本發(fā)明涉及一種低壓供配電線(xiàn)路電弧故障的分類(lèi)識(shí)別方法，特別是涉及一種以電流相空間特征和時(shí)域特征為檢測(cè)對(duì)象的低壓供配電線(xiàn)路電弧故障的分類(lèi)識(shí)別方法。

背景技術(shù)：
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樓宇建筑內(nèi)的供配電線(xiàn)路由于各類(lèi)的原因會(huì)引發(fā)電弧故障，供配電線(xiàn)路中的電弧故障按其產(chǎn)生的位置不同可以具體的分為串聯(lián)電弧故障和并聯(lián)電弧故障。并聯(lián)電弧故障發(fā)生在兩根導(dǎo)體之間，是一種短路電弧故障，往往是由于兩導(dǎo)體接頭處有觸碰連接，或兩導(dǎo)體之間由于絕緣損傷、炭化而產(chǎn)生，所以并聯(lián)電弧故障又可以細(xì)分為并聯(lián)點(diǎn)接觸式電弧故障和并聯(lián)炭化路徑式電弧故障。并聯(lián)電弧故障的電流波形受到負(fù)載的影響，一般大于負(fù)載電流。串聯(lián)電弧故障是發(fā)生在單根導(dǎo)體上，如果是由于單根導(dǎo)體發(fā)生的機(jī)械式的斷裂，或者是導(dǎo)體的連接處發(fā)生松動(dòng)而引起的串聯(lián)電弧故障稱(chēng)為串聯(lián)點(diǎn)接觸式電弧故障；如果由于單根導(dǎo)體熔斷時(shí)絕緣皮炭化而產(chǎn)生，則稱(chēng)為串聯(lián)炭化路徑式電弧故障。串聯(lián)電弧故障的電流波形雖然也受到負(fù)載的影響，但是其電流幅值一般小于負(fù)載電流，由于目前傳統(tǒng)的熔斷器、斷路器等保護(hù)裝置都是以過(guò)電流為檢測(cè)對(duì)象的，對(duì)線(xiàn)路的短路故障能夠有效的檢測(cè)與保護(hù)，而對(duì)于串聯(lián)電弧故障不能起到檢測(cè)和保護(hù)的作用，所以傳統(tǒng)的供配電線(xiàn)路保護(hù)方案不能對(duì)電弧故障加以防護(hù)。

供配電線(xiàn)路中的串聯(lián)電弧故障具有較高的隱蔽性，以及強(qiáng)大的破壞力，容易造成設(shè)備損壞，電弧燃燒所產(chǎn)生巨大的熱量是引起電氣火災(zāi)的主要危害之一，嚴(yán)重危害了公共安全。因此，供配電線(xiàn)路的保護(hù)系統(tǒng)需要在電弧故障發(fā)生時(shí)迅速切斷電路，以保障用電安全。國(guó)內(nèi)外學(xué)者提出了一些電弧故障檢測(cè)與保護(hù)方 法，其原理是利用電弧放電時(shí)的光、熱、聲音和電磁輻射等特征識(shí)別電弧故障，如德國(guó)Moeller公司研制的用于低壓開(kāi)關(guān)柜的電弧故障保護(hù)系統(tǒng)；ARCON ABB研制的ARC Guard System電弧故障保護(hù)系統(tǒng)；芬蘭Vaasa公司研制的VAMP系統(tǒng)等。對(duì)于上述電弧故障檢測(cè)方法，用于檢測(cè)特征參數(shù)的傳感器必須安裝在電弧故障發(fā)生的地方，因此不適于檢測(cè)配電線(xiàn)路中發(fā)生地點(diǎn)不確定的電弧故障。在配電線(xiàn)路中，利用被保護(hù)回路電流時(shí)域特征檢測(cè)電弧故障具有一定實(shí)用性，如電流零點(diǎn)的“平肩”現(xiàn)象、波形陡峭現(xiàn)象等，但隨著新型用電設(shè)備的推陳出新，線(xiàn)路正常供電電流波形甚為復(fù)雜，該種方法難以區(qū)分電流波形的畸變是由電弧故障引起還是由電力電子負(fù)載所引起，所以會(huì)發(fā)生誤判。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：
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本發(fā)明的目的就在于解決現(xiàn)有技術(shù)存在的上述問(wèn)題，針對(duì)目前國(guó)內(nèi)外已公開(kāi)的電弧故障識(shí)別方法存在著諸多弊端與不便性，經(jīng)過(guò)反復(fù)研究和試驗(yàn)后，本發(fā)明提供一種以電流波形相空間特征和時(shí)域特征構(gòu)建的二維特征量為檢測(cè)對(duì)象，并以非線(xiàn)性支持向量分類(lèi)機(jī)的模式識(shí)別功能為識(shí)別手段的供配電線(xiàn)路串聯(lián)電弧故障識(shí)別方法。

