本發(fā)明涉及一種用以通過使試樣原子化來產(chǎn)生原子蒸氣并對該原子蒸氣照射測定光、由此測定原子吸收的原子吸收光度計(jì)及原子吸收測定方法。

背景技術(shù)：

原子吸收光度計(jì)中配備有用以將試樣原子化的原子化部。在原子化部中，通過將試樣原子化而產(chǎn)生原子蒸氣，從光源對該原子蒸氣照射測定光。作為上述光源，例如使用像空心陰極燈(hcl)等那樣發(fā)出明線光譜的光源。在從這種光源對原子蒸氣照射測定光的情況下，在原子蒸氣中，特定波長的光會(huì)被吸收，因此，通過測定其吸光度，可進(jìn)行試樣的分析。

在使用原子吸收光度計(jì)的試樣的分析時(shí)，例如在試樣中混合有大量的鹽類等混合物的情況下，這些混合物即便在高溫下也不會(huì)完全解離，從而存在對來自光源的測定光產(chǎn)生吸收的情況。如此，存在因作為目標(biāo)的元素的吸收以外的因素而產(chǎn)生吸收的情況，這種吸收稱為本底吸收(例如，參考下述專利文獻(xiàn)1)。

在產(chǎn)生了本底吸收的情況下，作為目標(biāo)的元素的原子吸收的吸光度中會(huì)加上本底吸收的吸光度，因此難以求出準(zhǔn)確的吸光度。因此，為了去除本底吸收的影響，進(jìn)行使用d2燈法、塞曼法及自蝕法(sr法)等的本底修正。

在d2燈法中，例如使用d2燈(氘燈)對原子化部中產(chǎn)生的原子蒸氣中照射本底測定用測定光，由此進(jìn)行本底修正。即，在使用d2燈法來進(jìn)行本底修正的情況下，例如區(qū)別于發(fā)出明線光譜的光源而另外使用發(fā)出連續(xù)光譜的光源，使用通過從各光源對原子蒸氣中照射測定光而獲得的光譜來進(jìn)行運(yùn)算，由此進(jìn)行本底修正。

在塞曼法中，例如利用電磁鐵等磁力產(chǎn)生部使原子化部產(chǎn)生磁力，由此進(jìn)行本底修正。即，在使用塞曼法來進(jìn)行本底修正的情況下，例如在從發(fā)出明線光譜的光源對原子蒸氣中照射測定光時(shí)切換磁力產(chǎn)生部的工作，使用這時(shí)所獲得的光譜來進(jìn)行運(yùn)算，由此進(jìn)行本底修正。

在自蝕法中，例如以過電流對原子化部中產(chǎn)生的原子蒸氣中照射測定光，由此進(jìn)行本底修正。即，在使用自蝕法來進(jìn)行本底修正的情況下，例如在從發(fā)出明線光譜的光源對原子蒸氣中照射測定光時(shí)以過電流在一定的短時(shí)間內(nèi)照射測定光，使用這時(shí)所獲得的光譜來進(jìn)行運(yùn)算，由此進(jìn)行本底修正。

現(xiàn)有技術(shù)文獻(xiàn)

專利文獻(xiàn)

專利文獻(xiàn)1：日本專利特開2002-195946號公報(bào)

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

發(fā)明要解決的問題

上述那樣的本底修正的各方法各具有特有的優(yōu)點(diǎn)和缺點(diǎn)，因此，即便是在進(jìn)行針對相同試樣的分析的情況下，有時(shí)也會(huì)因各方法的不同而獲得不同的測定結(jié)果，或者變成為不同的測定條件。

例如，在使用d2燈法來進(jìn)行本底修正的情況下，在與作為目標(biāo)的元素極為接近的波長下有其他元素的吸收線時(shí)，該吸收線不會(huì)被判斷為本底，從而有本底修正不準(zhǔn)確之虞。就這樣的觀點(diǎn)而言，塞曼法、自蝕法更能夠準(zhǔn)確地進(jìn)行本底修正，但也存在考慮到修正的靈敏度(s/n比)、精度而優(yōu)選d2燈法的情況。另一方面，塞曼法具有可測定的波長范圍寬的優(yōu)點(diǎn)。此外，在希望減少消耗電力的情況下，優(yōu)選使用自蝕法來進(jìn)行本底修正。

如此，通過哪一方法來進(jìn)行本底修正這一選擇上的差異會(huì)導(dǎo)致測定結(jié)果、測定條件、其他工作形態(tài)發(fā)生差異，因此，必須選擇最佳方法來進(jìn)行試樣的分析。因此，以往是作業(yè)人員通過上述那樣的各種方法來進(jìn)行本底修正并對測定結(jié)果等進(jìn)行比較研究，由此選擇最佳方法。然而，通過多種方法來反復(fù)進(jìn)行本底修正的作業(yè)較為繁雜，存在耗時(shí)而且試樣的消耗量也較多這一問題。

本發(fā)明是鑒于上述實(shí)情而成，其目的在于提供一種一方面可抑制試樣的消耗量、另一方面可在短時(shí)間內(nèi)容易地進(jìn)行使用多種方法的本底修正的原子吸收光度計(jì)及原子吸收測定方法。

解決問題的技術(shù)手段

本發(fā)明的原子吸收光度計(jì)包括原子化部、第1光源、第2光源、磁力產(chǎn)生部、檢測器、測定數(shù)據(jù)獲取處理部、第1本底修正處理部、第2本底修正處理部及第3本底修正處理部。所述原子化部通過使試樣原子化來產(chǎn)生原子蒸氣。所述第1光源對所述原子化部中產(chǎn)生的原子蒸氣中照射原子吸收測定用測定光。所述第2光源對所述原子化部中產(chǎn)生的原子蒸氣中照射本底測定用測定光。所述磁力產(chǎn)生部使所述原子化部產(chǎn)生磁力。所述檢測器通過對通過所述原子化部之后的光進(jìn)行檢測來獲取測定數(shù)據(jù)。

所述測定數(shù)據(jù)獲取處理部在包含原子吸收測定期間、第1本底測定期間、第2本底測定期間及第3本底測定期間的數(shù)據(jù)獲取周期獲取各測定期間內(nèi)的測定數(shù)據(jù)。在所述原子吸收測定期間內(nèi)，在未從所述磁力產(chǎn)生部產(chǎn)生磁力的狀態(tài)下從所述第1光源照射測定光。在所述第1本底測定期間內(nèi)，在未從所述磁力產(chǎn)生部產(chǎn)生磁力的狀態(tài)下從所述第2光源照射測定光。在所述第2本底測定期間內(nèi)，在從所述磁力產(chǎn)生部產(chǎn)生有磁力的狀態(tài)下從所述第1光源照射測定光。在所述第3本底測定期間內(nèi)，在未從所述磁力產(chǎn)生部產(chǎn)生磁力的狀態(tài)下從所述第1光源以過電流照射測定光。

