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      用于哈氏合金基帶的電化學(xué)拋光液、制備方法及拋光方法

      文檔序號:9805149閱讀:988來源:國知局
      用于哈氏合金基帶的電化學(xué)拋光液、制備方法及拋光方法
      【技術(shù)領(lǐng)域】
      [0001] 本發(fā)明涉及拋光液技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種用于哈氏合金基帶的電化學(xué)拋光液、 該種拋光液的制備方法及拋光方法。
      【背景技術(shù)】
      [0002] 第二代高溫超導(dǎo)線材是以ReBCO(其中Re = Y或稀土元素 ,B = Ba,C = Cu)為基礎(chǔ)的 金屬氧化物,具有臨界電流溫度高于液氮溫度的特性。眾所周知,ReBCO具有高溫超導(dǎo)特性 的基本要求是ReBCO必須形成雙軸定向生長的晶體結(jié)構(gòu),從而也就要求用于生長ReBCO高溫 超導(dǎo)材料的襯底必須具有相同的晶體結(jié)構(gòu)。Iijima等在1993年首先提出了采用18六0(1〇11-beam assisted deposition,離子輔助沉積)方法制備具有雙軸定向生長結(jié)構(gòu)的MgO薄膜晶 體(IEEE Transactions on Applied Superconductivity vol.3,No.1,Pt.3,pp.1510-1515,1&^(^,1993),在此基礎(chǔ)上,采用磁控濺射鍍膜工藝在1^0薄膜上形成1^0(1^0 = 1^-Mn_0)過渡層,再米用M0CVD(metalorganic chemical vapor deposition,金屬有機化學(xué)氣 相沉積)或PLD(pulsed laser deposition,脈沖激光沉積)工藝,就可以制備具有高臨界電 流特性的高溫超導(dǎo)線材。然而,采用IBAD工藝制備具有雙軸定向生長結(jié)構(gòu)的MgO薄膜晶體的 首要條件是必須采用表面粗糙度RMS<lnm的襯底。
      [0003] 目前采用IBAD+M0CVD技術(shù)路線制備第二代高溫超導(dǎo)帶材,選用的基帶是具有高抗 氧化性、耐腐蝕和高機械性能的哈氏合金。由于第二代高溫超導(dǎo)薄膜晶體的雙軸定向外延 生長要求,所以對使用的基帶表面粗糙度有很高的要求。目前從市場上直接購買高質(zhì)量的 哈氏合金基帶不能達到直接應(yīng)用的要求,必須經(jīng)過表面平整化處理,而電化學(xué)拋光是一種 非常有效的處理方法。
      [0004] 美國專利US7811972中闡述了一種機械拋光方法。采用粗拋和細(xì)拋的兩步處理,可 以得到表面粗糙度RMS<lnm的金屬基帶。但由于拋光速度只有每小時5米,大大地低于后續(xù) 的IBAD工藝(鍍膜速度> 100米/小時)和M0CVD(鍍膜速度>60米/小時),所以不能適合大規(guī) 模工業(yè)化生產(chǎn)的應(yīng)用。
      [0005] 美國專利US7,169,286中描述了電化學(xué)拋光的方法,有效地獲得了 RMS<lnm金屬 基帶。實踐證明,該專利所描述的有效的電化學(xué)拋光工藝,采用的原始金屬基帶的表面粗糙 度必須達到RMS<30nm的要求。對于如此高質(zhì)量要求的原始金屬基帶,是很難在市場上購買 的,即使可以在短期內(nèi)在市場上獲得,也難以保證得到長期的大量提供的貨源。
      [0006] 因此,為了保證長期的、穩(wěn)定的、大量的工業(yè)化生產(chǎn)第二代高溫超導(dǎo)線材,必須形 成一個可靠穩(wěn)定的工藝技術(shù),制備高質(zhì)量的、表面粗糙度RMS< lnm的基帶襯底,滿足IBAD工 藝的需求,得到具有高質(zhì)量的雙軸定向生長結(jié)構(gòu)的MgO晶體薄膜,從而得到具有高臨界電流 特性的高溫超導(dǎo)材料。而電化學(xué)拋光屬于可靠穩(wěn)定的工藝,可以制備出符合要求的基帶襯 底。要建立電化學(xué)拋光工藝,特定的電化學(xué)拋光液是必須的。
      [0007] 目前最為有效的,可以應(yīng)用于高溫超導(dǎo)哈氏合金基帶拋光的拋光液是美國 Electro Polish Systems,Inc.公司的產(chǎn)品EP2500。該產(chǎn)品說明書提供了該拋光液的基本 組成是硫酸和磷酸,但沒有任何起到關(guān)鍵作用的添加劑,國內(nèi)也沒有可以達到我們要求的 拋光液產(chǎn)品。
      [0008] 因此,針對上述技術(shù)問題,有必要提供一種可以滿足高溫超導(dǎo)哈氏合金基帶表面 平整要求的電化學(xué)拋光液,并提供該種拋光液的制備方法,以保證長期、穩(wěn)定、大量的工業(yè) 化生產(chǎn)第二代高溫超導(dǎo)線材。

