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      Mems器件及其形成方法

      文檔序號(hào):9761364閱讀:511來(lái)源:國(guó)知局
      Mems器件及其形成方法
      【技術(shù)領(lǐng)域】
      [0001]本發(fā)明涉及半導(dǎo)體領(lǐng)域,具體涉及一種MEMS器件及其形成方法。
      【背景技術(shù)】
      [0002]微機(jī)電系統(tǒng)(Micro-Electro-Mechanical-Systems,簡(jiǎn)稱MEMS)是利用微細(xì)加工技術(shù)在芯片上集成傳感器、執(zhí)行器、處理控制電路的微型系統(tǒng)。
      [0003]MEMS的高度集成組件通常需要在半導(dǎo)體襯底中形成空腔,并在空腔上方形成一端固定在半導(dǎo)體襯底上另一端懸空的懸臂粱,所述懸臂梁還與其他元器件連接。如在MEMS電容器件中,所述空腔的上方還形成有與所述懸臂梁相對(duì)的電容片,MEMS使用過(guò)程中,所述電容片和懸臂梁組成電容器的兩個(gè)電極板,并且懸臂梁可以上下振動(dòng)從而使所述電容器的電容發(fā)生變化,以實(shí)現(xiàn)信號(hào)的傳遞。
      [0004]現(xiàn)有的MEMS器件制備工藝包括:
      [0005]參考圖1所示,先在半導(dǎo)體襯底10上形成犧牲層13,刻蝕所述犧牲層13露出部分半導(dǎo)體襯底10后,在所述犧牲層13和半導(dǎo)體襯底10上形成懸臂梁材料層;并在刻蝕去除部分的懸臂梁材料層形成懸臂梁12,并同時(shí)露出部分犧牲材料層11后;參考圖2,在去除所述犧牲材料層13后,在所述懸臂梁12 —端下方形成空腔14,所述懸臂梁12第一端懸空在所述空腔14上方,所述懸臂梁12另一端固定在半導(dǎo)體襯底10上,用以連接半導(dǎo)體襯底10內(nèi)的其他元器件。
      [0006]現(xiàn)有的MEMS器件制備工藝中,為了提高懸臂梁振動(dòng)靈敏度,進(jìn)而提高M(jìn)EMS器件的靈敏度,現(xiàn)有懸臂梁都采用一體式的方式制成,如圖1中,懸臂梁采用一層所述懸臂梁材料層刻蝕而成。此外,為了進(jìn)一步提高M(jìn)EMS器件的靈敏度,現(xiàn)有技術(shù)通常采用增加懸臂梁的長(zhǎng)度、降低懸臂梁的厚度或是在懸臂梁上增加質(zhì)量塊等方式以提高懸臂梁的振動(dòng)頻率,進(jìn)而實(shí)現(xiàn)提高懸臂梁振動(dòng)靈敏度的目的。
      [0007]然而,在實(shí)際使用過(guò)程中,隨著懸臂梁的靈敏度增加,懸臂梁的斷裂概率也隨著增力口,從而降低了 MEMS器件性能,甚至導(dǎo)致MEMS器件失效。
      [0008]為此,如何解決懸臂梁易斷的問(wèn)題是本領(lǐng)域技術(shù)人員亟需解決的問(wèn)題。

      【發(fā)明內(nèi)容】

      [0009]本發(fā)明解決的問(wèn)題是提供一種MEMS器件及其形成方法,以降低懸臂梁斷裂的幾率。
      [0010]為解決上述問(wèn)題,本發(fā)明提供一種MEMS器件的形成方法,包括:
      [0011]提供半導(dǎo)體基底;
      [0012]在所述半導(dǎo)體基底中形成凹槽:
      [0013]在所述凹槽內(nèi)填充犧牲層;
      [0014]刻蝕所述半導(dǎo)體基底表面,在所述半導(dǎo)體基底內(nèi)由靠近所述犧牲層至遠(yuǎn)離所述犧牲層方向上形成至少兩個(gè)開孔;