所述第1本底修正處理部根據(jù)所述第1本底測定期間內(nèi)所獲得的測定數(shù)據(jù)，通過d2燈法對所述原子吸收測定期間內(nèi)所獲得的測定數(shù)據(jù)進(jìn)行修正。所述第2本底修正處理部根據(jù)所述第2本底測定期間內(nèi)所獲得的測定數(shù)據(jù)，通過塞曼法對所述原子吸收測定期間內(nèi)所獲得的測定數(shù)據(jù)進(jìn)行修正。所述第3本底修正處理部根據(jù)所述第3本底測定期間內(nèi)所獲得的測定數(shù)據(jù)，通過自蝕法對所述原子吸收測定期間內(nèi)所獲得的測定數(shù)據(jù)進(jìn)行修正。

根據(jù)這種構(gòu)成，根據(jù)1個(gè)數(shù)據(jù)獲取周期內(nèi)所獲得的各測定期間內(nèi)的測定數(shù)據(jù)，通過d2燈法、塞曼法及自蝕法這各種方法來進(jìn)行本底修正。即，使用第1～第3本底測定期間內(nèi)所獲得的各測定數(shù)據(jù)(本底數(shù)據(jù))對原子吸收測定期間內(nèi)所獲得的共通的測定數(shù)據(jù)(原子吸收數(shù)據(jù))進(jìn)行本底修正。因而，與通過多種方法中的每一種獲取原子吸收數(shù)據(jù)及本底數(shù)據(jù)這樣的構(gòu)成相比，一方面可抑制試樣的消耗量，另一方面可在短時(shí)間內(nèi)容易地進(jìn)行使用多種方法的本底修正。

所述測定數(shù)據(jù)獲取處理部也能以僅包含原子吸收測定期間、第1本底測定期間及第2本底測定期間的數(shù)據(jù)獲取周期獲取各測定期間內(nèi)的測定數(shù)據(jù)。在該情況下，所述原子吸收光度計(jì)可不配備所述第3本底修正處理部。

根據(jù)這種構(gòu)成，根據(jù)1個(gè)數(shù)據(jù)獲取周期內(nèi)所獲得的各測定期間內(nèi)的測定數(shù)據(jù)，通過d2燈法及塞曼法這各種方法來進(jìn)行本底修正。即，使用第1本底測定期間及第2本底測定期間內(nèi)所獲得的各測定數(shù)據(jù)(本底數(shù)據(jù))對原子吸收測定期間內(nèi)所獲得的共通的測定數(shù)據(jù)(原子吸收數(shù)據(jù))進(jìn)行本底修正。因而，與通過多種方法中的每一種獲取原子吸收數(shù)據(jù)及本底數(shù)據(jù)這樣的構(gòu)成相比，一方面可抑制試樣的消耗量，另一方面可在短時(shí)間內(nèi)容易地進(jìn)行使用多種方法的本底修正。

所述測定數(shù)據(jù)獲取處理部也能以僅包含原子吸收測定期間、第2本底測定期間及第3本底測定期間的數(shù)據(jù)獲取周期獲取各測定期間內(nèi)的測定數(shù)據(jù)。在該情況下，所述原子吸收光度計(jì)可不配備所述第1本底修正處理部。

根據(jù)這種構(gòu)成，根據(jù)1個(gè)數(shù)據(jù)獲取周期內(nèi)所獲得的各測定期間內(nèi)的測定數(shù)據(jù)，通過塞曼法及自蝕法這各種方法來進(jìn)行本底修正。即，使用第2本底測定期間及第3本底測定期間內(nèi)所獲得的各測定數(shù)據(jù)(本底數(shù)據(jù))對原子吸收測定期間內(nèi)所獲得的共通的測定數(shù)據(jù)(原子吸收數(shù)據(jù))進(jìn)行本底修正。因而，與通過多種方法中的每一種獲取原子吸收數(shù)據(jù)及本底數(shù)據(jù)這樣的構(gòu)成相比，一方面可抑制試樣的消耗量，另一方面可在短時(shí)間內(nèi)容易地進(jìn)行使用多種方法的本底修正。

所述測定數(shù)據(jù)獲取處理部也能在僅包含原子吸收測定期間、第1本底測定期間及第3本底測定期間的數(shù)據(jù)獲取周期獲取各測定期間內(nèi)的測定數(shù)據(jù)。在該情況下，所述原子吸收光度計(jì)可不配備所述第2本底修正處理部。

根據(jù)這種構(gòu)成，根據(jù)1個(gè)數(shù)據(jù)獲取周期內(nèi)所獲得的各測定期間內(nèi)的測定數(shù)據(jù)，通過d2燈法及自蝕法這各種方法來進(jìn)行本底修正。即，使用第1本底測定期間及第3本底測定期間內(nèi)所獲得的各測定數(shù)據(jù)(本底數(shù)據(jù))對原子吸收測定期間內(nèi)所獲得的共通的測定數(shù)據(jù)(原子吸收數(shù)據(jù))進(jìn)行本底修正。因而，與通過多種方法中的每一種獲取原子吸收數(shù)據(jù)及本底數(shù)據(jù)這樣的構(gòu)成相比，一方面可抑制試樣的消耗量，另一方面可在短時(shí)間內(nèi)容易地進(jìn)行使用多種方法的本底修正。

本發(fā)明的原子吸收測定方法是用以使用原子吸收光度計(jì)來測定原子吸收的原子吸收測定方法，所述原子吸收光度計(jì)包括：原子化部，其通過使試樣原子化來產(chǎn)生原子蒸氣；第1光源，其對所述原子化部中產(chǎn)生的原子蒸氣中照射原子吸收測定用測定光；第2光源，其對所述原子化部中產(chǎn)生的原子蒸氣中照射本底測定用測定光；磁力產(chǎn)生部，其使所述原子化部產(chǎn)生磁力；以及檢測器，其通過對通過所述原子化部之后的光進(jìn)行檢測來獲取測定數(shù)據(jù)，該原子吸收測定方法包括測定數(shù)據(jù)獲取步驟、第1本底修正步驟、第2本底修正步驟及第3本底修正步驟。

在所述測定數(shù)據(jù)獲取步驟中，在包含原子吸收測定期間、第1本底測定期間、第2本底測定期間及第3本底測定期間的數(shù)據(jù)獲取周期獲取各測定期間內(nèi)的測定數(shù)據(jù)。在所述原子吸收測定期間內(nèi)，在未從所述磁力產(chǎn)生部產(chǎn)生磁力的狀態(tài)下從所述第1光源照射測定光。在所述第1本底測定期間內(nèi)，在未從所述磁力產(chǎn)生部產(chǎn)生磁力的狀態(tài)下從所述第2光源照射測定光。在所述第2本底測定期間內(nèi)，在從所述磁力產(chǎn)生部產(chǎn)生有磁力的狀態(tài)下從所述第1光源照射測定光。在所述第3本底測定期間內(nèi)，在未從所述磁力產(chǎn)生部產(chǎn)生磁力的狀態(tài)下從所述第1光源以過電流照射測定光。

