本發(fā)明是有關(guān)于一種發(fā)光二極體的光學(xué)檢測(cè)裝置，且特別有關(guān)于一種用于檢測(cè)發(fā)光二極體發(fā)光強(qiáng)度的檢測(cè)裝置。

背景技術(shù)：

發(fā)光二極體的結(jié)構(gòu)有水平式、垂直式以及覆晶式三種。水平式發(fā)光二極體中，其兩個(gè)電極是設(shè)置于發(fā)光層之上，因此發(fā)光層受到電極的遮蔽而降低了發(fā)射光源的面積，便降低了其發(fā)光效率。同樣地，垂直式發(fā)光二極體的其中一個(gè)電極覆蓋在發(fā)光層上，亦降低了發(fā)光效率。相對(duì)地，覆晶式發(fā)光二極體的兩個(gè)電極與發(fā)光層是設(shè)置于基板的兩個(gè)相反面上，亦即，發(fā)光層不會(huì)受到電極的影響，因而使覆晶式發(fā)光二極體具有三種結(jié)構(gòu)中最佳的發(fā)光效率。同時(shí)，覆晶式發(fā)光二極體還具有較小的熱衰退，相當(dāng)適合用于發(fā)光二極體照明元件。

一般而言，發(fā)光二極體晶粒必須先通過(guò)測(cè)試后才能進(jìn)行實(shí)際的應(yīng)用，發(fā)光二極體的測(cè)試流程是將載有發(fā)光二極體的晶圓展開(kāi)后承載于一檢測(cè)裝置的載具上，接著以探針接觸電極并通以電流使得發(fā)光二極體發(fā)光，再透過(guò)收光器(例如積分球或太陽(yáng)能電池)檢測(cè)發(fā)光特性，并藉由探針檢測(cè)發(fā)光二極體的電性。

請(qǐng)參閱圖1a，其顯示的是一種習(xí)知發(fā)光二極體的光學(xué)檢測(cè)裝置100。此習(xí)知發(fā)光二極體的檢測(cè)裝置100包括一載具110、一收光器120及一光偵測(cè)器130。載具110包括一承載臺(tái)(chuck)140以及一支撐體(holder)150支撐承載臺(tái)140，該支撐體150表面具有一真空孔155。一擴(kuò)張膜180(例如藍(lán)膜或白膜)用以貼附復(fù)數(shù)待檢測(cè)的發(fā)光二極體170于其表面上并可經(jīng)擴(kuò)晶步驟使擴(kuò)張膜180表面的復(fù)數(shù)待檢測(cè)的發(fā)光二極體170彼此以預(yù)定的距離互相間隔，一夾持內(nèi)環(huán)160a與一夾持外環(huán)160b夾持?jǐn)U張膜180并且固定于支撐體150外。一抽氣裝置(未顯示)連通該真空孔155以將該載具與該擴(kuò)張膜180之間的氣體抽出，使擴(kuò)張膜180吸附于承載臺(tái)140表面。測(cè)試時(shí)，二點(diǎn)測(cè)器190分別連接發(fā)光二極體170表面的正電極175a及負(fù)電極175b并點(diǎn)亮發(fā)光二極體170，使檢測(cè)中的發(fā)光二極體170所發(fā)出的光由收光器120的收光端125射入，然后再將收光器120所收集到的光線傳送到與收光器120連接的光偵測(cè)器130以進(jìn)行光學(xué)檢測(cè)。

請(qǐng)參照?qǐng)D1b，當(dāng)使用該習(xí)知用于發(fā)光二極體的光學(xué)檢測(cè)裝置100自真空孔155抽氣時(shí)，位于真空孔155上的擴(kuò)張膜180會(huì)因距離真空孔155較近而迅速貼附于真空孔155，并直接阻擋真空孔155，使得位于承載臺(tái)140與擴(kuò)張膜180之間的空氣無(wú)法順利排出，進(jìn)而造成擴(kuò)張膜180無(wú)法平整貼附于承載臺(tái)140表面，導(dǎo)致點(diǎn)測(cè)器190在檢測(cè)每一發(fā)光二極體170時(shí)，上下針的距離必須拉長(zhǎng)才能降低載具110移動(dòng)時(shí)造成發(fā)光二極體170被點(diǎn)測(cè)器190刮傷的機(jī)率，造成檢測(cè)速度降低。此外，擴(kuò)張膜180無(wú)法平整貼附于承載臺(tái)140表面也將造成點(diǎn)測(cè)器190在下針時(shí)滑動(dòng)，或發(fā)光二極體170容易發(fā)生位移或旋轉(zhuǎn)而導(dǎo)致量測(cè)時(shí)電性不穩(wěn)。

有鑒于此，本發(fā)明乃揭露一種適用于發(fā)光二極體的光學(xué)檢測(cè)裝置，藉以改善上述習(xí)知用于發(fā)光二極體的光學(xué)檢測(cè)裝置的缺點(diǎn)。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本發(fā)明之一特征是提供一種發(fā)光二極體的光學(xué)檢測(cè)裝置，包括：一載具，包括：一承載臺(tái)，用以承載待檢測(cè)的發(fā)光二極體，該承載臺(tái)具有一第一表面及與該第一表面相對(duì)的一第二表面；一支撐體，連接于該承載臺(tái)，且該支撐體具有一凸部凸伸于該承載臺(tái)的第一表面，以使該支撐體及該承載臺(tái)共同圍設(shè)形成一凹穴；一第一真空孔，設(shè)于該支撐體，且該第一真空孔與該凹穴連通；以及一收光器，是朝向該承載臺(tái)設(shè)置。

根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例，其中該第一真空孔設(shè)置于該支撐體的凸部。

根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例，其中該凸部設(shè)有一側(cè)表面，該側(cè)表面是環(huán)繞該凹穴，該第一真空孔設(shè)于該側(cè)表面。

根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例，其中該凸部是設(shè)有一上表面，該上表面為凸伸于該承載臺(tái)且遠(yuǎn)離該第一表面的一表面，其中，更包括一第二真空孔，該第二真空孔是設(shè)置于該凸部的該上表面。

根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例，其中該支撐體包含一本體及一延伸部，該凸部設(shè)于該本體，該延伸部連接該本體及該承載臺(tái)，且該第一真空孔是設(shè)于該延伸部。

根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例，其中該本體及該承載臺(tái)之間具有一間隙，該間隙與該凹穴相連通。

根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例，其中該支撐體是環(huán)繞于該承載臺(tái)。

根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例，其中該第一真空孔環(huán)設(shè)于該支撐體。

根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例，其中該第一真空孔的數(shù)量為數(shù)個(gè)，相鄰的兩個(gè)第一真空孔之間是以一隔墻相分離。

根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例，其中該承載臺(tái)為透明，且該收光器朝向該承載臺(tái)的第二表面設(shè)置。