為了實(shí)現(xiàn)上述發(fā)明內(nèi)容，本發(fā)明的技術(shù)方案為：一種低壓供配電線(xiàn)路電弧故障的分類(lèi)識(shí)別方法，其特點(diǎn)是采集被保護(hù)線(xiàn)路的電流信號(hào)，提取電流波形相空間特征與時(shí)域特征并構(gòu)建二維特征量數(shù)據(jù)庫(kù)，運(yùn)用非線(xiàn)性支持向量機(jī)分類(lèi)機(jī)系統(tǒng)對(duì)電流二維特征量樣本數(shù)據(jù)進(jìn)行訓(xùn)練，并形成電弧故障分類(lèi)機(jī)識(shí)別模型，應(yīng)用該模型對(duì)配電線(xiàn)路中的電弧故障進(jìn)行識(shí)別與檢測(cè)，包含以下步驟：

(1)運(yùn)用電流傳感器采集被保護(hù)線(xiàn)路電流，利用精密取樣電阻將電流信號(hào)轉(zhuǎn)化為電壓信號(hào)，再利用A/D轉(zhuǎn)換器將電壓模擬信號(hào)轉(zhuǎn)化為數(shù)字信號(hào)，采樣頻率設(shè)為f＝100kZ；

(2)以被保護(hù)線(xiàn)路帶載情況下正常工作電流峰值為基準(zhǔn)，將電流信號(hào)歸一化處理，使得采集到的線(xiàn)路正常帶載情況下工作電流峰值為單位1，出現(xiàn)電弧故障時(shí)段的電流幅值同比例調(diào)整。該步驟可以通過(guò)調(diào)整放大電路的比例倍數(shù)來(lái)完成；

(3)運(yùn)用改進(jìn)的坐標(biāo)延遲法對(duì)采集到的電流信號(hào)進(jìn)行相空間重構(gòu)進(jìn)而獲得電流波形相空間軌跡圖，具體方法是：以電流的過(guò)零點(diǎn)為起點(diǎn)，以一個(gè)周期的時(shí)間加上坐標(biāo)延遲時(shí)間為電流波形截取長(zhǎng)度，按時(shí)間次序依次截取大于一個(gè)周期的波形，對(duì)所截取的線(xiàn)路電流波形進(jìn)行相空間重構(gòu)，對(duì)應(yīng)每一個(gè)電流采樣波形得到一個(gè)對(duì)應(yīng)的相空間軌跡圖，重構(gòu)的相空間橫坐標(biāo)為I_x＝i(t)，重構(gòu)的相空間縱坐標(biāo)為I_y＝i(t+Δt)，坐標(biāo)延遲時(shí)間最優(yōu)取值為Δt＝2ms，對(duì)應(yīng)的嵌入維數(shù)m＝10；

(4)基于分形理論運(yùn)用像素點(diǎn)覆蓋法計(jì)算電流相空間軌跡圖的信息維數(shù)，分別計(jì)算出線(xiàn)路所帶不同電氣負(fù)載時(shí)正常運(yùn)行情況和出現(xiàn)電弧故障情況的電流波形相空間軌跡圖的信息維數(shù)，以電流波形相空間軌跡圖的信息維數(shù)作為識(shí)別電弧故障的電流特征量之一；

(5)分別計(jì)算出線(xiàn)路所帶不同電氣負(fù)載時(shí)正常運(yùn)行情況和出現(xiàn)電弧故障情況的電流波形零休時(shí)間，電流波形的零休時(shí)間即電流波形出現(xiàn)平肩時(shí)段所維持的時(shí)間長(zhǎng)度，以計(jì)算出的電流零休時(shí)間作為識(shí)別電弧故障的另一電流特征量，結(jié)合電流波形相空間軌跡圖信息維數(shù)特征量構(gòu)建電流二維特征量；