在所述第1本底修正步驟中，根據(jù)所述第1本底測定期間內(nèi)所獲得的測定數(shù)據(jù)，通過d2燈法來修正所述原子吸收測定期間內(nèi)所獲得的測定數(shù)據(jù)。在所述第2本底修正步驟中，根據(jù)所述第2本底測定期間內(nèi)所獲得的測定數(shù)據(jù)，通過塞曼法來修正所述原子吸收測定期間內(nèi)所獲得的測定數(shù)據(jù)。在所述第3本底修正步驟中，根據(jù)所述第3本底測定期間內(nèi)所獲得的測定數(shù)據(jù)，通過自蝕法來修正所述原子吸收測定期間內(nèi)所獲得的測定數(shù)據(jù)。

在所述測定數(shù)據(jù)獲取步驟中，也能在僅包含原子吸收測定期間、第1本底測定期間及第2本底測定期間的數(shù)據(jù)獲取周期獲取各測定期間內(nèi)的測定數(shù)據(jù)。在該情況下，所述原子吸收測定方法可不包括所述第3本底修正步驟。

在所述測定數(shù)據(jù)獲取步驟中，也能在僅包含原子吸收測定期間、第2本底測定期間及第3本底測定期間的數(shù)據(jù)獲取周期獲取各測定期間內(nèi)的測定數(shù)據(jù)。在該情況下，所述原子吸收測定方法可不包括所述第1本底修正步驟。

在所述測定數(shù)據(jù)獲取步驟中，也能在僅包含原子吸收測定期間、第1本底測定期間及第3本底測定期間的數(shù)據(jù)獲取周期獲取各測定期間內(nèi)的測定數(shù)據(jù)。在該情況下，所述原子吸收測定方法可不包括所述第2本底修正步驟。

發(fā)明的效果

根據(jù)本發(fā)明，與通過多種方法中的每一種獲取原子吸收數(shù)據(jù)及本底數(shù)據(jù)這樣的構(gòu)成相比，一方面可抑制試樣的消耗量，另一方面可在短時(shí)間內(nèi)容易地進(jìn)行使用多種方法的本底修正。

附圖說明

圖1為表示本發(fā)明的第1實(shí)施方式的原子吸收光度計(jì)的構(gòu)成例的圖。

圖2為用以對通過d2燈法來進(jìn)行本底修正時(shí)的形態(tài)進(jìn)行說明的時(shí)間圖。

圖3為用以對通過塞曼法來進(jìn)行本底修正時(shí)的形態(tài)進(jìn)行說明的時(shí)間圖。

圖4為用以對通過自蝕法來進(jìn)行本底修正時(shí)的形態(tài)進(jìn)行說明的時(shí)間圖。

圖5為用以對一塊兒進(jìn)行采用d2燈法、塞曼法及自蝕法的本底修正時(shí)的形態(tài)進(jìn)行說明的時(shí)間圖。

圖6為表示本發(fā)明的第2實(shí)施方式的原子吸收光度計(jì)的構(gòu)成例的圖。

圖7為用以對第2實(shí)施方式中的本底修正的形態(tài)進(jìn)行說明的時(shí)間圖。

圖8為表示本發(fā)明的第3實(shí)施方式的原子吸收光度計(jì)的構(gòu)成例的圖。

圖9為用以對第3實(shí)施方式中的本底修正的形態(tài)進(jìn)行說明的時(shí)間圖。

圖10為表示本發(fā)明的第4實(shí)施方式的原子吸收光度計(jì)的構(gòu)成例的圖。

圖11為用以對第4實(shí)施方式中的本底修正的形態(tài)進(jìn)行說明的時(shí)間圖。

具體實(shí)施方式

＜第1實(shí)施方式＞

圖1為表示本發(fā)明的第1實(shí)施方式的原子吸收光度計(jì)的構(gòu)成例的圖。該原子吸收光度計(jì)為所謂的石墨爐式原子吸收光度計(jì)，通過在石墨管2a內(nèi)對試樣進(jìn)行加熱而將其原子化來產(chǎn)生原子蒸氣，使測定光通過該原子蒸氣中而測定試樣的吸光度。

該原子吸收光度計(jì)中配備有光源部1、原子化部2、磁力產(chǎn)生部3、分光器4、光電倍增管5、放大器6、低通濾波器(lpf)7、同步電路8、a/d轉(zhuǎn)換器9、控制部10、光源驅(qū)動(dòng)部11、操作部12、顯示部13及存儲(chǔ)器14等。

光源部1中配備有空心陰極燈(hcl)1a、氘燈(d2l)1b及半透半反鏡1c?？招年帢O燈1a為照射包含明線光譜的測定光的第1光源。另一方面，氘燈1b為照射包含連續(xù)光譜的測定光的第2光源。分別照射自空心陰極燈1a及氘燈1b的測定光經(jīng)由半透半反鏡1c而入射至原子化部2的石墨管2a內(nèi)。

試樣溶液從試樣注入口(未圖示)注入至石墨管2a內(nèi)，通過流通大電流的石墨管2a對試樣溶液進(jìn)行加熱。由此，試樣得以原子化，在石墨管2a內(nèi)產(chǎn)生原子蒸氣。來自空心陰極燈1a及氘燈1b的測定光照射至石墨管2a內(nèi)產(chǎn)生的原子蒸氣中。此時(shí)，在來自空心陰極燈1a的測定光通過石墨管2a內(nèi)的原子蒸氣中的過程中，試樣中所含的元素特有的波長的光被強(qiáng)力吸收。

通過原子化部2之后的光入射至分光器4。分光器4中例如配備有衍射光柵，在該衍射光柵中被分光后的光入射至光電倍增管5。光電倍增管5是用以檢測通過原子化部2之后的光、由此獲取測定數(shù)據(jù)的檢測器的一例，輸出與光接收強(qiáng)度相應(yīng)的信號作為測定數(shù)據(jù)。

空心陰極燈1a及氘燈1b通過經(jīng)由光源驅(qū)動(dòng)部11的控制部10的控制而進(jìn)行脈沖亮燈。來自空心陰極燈1a及氘燈1b的測定光經(jīng)由原子化部2及分光器4而被光電倍增管5檢測到，從光電倍增管5輸出經(jīng)時(shí)分多路轉(zhuǎn)換(tdm)后的信號。

來自光電倍增管5的輸出信號經(jīng)放大器6放大后，在低通濾波器7中去除高頻噪聲，輸入至同步電路8。在同步電路8中，基于來自空心陰極燈1a的測定光的光電倍增管5的輸出信號與基于來自氘燈1b的測定光的光電倍增管5的輸出信號被分離，這些輸出信號在a/d轉(zhuǎn)換器9中被轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號而輸入至控制部10。

來自空心陰極燈1a的測定光為原子吸收測定用測定光。即，基于來自空心陰極燈1a的測定光的光電倍增管5的輸出信號為受到了作為目標(biāo)的元素的吸收(原子吸收)以及原子吸收以外的吸收(本底吸收)的影響的測定數(shù)據(jù)。另一方面，來自氘燈1b的測定光為本底測定用測定光，基于來自氘燈1b的測定光的光電倍增管5的輸出信號因原子吸收的影響小到可忽略的程度，因此可等同視為僅受到了本底吸收的影響的測定數(shù)據(jù)。