附圖說(shuō)明

圖1a～1b繪示的是習(xí)知一種發(fā)光二極體的光學(xué)檢測(cè)裝置剖面示意圖。

圖2a繪示的是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例一的發(fā)光二極體光學(xué)檢測(cè)裝置。

圖2b、2d、2e繪示的是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例一的發(fā)光二極體光學(xué)檢測(cè)裝置的載具剖面示意圖。

圖2c繪示的是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例一的發(fā)光二極體光學(xué)檢測(cè)裝置的載具俯視圖。

圖3a～3b繪示的是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例二的發(fā)光二極體光學(xué)檢測(cè)裝置的載具剖面示意圖。

圖4a～4b繪示的是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例三的發(fā)光二極體光學(xué)檢測(cè)裝置的載具剖面示意圖。

圖5a～5b繪示的是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例四的發(fā)光二極體光學(xué)檢測(cè)裝置的承載臺(tái)示意圖。

圖6a～6b繪示的是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例五的發(fā)光二極體光學(xué)檢測(cè)裝置的承載臺(tái)示意圖。

圖7a～7c繪示的是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例六的發(fā)光二極體光學(xué)檢測(cè)裝置的承載臺(tái)示意圖。

圖8a～8c繪示的是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例七、八的發(fā)光二極體光學(xué)檢測(cè)裝置的剖面示意圖。

圖9繪示的是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例九的發(fā)光二極體光學(xué)檢測(cè)裝置的剖面示意圖。

【符號(hào)說(shuō)明】

100習(xí)知發(fā)光二極體光學(xué)檢測(cè)裝置

200、800、800′、800″發(fā)光二極體光學(xué)檢測(cè)裝置

110、210、310、410載具

120、220、720、820收光器

125、225、725、825收光端

130、230、730、830光偵測(cè)器

140、240、340、440、540、640、740承載臺(tái)

150、250、350、450支撐體

155真空孔

160a夾持內(nèi)環(huán)

160b夾持外環(huán)

170、270、370、470、570、670、770發(fā)光二極體

175a、275a、375a、475a、575a、675a、775a正電極

175b、275b、375b、475b、575b、675b、775b負(fù)電極

180、280、380、480、580、680、780擴(kuò)張膜

190、290、390、490、590、690、790點(diǎn)測(cè)器

240a、340a、440a、540a、640a、740a第一表面

240b、340b、440b、540b、640b、740b第二表面

250a、350a、450a側(cè)表面

350b、450b上表面

251、351、451凸部

255、355a第一真空孔

256隔墻

355b第二真空孔

260、360、460凹穴

262a、362a、462a夾持內(nèi)環(huán)

262b、362b、462b夾持外環(huán)

271發(fā)光面

452本體

453延伸部

454間隙

455c第三真空孔

541、641、741第一區(qū)域

542、642、742第二區(qū)域

671第一發(fā)光二極體

672第二發(fā)光二極體

673第三發(fā)光二極體

781反射腔

783反射層

784導(dǎo)光元件

784a集光端

826出光端

850波長(zhǎng)轉(zhuǎn)換元件

850a第一波長(zhǎng)轉(zhuǎn)換件

850b第二波長(zhǎng)轉(zhuǎn)換件

850c第三波長(zhǎng)轉(zhuǎn)換件

850d第四波長(zhǎng)轉(zhuǎn)換件

850e第五波長(zhǎng)轉(zhuǎn)換件

850f第六波長(zhǎng)轉(zhuǎn)換件

d1走道

具體實(shí)施方式

以下將詳細(xì)說(shuō)明本發(fā)明實(shí)施例的制作與使用方式。然應(yīng)注意的是，本發(fā)明提供許多可供應(yīng)用的發(fā)明概念，其可以多種特定形式實(shí)施。文中雖然以發(fā)光二極體元件作為舉例討論之特定實(shí)施例，然其僅為制造與使用本發(fā)明的特定方式，非用以限制本發(fā)明的范圍，任何具有相似結(jié)構(gòu)的半導(dǎo)體元件也可適用于本發(fā)明。

實(shí)施例一：

以下將配合圖2a～2e繪示的剖面示意圖，說(shuō)明根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例一的發(fā)光二極體光學(xué)檢測(cè)裝置。

首先，請(qǐng)參照?qǐng)D2a，其顯示的是本發(fā)明實(shí)施例一的發(fā)光二極體的光學(xué)檢測(cè)裝置200，光學(xué)檢測(cè)裝置200包括一載具210及一收光器220，并且較佳另包含一光偵測(cè)器230及一點(diǎn)測(cè)器290。載具210包括一承載臺(tái)(chuck)240以及一支撐體(holder)250支撐承載臺(tái)240，該承載臺(tái)240是用以承載待測(cè)的發(fā)光二極體270，該支撐體250設(shè)有一第一真空孔255，且該光偵測(cè)器230及該點(diǎn)測(cè)器290是朝向該承載臺(tái)240設(shè)置。

請(qǐng)參照?qǐng)D2b及圖2c，其中圖2b繪示的是本實(shí)施例的發(fā)光二極體光學(xué)檢測(cè)裝置中的載具210的剖面圖，而圖2c繪示的本實(shí)施例的發(fā)光二極體光學(xué)檢測(cè)裝置中的載具210的俯視圖，其中，圖2b為沿圖2c的剖面線b-b’所呈現(xiàn)的剖面圖。

請(qǐng)先參照?qǐng)D2b所示，該承載臺(tái)240具有一第一表面240a及一第二表面240b，該第一表面240a是與該第二表面240b相對(duì)，該第一表面240a是用以承載待測(cè)的發(fā)光二極體270。該承載臺(tái)240的材質(zhì)可以為透明或不透明，本實(shí)施例中的承載臺(tái)240是呈現(xiàn)透明，使光得以穿過(guò)該承載臺(tái)240，藉此檢測(cè)覆晶式發(fā)光二極體的發(fā)光特性。本實(shí)施例的承載臺(tái)240為以透明的石英所構(gòu)成，在本發(fā)明的其他實(shí)施例中，承載臺(tái)240的材質(zhì)也可選用透明的壓克力或玻璃。該支撐體250是圍繞承載臺(tái)240并具有一凸部251，該凸部251是凸出于該承載臺(tái)240的第一表面240a，使該支撐體250的凸部251與該承載臺(tái)240的第一表面240a共同界定一凹穴260。該凸部251具有一側(cè)表面250a，且該側(cè)表面250a是朝向并環(huán)繞于該凹穴260，該第一真空孔255連通于該凹穴260，且本實(shí)施例的該第一真空孔255設(shè)于該側(cè)表面250a。