(6)運(yùn)用非線(xiàn)性支持向量機(jī)原理構(gòu)建分類(lèi)機(jī)系統(tǒng)，對(duì)電流二維特征量數(shù)據(jù)進(jìn)行分類(lèi)識(shí)別，構(gòu)建支持向量分類(lèi)機(jī)系統(tǒng)采用徑向基核函數(shù)，在合理選擇系統(tǒng)參數(shù)的條件下，即懲罰因子C取值為2、徑向基核函數(shù)半徑γ取值為0.25，使分類(lèi)機(jī)系統(tǒng)的正確分類(lèi)識(shí)別率達(dá)到最大值。

所述的電流傳感器用于對(duì)電流的采樣，并經(jīng)過(guò)精密采樣電阻將電流信號(hào)轉(zhuǎn) 換為電壓信號(hào)，再經(jīng)過(guò)A/D轉(zhuǎn)換器將電壓模擬信號(hào)轉(zhuǎn)化為數(shù)字信號(hào)，采樣頻率設(shè)為f＝100kZ；

所述的電流信號(hào)歸一化處理，是將采集到的電流信號(hào)除以正常運(yùn)行電流的峰值，使得采集到的線(xiàn)路正常帶載情況下工作電流峰值為單位1；

所述的利用改進(jìn)的坐標(biāo)延遲法對(duì)采集到的電流信號(hào)進(jìn)行相空間重構(gòu)，是將電流采樣周期擴(kuò)大為電流周期加上延遲時(shí)間，所述的延遲時(shí)間為2毫秒，所述的相空間重構(gòu)的嵌入維數(shù)為10；

所述的運(yùn)用像素點(diǎn)覆蓋法計(jì)算出的電流相空間軌跡圖的信息維數(shù)作為電弧故障識(shí)別的第一特征量，所述的電流波形零休時(shí)間作為電弧故障識(shí)別的第二特征量；

所述的作為電弧故障識(shí)別的電流二維特征量是由電流相空間軌跡圖的信息維數(shù)特征值和電流零休時(shí)間特征值構(gòu)建而成；

所述的用于對(duì)電流二維特征量進(jìn)行分類(lèi)識(shí)別的非線(xiàn)性支持向量分類(lèi)機(jī)系統(tǒng)的構(gòu)建采用了徑向基核函數(shù)，其中懲罰因子C取值為2，徑向基核函數(shù)半徑γ取值為0.25。

與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明的有益效果是：通過(guò)對(duì)供配電線(xiàn)路電流進(jìn)行采樣，并計(jì)算提取電流波形的相空間特征和時(shí)域特征，以此構(gòu)建電流的二維特征量，利用支持向量分類(lèi)機(jī)系統(tǒng)通過(guò)對(duì)電流二維特征量的分類(lèi)識(shí)別計(jì)算，判定線(xiàn)路中是否出現(xiàn)串聯(lián)電弧故障。

通過(guò)大量的試驗(yàn)可以發(fā)現(xiàn)，當(dāng)線(xiàn)路所帶電氣負(fù)載的種類(lèi)不同時(shí)，無(wú)論供配電線(xiàn)路是處于正常運(yùn)行狀態(tài)還是處于電弧故障運(yùn)行狀態(tài)，線(xiàn)路電流都存在各自獨(dú)特的相空間特征與時(shí)域特征，因此可以通過(guò)試驗(yàn)手段提取出不同類(lèi)型電氣負(fù) 載分別處于線(xiàn)路正常運(yùn)行狀態(tài)和線(xiàn)路出現(xiàn)電弧故障運(yùn)行狀態(tài)時(shí)的電流相空間特征與時(shí)域特征，并以這兩個(gè)特征值構(gòu)建電流二維特征量，以大量的試驗(yàn)數(shù)據(jù)為支撐，組建各類(lèi)電氣負(fù)載在線(xiàn)路正常運(yùn)行狀態(tài)及線(xiàn)路出現(xiàn)電弧故障運(yùn)行狀態(tài)時(shí)的電流二維特征量數(shù)據(jù)庫(kù)，運(yùn)用非線(xiàn)性支持向量機(jī)分類(lèi)機(jī)系統(tǒng)對(duì)數(shù)據(jù)樣本進(jìn)行訓(xùn)練，獲得電弧故障支持向量機(jī)分類(lèi)機(jī)識(shí)別模型，進(jìn)而對(duì)配電線(xiàn)路中的電弧故障進(jìn)行識(shí)別與檢測(cè)。

