本實(shí)用新型涉及電路板檢測領(lǐng)域,尤其是涉及一種用于服裝裁剪設(shè)備的電路板檢測裝置。
背景技術(shù):
電路板故障的檢測分為人工檢測法和機(jī)器檢測法。人工檢測法存在檢測速度慢、容易漏檢、檢測時間長等缺陷,不能滿足生產(chǎn)需求。機(jī)器檢測法中只是通過檢測設(shè)備對電路板進(jìn)行一項(xiàng)檢測,不能有效的將合格的電路板和不合格的電路板區(qū)分開來,存在檢測效率低、檢測準(zhǔn)確度低等問題。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:
有鑒于此,本實(shí)用新型主要目的在于提供一種結(jié)構(gòu)簡單、檢測精度高的用于服裝裁剪設(shè)備的電路板檢測裝置,尤其適合對電路板進(jìn)行檢測。
為實(shí)現(xiàn)上述目的,本實(shí)用新型提供了一種用于服裝裁剪設(shè)備的電路板檢測裝置,包括上料傳送帶、第一檢測裝置、第二檢測裝置、推送裝置、出料傳送帶和控制器,所述上料傳送帶的出口位于第二檢測裝置的前方,所述第一檢測裝置位于上料傳送帶的上方且靠近第二檢測裝置處,所述上料傳送帶的一端設(shè)有一個第一推送裝置,所述上料傳送帶的另一端設(shè)有一個第二推送裝置,這兩個推送裝置均用于將第二檢測裝置檢測后的電路板推送到出料傳送帶上,所述出料傳送帶為兩個,分別為第一出料傳送帶和第二出料傳送帶,這兩個出料傳送帶均位于第二檢測裝置的后端且分別與兩個推送裝置相對應(yīng);
所述第一檢測裝置包括機(jī)架、傳感器和檢測機(jī)構(gòu),所述機(jī)架上設(shè)有用于檢測電路板的檢測機(jī)構(gòu),所述機(jī)架上檢測機(jī)構(gòu)的前方設(shè)有用于感應(yīng)電路板的傳感器,所述機(jī)架與氣缸相連,氣缸帶動機(jī)架做上、下移動,使檢測機(jī)構(gòu)與電路板接觸,進(jìn)行電路板的檢測;
所述第二檢測裝置包括旋轉(zhuǎn)底座,所述旋轉(zhuǎn)底座的正上方設(shè)有檢測架,所述檢測架上設(shè)有多個影像傳感器,用以感測并獲取電路板的影像數(shù)據(jù),所述影像傳感器與數(shù)據(jù)處理器相連,用以比對待測電路板與標(biāo)準(zhǔn)電路板的差異;
所述控制器分別與所述上料傳送帶、傳感器、第一檢測裝置中的檢測機(jī)構(gòu)、數(shù)據(jù)處理器和推送裝置中推送臂的氣缸相連,所述控制器接收第一檢測裝置和第二檢測裝置的檢測數(shù)據(jù),若電路板合格,則控制器控制第一推送裝置將電路板推送到第一出料傳送帶上,若電路板不合格,則控制器控制第二推送裝置將電路板推送到第二出料傳送帶上。
進(jìn)一步的,所述推送裝置包括機(jī)體,所述機(jī)體內(nèi)設(shè)有滑道,所述滑道上設(shè)有推送臂,所述推送臂與氣缸相連,所述推送臂上設(shè)有一個凹槽,推送時, 推送臂的凹槽與電路板的一角接觸,可以更平穩(wěn)的將電路板推送到出料傳送帶。
進(jìn)一步的,所述第二檢測裝置中的影像傳感器為四個,所述影像傳感器為CMOS影像傳感器。
本實(shí)用新型具有的優(yōu)點(diǎn)和積極效果是:由于采用上述技術(shù)方案,通過第一檢測裝置和第二檢測裝置對電路板進(jìn)行兩次檢測,提高檢測的準(zhǔn)確率,通過兩個推送裝置和兩個出料傳送帶可以使合格的電路板與不合格的電路板分開傳送,提高檢測效率;具有結(jié)構(gòu)簡單、使用方便、檢測效率高等優(yōu)點(diǎn)。
附圖說明
圖1是本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖2是本實(shí)用新型中推送裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。
圖中:
1、上料傳送帶 2、機(jī)架 3、旋轉(zhuǎn)底座
4、第一推送裝置 5、第二推送裝置 6、第一出料傳送帶