另請(qǐng)參照?qǐng)D2c，在本實(shí)施例的發(fā)光二極體的光學(xué)檢測(cè)裝置是包含數(shù)個(gè)第一真空孔255，并且相鄰的兩個(gè)第一真空孔255之間是以一隔墻256相分隔，該數(shù)個(gè)第一真空孔255是排列且環(huán)設(shè)于該支撐體250，各該第一真空孔255可為一圓形并具有一孔徑例如約2mm；而在本發(fā)明的其他實(shí)施例中，第一真空孔255是包含寬度約2mm的一長(zhǎng)方形氣孔，該長(zhǎng)方形氣孔是環(huán)設(shè)于該支撐體250。

請(qǐng)參照?qǐng)D2d及2e，此為本發(fā)明一實(shí)施例的發(fā)光二極體光學(xué)檢測(cè)裝置使用示意圖。其中是將復(fù)數(shù)待檢測(cè)的發(fā)光二極體270貼附于擴(kuò)張膜280，擴(kuò)張膜280是以?shī)A持內(nèi)環(huán)262a與夾持外環(huán)262b共同固定于支撐體250。本實(shí)施例中所用的擴(kuò)張膜280，其材質(zhì)是藍(lán)膜，在根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例中，擴(kuò)張膜280的材質(zhì)可選用白膜、解膠膜(uvreleasetape)或聚苯二甲酸乙二酯(pet)。此外，為使發(fā)光二極體270在量測(cè)時(shí)的收光角度變大，可先經(jīng)擴(kuò)晶步驟使擴(kuò)張膜280表面復(fù)數(shù)待檢測(cè)的發(fā)光二極體270彼此以預(yù)定的距離互相間隔后，再固定于夾持內(nèi)環(huán)262a與夾持外環(huán)262b之間，然后再將夾持內(nèi)環(huán)262a與夾持外環(huán)262b置放于載具210。藉由連通于該第一真空孔255的一抽氣裝置(未顯示)對(duì)支撐體250的第一真空孔255抽氣，使承載臺(tái)240與擴(kuò)張膜280之間的空氣被抽離，進(jìn)而使涵蓋復(fù)數(shù)個(gè)待檢測(cè)發(fā)光二極體270的擴(kuò)張膜280因受負(fù)壓而平整地吸附于承載臺(tái)240表面，如圖2e所示。

請(qǐng)參照?qǐng)D2a，當(dāng)使用光學(xué)檢測(cè)裝置200進(jìn)行發(fā)光二極體的光學(xué)檢測(cè)時(shí)，將該收光器220朝向該承載臺(tái)240的第一表面240a或第二表面240b設(shè)置，并以點(diǎn)測(cè)器290逐一通電流至每一個(gè)發(fā)光二極體270表面的正、負(fù)電極275a、275b，以依序點(diǎn)亮每一個(gè)發(fā)光二極體晶粒270，并且使檢測(cè)中的發(fā)光二極體270所發(fā)出的光透過(guò)收光端225進(jìn)入收光器220內(nèi)，最后再將收光器220所收集到的光線傳送到與收光器220連接的光偵測(cè)器230進(jìn)行后續(xù)光學(xué)檢測(cè)，該光偵測(cè)器230可以為一光譜儀，該點(diǎn)測(cè)器290可以為兩個(gè)探針，在檢測(cè)時(shí)分別連接于發(fā)光二極體270的正電極275a及負(fù)電極275b。當(dāng)該發(fā)光二極體為覆晶式發(fā)光二極體時(shí)，該收光器230的收光端225是朝向該第二表面240a設(shè)置，且該承載臺(tái)240為透明，使覆晶式發(fā)光二極體所發(fā)出的光是向下穿透承載臺(tái)240，以到達(dá)位于該承載臺(tái)240下方的收光器220以檢測(cè)，而當(dāng)該發(fā)光二極體270為水平式或垂直式發(fā)光二極體時(shí)，則該收光器220可以朝向該承載臺(tái)240的第一表面240a或第二表面240b，以于適當(dāng)方向進(jìn)行收光。

實(shí)施例二：

以下將配合圖3a及3b說(shuō)明一種適用于根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例二的發(fā)光二極體光學(xué)檢測(cè)裝置的載具剖面示意圖。

首先，請(qǐng)參照?qǐng)D3a，其顯示的是另一個(gè)適用于根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例二的發(fā)光二極體的光學(xué)檢測(cè)裝置的載具310。載具310大抵與實(shí)施例一的載具210相似，均包括一承載臺(tái)340及一支撐體350支撐承載臺(tái)340。該承載臺(tái)340具有一第一表面340a及一第二表面340b，該第一表面340a是與該第二表面340b相對(duì)，該第一表面340a是用以承載待測(cè)的發(fā)光二極體。該承載臺(tái)340的材質(zhì)可以為透明或不透明，本實(shí)施例中的承載臺(tái)340的材質(zhì)是由透明石英所構(gòu)成，在根據(jù)本發(fā)明的其他實(shí)施例中，承載臺(tái)340的材質(zhì)也可選用透明的壓克力或玻璃。

該支撐體350是圍繞承載臺(tái)340并具有一凸部351，該凸部351是凸出于該承載臺(tái)340的第一表面340a，使該支撐體350的凸部351與該承載臺(tái)340的第一表面340a共同界定一凹穴360，該凸部351具有一側(cè)表面350a，側(cè)表面350a是朝向并環(huán)繞于該凹穴360，且該第一真空孔255設(shè)于該側(cè)表面350a而朝向該凹穴360并連通于該凹穴360。本實(shí)施例的該凸部351另包含一上表面350b，該上表面350b為凸伸于該承載臺(tái)340且遠(yuǎn)離該第一表面340a的一表面，且該上表面350b與該側(cè)表面350a相連接，本實(shí)施例的支撐體350除了有設(shè)于該凸部351的側(cè)表面350a的第一真空孔355a外，另設(shè)有第二真空孔355b，且該第二真空孔355b設(shè)于該凸部351的上表面350b。在一實(shí)施例中，該支撐體350是設(shè)有數(shù)個(gè)第一真空孔355a及/或數(shù)個(gè)第二真空孔355b，且第一真空孔355a及/或第二真空孔355b的孔徑大小約2mm，而在根據(jù)本發(fā)明的其他實(shí)施例中，兩個(gè)相鄰第一真空孔355a及/或兩個(gè)相鄰第二真空孔355b之間具有一隔墻(圖未示)，且數(shù)個(gè)第一真空孔355a及/或第二真空孔355b是環(huán)繞該凹穴360。