附圖說(shuō)明：

圖1為線(xiàn)路電流采樣與計(jì)算分析系統(tǒng)框圖；

圖2為電流相空間軌跡圖信息維數(shù)計(jì)算流程圖；

圖3為非線(xiàn)性支持向量分類(lèi)機(jī)系統(tǒng)框圖

具體實(shí)施方式：

參考附圖對(duì)本發(fā)明進(jìn)行更進(jìn)一步詳細(xì)說(shuō)明。

本發(fā)明的線(xiàn)路電流采樣部分與電流的分析計(jì)算部分框圖如圖1所示，對(duì)被保護(hù)線(xiàn)路電流的采樣利用的是電流傳感器與精密采樣電阻相互配合，并將采集到的電流信號(hào)轉(zhuǎn)換成電壓信號(hào)，再經(jīng)過(guò)A/D轉(zhuǎn)換器將模擬電壓信號(hào)轉(zhuǎn)換成處理器芯片所能應(yīng)用的數(shù)字信號(hào)；該發(fā)明所述的系統(tǒng)能夠應(yīng)用于所帶功率不同的被保護(hù)線(xiàn)路中，由于線(xiàn)路中所承載的電流不盡相同，本發(fā)明中對(duì)所采集到的線(xiàn)路電流信號(hào)進(jìn)行歸一化處理，具體措施是：首先檢測(cè)線(xiàn)路正常帶載情況下的電流峰值，然后將系統(tǒng)所采集到的被保護(hù)線(xiàn)路的電流幅值除以線(xiàn)路正常帶載工作的電流峰值，這樣便獲得了電流峰值為單位1的正常線(xiàn)路帶載工作電流，當(dāng)系統(tǒng)采集到電弧故障電流信號(hào)時(shí)，也同樣按照相同比例進(jìn)行調(diào)整；以電流過(guò)零時(shí)刻為起始點(diǎn)截取電流波形，截取長(zhǎng)度為電流一個(gè)周期加上坐標(biāo)延遲時(shí)間2毫秒， 獲得的該時(shí)間段的電流波形分別用于計(jì)算電流相空間特征值和時(shí)域特征值，即電流相空間軌跡圖的信息維數(shù)和電流波形零休時(shí)間；以電流相空間特征值和時(shí)域特征值構(gòu)建電流二維特征量，并以大量的試驗(yàn)數(shù)據(jù)組建電流二維特征量數(shù)據(jù)庫(kù)；運(yùn)用非線(xiàn)性支持向量分類(lèi)機(jī)系統(tǒng)對(duì)電流二維特征量數(shù)據(jù)樣本進(jìn)行訓(xùn)練，建立電弧故障二維特征量分類(lèi)識(shí)別系統(tǒng)模型，進(jìn)而對(duì)采集到的線(xiàn)路電流進(jìn)行分類(lèi)識(shí)別，判斷線(xiàn)路中是否存在電弧故障。

電流相空間特征值的計(jì)算是以電流波形相空間軌跡圖為計(jì)算對(duì)象，電流波形相空間軌跡圖的獲得措施為：設(shè)定重構(gòu)的相空間橫坐標(biāo)為I_x＝i(t)，重構(gòu)的相空間縱坐標(biāo)為I_y＝i(t+Δt)，其中Δt為坐標(biāo)延遲時(shí)間，坐標(biāo)延遲時(shí)間的取值大小決定了重構(gòu)相空間吸引子軌跡的狀態(tài)，如果坐標(biāo)延遲時(shí)間選取的太小，重構(gòu)的吸引子軌跡將局限在很小的范圍內(nèi)，而沒(méi)有被完全的展開(kāi)，被測(cè)的電流時(shí)間序列數(shù)據(jù)中包含的很多的相空間特征沒(méi)有被充分的表達(dá)出來(lái)，而且此時(shí)對(duì)應(yīng)選取的嵌入維數(shù)過(guò)大，導(dǎo)致了該系統(tǒng)在測(cè)試過(guò)程中需要完成較大的數(shù)據(jù)計(jì)算工作，而且存在較大的誤差，如果坐標(biāo)延遲時(shí)間選取的太大，重構(gòu)的吸引子軌跡接近一個(gè)圓形，其包絡(luò)范圍過(guò)大，而且軌跡范圍幾乎平均分布在相空間平面圖的四個(gè)象限中且過(guò)于發(fā)散，被測(cè)數(shù)據(jù)所包含的相空間特征信息量雖然得到了擴(kuò)大，但是特征信息失真且辨識(shí)度降低。經(jīng)過(guò)多次實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證，坐標(biāo)延遲時(shí)間最優(yōu)取值為Δt＝2ms，對(duì)應(yīng)的嵌入維數(shù)為10。電流波形相空間軌跡圖信息維數(shù)的計(jì)算流程如圖2所示，具體措施如下：