      [0015]在所述開孔內(nèi)、半導(dǎo)體基底表面以及犧牲層表面形成懸臂梁材料層,位于所述開孔內(nèi)的懸臂梁材料層用于形成固定齒;
      [0016]刻蝕位于半導(dǎo)體基底表面的所述懸臂梁材料層,在所述犧牲層和半導(dǎo)體基底上方形成懸臂梁,且所述懸臂梁的一端位于所述犧牲層表面;
      [0017]去除所述犧牲層,使得所述懸臂梁原先位于所述犧牲層上的一端懸空。
      [0018]可選地,去除所述犧牲層的步驟包括:采用濕法清洗去除所述犧牲層。
      [0019]可選地,所述犧牲層材料為鍺,所述懸臂梁材料層的材料為多晶硅;
      [0020]所述濕法清洗采用的清洗劑為雙氧水。
      [0021]可選地,所述半導(dǎo)體基底包括襯底以及位于所述襯底上的器件層;
      [0022]在所述半導(dǎo)體基底中形成凹槽的步驟包括:在所述器件層內(nèi)形成能露出部分襯底的凹槽。
      [0023]可選地,刻蝕所述半導(dǎo)體基底,在所述半導(dǎo)體基底內(nèi)形成至少兩個(gè)開孔的步驟包括:在所述半導(dǎo)體基底內(nèi),由靠近所述犧牲層至遠(yuǎn)離所述犧牲層方向上形成兩個(gè)或三個(gè)所述開孔。
      [0024]可選地,刻蝕所述半導(dǎo)體基底,在所述半導(dǎo)體基底內(nèi)形成至少兩個(gè)開孔的步驟包括:在所述半導(dǎo)體基底內(nèi),由由靠近所述犧牲層至遠(yuǎn)離所述犧牲層方向形成數(shù)量大于兩個(gè)的多個(gè)所述開孔,且相鄰兩個(gè)開孔間的間距相同。
      [0025]本發(fā)明還提供了一種MEMS器件,包括:
      [0026]半導(dǎo)體基底,形成于所述半導(dǎo)體基底內(nèi)的凹槽;
      [0027]位于所述半導(dǎo)體基底上的懸臂梁,所述懸臂梁位于所述凹槽上方的一端為懸空端,所述懸臂梁固定在所述半導(dǎo)體基底的上一端為固定端;
      [0028]在所述固定端上,沿靠近所述凹槽至遠(yuǎn)離所述凹槽的方向至少設(shè)有兩根固定齒,所述固定齒嵌于所述半導(dǎo)體基底中,用于將所述懸臂梁固定在所述半導(dǎo)體基底中。
      [0029]可選地,在所述懸臂梁的固定端上設(shè)有兩根所述固定齒;或者,在所述懸臂梁的固定端上設(shè)有三根所述固定齒。
      [0030]可選地,在所述懸臂梁的固定端上設(shè)有數(shù)量大于兩根的固定齒,且相鄰兩根固定齒間的間距相同。
      [0031]可選地,所述懸臂梁的材料為多晶硅或鍺硅材料。
      [0032]可選地,所述半導(dǎo)體基底包括襯底以及位于所述襯底表面的器件層;
      [0033]所述凹槽位于所述器件層內(nèi),且所述凹槽露出部分所述襯底;
      [0034]所述固定齒嵌于所述器件層內(nèi)。
      [0035]可選地,所述固定齒嵌于所述器件層內(nèi),且所述固定齒貫穿所述器件層。
      [0036]與現(xiàn)有技術(shù)相比,本發(fā)明的技術(shù)方案具有以下優(yōu)點(diǎn):