請(qǐng)參照?qǐng)D3b所示，利用本發(fā)明一實(shí)施例的發(fā)光二極體光學(xué)檢測(cè)裝置檢測(cè)時(shí)，先提供一表面包括有復(fù)數(shù)待檢測(cè)的發(fā)光二極體370的擴(kuò)張膜380，并固定于夾持內(nèi)環(huán)362a與夾持外環(huán)362b之間，然后再將夾持內(nèi)環(huán)362a與夾持外環(huán)362b置放于載具310上，且?jiàn)A持內(nèi)環(huán)362a與夾持外環(huán)362b是環(huán)繞于支撐體350外。本實(shí)施例于支撐體350設(shè)有第二真空孔355b是能夠提高表面包括有復(fù)數(shù)待檢測(cè)發(fā)光二極體370的擴(kuò)張膜380被負(fù)壓吸附到承載臺(tái)340的吸附速率及均勻度。此外，為使發(fā)光二極體370在量測(cè)時(shí)的收光角度變大，可先經(jīng)擴(kuò)晶手續(xù)使擴(kuò)張膜380表面的復(fù)數(shù)檢測(cè)的發(fā)光二極體370彼此以預(yù)定的距離互相間隔后，再固定于夾持內(nèi)環(huán)362a與夾持外環(huán)362b之間，然后再將夾持內(nèi)環(huán)362a與夾持外環(huán)362b置放于載具310上進(jìn)行后續(xù)光學(xué)量測(cè)。

接著，藉由與支撐體350連接的一抽氣裝置(未顯示)對(duì)支撐體350的第一真空孔355a及第二真空孔355b抽氣，使承載臺(tái)340與擴(kuò)張膜380之間的空氣被抽離，進(jìn)而使涵蓋復(fù)數(shù)待檢測(cè)發(fā)光二極體370的擴(kuò)張膜380被負(fù)壓均勻地吸附于承載臺(tái)340的第一表面340a，然后再以點(diǎn)測(cè)器390逐一連接每一個(gè)發(fā)光二極體370表面的正、負(fù)電極375a、375b，依序點(diǎn)亮每一個(gè)發(fā)光二極體370，并且使檢測(cè)中的發(fā)光二極體370所發(fā)出的光向下穿透承載臺(tái)340，再如實(shí)施例一所述般，進(jìn)入位在載具310下方的收光器(未顯示)及與收光器連接的光偵測(cè)器(未顯示)，進(jìn)行后續(xù)光學(xué)檢測(cè)。

實(shí)施例三：

以下將配合圖4a～4b說(shuō)明一種適用于根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例三的發(fā)光二極體光學(xué)檢測(cè)裝置的載具剖面示意圖。

首先，請(qǐng)參照?qǐng)D4a，其顯示的是另一個(gè)適用于根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例三的發(fā)光二極體光學(xué)檢測(cè)裝置的載具410。載具410大抵與實(shí)施例一的載具210相似，均包括一承載臺(tái)440及一支撐體450支撐承載臺(tái)440，該承載臺(tái)440具有一第一表面440a及一第二表面440b，該第一表面440a是與該第二表面440b相對(duì)，該第一表面440a是用以承載待測(cè)的發(fā)光二極體。該承載臺(tái)440的材質(zhì)可以為透明或不透明，本實(shí)施例中的承載臺(tái)440的材質(zhì)是由透明石英所構(gòu)成，在根據(jù)本發(fā)明的其他實(shí)施例中，承載臺(tái)440的材質(zhì)也可選用透明的壓克力或玻璃。

該支撐體450是圍繞承載臺(tái)440并具有一凸部451，該凸部451是凸出于該承載臺(tái)440的第一表面440a，使該支撐體450的凸部451與該承載臺(tái)440的第一表面440a共同界定一凹穴460，且一第三真空孔455c是設(shè)于該支撐體450上。詳而言之，該支撐體450是具有一本體452及一延伸部453，該凸部451是設(shè)于該本體452，該延伸部453連接于該本體452并朝向承載臺(tái)440的方向延伸，使該本體452與該承載臺(tái)440之間以該延伸部453相連接，使該本體452與該承載臺(tái)440隔開(kāi)一間隙454，該間隙454與該凹穴460相連通，其中，一第三真空孔455c設(shè)于該延伸部453并連通于該凹穴460。

此外，本實(shí)施例的載具410中具有數(shù)個(gè)第三真空孔455c，且相鄰的兩個(gè)第三真空孔455c之間隙設(shè)有一隔墻(圖未示)，且數(shù)個(gè)第三真空孔455c環(huán)設(shè)于該承載臺(tái)440的外周緣，該第三真空孔455c的孔徑大小約2mm；而在根據(jù)本發(fā)明的其他實(shí)施例中，該載具410僅設(shè)有一個(gè)第三真空孔455c，且該第三真空孔455c環(huán)設(shè)于該承載臺(tái)440的外周緣，第三真空孔355c呈現(xiàn)寬度約2mm的隙縫狀。

請(qǐng)參照?qǐng)D4b所示，利用本發(fā)明一實(shí)施例的發(fā)光二極體光學(xué)檢測(cè)裝置檢測(cè)時(shí)，先提供一表面包括有復(fù)數(shù)待檢測(cè)發(fā)光二極體470的擴(kuò)張膜480，并固定于夾持內(nèi)環(huán)462a與夾持外環(huán)462b之間，再將夾持內(nèi)環(huán)462a與夾持外環(huán)462b置放于載具410上，且?jiàn)A持內(nèi)環(huán)462a與夾持外環(huán)462b是環(huán)繞于支撐體(holder)450外。此外，為使發(fā)光二極體470在量測(cè)時(shí)的收光角度變大，可先經(jīng)擴(kuò)晶手續(xù)使擴(kuò)張膜480表面的復(fù)數(shù)待檢測(cè)發(fā)光二極體470彼此以預(yù)定的距離互相間隔后，再固定于夾持內(nèi)環(huán)462a與夾持外環(huán)462b之間，然后再置放于載具410上進(jìn)行后續(xù)光學(xué)量測(cè)。

接著，藉由一與支撐體450連接的抽氣裝置(未顯示)對(duì)第三真空孔455c抽氣，使承載臺(tái)440與擴(kuò)張膜480之間的空氣被抽離，進(jìn)而使涵蓋復(fù)數(shù)待檢測(cè)的發(fā)光二極體470擴(kuò)張膜480被負(fù)壓均勻地吸附于承載臺(tái)440表面，然后再以點(diǎn)測(cè)器490逐一連接每一個(gè)發(fā)光二極體470表面的正、負(fù)電極475a、475b，點(diǎn)亮每一個(gè)發(fā)光二極體470，并且使發(fā)光二極體470所發(fā)出的光向下穿透承載臺(tái)440，再如實(shí)施例一所述般，進(jìn)入位在載具410下方的收光器(未顯示)及與收光器連接的光偵測(cè)器(未顯示)，進(jìn)行后續(xù)光學(xué)檢測(cè)。

實(shí)施例四：

以下將配合圖5a～5b說(shuō)明根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例四的發(fā)光二極體光學(xué)檢測(cè)裝置的載具中的承載臺(tái)示意圖。