因而，根據(jù)通過從氘燈1b照射測定光而獲得的測定數(shù)據(jù)(第1本底數(shù)據(jù))對通過從空心陰極燈1a照射測定光而獲得的測定數(shù)據(jù)(原子吸收數(shù)據(jù))進(jìn)行修正，由此可求出作為目標(biāo)的元素的原子吸收的吸光度。這種本底修正的方法稱為d2燈法。

在本實(shí)施方式中，除了上述那樣的d2燈法以外，通過塞曼法、自蝕法等其他方法也可進(jìn)行本底修正。磁力產(chǎn)生部3用以使原子化部2產(chǎn)生磁力，在通過塞曼法來進(jìn)行本底修正時(shí)加以使用。在該例中，由沿測定光的光軸以夾住石墨管2a的方式配置的1對線圈構(gòu)成磁力產(chǎn)生部3。通過對這些線圈流通電流，可在平行于測定光的光軸的方向上產(chǎn)生磁場。

在未從磁力產(chǎn)生部3產(chǎn)生有磁力的狀態(tài)下從空心陰極燈1a照射測定光的情況下，如上所述，獲得受到了原子吸收及本底吸收的影響的測定數(shù)據(jù)。另一方面，在從磁力產(chǎn)生部3產(chǎn)生有磁力的狀態(tài)下從空心陰極燈1a照射測定光的情況下所獲得的測定數(shù)據(jù)因原子吸收的影響小到可忽略的程度，因此可等同視為僅受到了本底吸收的影響的測定數(shù)據(jù)。

因而，在塞曼法中，根據(jù)通過在從磁力產(chǎn)生部3產(chǎn)生有磁力的狀態(tài)下從空心陰極燈1a照射測定光而獲得的測定數(shù)據(jù)(第2本底數(shù)據(jù))對通過在未從磁力產(chǎn)生部3產(chǎn)生有磁力的狀態(tài)下從空心陰極燈1a照射測定光而獲得的測定數(shù)據(jù)(原子吸收數(shù)據(jù))進(jìn)行修正，由此可求出作為目標(biāo)的元素的原子吸收的吸光度。

在自蝕法(自吸收法)中，通過在未從磁力產(chǎn)生部3產(chǎn)生有磁力的狀態(tài)下從空心陰極燈1a以過電流照射測定光來獲取本底測定的測定數(shù)據(jù)。例如，通過以100～600ma左右的過電流在短時(shí)間內(nèi)從空心陰極燈1a照射測定光而獲得的測定數(shù)據(jù)因原子吸收的影響小到可忽略的程度，因此可等同視為僅受到了本底吸收的影響的測定數(shù)據(jù)。

因而，在自蝕法中，根據(jù)通過從空心陰極燈1a以過電流照射測定光而獲得的測定數(shù)據(jù)(第3本底數(shù)據(jù))對通過從空心陰極燈1a以正常電流(例如不到30ma)照射測定光而獲得的測定數(shù)據(jù)(原子吸收數(shù)據(jù))進(jìn)行修正，由此可求出作為目標(biāo)的元素的原子吸收的吸光度。

控制部10例如為包含cpu(centralprocessingunit(中央處理器))的構(gòu)成，對該原子吸收光度計(jì)中配備的各部的工作進(jìn)行控制。原子化部2、磁力產(chǎn)生部3、放大器6、低通濾波器7、同步電路8、a/d轉(zhuǎn)換器9、光源驅(qū)動(dòng)部11、操作部12、顯示部13及存儲(chǔ)器14等與控制部10電連接。

操作部12例如為包含鍵盤或鼠標(biāo)的構(gòu)成，作業(yè)人員可通過對操作部12進(jìn)行操作來進(jìn)行輸入作業(yè)。顯示部13例如由液晶顯示器等構(gòu)成，可使控制部10的處理的結(jié)果等顯示在顯示畫面上。存儲(chǔ)器14例如由ram(randomaccessmemory(隨機(jī)存儲(chǔ)器))或硬盤等構(gòu)成。

控制部10通過由cpu執(zhí)行程序來作為測定數(shù)據(jù)獲取處理部100、第1本底修正處理部101、第2本底修正處理部102及第3本底修正處理部103等而發(fā)揮功能。測定數(shù)據(jù)獲取處理部100進(jìn)行如下處理：獲取上述的原子吸收數(shù)據(jù)、第1本底數(shù)據(jù)、第2本底數(shù)據(jù)及第3本底數(shù)據(jù)作為測定數(shù)據(jù)，并存儲(chǔ)至存儲(chǔ)器14。

第1本底修正處理部101根據(jù)原子吸收數(shù)據(jù)及第1本底數(shù)據(jù)，通過d2燈法來進(jìn)行本底修正。第2本底修正處理部102根據(jù)原子吸收數(shù)據(jù)及第2本底數(shù)據(jù)，通過塞曼法來進(jìn)行本底修正。第3本底修正處理部103根據(jù)原子吸收數(shù)據(jù)及第3本底數(shù)據(jù)，通過自蝕法來進(jìn)行本底修正。

圖2為用以對通過d2燈法來進(jìn)行本底修正時(shí)的形態(tài)進(jìn)行說明的時(shí)間圖。在通過d2燈法來進(jìn)行本底修正的情況下，通過以預(yù)先規(guī)定的形態(tài)控制空心陰極燈1a及氘燈1b的工作，測定數(shù)據(jù)獲取處理部100以一定的數(shù)據(jù)獲取周期獲取光電倍增管5的輸出信號作為測定數(shù)據(jù)。

在通過d2燈法來進(jìn)行本底修正時(shí)的上述數(shù)據(jù)獲取周期中，包含在未從磁力產(chǎn)生部3產(chǎn)生磁力的狀態(tài)下從空心陰極燈1a照射測定光的原子吸收測定期間t11、在未從磁力產(chǎn)生部3產(chǎn)生磁力的狀態(tài)下從氘燈1b照射測定光的第1本底測定期間t13、以及設(shè)置在它們之間的暗期間t12。在暗期間t12內(nèi)，空心陰極燈1a及氘燈1b為不亮燈狀態(tài)或低輸出下的亮燈狀態(tài)。通過根據(jù)在這各期間t11～t13內(nèi)所獲得的測定數(shù)據(jù)來進(jìn)行運(yùn)算，可進(jìn)行采用d2燈法的本底修正。

此處，原子吸收測定期間t11內(nèi)所獲得的測定數(shù)據(jù)為受到了原子吸收(aa)及本底吸收(bg(d))的影響的測定數(shù)據(jù)h。另一方面，第1本底測定期間t13內(nèi)所獲得的測定數(shù)據(jù)可等同視為僅受到了本底吸收(bg(d))的影響的測定數(shù)據(jù)d?？筛鶕?jù)這些測定數(shù)據(jù)h、d和暗期間t12內(nèi)所獲得的測定數(shù)據(jù)δ，通過下述式(1)求吸光度。其中，f(x)為表示針對測定數(shù)據(jù)x的吸光度算出的計(jì)算式的函數(shù)。

吸光度＝f(h－δ)－f(d－δ)···(1)

