本發(fā)明涉及聲納信號(hào)處理領(lǐng)域,特別涉及一種基于特征子空間方位穩(wěn)定性的強(qiáng)弱目標(biāo)檢測(cè)方法。
背景技術(shù):
目標(biāo)檢測(cè)與方位估計(jì)是陣列信號(hào)處理的一個(gè)重要分支。在強(qiáng)目標(biāo)背景情況下,對(duì)于弱目標(biāo)檢測(cè)和方位估計(jì)問題,現(xiàn)有技術(shù)中所采用的主要辦法包括:強(qiáng)干擾抑制方法、基于特征子空間方法、分子帶檢測(cè)方法。
現(xiàn)有的強(qiáng)干擾抑制方法可通過零點(diǎn)約束技術(shù)、陣列極化技術(shù)、干擾阻塞技術(shù)、逆波束形成技術(shù)、空域?yàn)V波技術(shù)等相關(guān)技術(shù),先抑制掉強(qiáng)干擾,然后再對(duì)弱目標(biāo)實(shí)現(xiàn)檢測(cè)和方位估計(jì),但此方法要求確知哪些目標(biāo)是強(qiáng)目標(biāo),否則需要進(jìn)行分多方位區(qū)間進(jìn)行強(qiáng)目標(biāo)抑制,且在強(qiáng)/弱目標(biāo)方位很近時(shí),抑制強(qiáng)目標(biāo)信號(hào)的同時(shí)也會(huì)衰減弱目標(biāo)信號(hào),存在一定方位區(qū)間和信干比下不能實(shí)現(xiàn)對(duì)弱目標(biāo)的有效檢測(cè)和方位估計(jì)。
現(xiàn)有的基于特征子空間方法可通過如下方法實(shí)現(xiàn)對(duì)弱目標(biāo)檢測(cè)和方位估計(jì),一種通過設(shè)定較大特征值對(duì)應(yīng)特征子空間為強(qiáng)目標(biāo)子空間,該方法不需要確知強(qiáng)目標(biāo)所在方位等先驗(yàn)信息,但需要確知強(qiáng)目標(biāo)個(gè)數(shù);一種通過特征子空間對(duì)應(yīng)空間譜的最大值與旁瓣譜峰平均值來(lái)判定強(qiáng)/弱目標(biāo)及其方位值,該方法不需要確知強(qiáng)目標(biāo)所在方位和強(qiáng)目標(biāo)個(gè)數(shù)等先驗(yàn)信息,但存在判別門限取值問題;另一種依據(jù)各子空間對(duì)應(yīng)空間譜最大值位置的不同,通過判別最大值所在位置是否為所需位置來(lái)判別強(qiáng)/弱目標(biāo)所在特征子空間,該方法不需要確知強(qiáng)目標(biāo)有關(guān)的先驗(yàn)信息,但需要確知弱目標(biāo)所在方位位置,由于該方法判別比較簡(jiǎn)單,使該法成為較為流行方法,但該方法怎么能實(shí)現(xiàn)對(duì)強(qiáng)/弱目標(biāo)在同一方位歷程圖的顯示,還有待進(jìn)一步研究。另外一種方法為利用特征矢量矩陣對(duì)陣元接收數(shù)據(jù)做變換,然后對(duì)變換后各通道數(shù)據(jù)用最大模值歸一化,最后采用特征子空間方法實(shí)現(xiàn)強(qiáng)/弱目標(biāo)檢測(cè)和方位估計(jì),但該方法方位估計(jì)性能存在受數(shù)據(jù)段最大值波動(dòng)影響問題。
分子帶檢測(cè)方法則是通過對(duì)不同頻帶進(jìn)行波束形成,然后再通過歸一化空間譜、加權(quán)各頻帶空間譜實(shí)現(xiàn)對(duì)本頻帶內(nèi)強(qiáng)/弱目標(biāo)檢測(cè)和方位估計(jì),不需要進(jìn)行干擾抑制和特征分解,對(duì)頻帶不同的強(qiáng)/弱目標(biāo)信號(hào)可實(shí)現(xiàn)較好檢測(cè),但當(dāng)強(qiáng)弱目標(biāo)輻射信號(hào)在同一頻帶時(shí),該方法性能會(huì)急劇下降,而實(shí)際應(yīng)用中,對(duì)各子帶的劃分也存在一定最佳取值問題。