首先，請(qǐng)參照?qǐng)D5a，此為利用本發(fā)明實(shí)施例四的承載臺(tái)540量測(cè)待檢測(cè)的發(fā)光二極體570時(shí)的俯視圖，承載臺(tái)540可以適用于如實(shí)施例一至三中的發(fā)光二極體光學(xué)檢測(cè)裝置的載具210、310、410，并取代其對(duì)應(yīng)的承載臺(tái)240、340、440。該承載臺(tái)540包括一種可控制光穿透度的材質(zhì)，使該承載臺(tái)540的局部或全部區(qū)域的透光度具可調(diào)變性，例如在量測(cè)待檢測(cè)的發(fā)光二極體570時(shí)，該承載臺(tái)540包含一第一區(qū)域541及一第二區(qū)域542環(huán)繞該第一區(qū)域541。該第一區(qū)域541或/及該第二區(qū)域542的透光度是藉由一物理量分別調(diào)變，本實(shí)施例的該承載臺(tái)540是具有環(huán)繞第一區(qū)域541的第二區(qū)域542。詳言之，在量測(cè)待檢側(cè)的發(fā)光二極體570時(shí)，數(shù)個(gè)待檢測(cè)的發(fā)光二極體570是對(duì)應(yīng)位于該承載臺(tái)540的第一區(qū)域541。該承載臺(tái)540的材質(zhì)可以包括液晶、電致變色物質(zhì)或液態(tài)金屬，改變?cè)摮休d臺(tái)540的透光度的物理量可以為電或熱等，在本實(shí)施例中，相鄰的待檢測(cè)發(fā)光二極體570之間是以一走道d1隔開(kāi)，且該承載臺(tái)570的材料包含液晶。

請(qǐng)參照?qǐng)D5b所示，此為圖5a所示的表面貼附一包括復(fù)數(shù)個(gè)彼此間隔排列的待檢測(cè)的發(fā)光二極體570的擴(kuò)張膜580的承載臺(tái)540的立體圖。如上面實(shí)施例所述，為使發(fā)光二極體570在量測(cè)時(shí)的收光角度變大，先經(jīng)擴(kuò)晶手續(xù)使擴(kuò)張膜580表面的復(fù)數(shù)待檢測(cè)發(fā)光二極體570彼此以走道d1互相隔開(kāi)，再進(jìn)行后續(xù)光學(xué)檢測(cè)。

本實(shí)施例的承載臺(tái)540表面貼附有一包括復(fù)數(shù)個(gè)彼此間隔排列的待檢測(cè)發(fā)光二極體570的擴(kuò)張膜580，且每一個(gè)發(fā)光二極體570均具有一正、負(fù)電極575a、575b。當(dāng)擴(kuò)張膜580被吸附在承載臺(tái)540的第一表面540a后，是先定位待檢測(cè)的發(fā)光二極體570的位置，以利于后續(xù)將該承載臺(tái)540區(qū)分為該第一區(qū)域541及該第二區(qū)域542；接著，改變?cè)摮休d臺(tái)540的透光度，使該第一區(qū)域541具有與該第二區(qū)域542不同的透光度，且該第一區(qū)域541涵蓋數(shù)個(gè)發(fā)光二極體570及走道d1；及量測(cè)置于該第一區(qū)域541的該發(fā)光二極體570的放光特性。

本實(shí)施例的發(fā)光二極體的光學(xué)檢測(cè)方法是先藉由掃描置放有該發(fā)光二極體570的承載臺(tái)540的影像，以定位擴(kuò)張膜580上的待檢測(cè)的發(fā)光二極體570的位置后，藉由控制承載臺(tái)540內(nèi)液晶分子的排列方向，使涵蓋數(shù)個(gè)待檢測(cè)的發(fā)光二極體570及數(shù)個(gè)走道d1的第一區(qū)域541下方的承載臺(tái)540轉(zhuǎn)變成一透光區(qū)，而其余未涵蓋發(fā)光二極體570的第二區(qū)域542的液晶分子則不改變排列方向，而形成與該第一區(qū)域541具有不同透光率的該第二區(qū)域542。本實(shí)施例中，該第一區(qū)域541的透光率是高于該第二區(qū)域542的透光率。接著以朝向該承載臺(tái)540設(shè)置的點(diǎn)測(cè)器590依序接觸每一個(gè)發(fā)光二極體570的正、負(fù)極575a、575b進(jìn)行檢測(cè)，待檢測(cè)的發(fā)光二極體570所發(fā)出的光線穿透第一區(qū)域541，再如實(shí)施例一所述般，進(jìn)入位在其下方的收光器(未顯示)及與收光器連接的光檢測(cè)器(未顯示)，進(jìn)行后續(xù)光學(xué)檢測(cè)。其中，檢測(cè)位在周?chē)幍陌l(fā)光二極體晶粒570時(shí)，因鄰近的其他發(fā)光二極體570反射所導(dǎo)致的檢測(cè)誤差，可藉由位在第一區(qū)域541周?chē)牡诙^(qū)域542的反射光加以補(bǔ)償，使得位在擴(kuò)張膜580上的各個(gè)待檢測(cè)的發(fā)光二極體570具有相同或接近的檢測(cè)環(huán)境，避免在量測(cè)發(fā)光二極體570發(fā)光特性時(shí)，因發(fā)光二極體570的位置不同而造成量測(cè)誤差過(guò)大。在根據(jù)本發(fā)明的其他實(shí)施例中，可控制光穿透度的材質(zhì)也可選擇電致變色物質(zhì)或液態(tài)金屬等。

實(shí)施例五：

以下將配合圖6a～6b說(shuō)明根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例五的發(fā)光二極體光學(xué)檢測(cè)裝置的載具中的承載臺(tái)示意圖。

首先，請(qǐng)參照?qǐng)D6a，此為利用本發(fā)明實(shí)施例五的承載臺(tái)640量測(cè)待檢測(cè)的發(fā)光二極體670時(shí)的俯視圖，該承載臺(tái)640可以適用于如實(shí)施例一至三中的發(fā)光二極體光學(xué)檢測(cè)裝置的載具210、310、410，并取代其對(duì)應(yīng)的承載臺(tái)240、340、440。本實(shí)施例的承載臺(tái)640與實(shí)施例四的承載臺(tái)540相似，該承載臺(tái)640包括一種可控制光穿透度的材質(zhì)，使其局部或全部區(qū)域的透光度具可調(diào)變性，例如在量測(cè)待檢測(cè)的發(fā)光二極體670時(shí)，該承載臺(tái)640包含一第一區(qū)域641及一第二區(qū)域642，以在量測(cè)待檢測(cè)的發(fā)光二極體670時(shí)，藉由一物理量調(diào)整第一區(qū)域641或/及該第二區(qū)域642的透光度。該承載臺(tái)640的材質(zhì)可以包括液晶、電致變色物質(zhì)或液態(tài)金屬，其中改變?cè)摮休d臺(tái)640的透光度的物理量可以為電或熱等。惟，本實(shí)施例與上述實(shí)施例四的差異在于：檢測(cè)時(shí)，該承載臺(tái)640的第一區(qū)域641僅涵蓋單一個(gè)待檢測(cè)的發(fā)光二極體670，意即僅一個(gè)待檢測(cè)的發(fā)光二極體670是對(duì)應(yīng)位于該第一區(qū)域641，如圖6a的最左下的發(fā)光二極體670。