圖3為用以對通過塞曼法來進(jìn)行本底修正時(shí)的形態(tài)進(jìn)行說明的時(shí)間圖。在通過塞曼法來進(jìn)行本底修正的情況下，通過以預(yù)先規(guī)定的形態(tài)控制空心陰極燈1a及磁力產(chǎn)生部3的工作，測定數(shù)據(jù)獲取處理部100以一定的數(shù)據(jù)獲取周期獲取光電倍增管5的輸出信號作為測定數(shù)據(jù)。

在通過塞曼法來進(jìn)行本底修正時(shí)的上述數(shù)據(jù)獲取周期中，包含在未從磁力產(chǎn)生部3產(chǎn)生磁力的狀態(tài)下從空心陰極燈1a照射測定光的原子吸收測定期間t21、在從磁力產(chǎn)生部3產(chǎn)生有磁力的狀態(tài)下從空心陰極燈1a照射測定光的第2本底測定期間t23、以及設(shè)置在它們之間的暗期間t22。在暗期間t22內(nèi)，空心陰極燈1a為不亮燈狀態(tài)或低輸出下的亮燈狀態(tài)。通過根據(jù)在這各期間t21～t23內(nèi)所獲得的測定數(shù)據(jù)來進(jìn)行運(yùn)算，可進(jìn)行采用塞曼法的本底修正。

此處，在原子吸收測定期間t21內(nèi)所獲得的測定數(shù)據(jù)為受到了原子吸收(aa)及本底吸收(bg(z))的影響的測定數(shù)據(jù)h。另一方面，在第2本底測定期間t23內(nèi)所獲得的測定數(shù)據(jù)可等同視為僅受到了本底吸收(bg(z))的影響的測定數(shù)據(jù)z。可根據(jù)這些測定數(shù)據(jù)h、z和暗期間t22內(nèi)所獲得的測定數(shù)據(jù)δ，通過下述式(2)求吸光度。其中，f(x)為表示針對測定數(shù)據(jù)x的吸光度算出的計(jì)算式的函數(shù)。

吸光度＝f(h－δ)－f(z－δ)···(2)

圖4為用以對通過自蝕法來進(jìn)行本底修正時(shí)的形態(tài)進(jìn)行說明的時(shí)間圖。在通過自蝕法來進(jìn)行本底修正的情況下，通過以預(yù)先規(guī)定的形態(tài)控制空心陰極燈1a的工作，測定數(shù)據(jù)獲取處理部100以一定的數(shù)據(jù)獲取周期獲取光電倍增管5的輸出信號作為測定數(shù)據(jù)。

在通過自蝕法來進(jìn)行本底修正時(shí)的上述數(shù)據(jù)獲取周期中，包含在未從磁力產(chǎn)生部3產(chǎn)生磁力的狀態(tài)下從空心陰極燈1a照射測定光的原子吸收測定期間t31、在未從磁力產(chǎn)生部3產(chǎn)生磁力的狀態(tài)下從空心陰極燈1a以過電流照射測定光的第3本底測定期間t32、以及設(shè)置在其后的暗期間t33。在暗期間t33內(nèi)，空心陰極燈1a為不亮燈狀態(tài)或低輸出下的亮燈狀態(tài)。通過根據(jù)這在各期間t31～t33內(nèi)所獲得的測定數(shù)據(jù)來進(jìn)行運(yùn)算，可進(jìn)行自蝕法下的本底修正。

此處，在原子吸收測定期間t31內(nèi)所獲得的測定數(shù)據(jù)為受到了原子吸收(aa)及本底吸收(bg(s))的影響的測定數(shù)據(jù)h。另一方面，在第3本底測定期間t32內(nèi)所獲得的測定數(shù)據(jù)可等同視為僅受到了本底吸收(bg(s))的影響的測定數(shù)據(jù)s?？筛鶕?jù)這些測定數(shù)據(jù)h、s和暗期間t33內(nèi)所獲得的測定數(shù)據(jù)δ，通過下述式(3)求吸光度。其中，f(x)為表示針對測定數(shù)據(jù)x的吸光度算出的計(jì)算式的函數(shù)。

吸光度＝f(h－δ)－f(s－δ)···(3)

圖5為用以對一塊兒進(jìn)行采用d2燈法、塞曼法及自蝕法的本底修正時(shí)的形態(tài)進(jìn)行說明的時(shí)間圖。在本實(shí)施方式中，通過以預(yù)先規(guī)定的形態(tài)控制空心陰極燈1a、氘燈1b及磁力產(chǎn)生部3的工作，可一塊兒進(jìn)行采用d2燈法、塞曼法及自蝕法的本底修正。此時(shí)，測定數(shù)據(jù)獲取處理部100以一定的數(shù)據(jù)獲取周期獲取光電倍增管5的輸出信號作為測定數(shù)據(jù)(測定數(shù)據(jù)獲取步驟)。該測定數(shù)據(jù)獲取步驟可僅在作業(yè)人員使用操作部12選擇特定模式的情況下進(jìn)行，也可在試樣的測定時(shí)每次都進(jìn)行。

在一塊兒進(jìn)行采用d2燈法、塞曼法及自蝕法的本底修正時(shí)的上述數(shù)據(jù)獲取周期中，包含在未從磁力產(chǎn)生部3產(chǎn)生磁力的狀態(tài)下從空心陰極燈1a照射測定光的原子吸收測定期間t41、在未從磁力產(chǎn)生部3產(chǎn)生磁力的狀態(tài)下從氘燈1b照射測定光的第1本底測定期間t44、在從磁力產(chǎn)生部3產(chǎn)生有磁力的狀態(tài)下從空心陰極燈1a照射測定光的第2本底測定期間t46、在未從磁力產(chǎn)生部3產(chǎn)生磁力的狀態(tài)下從空心陰極燈1a以過電流照射測定光的第3本底測定期間t42、以及酌情設(shè)置在它們之間的暗期間t43、t45。在暗期間t43、t45內(nèi)，空心陰極燈1a及氘燈1b為不亮燈狀態(tài)或低輸出下的亮燈狀態(tài)。通過根據(jù)在這各期間t41～t46內(nèi)所獲得的測定數(shù)據(jù)來進(jìn)行運(yùn)算，可進(jìn)行采用d2燈法、塞曼法及自蝕法的本底修正。

此處，在原子吸收測定期間t41內(nèi)所獲得的測定數(shù)據(jù)為受到了原子吸收(aa)及本底吸收(bg)的影響的測定數(shù)據(jù)h。在第1本底測定期間t44內(nèi)所獲得的測定數(shù)據(jù)可等同視為僅受到了本底吸收(bg(d))的影響的測定數(shù)據(jù)d。在第2本底測定期間t46內(nèi)所獲得的測定數(shù)據(jù)可等同視為僅受到了本底吸收(bg(z))的影響的測定數(shù)據(jù)z。在第3本底測定期間t42內(nèi)所獲得的測定數(shù)據(jù)可等同視為僅受到了本底吸收(bg(s))的影響的測定數(shù)據(jù)s。可根據(jù)這些測定數(shù)據(jù)h、d、z、s和暗期間t43或t45內(nèi)所獲得的測定數(shù)據(jù)δ來進(jìn)行使用各方法下的本底修正的吸光度的運(yùn)算。