      [0037]MEMS器件的懸臂梁的固定端上,由靠近所述凹槽至遠(yuǎn)離所述凹槽方向上至少設(shè)有兩根固定齒,所述固定齒嵌于所述半導(dǎo)體基底表面以將所述懸臂梁固定在所述半導(dǎo)體基底表面。相比于現(xiàn)有的懸臂梁懸空端振動(dòng)時(shí)產(chǎn)生的力集中于懸臂梁固定部的懸臂梁?jiǎn)我坏闹c(diǎn)上,而導(dǎo)致該單一的支點(diǎn)承受過(guò)大的力,本發(fā)明中,所述懸臂梁的懸空端振動(dòng)后,所產(chǎn)生的力分散至各個(gè)所述固定齒上,各個(gè)固定齒與半導(dǎo)體基底形成多個(gè)受力點(diǎn),且固定齒之間形成牽制關(guān)系以分擔(dān)各固定齒之間受到的力,從而提高了懸臂梁的韌性以及穩(wěn)定性,降低了懸臂梁因某一點(diǎn)受力過(guò)大而斷裂的幾率。
      [0038]在MEMS器件的形成方法中,在所述半導(dǎo)體基底內(nèi)形成犧牲層后,由靠近所述犧牲層至遠(yuǎn)離所述犧牲層方向上形成至少兩個(gè)開孔,之后向所述開孔內(nèi)、半導(dǎo)體基底表面以及犧牲層表面形成懸臂梁材料層,后續(xù)刻蝕所述懸臂梁材料層形成懸臂梁后,位于所述開孔內(nèi)的懸臂梁材料層為懸臂梁固定端的固定齒,所述懸臂梁通過(guò)嵌于所述半導(dǎo)體基底內(nèi)的多根固定齒固定在所述半導(dǎo)體基底上。采用本發(fā)明形成方法所形成的懸臂梁在懸空端振動(dòng)后,所產(chǎn)生的力分散至各個(gè)所述固定齒上,各個(gè)固定齒與半導(dǎo)體襯基底形成多個(gè)受力點(diǎn),且固定齒之間形成牽制關(guān)系以分擔(dān)各固定齒之間受到的力,從而提高了懸臂梁的韌性以及穩(wěn)定性,降低了懸臂梁因某一點(diǎn)受力過(guò)大而斷裂的幾率。
      【附圖說(shuō)明】
      [0039]圖1和圖2是現(xiàn)有技術(shù)MEMS器件的空腔的形成過(guò)程示意圖;
      [0040]圖3至圖10是本發(fā)明MEMS器件的形成方法一實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖;
      [0041]圖11為本發(fā)明MEMS器件另一實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖。
      【具體實(shí)施方式】
      [0042]如【背景技術(shù)】所述,在MEMS器件中,為了提高懸臂梁振動(dòng)靈敏度,現(xiàn)有懸臂梁多采用一體式結(jié)構(gòu),此外,還可通過(guò)增加懸臂梁的長(zhǎng)度,降低懸臂梁的厚度、以及在懸臂梁上增加質(zhì)量塊等方式以提高懸臂梁振動(dòng)的頻率和幅度,進(jìn)一步提高懸臂梁的靈敏度,進(jìn)而提高M(jìn)EMS器件的靈敏度。然而,現(xiàn)有的懸臂梁在使用過(guò)程中,易出現(xiàn)斷裂等缺陷,從而降低了MEMS器件性能。
      [0043]分析其原因:在懸臂梁懸空端進(jìn)行上下往返簡(jiǎn)諧振動(dòng)過(guò)程中,懸臂梁懸空端的振動(dòng)產(chǎn)生的力會(huì)傳遞至懸臂梁固定在半導(dǎo)體襯底的根部,引起懸臂梁固定在半導(dǎo)體襯底根部端響應(yīng),參考圖2,并在所述懸臂梁懸空和固定部的連接點(diǎn)A處(即懸臂梁的支點(diǎn)處)形成較大的作用力點(diǎn),承受懸臂梁振動(dòng)而產(chǎn)生的彎曲轉(zhuǎn)矩。而且懸臂梁根部響應(yīng)激烈的強(qiáng)度和懸空端振動(dòng)頻率和振幅有關(guān),振動(dòng)的頻率越高,振幅越大,懸臂梁根部響應(yīng)越激烈,懸臂梁的支點(diǎn)受到的彎曲轉(zhuǎn)矩越大,進(jìn)而使懸臂梁根部端
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