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      一種在硅微通道板中生長(zhǎng)石墨烯的方法

      文檔序號(hào):8506898閱讀:793來(lái)源:國(guó)知局
      一種在硅微通道板中生長(zhǎng)石墨烯的方法
      【技術(shù)領(lǐng)域】
      [0001]本發(fā)明屬于微機(jī)電系統(tǒng)技術(shù)領(lǐng)域,具體地涉及一種在硅微通道板中生長(zhǎng)石墨烯的方法。
      【背景技術(shù)】
      [0002]石墨稀是由英國(guó)曼徹斯特大學(xué)的Andre Geim和Konstantin Novoselov兩位科學(xué)家于2004年通過(guò)膠帶機(jī)械剝離的方法得到的,2010年兩人因此獲得了諾貝爾物理學(xué)獎(jiǎng)。石墨烯由碳原子構(gòu)成的二維晶體,單層厚度0.335nm,是頭發(fā)厚度的1/200,I毫米厚的石墨有150萬(wàn)層石墨稀,石墨稀比表面積達(dá)到26002600m2/g。石墨稀具有優(yōu)異的導(dǎo)電性能、特大比表面積,超出鋼數(shù)十倍的強(qiáng)度和很好的透光性,其在電子器件、觸摸屏、生物醫(yī)藥、傳感器、超級(jí)電容器、鋰離子電池等領(lǐng)域具備廣闊的應(yīng)用前景。
      [0003]多孔娃(porous silicon PS)是娃在HF溶液中通過(guò)陽(yáng)極溶解形成的一種材料。多孔硅的形成最先是在20世紀(jì)50年代研宄硅的電化學(xué)拋光時(shí)報(bào)道的。根據(jù)國(guó)際理論和應(yīng)用化學(xué)聯(lián)合會(huì)(Internat1nal Un1n of Pure and Applied Chemistry IUPAC)對(duì)多孔娃的分類標(biāo)準(zhǔn),多孔娃按孔的尺寸(寬度或直徑)可分為三種:大于50nm的叫做宏孔(macroporous),在2_50nm之間的叫做中孔(mesoporous),而尺寸小于2nm的稱為微孔。本發(fā)明所涉及的微通道結(jié)構(gòu)孔的尺寸大小一般在微米(um)級(jí)別,所以又稱作宏孔硅。該微通道板是由本課題組研制的,孔的尺寸5微米乘以5微米,孔深250微米,具有自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)。微通道板具有比表面積大、輕薄、制備工藝與集成電路工藝(IC)兼容的特點(diǎn)。其在光電倍增器、高能粒子探測(cè)、熱傳導(dǎo)器件、三維鋰離子電池的、超級(jí)電容器、三維傳感器等領(lǐng)域應(yīng)用前景較好。
      [0004]將石墨烯和硅微通道板合成復(fù)合電極,利用石墨烯導(dǎo)電性好、比表面積大,硅微通道板比表面積大、結(jié)構(gòu)規(guī)整、制備工藝與IC工藝兼容、重量輕薄等特點(diǎn),將該電極經(jīng)過(guò)退火工藝后,形成MLG (Mult1-layer graphene) /Ni/S1-MCP電極,該電極在場(chǎng)發(fā)射傳感器和超級(jí)電容負(fù)極材料具備較好的應(yīng)用前景。
      [0005]石墨烯的制備方法較多,其中包括機(jī)械剝離、碳化硅表面外延生長(zhǎng)、金屬表面生長(zhǎng)、氧化還原、石墨聲波處理、切割碳納米管法等。這些方法中使用較多的是氧化還原法和金屬表面生長(zhǎng)法,氧化還原法制備的石墨烯產(chǎn)量高、適合大規(guī)模生產(chǎn),但是這種方法制備的石墨烯存在很多缺陷,只能應(yīng)用在超級(jí)電容器、鋰離子電池等儲(chǔ)能器件。金屬表面生長(zhǎng)法制備的石墨烯層數(shù)較少,純度高,可以應(yīng)用在電子器件等要求較高的場(chǎng)合,但是該方法制備石墨烯所有CVD設(shè)備較昂貴、工藝難度較大,不易產(chǎn)業(yè)化。目前,據(jù)文獻(xiàn)報(bào)道,有科學(xué)家用電泳的方法將石墨烯制備在多孔硅表面和孔內(nèi)。2013年,王等人在《表面科學(xué)》中發(fā)表的一片文章中采用氧化還原的方法制備了石墨烯,然后通過(guò)電泳的方法將該石墨烯塞入多孔硅中,并且應(yīng)用在電解水中,且效果非常好,該報(bào)道中所用的多孔硅其深度為20微米。對(duì)于如何將石墨烯制作在深度為250微米,深寬比達(dá)到50的硅微通道中成為一項(xiàng)技術(shù)難題。如果能夠?qū)崿F(xiàn),該結(jié)構(gòu)在場(chǎng)發(fā)射傳感器、鋰離子電池和超級(jí)電容器等器件中應(yīng)用將無(wú)可限量。

