技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明公開了一種測量晶體本征分辨率的實驗裝置，包括工作臺、放射檢測裝置、探測裝置和處理裝置，放射檢測裝置包括安裝座、放射源和第一探測器，安裝座包括X軸移動組件和Z軸移動組件，探測裝置包括兩個第二探測器和晶體陣列座。由于第一探測器的探測端與放射源之間可放置晶體片，使得第一探測器探測晶體片的閃爍光子，并將光信號轉(zhuǎn)化為第一電信號，處理器獲取第一電信號并將第一電信號與兩個電信號比較，判斷兩個第二探測器的探測是否準(zhǔn)確，并且放射檢測裝置包括X軸移動組件和Z軸移動組件能夠準(zhǔn)確調(diào)節(jié)放射源與晶體陣列的位置，提高了實驗的準(zhǔn)確性。

技術(shù)研發(fā)人員：張成祥;鄧新漢;楊永峰;李成;梁棟;劉新;鄭海榮
受保護的技術(shù)使用者：中國科學(xué)院深圳先進技術(shù)研究院
文檔號碼：201510919512
技術(shù)研發(fā)日：2015.12.10
技術(shù)公布日：2017.06.20