(1)將一個(gè)512×512像素的電流相空間軌跡圖，由一個(gè)JPEG格式的圖像文件轉(zhuǎn)變?yōu)橐粋€(gè)二值圖像，該二值圖像以一個(gè)512階的數(shù)字方陣的形式存在，其中的元素由“0”和“1”組成，元素“0”表示二值分形圖像中分形軌跡所占有的像素點(diǎn)、元素“1”表示二值分形圖像中除分形軌跡以外的圖像空白處所占的 像素點(diǎn)；

(2)統(tǒng)計(jì)該二值圖像中圖形軌跡所占有的有效像素點(diǎn)的總數(shù)，也就是上一步保存的512階“0”、“1”數(shù)字方陣中元素“0”的個(gè)數(shù)，并將該值記為N_total；

(3)接著需要對(duì)該二值圖像進(jìn)行網(wǎng)格劃分，格子尺度的選擇根據(jù)關(guān)系式r(i)＝2^i-1(i＝1,2,3...10)進(jìn)行，選擇的結(jié)果為r＝1,2,4,8,16,32,64,128,256,512，這意味著對(duì)該二值圖像進(jìn)行網(wǎng)格處理時(shí)，即需要反復(fù)的進(jìn)行10次網(wǎng)格劃分，當(dāng)對(duì)二值圖像每完成一次網(wǎng)格劃分時(shí)，需要執(zhí)行下一步的運(yùn)算處理；

(4)每完成一次二值圖像的網(wǎng)格劃分，就需要查找能夠覆蓋二值分形圖像中分形軌跡的盒子，也就是包含了元素“0”的子矩陣網(wǎng)格，并為這些包含了元素“0”的子矩陣網(wǎng)格進(jìn)行編號(hào)，獲得一個(gè)覆蓋每個(gè)元素“0”的盒子編號(hào)集合L＝{l₁,l₂,l₃...l_M}，對(duì)包含元素“0”的盒子編號(hào)時(shí)，每出現(xiàn)一個(gè)元素“0”，就確定一個(gè)盒子編號(hào)，由于一個(gè)盒子可能包含多個(gè)元素“0”，所以集合L中可能會(huì)存在重復(fù)的盒子編號(hào)。

(5)接著將要對(duì)集合L中多次重復(fù)出現(xiàn)的盒子編號(hào)進(jìn)行刪除，只保留一個(gè)盒子編號(hào)，這樣便得到一個(gè)不包含重復(fù)元素的盒子編號(hào)集合L′＝{l₁,l₂,l₃...l_S}，接著需要計(jì)算L′集合中的每一個(gè)元素在L集合中出現(xiàn)的次數(shù)，這樣便獲得一個(gè)次數(shù)的集合N＝{N₁,N₂,N₃...N_S}；

(6)在網(wǎng)格邊長(zhǎng)(即盒子的尺度)為r(i)的條件下，計(jì)算覆蓋二值圖像像素點(diǎn)的所有網(wǎng)格的信息熵總和為：

(7)在依次選擇不同的網(wǎng)格邊長(zhǎng)r(i)的條件下，重復(fù)執(zhí)行步驟3、步驟4、步驟5和步驟6，這樣可以得到由十個(gè)數(shù)據(jù)對(duì)組成的一個(gè)序列(r(i),T_i)(i＝1,2,3,...10)；

(8)將序列(r(i),T_i)(i＝1,2,3,...10)轉(zhuǎn)移到雙對(duì)數(shù)坐標(biāo)系上表示，可以得到一個(gè)對(duì)數(shù)序列(ln r(i),ln T_i)(i＝1,2,3,...10)，然后利用分段逐漸的尋找法確定對(duì)數(shù)序列的分形對(duì)象無(wú)標(biāo)度區(qū)；

(9)最后在確定的分形對(duì)象無(wú)標(biāo)度區(qū)，利用最小二乘法的線(xiàn)性擬合功能對(duì)對(duì)數(shù)序列(ln r(i),ln T_i)(i＝1,2,3,...10)進(jìn)行線(xiàn)性擬合，那么，擬合得到的斜線(xiàn)斜率的負(fù)值即為電流相空間軌跡二值分形圖像的信息維數(shù)D_I。