      【發(fā)明內(nèi)容】

      [0009] 有鑒于此,本發(fā)明的目的在于提供一種用于哈氏合金基帶的電化學(xué)拋光液。
      [0010] 為了實現(xiàn)上述目的,本發(fā)明實施例提供的技術(shù)方案如下:
      [0011] 一種用于哈氏合金基帶的電化學(xué)拋光液,包括組分:98 %濃硫酸、85 %濃磷酸、甘 油、硫脲、檸檬酸銨、一水合檸檬酸、氟硼酸、二乙烯三胺五乙酸、硫酸銨及水。
      [0012] 作為本發(fā)明的進一步改進,所述各組分具有以下重量百分比: 98% 濃硫酸 20%-3()%; 85% 濃磷酸 66%-76%; 甘油 0.丨%-5%; 硫脲 0.1%-5%; 檸檬酸銨 0.05%-0.2%;
      [0013] 一水合檸檬酸 0.1%-5%; 氟硼酸 0.05%-0.2%; 二乙燁三胺五乙酸 0.002%-0.0丨%; 硫酸銨 0.1%-5%; 水 丨%-5%〇
      [0014]作為本發(fā)明的進一步改進,所述98%濃硫酸的重量百分比為24.8%,所述85%濃 磷酸的重量百分比為71.6%。
      [0015]作為本發(fā)明的進一步改進,所述電化學(xué)拋光液的密度在1.5-2g/cm3之間。
      [0016]作為本發(fā)明的進一步改進,所述電化學(xué)拋光液的密度為1.73g/cm3。
      [0017] -種用于哈氏合金基帶的電化學(xué)拋光液的制備方法,包括以下步驟:
      [0018] S1、以重量百分比計,將0.1 -5 %的甘油、0.1 -5 %的硫脲、0.05-0.2 %的檸檬酸銨、 0.1-5%的一水合檸檬酸、0.05-0.2%的氟硼酸、0.002-0.01 %的二乙烯三胺五乙酸、0.1-5%的硫酸銨溶于1-5%的水中,溫度控制在60-70°C之間,攪拌5-15min,至溶解,得到添加 劑水溶液;
      [0019] S2、以重量百分比計,將20 % -30 %的98 %濃硫酸、66 % -76 %的85 %濃磷酸混合得 到混合酸溶液,將所述添加劑水溶液加入所述混合酸溶液中,溫度控制在60_70°C之間;
      [0020] S3、攪拌回流5h后,關(guān)閉加熱裝置,攪拌冷卻至室溫,得到電化學(xué)拋光液。
      [0021] 作為本發(fā)明的進一步改進,所述98%濃硫酸的重量百分比為24.8%,所述85%濃 磷酸的重量百分比為71.6%。
      [0022] -種電化學(xué)拋光方法,采用上述的用于哈氏合金基帶的電化學(xué)拋光液,所述電化 學(xué)拋光方法包括以下步驟:
      [0023] 將哈氏合金基帶安裝在拋光裝置的導(dǎo)輪上,將電化學(xué)拋光液用真空栗打入拋光池 中,預(yù)熱到55_65°C之間;
      [0024] 打開電解電源,將所述電化學(xué)拋光液電解電流調(diào)至70-130安培之間,設(shè)置0.5-2m/ min的拋光速度進行電化學(xué)拋光,獲得拋光后的哈氏合金基帶。
      [0025]本發(fā)明具有以下有益效果:
      [0026]采用本發(fā)明中電化學(xué)拋光液進行拋光后的哈氏合金基帶,其表面平整、光亮,并且 拋光過程中造成的缺陷較少,在原子力顯微鏡下測得的拋光后的哈氏合金基帶,在5*5μπι2 范圍,其表面粗糙度在lnm以下;
      [0027]保證了長期、穩(wěn)定、大量的工業(yè)化生產(chǎn)第二代高溫超導(dǎo)線材,形成了可靠穩(wěn)定的工 藝技術(shù),滿足生產(chǎn)上的可行性與可靠性。
      【具體實施方式】
      [0028] 為了使本技術(shù)領(lǐng)域的人員更好地理解本發(fā)明中的技術(shù)方案,下面對本發(fā)明實施例 中的技術(shù)方案進行清楚、完整地描述,顯然,所描述的實施例僅僅是本發(fā)明一部分實施例, 而不是全部的實施例?;诒景l(fā)明中的實施例,本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞 動前提下所獲得的所有其他實施例,都應(yīng)當(dāng)屬于本發(fā)明保護的范圍。
      [0029] 本發(fā)明實施例中的用于哈氏合金基帶的電化學(xué)拋光液,其配方包括
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