采用d2燈法的本底修正是根據(jù)原子吸收測定期間t41內(nèi)所獲得的測定數(shù)據(jù)h和第1本底測定期間t44內(nèi)所獲得的測定數(shù)據(jù)d，通過第1本底修正處理部101的運(yùn)算來進(jìn)行(第1本底修正步驟)。即，第1本底修正處理部101根據(jù)第1本底測定期間t44內(nèi)所獲得的測定數(shù)據(jù)d，通過上述式(1)對原子吸收測定期間t41內(nèi)所獲得的測定數(shù)據(jù)h進(jìn)行修正來算出吸光度。

采用塞曼法的本底修正是根據(jù)原子吸收測定期間t41內(nèi)所獲得的測定數(shù)據(jù)h和第2本底測定期間t46內(nèi)所獲得的測定數(shù)據(jù)z，通過第2本底修正處理部102的運(yùn)算來進(jìn)行(第2本底修正步驟)。即，第2本底修正處理部102根據(jù)第2本底測定期間t46內(nèi)所獲得的測定數(shù)據(jù)z，通過上述式(2)對原子吸收測定期間t41內(nèi)所獲得的測定數(shù)據(jù)h進(jìn)行修正來算出吸光度。

采用自蝕法的本底修正是根據(jù)原子吸收測定期間t41內(nèi)所獲得的測定數(shù)據(jù)h和第3本底測定期間t42內(nèi)所獲得的測定數(shù)據(jù)s，通過第3本底修正處理部103的運(yùn)算來進(jìn)行(第3本底修正步驟)。即，第3本底修正處理部103根據(jù)第3本底測定期間t42內(nèi)所獲得的測定數(shù)據(jù)s，通過上述式(3)對原子吸收測定期間t41內(nèi)所獲得的測定數(shù)據(jù)h進(jìn)行修正來算出吸光度。

如此，在本實(shí)施方式中，根據(jù)1個(gè)數(shù)據(jù)獲取周期內(nèi)所獲得的各測定期間t41～t46內(nèi)的測定數(shù)據(jù)，通過d2燈法、塞曼法及自蝕法這各種方法來進(jìn)行本底修正。即，使用第1～第3本底測定期間t44、t46、t42內(nèi)所獲得的各測定數(shù)據(jù)d、z、s(本底數(shù)據(jù))對原子吸收測定期間t41內(nèi)所獲得的共通的測定數(shù)據(jù)h(原子吸收數(shù)據(jù))進(jìn)行本底修正。

由此，與像圖2～圖4那樣采用多種方法中的每一種獲取原子吸收數(shù)據(jù)及本底數(shù)據(jù)這樣的構(gòu)成相比，一方面可抑制試樣的消耗量，另一方面可在短時(shí)間內(nèi)容易地進(jìn)行使用多種方法的本底修正。以如此方式通過各方法進(jìn)行本底修正所得的測定結(jié)果例如顯示在顯示部13上。因而，即便是在測定后，作業(yè)人員也可通過對顯示部13上所顯示的各測定結(jié)果進(jìn)行比較研究來容易地選擇最佳方法。

＜第2實(shí)施方式＞

圖6為表示本發(fā)明的第2實(shí)施方式的原子吸收光度計(jì)的構(gòu)成例的圖。此外，圖7為用以對第2實(shí)施方式中的本底修正的形態(tài)進(jìn)行說明的時(shí)間圖。本實(shí)施方式與第1實(shí)施方式的不同點(diǎn)在于，不進(jìn)行采用自蝕法的本底修正，僅進(jìn)行采用d2燈法及塞曼法的本底修正。因此，控制部10作為測定數(shù)據(jù)獲取處理部100、第1本底修正處理部101及第2本底修正處理部102而發(fā)揮功能，但不會(huì)作為第3本底修正處理部103而發(fā)揮功能。

即，在本實(shí)施方式中，通過以預(yù)先規(guī)定的形態(tài)控制空心陰極燈1a、氘燈1b及磁力產(chǎn)生部3的工作，可一塊兒進(jìn)行采用d2燈法及塞曼法的本底修正。此時(shí)，測定數(shù)據(jù)獲取處理部100以一定的數(shù)據(jù)獲取周期獲取光電倍增管5的輸出信號作為測定數(shù)據(jù)(測定數(shù)據(jù)獲取步驟)。該測定數(shù)據(jù)獲取步驟可僅在作業(yè)人員使用操作部12選擇特定模式的情況下進(jìn)行，也可在試樣的測定時(shí)每次都進(jìn)行。

在一塊兒進(jìn)行采用d2燈法及塞曼法的本底修正時(shí)的上述數(shù)據(jù)獲取周期中，包含在未從磁力產(chǎn)生部3產(chǎn)生磁力的狀態(tài)下從空心陰極燈1a照射測定光的原子吸收測定期間t51、在未從磁力產(chǎn)生部3產(chǎn)生磁力的狀態(tài)下從氘燈1b照射測定光的第1本底測定期間t53、在從磁力產(chǎn)生部3產(chǎn)生有磁力的狀態(tài)下從空心陰極燈1a照射測定光的第2本底測定期間t55、以及酌情設(shè)置在它們之間的暗期間t52、t54。在暗期間t52、t54內(nèi)，空心陰極燈1a及氘燈1b為不亮燈狀態(tài)或低輸出下的亮燈狀態(tài)。通過根據(jù)在這各期間t51～t55內(nèi)所獲得的測定數(shù)據(jù)來進(jìn)行運(yùn)算，可進(jìn)行采用d2燈法及塞曼法的本底修正。

此處，在原子吸收測定期間t51內(nèi)所獲得的測定數(shù)據(jù)為受到了原子吸收(aa)及本底吸收(bg)的影響的測定數(shù)據(jù)h。在第1本底測定期間t53內(nèi)所獲得的測定數(shù)據(jù)可等同視為僅受到了本底吸收(bg(d))的影響的測定數(shù)據(jù)d。在第2本底測定期間t55內(nèi)所獲得的測定數(shù)據(jù)可等同視為僅受到了本底吸收(bg(z))的影響的測定數(shù)據(jù)z?？筛鶕?jù)這些測定數(shù)據(jù)h、d、z和暗期間t52或t54內(nèi)所獲得的測定數(shù)據(jù)δ來進(jìn)行使用各方法下的本底修正的吸光度的運(yùn)算。

采用d2燈法的本底修正是根據(jù)原子吸收測定期間t51內(nèi)所獲得的測定數(shù)據(jù)h和第1本底測定期間t53內(nèi)所獲得的測定數(shù)據(jù)d，通過第1本底修正處理部101的運(yùn)算來進(jìn)行(第1本底修正步驟)。即，第1本底修正處理部101根據(jù)第1本底測定期間t53內(nèi)所獲得的測定數(shù)據(jù)d，通過上述式(1)對原子吸收測定期間t51內(nèi)所獲得的測定數(shù)據(jù)h進(jìn)行修正來算出吸光度。

采用塞曼法的本底修正是根據(jù)原子吸收測定期間t51內(nèi)所獲得的測定數(shù)據(jù)h和第2本底測定期間t55內(nèi)所獲得的測定數(shù)據(jù)z，通過第2本底修正處理部102的運(yùn)算來進(jìn)行(第2本底修正步驟)。即，第2本底修正處理部102根據(jù)第2本底測定期間t55內(nèi)所獲得的測定數(shù)據(jù)z，通過上述式(2)對原子吸收測定期間t51內(nèi)所獲得的測定數(shù)據(jù)h進(jìn)行修正來算出吸光度。

