單元7和所述同軸光源8設(shè)置在所述第一支架上，所述同軸光源8位于所述第一輸送皮帶5上方，所述第一 (XD檢測(cè)單元7位于所述同軸光源8上方，所述第一不良品剔除機(jī)構(gòu)9設(shè)置在所述第一 CCD檢測(cè)單元7的檢測(cè)位置的前方，用于將所述第一 CCD檢測(cè)單元7檢測(cè)到的不良產(chǎn)品剔除。第一支架6優(yōu)選為可調(diào)節(jié)第一 CCD檢測(cè)單元7和同軸光源8的位置的可調(diào)支架。
[0031]工作時(shí)，產(chǎn)品經(jīng)過同軸光源8下方時(shí)，同軸光源8上方的第一 (XD檢測(cè)單元7對(duì)其掃描取像，對(duì)于比較明顯的缺陷可很快直接判別出來，如0.5秒左右就可完成，然后通過不良品剔除機(jī)構(gòu)將不良品直接剔除，良品直接流入第二 CCD檢測(cè)模塊4。
[0032]在優(yōu)選的實(shí)施例中，所述第二 (XD檢測(cè)模塊4包括第二輸送皮帶10、第二輸送皮帶傳感器(未圖示)、第二 CCD檢測(cè)單元11、明暗柵格光源12、光源移動(dòng)機(jī)構(gòu)13、光源調(diào)節(jié)支架14和第二不良品剔除機(jī)構(gòu)15，所述第二輸送皮帶傳感器用于在檢測(cè)到待檢產(chǎn)品25達(dá)到時(shí)觸發(fā)所述第二