在強(qiáng)目標(biāo)背景情況下,上述方法對(duì)弱目標(biāo)檢測(cè)和方位估計(jì)問題提出的不同解決方法,并取得了一定的研究成果,得到了一定應(yīng)用。尤其是近年來(lái),在對(duì)多目標(biāo)檢測(cè)與方位估計(jì)具有超分辨能力的基于特征子空間方法倍受研究學(xué)者關(guān)注,尤其是最近所提出的依據(jù)各子空間對(duì)應(yīng)空間譜最大值位置的不同,通過判別最大值所在位置是否為所需位置,來(lái)判別強(qiáng)/弱目標(biāo)所在特征子空間的方法,更是有待我們進(jìn)行深入研究。但針對(duì)實(shí)際應(yīng)用中,怎樣穩(wěn)健實(shí)現(xiàn)同一頻帶下的強(qiáng)/弱目標(biāo)檢測(cè)和方位估計(jì),并將檢測(cè)結(jié)果在同一方位歷程圖清晰地顯現(xiàn)出來(lái),供操作人員直觀地查看和分析,現(xiàn)有技術(shù)還沒有提出較好的解決方法。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:
本發(fā)明的目的在于克服現(xiàn)有技術(shù)中無(wú)法穩(wěn)健實(shí)現(xiàn)同一頻帶下的強(qiáng)/弱目標(biāo)檢測(cè)和方位估計(jì),并將檢測(cè)結(jié)果在同一方位歷程圖清晰地顯現(xiàn)出來(lái)的問題,從而提出一種基于特征子空間方位穩(wěn)定性的強(qiáng)弱目標(biāo)檢測(cè)方法。
為了實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明提供了一種基于特征子空間方位穩(wěn)定性的強(qiáng)弱目標(biāo)檢測(cè)方法,包括:
首先對(duì)接收線陣中各陣元接收信號(hào)的協(xié)方差矩進(jìn)行特征分解,得到特征值與對(duì)應(yīng)的特征子空間,然后利用目標(biāo)特征子空間對(duì)應(yīng)空間譜的方位估計(jì)值較穩(wěn)定,背景噪聲特征子空間對(duì)應(yīng)空間譜的方位估計(jì)值較隨機(jī)的特點(diǎn),結(jié)合各特征子空間的空間譜對(duì)應(yīng)方位估計(jì)值的離散程度對(duì)各特征子空間歸一化空間譜進(jìn)行方位方差加權(quán),得到一頻率所對(duì)應(yīng)的空間譜,進(jìn)而得到寬帶空間譜。
上述技術(shù)方案中,該方法進(jìn)一步包括:
步驟1)、設(shè)置統(tǒng)計(jì)初始值m=1,設(shè)置統(tǒng)計(jì)次數(shù)m的值;
步驟2)、接收線陣中的各個(gè)陣元接收數(shù)據(jù);其中,
假設(shè)接收線陣為間距為d的n元等間隔水平線陣,有i個(gè)目標(biāo)從θi入射,在第n個(gè)陣元接收數(shù)據(jù)中,第k組拾取的頻率wl對(duì)應(yīng)數(shù)據(jù)
式中,
則頻率wl對(duì)應(yīng)的各陣元接收數(shù)據(jù)的向量表示形式為:
式中,
步驟3)、對(duì)各個(gè)陣元所接收的數(shù)據(jù)進(jìn)行采樣,得到k組采樣數(shù)據(jù),進(jìn)而對(duì)k組采樣數(shù)據(jù)進(jìn)行估計(jì),得到的頻率為wl的協(xié)方差矩陣r(wl);其中,
由k組采樣數(shù)據(jù)得到的協(xié)方差矩陣r(wl)表示為:
式中,[]h表示共扼轉(zhuǎn)置;
步驟4)、對(duì)步驟3)所得到的協(xié)方差矩陣r(wl)進(jìn)行特征分解,得到n個(gè)特征值λn,n=1,2,…n,,及與其對(duì)應(yīng)的特征子空間vn,n=1,2,…n;其中,所述特征分解的表達(dá)式為:
式中,λn和vn分別表示r(wl)的第n個(gè)特征值及其對(duì)應(yīng)特征子空間;
步驟5)、計(jì)算第n個(gè)特征子空間的空間譜bn(m,wl,θ);其中,第n個(gè)特征子空間的空間譜為:
其中,
步驟6)、求第n個(gè)特征子空間的空間譜bn(m,wl,θ)中的最大值bn(m,wl,θmax)及其對(duì)應(yīng)的方位估計(jì)值θmax(m,wl,n);
步驟7)、更新接收數(shù)據(jù),令m=m+1,然后重復(fù)執(zhí)行步驟2)—步驟5),直到m=m為止;
步驟8)、求取之前步驟所得到的各特征子空間的空間譜對(duì)應(yīng)方位估計(jì)值的離散程度,該離散程度記為
其中的
步驟9)、利用步驟8)所得到的各特征子空間對(duì)方位估計(jì)值的離散程度對(duì)其所在特征子空間的空間譜進(jìn)行不等權(quán)值加權(quán)統(tǒng)計(jì),得到頻率wl對(duì)應(yīng)空間譜;如下式所示:
式中,θ為波束形成掃描最大角,
步驟10)、由步驟9)得到的頻率wl對(duì)應(yīng)空間譜進(jìn)一步計(jì)算寬帶空間譜,其計(jì)算公式如下:
其中,l為分子帶數(shù)。
本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)在于:
本發(fā)明的方法無(wú)需強(qiáng)/弱目標(biāo)個(gè)數(shù)和目標(biāo)方位精確的先驗(yàn)知識(shí),無(wú)需對(duì)陣元接收信號(hào)協(xié)方差矩的特征子空間按特征值從大到小調(diào)整,無(wú)需通過構(gòu)造判決因子實(shí)現(xiàn)對(duì)強(qiáng)弱目標(biāo)的判決和分離,僅需估計(jì)出各特征子空間所對(duì)應(yīng)的空間譜方位和方位離散程度,即可依據(jù)不同特征子空間方位穩(wěn)定性(或離散程度)削弱背景噪聲和強(qiáng)目標(biāo)對(duì)弱目標(biāo)檢測(cè)的影響,增強(qiáng)弱目標(biāo)所在特征子空間的空間譜能量。該方法可穩(wěn)健實(shí)現(xiàn)同一頻帶下的強(qiáng)/弱目標(biāo)檢測(cè)與方位估計(jì),并在同一方位歷程圖中清晰地顯示出強(qiáng)/弱目標(biāo)方位。
附圖說(shuō)明
圖1是本發(fā)明方法所適用的拖線陣聲納的示意圖;
圖2是本發(fā)明的基于特征子空間方位穩(wěn)定性的強(qiáng)弱目標(biāo)檢測(cè)方法的流程圖;
圖3是強(qiáng)、弱目標(biāo)信號(hào)平均譜級(jí)分別為-53db,-60db,背景噪聲平均譜級(jí)為-50db時(shí),基于分子帶檢測(cè)法的常規(guī)波束形成(cbf)方法所得方位歷程圖;
圖4是強(qiáng)、弱目標(biāo)信號(hào)平均譜級(jí)分別為-53db,-60db,背景噪聲平均譜級(jí)為-50db時(shí),本發(fā)明的基于特征子空間方位穩(wěn)定性的強(qiáng)弱目標(biāo)檢測(cè)方法所得方位歷程圖;
圖5是強(qiáng)、弱目標(biāo)信號(hào)平均譜級(jí)分別為-53db,-60db,背景噪聲平均譜級(jí)為-50db時(shí),基于分子帶檢測(cè)法的常規(guī)波束形成(cbf)方法與本發(fā)明的基于特征子空間方位穩(wěn)定性的強(qiáng)弱目標(biāo)檢測(cè)方法所得空間譜瞬時(shí)圖;
圖6是強(qiáng)、弱目標(biāo)信號(hào)的平均譜級(jí)分別為-60db,-70db,背景噪聲的平均譜級(jí)為-50db時(shí),基于分子帶檢測(cè)法的常規(guī)波束形成(cbf)方法所得方位歷程圖;