7、第二出料傳送帶 8、傳感器 9、檢測架
10、CMOS影像傳感器 11、推送臂 12、機(jī)體
13、滑道
具體實(shí)施方式
如圖1和2所示,本實(shí)用新型一種用于服裝裁剪設(shè)備的電路板檢測裝置,包括上料傳送帶1、第一檢測裝置、第二檢測裝置、推送裝置、出料傳送帶和控制器,所述上料傳送帶1的出口位于第二檢測裝置的前方,所述第一檢測裝置位于上料傳送帶1的上方且靠近第二檢測裝置處,所述上料傳送帶1的一端設(shè)有一個第一推送裝置4,所述上料傳送帶1的另一端設(shè)有一個第二推送裝置5,這兩個推送裝置均用于將第二檢測裝置檢測后的電路板推送到出料傳送帶上,所述出料傳送帶為兩個,分別為第一出料傳送帶6和第二出料傳送帶7,這兩個出料傳送帶均位于第二檢測裝置的后端且分別與兩個推送裝置相對應(yīng);所述第一檢測裝置包括機(jī)架2、傳感器8和檢測機(jī)構(gòu),所述機(jī)架2上設(shè)有用于檢測電路板的檢測機(jī)構(gòu),所述機(jī)架2上檢測機(jī)構(gòu)的前方設(shè)有用于感應(yīng)電路板的傳感器8,所述機(jī)架2與氣缸相連,氣缸帶動機(jī)架做上、下移動,使檢測機(jī)構(gòu)與電路板接觸,進(jìn)行電路板的檢測;所述第二檢測裝置包括旋轉(zhuǎn)底座3,所述旋轉(zhuǎn)底座3的正上方設(shè)有檢測架9,所述檢測架9上設(shè)有四個CMOS影像傳感器10,用以感測并獲取電路板的影像數(shù)據(jù),所述CMOS影像傳感器10與數(shù)據(jù)處理器相連,用以比對待測電路板與標(biāo)準(zhǔn)電路板的差異;所述控制器分別與所述上料傳送帶1、傳感器8、第一檢測裝置中的檢測機(jī)構(gòu)、數(shù)據(jù)處理器和推送裝置中推送臂11的氣缸相連,所述控制器接收第一檢測裝置和第二檢測裝置的檢測數(shù)據(jù),若電路板合格,則控制器控制第一推送裝置4將電路板推送到第一出料傳送帶6上,若電路板不合格,則控 制器控制第二推送裝置5將電路板推送到第二出料傳送帶7上。
進(jìn)一步的,所述推送裝置包括機(jī)體12,所述機(jī)體12內(nèi)設(shè)有滑道13,所述滑道13上設(shè)有推送臂11,所述推送臂11與氣缸相連,所述推送臂11上設(shè)有一個凹槽,推送時,推送臂11的凹槽與電路板的一角接觸,可以更平穩(wěn)的將電路板推送到出料傳送帶。
本實(shí)例的工作過程:工作時,控制器控制上料傳送帶1將待檢測的電路板傳送到第二檢測裝置的旋轉(zhuǎn)底座3上,在電路板傳送到旋轉(zhuǎn)底座3之前,第一檢測裝置中的傳感器8檢測到電路板后,控制器控制上料傳送帶1停止傳送,第一檢測裝置中的氣缸帶動機(jī)架2做上、下移動,使檢測機(jī)構(gòu)與電路板接觸,進(jìn)行電路板的檢測,檢測完成后,控制器控制上料傳送帶1將電路板傳送到第二檢測裝置的旋轉(zhuǎn)底座3上,旋轉(zhuǎn)底座3正上方的檢測架9中的四個CMOS影像傳感器10,用以感測并獲取電路板的影像數(shù)據(jù),CMOS影像傳感器10與數(shù)據(jù)處理器相連,用以比對待測電路板與標(biāo)準(zhǔn)電路板的差異,旋轉(zhuǎn)底座3可以進(jìn)行旋轉(zhuǎn)使四個CMOS影像傳感器10采集電路板的不同影像與數(shù)據(jù)處理器中的數(shù)據(jù)進(jìn)行比對,檢測完成后,若電路板合格,則控制器控制第一推送裝置4將電路板推送到第一出料傳送帶6上,若電路板不合格,則控制器控制第二推送裝置5將電路板推送到第二出料傳送帶7上,即可對合格與不合格的電路板進(jìn)行分離。
以上所述僅為本實(shí)用新型的較佳實(shí)施例而已,并不用以限制本實(shí)用新型,凡在本實(shí)用新型的精神和原則之內(nèi),所作的任何修改、等同替換、改進(jìn)等,均應(yīng)包含在本實(shí)用新型的保護(hù)范圍之內(nèi)。