請(qǐng)參照?qǐng)D6b，此為圖6a所示的表面貼附一包括復(fù)數(shù)個(gè)彼此間隔排列的待檢測(cè)的發(fā)光二極體670的擴(kuò)張膜的承載臺(tái)640的立體圖。透過(guò)實(shí)施例五的承載臺(tái)640進(jìn)行光學(xué)量測(cè)的方法包含：將數(shù)個(gè)發(fā)光二極體670置于該承載臺(tái)640上；定位該發(fā)光二極體670的位置；改變?cè)摮休d臺(tái)640的透光度，使該承載臺(tái)640區(qū)分為一第一區(qū)域641及一第二區(qū)域642，該第一區(qū)域641僅涵蓋一個(gè)待檢測(cè)的發(fā)光二極體670，其中該第一區(qū)域641為透光區(qū)并具有一透光度高于該第二區(qū)域642的透光度；及量測(cè)置于該第一區(qū)域641的該發(fā)光二極體670的放光特性。實(shí)施例五的承載臺(tái)640是包含液晶材料，且透過(guò)施加電壓改變?cè)摰谝粎^(qū)域641及/或該第二區(qū)域642的透光度。

本實(shí)施例的發(fā)光二極體的光學(xué)檢測(cè)方法是先藉由掃描置放有該發(fā)光二極體670的承載臺(tái)640的影像，以定位擴(kuò)張膜680上的數(shù)個(gè)待檢測(cè)發(fā)光二極體670的位置后，藉由控制承載臺(tái)640內(nèi)液晶分子的排列方向，使涵蓋一個(gè)待檢測(cè)的發(fā)光二極體670的區(qū)域下方的承載臺(tái)640轉(zhuǎn)變成該透光區(qū)，而其余未涵蓋發(fā)光二極體670的區(qū)域的液晶分子則不改變排列方向，而形成與該第一區(qū)域641具有不同透光率的該第二區(qū)域642。本實(shí)施例中，該第一區(qū)域641的透光率是高于該第二區(qū)域642。接著以點(diǎn)測(cè)器690接觸每一個(gè)發(fā)光二極體670的正、負(fù)極675a、675b進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，待檢測(cè)的發(fā)光二極體670所發(fā)出的光線穿透第一區(qū)域641，再如實(shí)施例一所述般，進(jìn)入位在其下方的收光器(未顯示)及與收光器連接的光偵測(cè)器(未顯示)，進(jìn)行后續(xù)光學(xué)檢測(cè)。其中，檢測(cè)位在周?chē)幍陌l(fā)光二極體晶粒670時(shí)，因鄰近的其他發(fā)光二極體晶粒670的光反射所導(dǎo)致的檢測(cè)誤差，可藉由位在第一區(qū)域641周?chē)牡诙^(qū)域642的反射光加以補(bǔ)償，使得位在擴(kuò)張膜680上的各個(gè)待檢測(cè)的發(fā)光二極體670具有相同或接近的檢測(cè)環(huán)境，避免在量測(cè)發(fā)光二極體670發(fā)光特性時(shí)，因發(fā)光二極體670的位置不同而造成量測(cè)誤差過(guò)大。

利用本實(shí)施例的該承載臺(tái)640進(jìn)行發(fā)光二極體670的光學(xué)特性量測(cè)的方法與第四實(shí)施例相似，主要差異在于本實(shí)施例的承載臺(tái)640的第一區(qū)域641的位置是隨著不同量測(cè)目標(biāo)的發(fā)光二極體670所在的位置而改變。詳言之，該承載臺(tái)640上是具有數(shù)個(gè)發(fā)光二極體670，如圖6a所示的第一發(fā)光二極體671、第二發(fā)光二極體672及第三發(fā)光二極體673等，本實(shí)施例的發(fā)光二極體的光學(xué)特性量測(cè)方法是分別依序量測(cè)上述第一、第二及第三發(fā)光二極體671、672、673，舉例而言，當(dāng)量測(cè)第一發(fā)光二極體671的光學(xué)特性時(shí)，是調(diào)整承載臺(tái)640的第一區(qū)域641的位置，使第一區(qū)域641對(duì)應(yīng)位于第一發(fā)光二極體671且第二區(qū)域642則對(duì)應(yīng)位于其余發(fā)光二極體，使得僅有待檢測(cè)的第一發(fā)光二極體671下方的承載臺(tái)641為透光區(qū)，以避免鄰近的其他發(fā)光二極體670(如672、673)對(duì)第一發(fā)光二極體671的光學(xué)特性量測(cè)造成反射而產(chǎn)生非預(yù)期性的影響，藉此更進(jìn)一步提升量測(cè)準(zhǔn)確度。同理，當(dāng)欲量測(cè)第二發(fā)光二極體672、第三發(fā)光二極體673時(shí)，則調(diào)整承載臺(tái)640的第一區(qū)域641的位置，使第一區(qū)域641對(duì)應(yīng)位于第二發(fā)光二極體672或第三發(fā)光二極體673，且第二區(qū)域642則對(duì)應(yīng)位于其余發(fā)光二極體670，使所量測(cè)的發(fā)光二極體670周?chē)哂邢嗤蚪咏臋z測(cè)環(huán)境。

實(shí)施例六：

以下將配合圖7a～7c說(shuō)明根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例六的發(fā)光二極體光學(xué)檢測(cè)裝置的載具中的承載臺(tái)示意圖。

首先，請(qǐng)參照?qǐng)D7a，此為利用本發(fā)明實(shí)施例六的承載臺(tái)740量測(cè)待檢測(cè)的發(fā)光二極體770時(shí)的俯視圖，該承載臺(tái)740可以適用于如實(shí)施例一至三中所述的發(fā)光二極體光學(xué)檢測(cè)裝置的載具210、310、410，并取代其對(duì)應(yīng)的承載臺(tái)240、340、440。本實(shí)施例的承載臺(tái)740與實(shí)施例四或五的承載臺(tái)540或640相似，該承載臺(tái)740包括一種可控制光穿透度的材質(zhì)，使其局部或全部區(qū)域的透光度具可調(diào)變性，以在量測(cè)待檢測(cè)的發(fā)光二極體770時(shí)，藉由一物理量調(diào)整第一區(qū)域741或/及該第二區(qū)域742的透光度，該承載臺(tái)740的材質(zhì)可以包括液晶、電致變色物質(zhì)或液態(tài)金屬，改變?cè)摮休d臺(tái)740的透光度的物理量可以為電或熱等。