如此，在本實(shí)施方式中，根據(jù)1個(gè)數(shù)據(jù)獲取周期內(nèi)所獲得的各測定期間t51～t55內(nèi)的測定數(shù)據(jù)，通過d2燈法及塞曼法這各種方法來進(jìn)行本底修正。即，使用第1及第2本底測定期間t53、t55內(nèi)所獲得的各測定數(shù)據(jù)d、z(本底數(shù)據(jù))對原子吸收測定期間t51內(nèi)所獲得的共通的測定數(shù)據(jù)h(原子吸收數(shù)據(jù))進(jìn)行本底修正。

由此，與像圖2及圖3那樣采用多種方法中的每一種獲取原子吸收數(shù)據(jù)及本底數(shù)據(jù)這樣的構(gòu)成相比，一方面可抑制試樣的消耗量，另一方面可在短時(shí)間內(nèi)容易地進(jìn)行使用多種方法的本底修正。因而，即便是在測定后，作業(yè)人員也可通過對顯示部13上所顯示的各測定結(jié)果進(jìn)行比較研究來容易地選擇最佳方法。

＜第3實(shí)施方式＞

圖8為表示本發(fā)明的第3實(shí)施方式的原子吸收光度計(jì)的構(gòu)成例的圖。此外，圖9為用以對第3實(shí)施方式中的本底修正的形態(tài)進(jìn)行說明的時(shí)間圖。本實(shí)施方式與第1實(shí)施方式的不同點(diǎn)在于，不進(jìn)行采用d2燈法的本底修正，僅進(jìn)行采用塞曼法及自蝕法的本底修正。因此，本實(shí)施方式的原子吸收光度計(jì)中未配備氘燈1b。此外，控制部10作為測定數(shù)據(jù)獲取處理部100、第2本底修正處理部102及第3本底修正處理部103而發(fā)揮功能，但不會(huì)作為第1本底修正處理部101而發(fā)揮功能。

即，在本實(shí)施方式中，通過以預(yù)先規(guī)定的形態(tài)控制空心陰極燈1a及磁力產(chǎn)生部3的工作，可一塊兒進(jìn)行采用塞曼法及自蝕法的本底修正。此時(shí)，測定數(shù)據(jù)獲取處理部100以一定的數(shù)據(jù)獲取周期獲取光電倍增管5的輸出信號作為測定數(shù)據(jù)(測定數(shù)據(jù)獲取步驟)。該測定數(shù)據(jù)獲取步驟可僅在作業(yè)人員使用操作部12選擇特定模式的情況下進(jìn)行，也可在試樣的測定時(shí)每次都進(jìn)行。

在一塊兒進(jìn)行采用塞曼法及自蝕法的本底修正時(shí)的上述數(shù)據(jù)獲取周期中，包含在未從磁力產(chǎn)生部3產(chǎn)生磁力的狀態(tài)下從空心陰極燈1a照射測定光的原子吸收測定期間t61、在從磁力產(chǎn)生部3產(chǎn)生有磁力的狀態(tài)下從空心陰極燈1a照射測定光的第2本底測定期間t64、在未從磁力產(chǎn)生部3產(chǎn)生磁力的狀態(tài)下從空心陰極燈1a以過電流照射測定光的第3本底測定期間t62、以及酌情設(shè)置在它們之間的暗期間t63。在暗期間t63內(nèi)，空心陰極燈1a為不亮燈狀態(tài)或低輸出下的亮燈狀態(tài)。通過根據(jù)這各期間t61～t64內(nèi)所獲得的測定數(shù)據(jù)來進(jìn)行運(yùn)算，可進(jìn)行采用塞曼法及自蝕法的本底修正。

此處，在原子吸收測定期間t61內(nèi)所獲得的測定數(shù)據(jù)為受到了原子吸收(aa)及本底吸收(bg)的影響的測定數(shù)據(jù)h。在第2本底測定期間t64內(nèi)所獲得的測定數(shù)據(jù)可等同視為僅受到了本底吸收(bg(z))的影響的測定數(shù)據(jù)z。在第3本底測定期間t62內(nèi)所獲得的測定數(shù)據(jù)可等同視為僅受到了本底吸收(bg(s))的影響的測定數(shù)據(jù)s?？筛鶕?jù)這些測定數(shù)據(jù)h、z、s和暗期間t63內(nèi)所獲得的測定數(shù)據(jù)δ來進(jìn)行使用各方法下的本底修正的吸光度的運(yùn)算。

采用塞曼法的本底修正是根據(jù)原子吸收測定期間t61內(nèi)所獲得的測定數(shù)據(jù)h和第2本底測定期間t64內(nèi)所獲得的測定數(shù)據(jù)z，通過第2本底修正處理部102的運(yùn)算來進(jìn)行(第2本底修正步驟)。即，第2本底修正處理部102根據(jù)第2本底測定期間t64內(nèi)所獲得的測定數(shù)據(jù)z，通過上述式(2)對原子吸收測定期間t61內(nèi)所獲得的測定數(shù)據(jù)h進(jìn)行修正來算出吸光度。

采用自蝕法的本底修正是根據(jù)原子吸收測定期間t61內(nèi)所獲得的測定數(shù)據(jù)h和第3本底測定期間t62內(nèi)所獲得的測定數(shù)據(jù)s，通過第3本底修正處理部103的運(yùn)算來進(jìn)行(第3本底修正步驟)。即，第3本底修正處理部103根據(jù)第3本底測定期間t62內(nèi)所獲得的測定數(shù)據(jù)s，通過上述式(3)對原子吸收測定期間t61內(nèi)所獲得的測定數(shù)據(jù)h進(jìn)行修正來算出吸光度。

如此，在本實(shí)施方式中，根據(jù)1個(gè)數(shù)據(jù)獲取周期內(nèi)所獲得的各測定期間t61～t64內(nèi)的測定數(shù)據(jù)，通過塞曼法及自蝕法這各種方法來進(jìn)行本底修正。即，使用第2及第3本底測定期間t64、t62內(nèi)所獲得的各測定數(shù)據(jù)z、s(本底數(shù)據(jù))對原子吸收測定期間t61內(nèi)所獲得的共通的測定數(shù)據(jù)h(原子吸收數(shù)據(jù))進(jìn)行本底修正。

由此，與像圖3及圖4那樣采用多種方法中的每一種獲取原子吸收數(shù)據(jù)及本底數(shù)據(jù)這樣的構(gòu)成相比，一方面可抑制試樣的消耗量，另一方面可在短時(shí)間內(nèi)容易地進(jìn)行使用多種方法的本底修正。因而，即便是在測定后，作業(yè)人員也可通過對顯示部13上所顯示的各測定結(jié)果進(jìn)行比較研究來容易地選擇最佳方法。