      【發(fā)明內(nèi)容】

      [0006]本發(fā)明的目的是為了提供一種在硅微通道板中生長(zhǎng)石墨烯的方法,以解決現(xiàn)有技術(shù)的難題。
      [0007]本發(fā)明的目的是通過(guò)以下技術(shù)方案來(lái)實(shí)現(xiàn)的。
      [0008]一種在硅微通道板中生長(zhǎng)石墨烯的方法,包括以下步驟:
      [0009](I)預(yù)處理:將硅微通道板浸泡在以氫氟酸為主的腐蝕液中,去除表面自然生長(zhǎng)的二氧化硅,使用表面活性劑活化硅微通道板;
      [0010](2)無(wú)電鍍鎳:將預(yù)處理后的硅微通道板放入一定溫度的無(wú)電鍍鎳溶液中,進(jìn)行化學(xué)鍍多孔鎳;
      [0011](3)水熱多元醇滲碳:表面活性劑再次浸泡鍍鎳硅微通道板,將其放入裝有多元醇和鈉鹽催化劑的水熱反應(yīng)釜中,一定溫度和時(shí)間后,形成碳化鎳;
      [0012](4)退火:含有碳化鎳的硅微通道板在管式爐中退火,使得碳化鎳中的碳析出,形成多層石墨烯,并包覆在鍍鎳硅微通道的內(nèi)壁和上表面。
      [0013]其中,
      [0014]步驟(I)中,所述硅微通道板的尺寸為3X3?9X9微米2,深度在100至300微米可控。
      [0015]所述的腐蝕液為HF、C2H5OH和H2O的混合液,其體積比是HF:C2H5OH:H20 =100:125:10,浸泡3-5分鐘,去除硅微通道表面自然生長(zhǎng)的二氧化硅。
      [0016]步驟(I)中,所述表面活性劑為T(mén)riton-X 100,其與水的體積比為T(mén)riton-XlOO:H2O = 1/500-1/1000 ;浸泡20-60秒。通過(guò)腐蝕硅微通道去除二氧化硅,浸泡表面活性劑,提高硅微通道板浸濕性。
      [0017]步驟⑵中,無(wú)電鍍鎳溶液又稱化學(xué)鍍鎳,所述的無(wú)電電鍍鎳溶液包含氯化鎳、氯化銨和次亞磷酸鈉,其質(zhì)量比為5:5.1:1.2,溫度為70-90°C,PH值為8_10,時(shí)間為20-60分鐘。
      [0018]步驟(3)中,所述的多元醇為木糖醇和三甘醇中的一種,所述的催化劑鈉鹽為硫酸鈉、碳酸鈉、乙酸鈉和醋酸鈉中的一種,促進(jìn)碳化鎳形成。所述的溫度范圍250-260°C,時(shí)間1-24小時(shí),多元醇與催化劑的體積比為:20:1-40:1。利用碳在鎳中的固溶度高這一特性,碳以六邊形原子結(jié)構(gòu)固溶在鎳中,形成碳化鎳。
      [0019]步驟(3)中,所述的水熱反應(yīng)釜,內(nèi)膽為PPL材質(zhì),能夠耐溫300°C。
      [0020]步驟(4)中,所述的退火溫度范圍為500-800°C,時(shí)間15_60min。通過(guò)退火將碳化鎳中的碳從碳化鎳中分離出來(lái),以六邊形碳原子存在。
      [0021]本發(fā)明中,多元醇是指分子中含有三個(gè)或三個(gè)以上羥基的醇類。步驟(3)中利用多元醇碳化溫度與碳在鎳中形成碳化鎳的溫度相近這一特點(diǎn),在250_260°C形成碳化鎳,步驟(4)是利用碳化鎳不穩(wěn)定這一特點(diǎn),當(dāng)溫度高于480°C時(shí),碳化鎳分解,析出碳和鎳。析出的碳以六邊形碳原子的形式存在(石墨相碳),退火溫度再升高,石墨剝離,即得到多層石墨稀。
      [0022]本發(fā)明通過(guò)水熱多元醇滲碳的方法在硅微通道板中生長(zhǎng)石墨烯的方法,在硅微通道板表面和孔內(nèi)無(wú)電電鍍鎳(化學(xué)鍍鎳)是非常關(guān)鍵的一步,鍍鎳的顆粒不能太大,顆粒大了,多孔鎳的活性降低,水熱滲碳工藝過(guò)程進(jìn)行較慢,用萬(wàn)用表測(cè)量鍍鎳微通道板表面的電阻4-10歐姆為最佳。由于基底為硅微通道板,水熱滲碳所選用的催化劑不能腐蝕硅,也就是其PH值不能大于7,所以只能選擇部分鈉鹽(硫酸鈉、碳酸鈉、乙酸鈉和醋酸鈉等)。隨著滲碳時(shí)間的增加,鍍鎳微通道中鎳中碳的含量也隨之增加,6小時(shí)之后其在該溫度下的滲碳量達(dá)到峰值,達(dá)到5%左右(相對(duì)鎳而言)。480°C以上的碳化鎳不穩(wěn)定,退火溫度在15min-60min,氬氣做為保護(hù)性氣體,碳以石墨相碳的形式析出,隨著溫度增加,其石墨相碳被剝離,形成多層石墨烯。退火溫度對(duì)于保持本結(jié)構(gòu)的完整性至關(guān)重要,溫度800°C以上的時(shí)候,鎳容易團(tuán)聚,所以,退火溫度低于800攝氏度。本發(fā)明創(chuàng)新地提出利用水熱法將多元醇碳化并滲入鍍鎳微通道板(水熱滲碳)的表面和孔內(nèi),經(jīng)過(guò)退火后在深寬比達(dá)到50的鍍鎳微通道板孔內(nèi)和表面制備出多層石墨烯。