請(qǐng)參照?qǐng)D7b，此為圖7a所示的表面貼附一包括復(fù)數(shù)個(gè)彼此間隔排列的待檢測(cè)的發(fā)光二極體770的擴(kuò)張膜780的承載臺(tái)740的立體側(cè)視圖。請(qǐng)參照?qǐng)D7c所示，本實(shí)施例的承載臺(tái)740是與上述實(shí)施例四或五相似，惟本實(shí)施例的承載臺(tái)740另包含一反射層783，并透過(guò)一導(dǎo)光元件784將發(fā)光二極體770所放射的光收集送至收光器720中。詳言之，該承載臺(tái)740包含一第一表面740a及相對(duì)于該第一表面740a的一第二表面740b，該第一表面740a是用以承載待檢測(cè)的發(fā)光二極體770，該反射層783是設(shè)于該第二表面740b上，且該反射層783與該第二表面740b之間具有一反射腔781，且該導(dǎo)光元件784具有一集光端784a，該集光端784a是結(jié)合于該承載盤(pán)740的反射腔781。其中，反射層783是由具高反射系數(shù)的材質(zhì)所構(gòu)成，本實(shí)施自所選用的高反射系數(shù)的材質(zhì)是硫酸鋇。此外，在根據(jù)本發(fā)明的其他實(shí)施例中，該反射層783也可選擇銀、鋁等材料或布拉格反射鏡(dbr)結(jié)構(gòu)等。透過(guò)實(shí)施例六的承載臺(tái)740進(jìn)行光學(xué)量測(cè)的方法包含：將數(shù)個(gè)發(fā)光二極體770置于該承載臺(tái)740上；定位該發(fā)光二極體770的位置；改變?cè)摮休d臺(tái)740的透光度，使該承載臺(tái)740區(qū)分為一第一區(qū)域741及一第二區(qū)域742，該第一區(qū)域741涵蓋一個(gè)或數(shù)個(gè)發(fā)光二極體770，其中該第一區(qū)域741為透光區(qū)并具有高于該第二區(qū)域742的透光度；及量測(cè)置于該第一區(qū)域741的該發(fā)光二極體770的放光特性。本實(shí)施例的承載臺(tái)740是包含液晶材料，且透過(guò)施加電壓改變?cè)摰谝粎^(qū)域741及/或該第二區(qū)域742的透光度。

本實(shí)施例的發(fā)光二極體的光學(xué)檢測(cè)方法是先藉由掃描置放有該發(fā)光二極體770的承載臺(tái)740的影像，以定位確認(rèn)擴(kuò)張膜780上的數(shù)個(gè)待檢測(cè)發(fā)光二極體770的位置后，藉由控制承載臺(tái)740內(nèi)液晶分子的排列方向，使涵蓋一個(gè)或一個(gè)以上待檢測(cè)的發(fā)光二極體770的區(qū)域下方的承載臺(tái)740轉(zhuǎn)變成透光的第一區(qū)域741，而其余未涵蓋發(fā)光二極體770的區(qū)域的液晶分子則不改變排列方向，而形成與該第一區(qū)域741具有不同透光率的該第二區(qū)域742。本實(shí)施例中，該第一區(qū)域741的透光率是高于該第二區(qū)域742。請(qǐng)參照?qǐng)D7c所示，接著以點(diǎn)測(cè)器790依序接觸每一個(gè)發(fā)光二極體770的正、負(fù)極775a、775b進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，待檢測(cè)的發(fā)光二極體770所發(fā)出的光線穿透第一區(qū)域741進(jìn)入該反射腔781，光線藉由反射腔781及反射層783有效地反射，使光線導(dǎo)引至導(dǎo)光元件784的集光端784a收集并送入該收光器720中，再透過(guò)光偵測(cè)器730進(jìn)行后續(xù)光學(xué)檢測(cè)。其中，檢測(cè)位在邊緣的發(fā)光二極體晶粒770時(shí)，因鄰近的其他發(fā)光二極體晶粒770反射所導(dǎo)致的環(huán)境差異，可藉由位在第一區(qū)域741周?chē)牡诙^(qū)域742的反射加以補(bǔ)償，使得位在擴(kuò)張膜780上的各個(gè)待檢測(cè)的發(fā)光二極體770具有相同或接近的檢測(cè)環(huán)境，避免在量測(cè)發(fā)光二極體770發(fā)光特性時(shí)，因發(fā)光二極體770的位置不同而造成量測(cè)誤差過(guò)大。

實(shí)施例七、八：

以下將配合圖8a-8c說(shuō)明根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例七及八的發(fā)光二極體光學(xué)檢測(cè)裝置的示意圖。

圖8a揭示本發(fā)明實(shí)施例七的發(fā)光二極體光學(xué)檢測(cè)裝置800，大部分構(gòu)件如實(shí)施例一所述包括一載具210、一收光器820以及一光偵測(cè)器830。其中，該載具210包含一承載臺(tái)240，該承載臺(tái)240設(shè)有一第一表面240a及相對(duì)于該第一表面240a的一第二表面240b，且該第一表面240a是用以承載待檢測(cè)的發(fā)光二極體270的一發(fā)光面271；該收光器820具有一收光端825及一出光端826，且該收光端825是朝向承載臺(tái)240的第二表面240b設(shè)置，以收集該發(fā)光二極體270所發(fā)出的光線，并由該出光端826傳送至該光偵測(cè)器830；該光偵測(cè)器830耦接至該收光器820，以偵測(cè)該收光器820所收集到的光線。該發(fā)光二極體光學(xué)檢測(cè)裝置800另包含一波長(zhǎng)轉(zhuǎn)換件850，該波長(zhǎng)轉(zhuǎn)換件850是設(shè)于該待檢測(cè)發(fā)光二極體270的發(fā)光面271與該收光器820的出光端826之間。本實(shí)施例的該波長(zhǎng)轉(zhuǎn)換元件850是設(shè)于收光器820的收光端825與承載臺(tái)840的第二表面840b之間，且較佳地，該波長(zhǎng)轉(zhuǎn)換元件850可拆裝地結(jié)合于該收光器820的收光端825。

請(qǐng)參照?qǐng)D8b所示，此為本發(fā)明實(shí)施例八的發(fā)光二極體光學(xué)檢測(cè)裝置的示意圖，實(shí)施例八的發(fā)光二極體光學(xué)檢測(cè)裝置800’大致與實(shí)施例七的發(fā)光二極體光學(xué)檢測(cè)裝置800相同，具有一載具210、一收光器820、一光偵測(cè)器830及波長(zhǎng)轉(zhuǎn)換件850，差異在于實(shí)施例八的波長(zhǎng)轉(zhuǎn)換件850是設(shè)置在收光器820的出光端826，且較佳地，該波長(zhǎng)轉(zhuǎn)換件850可拆裝地結(jié)合于該收光器820的出光端826。