電流波形的時(shí)序特征是以電流波形的零休時(shí)間為計(jì)算對(duì)象，電流波形的零休時(shí)間的計(jì)算措施是：以半個(gè)周期內(nèi)電流變化率di/dt出現(xiàn)首個(gè)極大值的時(shí)刻t₁開(kāi)始，并以該半個(gè)周期內(nèi)電流變化率di/dt出現(xiàn)下一個(gè)極大值的時(shí)刻t₂結(jié)束，所以電流的零休時(shí)段則為半個(gè)周期內(nèi)以電流變化率di/dt出現(xiàn)首個(gè)極大值時(shí)刻t₁開(kāi)始，以出現(xiàn)下一個(gè)極大值的時(shí)刻t₂結(jié)束，所以計(jì)算出的零休時(shí)間為t₀＝t₂-t₁。

電流二維特征量的構(gòu)建是以電流相空間軌跡圖的信息維數(shù)作為電流的相空間特征量，以電流波形的零休時(shí)間作為電流的時(shí)域特征量，進(jìn)而構(gòu)成的電流二維特征量。

本發(fā)明中的電弧故障分類(lèi)識(shí)別系統(tǒng)是運(yùn)用非線(xiàn)性支持向量機(jī)建立的分類(lèi)機(jī)系統(tǒng)，利用分類(lèi)機(jī)系統(tǒng)對(duì)電流二維特征量數(shù)據(jù)樣本進(jìn)行訓(xùn)練，形成支持向量機(jī)分類(lèi)機(jī)模型，非線(xiàn)性支持向量分類(lèi)機(jī)的系統(tǒng)框圖如圖3所示，具體措施如下：

(1)訓(xùn)練與測(cè)試數(shù)據(jù)樣本輸入

本發(fā)明中構(gòu)建的支持向量分類(lèi)機(jī)系統(tǒng)只針對(duì)本發(fā)明中所涉及的特定的電流二維特征量數(shù)據(jù)進(jìn)行運(yùn)算和分類(lèi)，系統(tǒng)輸入的訓(xùn)練與測(cè)試數(shù)據(jù)樣本均為二維空間量，并在每個(gè)數(shù)據(jù)樣本輸入的同時(shí)還要標(biāo)記出該組二維數(shù)據(jù)所屬的類(lèi)別以及數(shù)據(jù)的序號(hào)。

(2)訓(xùn)練數(shù)據(jù)的預(yù)處理

為了能夠盡可能的提高系統(tǒng)對(duì)數(shù)據(jù)樣本的訓(xùn)練速度，本發(fā)明在對(duì)輸入數(shù)據(jù)進(jìn)行訓(xùn)練之前，對(duì)數(shù)據(jù)樣本進(jìn)行了歸一化的預(yù)處理，將輸入的每一組數(shù)據(jù)都轉(zhuǎn)變?yōu)?1～+1之間的數(shù)，在完成數(shù)據(jù)的訓(xùn)練之后需要在輸出訓(xùn)練結(jié)果之前，將輸出數(shù)據(jù)進(jìn)行反歸一化處理，即還原數(shù)據(jù)的真實(shí)數(shù)值。

(3)算法訓(xùn)練

在對(duì)輸入數(shù)據(jù)進(jìn)行訓(xùn)練之前需要確定該非線(xiàn)性支持向量機(jī)為分類(lèi)機(jī)系統(tǒng)，所以需要在程序訓(xùn)練數(shù)據(jù)之前定義類(lèi)型，并且選擇了徑向基核函數(shù)作為分類(lèi)機(jī)的核函數(shù)，同時(shí)確定了懲罰因子C取值為2，徑向基核函數(shù)半徑γ取值為0.25，然后在利用該系統(tǒng)對(duì)輸入數(shù)據(jù)進(jìn)行訓(xùn)練。

(4)數(shù)據(jù)測(cè)試

運(yùn)用測(cè)試函數(shù)按訓(xùn)練后的算法實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)的測(cè)試和預(yù)估，并對(duì)各樣本數(shù)據(jù)的分類(lèi)結(jié)果進(jìn)行正確分類(lèi)率的統(tǒng)計(jì)，其中數(shù)值“1”代表分類(lèi)正確，數(shù)值“0”代表分類(lèi)錯(cuò)誤，并將測(cè)試結(jié)果以可視化形式表達(dá)出來(lái)。