＜第4實(shí)施方式＞

圖10為表示本發(fā)明的第4實(shí)施方式的原子吸收光度計(jì)的構(gòu)成例的圖。此外，圖11為用以對第4實(shí)施方式中的本底修正的形態(tài)進(jìn)行說明的時(shí)間圖。本實(shí)施方式與第1實(shí)施方式的不同點(diǎn)在于，不進(jìn)行采用塞曼法的本底修正，僅進(jìn)行采用d2燈法及自蝕法的本底修正。因此，本實(shí)施方式的原子吸收光度計(jì)中未配備磁力產(chǎn)生部3。此外，控制部10作為測定數(shù)據(jù)獲取處理部100、第1本底修正處理部101及第3本底修正處理部103而發(fā)揮功能，但不會(huì)作為第2本底修正處理部102而發(fā)揮功能。

即，在本實(shí)施方式中，通過以預(yù)先規(guī)定的形態(tài)控制空心陰極燈1a及氘燈1b的工作，可一塊兒進(jìn)行采用d2燈法及自蝕法的本底修正。此時(shí)，測定數(shù)據(jù)獲取處理部100以一定的數(shù)據(jù)獲取周期獲取光電倍增管5的輸出信號作為測定數(shù)據(jù)(測定數(shù)據(jù)獲取步驟)。該測定數(shù)據(jù)獲取步驟可僅在作業(yè)人員使用操作部12選擇特定模式的情況下進(jìn)行，也可在試樣的測定時(shí)每次都進(jìn)行。

在一塊兒進(jìn)行采用d2燈法及自蝕法的本底修正時(shí)的上述數(shù)據(jù)獲取周期中，包含從空心陰極燈1a照射測定光的原子吸收測定期間t71、從氘燈1b照射測定光的第1本底測定期間t74、從空心陰極燈1a以過電流照射測定光的第3本底測定期間t72、以及酌情設(shè)置在它們之間的暗期間t73。在暗期間t73內(nèi)，空心陰極燈1a及氘燈1b為不亮燈狀態(tài)或低輸出下的亮燈狀態(tài)。通過根據(jù)這各期間t71～t74內(nèi)所獲得的測定數(shù)據(jù)來進(jìn)行運(yùn)算，可進(jìn)行采用d2燈法及自蝕法的本底修正。

此處，原子吸收測定期間t71內(nèi)所獲得的測定數(shù)據(jù)為受到了原子吸收(aa)及本底吸收(bg)的影響的測定數(shù)據(jù)h。第1本底測定期間t74內(nèi)所獲得的測定數(shù)據(jù)可等同視為僅受到了本底吸收(bg(d))的影響的測定數(shù)據(jù)d。第3本底測定期間t72內(nèi)所獲得的測定數(shù)據(jù)可等同視為僅受到了本底吸收(bg(s))的影響的測定數(shù)據(jù)s?？筛鶕?jù)這些測定數(shù)據(jù)h、d、s和暗期間t73內(nèi)所獲得的測定數(shù)據(jù)δ來進(jìn)行使用各方法下的本底修正的吸光度的運(yùn)算。

采用d2燈法的本底修正是根據(jù)原子吸收測定期間t71內(nèi)所獲得的測定數(shù)據(jù)h和第1本底測定期間t74內(nèi)所獲得的測定數(shù)據(jù)d，通過第1本底修正處理部101的運(yùn)算來進(jìn)行(第1本底修正步驟)。即，第1本底修正處理部101根據(jù)第1本底測定期間t74內(nèi)所獲得的測定數(shù)據(jù)d，通過上述式(1)對原子吸收測定期間t71內(nèi)所獲得的測定數(shù)據(jù)h進(jìn)行修正來算出吸光度。

采用自蝕法的本底修正是根據(jù)原子吸收測定期間t71內(nèi)所獲得的測定數(shù)據(jù)h和第3本底測定期間t72內(nèi)所獲得的測定數(shù)據(jù)s，通過第3本底修正處理部103的運(yùn)算來進(jìn)行(第3本底修正步驟)。即，第3本底修正處理部103根據(jù)第3本底測定期間t72內(nèi)所獲得的測定數(shù)據(jù)s，通過上述式(3)對原子吸收測定期間t71內(nèi)所獲得的測定數(shù)據(jù)h進(jìn)行修正來算出吸光度。

如此，在本實(shí)施方式中，根據(jù)1個(gè)數(shù)據(jù)獲取周期內(nèi)所獲得的各測定期間t71～t74內(nèi)的測定數(shù)據(jù)，通過d2燈法及自蝕法這各種方法來進(jìn)行本底修正。即，使用第1及第3本底測定期間t74、t72內(nèi)所獲得的各測定數(shù)據(jù)d、s(本底數(shù)據(jù))對原子吸收測定期間t71內(nèi)所獲得的共通的測定數(shù)據(jù)h(原子吸收數(shù)據(jù))進(jìn)行本底修正。

由此，與像圖2及圖4那樣采用多種方法中的每一種獲取原子吸收數(shù)據(jù)及本底數(shù)據(jù)這樣的構(gòu)成相比，一方面可抑制試樣的消耗量，另一方面可在短時(shí)間內(nèi)容易地進(jìn)行使用多種方法的本底修正。因而，即便是在測定后，作業(yè)人員也可通過對顯示部13上所顯示的各測定結(jié)果進(jìn)行比較研究來容易地選擇最佳方法。

在以上的實(shí)施方式中，對不僅使用原子吸收測定期間及本底測定期間內(nèi)所獲得的測定數(shù)據(jù)、還使用暗期間內(nèi)所獲得的測定數(shù)據(jù)來進(jìn)行本底修正這樣的構(gòu)成進(jìn)行了說明。但并不限于這種構(gòu)成，也可為在不使用暗期間內(nèi)所獲得的測定數(shù)據(jù)的情況下進(jìn)行本底修正這樣的構(gòu)成。

照射原子吸收測定用測定光的第1光源不限于空心陰極燈1a，也可為照射包含明線光譜的測定光的其他光源。此外，作為上述第1光源，也可使用例如像氙氣閃光燈等那樣照射包含連續(xù)光譜的測定光的光源。

在以上的實(shí)施方式中，對在石墨爐式原子吸收光度計(jì)中運(yùn)用本發(fā)明的構(gòu)成進(jìn)行了說明。但本發(fā)明并不限于石墨爐式原子吸收光度計(jì)，例如也可運(yùn)用于火焰式原子吸收光度計(jì)等，所述火焰式原子吸收光度計(jì)對可燃性氣體噴霧試樣并燃燒該混合氣體，由此對試樣進(jìn)行加熱而將其原子化，并使測定光通過所產(chǎn)生的原子蒸氣而測定試樣的吸光度。

符號說明

1光源部

1a空心陰極燈

1b氘燈

1c半透半反鏡

2原子化部

2a石墨管

3磁力產(chǎn)生部

4分光器

5光電倍增管

6放大器

7低通濾波器(lpf)

8同步電路

9a/d轉(zhuǎn)換器

10控制部

11光源驅(qū)動(dòng)部

12操作部

13顯示部

14存儲(chǔ)器

100測定數(shù)據(jù)獲取處理部

101第1本底修正處理部

102第2本底修正處理部

103第3本底修正處理部。