該波長(zhǎng)轉(zhuǎn)換件850是使發(fā)光二極體270所發(fā)出具第一波長(zhǎng)的光線(例如藍(lán)光)，部分通過(guò)波長(zhǎng)轉(zhuǎn)換元件850并被轉(zhuǎn)換成具第二波長(zhǎng)的光線(例如黃光、紅光或綠光)，并且具有第一、第二波長(zhǎng)的光線混合以形成白光。具有該波長(zhǎng)轉(zhuǎn)換元件850的發(fā)光二極體的光學(xué)檢測(cè)裝置800、800’，是能模擬發(fā)光二極體270在加入熒光粉及膠體封裝所形成的發(fā)光二極體封裝體的發(fā)光特性，藉由封裝前預(yù)先量測(cè)評(píng)估發(fā)光特性是否符合封裝后的規(guī)格，以達(dá)到提高客戶滿意度及降低客訴率等功效。

在上述實(shí)施例七、八中，波長(zhǎng)轉(zhuǎn)換元件850包含熒光粉薄膜，且波長(zhǎng)轉(zhuǎn)換元件850可視需要設(shè)計(jì)成片狀或板狀的可拆換形式，使發(fā)光二極體270所發(fā)出的第一波長(zhǎng)光線在通過(guò)不同的波長(zhǎng)轉(zhuǎn)換元件850后可獲得具不同第二波長(zhǎng)的光線。此外，在一實(shí)施例中，波長(zhǎng)轉(zhuǎn)換元件850包含具第一放射波長(zhǎng)的一第一波長(zhǎng)轉(zhuǎn)換件850a，以及具第二放射波長(zhǎng)的一第二波長(zhǎng)轉(zhuǎn)換件850b，該第一波長(zhǎng)轉(zhuǎn)換件850a與該第二波長(zhǎng)轉(zhuǎn)換件850b是可以被發(fā)光二極體270的放光所激發(fā)，且第一放射波長(zhǎng)與第二放射波長(zhǎng)不同。具體而言，該波長(zhǎng)轉(zhuǎn)換元件850亦可以如圖8c所示為一轉(zhuǎn)盤(pán)式結(jié)構(gòu)，該波長(zhǎng)轉(zhuǎn)換元件850包括有復(fù)數(shù)個(gè)具有不同放射波長(zhǎng)的第一波長(zhǎng)轉(zhuǎn)換件850a、第二波長(zhǎng)轉(zhuǎn)換件850b、第三波長(zhǎng)轉(zhuǎn)換件850c、第四波長(zhǎng)轉(zhuǎn)換件850d、第五波長(zhǎng)轉(zhuǎn)換件850e及第六波長(zhǎng)轉(zhuǎn)換件850f，且該波長(zhǎng)轉(zhuǎn)換元件850是可轉(zhuǎn)動(dòng)已選擇所需的波長(zhǎng)轉(zhuǎn)換件850對(duì)位結(jié)合于該收光器820的該收光端825或出光端826，使該波長(zhǎng)轉(zhuǎn)換元件850可被發(fā)光二極體270所發(fā)出具第一波長(zhǎng)的光線激發(fā)而產(chǎn)生具不同第二波長(zhǎng)的光線。

本實(shí)施例的發(fā)光二極體270是未封裝，例如為發(fā)光二極體晶片或晶粒，并透過(guò)波長(zhǎng)轉(zhuǎn)換元件850以預(yù)先模擬發(fā)光二極體270封裝后放光特性。而圖8c所示的波長(zhǎng)轉(zhuǎn)換元件850包括有復(fù)數(shù)個(gè)具有不同放射波長(zhǎng)的第一波長(zhǎng)轉(zhuǎn)換件850a、第二波長(zhǎng)轉(zhuǎn)換件850b及第三波長(zhǎng)轉(zhuǎn)換件850c等，當(dāng)欲模擬發(fā)光二極體270包含不同波長(zhǎng)轉(zhuǎn)換件的封裝條件的放光特性時(shí)，僅需使相應(yīng)的波長(zhǎng)轉(zhuǎn)換件850a、850b、或850c等對(duì)位于出光端825或收光端826，不必拆裝及更換波長(zhǎng)轉(zhuǎn)換件，以提高測(cè)試效率。

此外，實(shí)施例七、八雖以實(shí)施例一所示的載具210例示說(shuō)明，但載具210也可以根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例二至六所揭示的載具取代，在此不再贅述。

實(shí)施例九：

以下將配合圖9說(shuō)明一種根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例九的發(fā)光二極體光學(xué)檢測(cè)裝置的示意圖。

實(shí)施例九的發(fā)光二極體光學(xué)檢測(cè)裝置800″，其構(gòu)造大抵與上述實(shí)施例七、八的發(fā)光二極體光學(xué)檢測(cè)裝置800、800′大致相同，主要差異在于本實(shí)施例的發(fā)光二極體光學(xué)檢測(cè)裝置800″的波長(zhǎng)轉(zhuǎn)換元件850是設(shè)置于承載臺(tái)240，波長(zhǎng)轉(zhuǎn)換元件850可以結(jié)合于承載臺(tái)240的第一表面240a或第二表面240b，舉例而言，當(dāng)波長(zhǎng)轉(zhuǎn)換元件850結(jié)合于第一表面240a時(shí)，使得發(fā)光二極體270的發(fā)光面271所發(fā)出具第一波長(zhǎng)的光線(例如藍(lán)光)，部分通過(guò)波長(zhǎng)轉(zhuǎn)換元件850而被轉(zhuǎn)換成具第二波長(zhǎng)的光線(例如黃光、紅光或綠光)，進(jìn)而在通過(guò)承載臺(tái)240后，使收光器820可收集到具有第一、第二波長(zhǎng)的光線混合的光(例如白光)，然后再由光偵測(cè)器830進(jìn)一步分析。本實(shí)施例的承載臺(tái)240對(duì)于第一波長(zhǎng)及第二波長(zhǎng)的光線是具有高穿透度。

波長(zhǎng)轉(zhuǎn)換元件850如實(shí)施例七、八所述般包含熒光粉薄膜，此外，波長(zhǎng)轉(zhuǎn)換元件850亦可以如圖8c所示地選擇包含數(shù)個(gè)波長(zhǎng)轉(zhuǎn)換件(850a～850f)；載具210也可以根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例二至六所揭示的載具取代，在此不再贅述。

雖然本發(fā)明已以較佳實(shí)施例揭露如上，然其并非用以限定本發(fā)明，任何所屬技術(shù)領(lǐng)域中具有通常知識(shí)者，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)，當(dāng)可更動(dòng)與組合上述各種實(shí)施例。