      [0023]與現(xiàn)有技術(shù)相比,該方法克服了利用電泳技術(shù)將石墨烯(橫向尺寸幾十微米)塞入硅微通道(尺寸5X5X250,單位為微米,深寬比50)無(wú)法實(shí)現(xiàn)的困難;同時(shí),避免了利用化學(xué)氣相沉積(CVD)方法生長(zhǎng)石墨烯工藝復(fù)雜、成本高的缺點(diǎn)。能夠在高深寬比的鍍鎳硅微通道板表面和孔內(nèi)生長(zhǎng)多層石墨烯,該方法環(huán)境友好,簡(jiǎn)單易行,成本低廉等特點(diǎn)。
      【附圖說(shuō)明】
      [0024]圖1為本發(fā)明使用的P型硅微通道的SEM圖。其中,圖1 (a)為表面結(jié)構(gòu)SEM圖,圖1(b)為剖面結(jié)構(gòu)SEM圖。
      [0025]圖2為本發(fā)明在硅微通道中生長(zhǎng)石墨烯的流程圖。
      [0026]圖3為本發(fā)明無(wú)電電鍍鎳后硅微通道的SEM圖;其中,圖3(a)為表面結(jié)構(gòu)SEM圖,圖3(b)為剖面結(jié)構(gòu)SEM圖。
      [0027]圖4為本發(fā)明水熱滲碳的鍍鎳硅微通道板的SEM圖;其中,圖4 (a)為表面結(jié)構(gòu)SEM圖,圖4(b)為剖面結(jié)構(gòu)SEM圖。
      [0028]圖5為本發(fā)明方法中水熱滲碳鍍鎳硅微通道板的EDX能譜圖。其中,圖5(a)為滲碳后樣品剖面的EDX能譜位置圖,圖5(b)為(a)位置的EDX能譜圖。
      [0029]圖6為通過(guò)本發(fā)明方法獲得的滲碳鍍鎳微通道板的XRD圖。
      [0030]圖7為本發(fā)明方法的退火后拉曼圖譜和SEM圖。其中,圖7(a)為硅微通道生長(zhǎng)石墨烯的拉曼圖譜,圖7(b)為硅微通道生長(zhǎng)石墨烯的剖面SEM圖。
      【具體實(shí)施方式】
      [0031]結(jié)合以下具體實(shí)施例和附圖,對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步的詳細(xì)說(shuō)明,本發(fā)明的保護(hù)內(nèi)容不局限于以下實(shí)施例。在不背離發(fā)明構(gòu)思的精神和范圍下,本領(lǐng)域技術(shù)人員能夠想到的變化和優(yōu)點(diǎn)都被包括在本發(fā)明中,并且以所附的權(quán)利要求書(shū)為保護(hù)范圍。
      [0032]如圖2所示,本發(fā)明在硅微通道板中生長(zhǎng)石墨烯分為四個(gè)步驟。
      [0033]1、預(yù)處理:
      [0034](I)選取(100)晶向P型硅制備的硅微通道板,尺寸為5X5X250,單位為微米,深寬比50。
      [0035](2)利用腐蝕液為HF:C2H50H:H20 = 100:125:10體積比,浸泡3-5分鐘,去除硅微通道表面自然生長(zhǎng)的二氧化硅。
      [0036](3)在表面活性劑中浸泡,其濃度為T(mén)riton-X 100:H20 = 1/500-1/1000體積比,浸泡20-60秒。提高硅微通道孔壁和表面的浸濕性,趕出硅微通道孔內(nèi)空氣。
      [0037]2、無(wú)電鍍鎳:
      [0038]將已預(yù)處理好的硅微通道版在化學(xué)鍍鎳的溶液中進(jìn)行化學(xué)鍍鎳;其中無(wú)電電鍍鎳溶液包含氯化鎳、氯化銨和次亞磷酸鈉,配比為5:5.1: 1.2 (質(zhì)量比),配置10ml溶液,用氨水調(diào)節(jié)PH值為8-10,溫度70-90°C,時(shí)間20-60分鐘。在硅微通道板表面和孔內(nèi)無(wú)電電鍍鎳(化學(xué)鍍鎳)是非常關(guān)鍵的一
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