圖7是強(qiáng)、弱目標(biāo)信號(hào)的平均譜級(jí)分別為-60db,-70db,背景噪聲的平均譜級(jí)為-50db時(shí),本發(fā)明的基于特征子空間方位穩(wěn)定性的強(qiáng)弱目標(biāo)檢測(cè)方法所得方位歷程圖;
圖8是強(qiáng)、弱目標(biāo)信號(hào)的平均譜級(jí)分別為-60db,-70db,背景噪聲的平均譜級(jí)為-50db時(shí),基于分子帶檢測(cè)法的常規(guī)波束形成(cbf)方法與本發(fā)明的基于特征子空間方位穩(wěn)定性的強(qiáng)弱目標(biāo)檢測(cè)方法所得空間譜瞬時(shí)圖;
圖9是實(shí)測(cè)數(shù)據(jù)長(zhǎng)度為250s,所用采樣率為fs=5khz,濾波器頻帶為f=20~120hz時(shí),基于分子帶檢測(cè)法的常規(guī)波束形成(cbf)方法所得方位歷程圖;
圖10是實(shí)測(cè)數(shù)據(jù)長(zhǎng)度為250s,所用采樣率為fs=5khz,濾波器頻帶為f=20~120hz時(shí),本發(fā)明的基于特征子空間方位穩(wěn)定性的強(qiáng)弱目標(biāo)檢測(cè)方法所得方位歷程圖;
圖11是實(shí)測(cè)數(shù)據(jù)長(zhǎng)度為250s,所用采樣率為fs=5khz,濾波器頻帶為f=20~120hz時(shí),基于分子帶檢測(cè)法的常規(guī)波束形成(cbf)方法與本發(fā)明的基于特征子空間方位穩(wěn)定性的強(qiáng)弱目標(biāo)檢測(cè)方法所得空間譜瞬時(shí)圖;
圖12是實(shí)測(cè)數(shù)據(jù)長(zhǎng)度為500s,所用采樣率為fs=5khz。濾波器頻帶為f=20~120hz時(shí),基于分子帶檢測(cè)法的常規(guī)波束形成(cbf)方法所得方位歷程圖;
圖13是實(shí)測(cè)數(shù)據(jù)長(zhǎng)度為500s,所用采樣率為fs=5khz。濾波器頻帶為f=20~120hz時(shí),本發(fā)明的基于特征子空間方位穩(wěn)定性的強(qiáng)弱目標(biāo)檢測(cè)方法所得方位歷程圖;
圖14是實(shí)測(cè)數(shù)據(jù)長(zhǎng)度為500s,所用采樣率為fs=5khz。濾波器頻帶為f=20~120hz時(shí),基于分子帶檢測(cè)法的常規(guī)波束形成(cbf)方法與本發(fā)明的基于特征子空間方位穩(wěn)定性的強(qiáng)弱目標(biāo)檢測(cè)方法所得空間譜瞬時(shí)圖。
具體實(shí)施方式
現(xiàn)結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步的描述。
在對(duì)本發(fā)明的方法做詳細(xì)說(shuō)明前,首先對(duì)本發(fā)明的方法所適用接收陣加以描述。圖1為一拖線陣聲納結(jié)構(gòu)示意圖,該拖線陣聲納包括6個(gè)部分,顯控與信號(hào)處理機(jī)1、甲板纜2、絞車3、導(dǎo)纜架4、拖纜5、接收線陣6。其中的接收線陣6通過拖纜5與位于絞車3上的甲板纜2連接,所述拖纜5還安裝在導(dǎo)纜架4上;接收線陣6所接收的信號(hào)傳輸給顯控與信號(hào)處理機(jī)1。
參考圖2,本發(fā)明的方法包括以下步驟:
步驟1)、設(shè)置統(tǒng)計(jì)初始值m=1,設(shè)置統(tǒng)計(jì)次數(shù)m的值;
步驟2)、接收線陣6中的各個(gè)陣元接收數(shù)據(jù);其中,
假設(shè)接收線陣6為間距為d的n元等間隔水平線陣,有i個(gè)目標(biāo)從θi入射,在第n個(gè)陣元接收數(shù)據(jù)中,第k組拾取的頻率wl對(duì)應(yīng)數(shù)據(jù)
式中,
則頻率wl對(duì)應(yīng)的各陣元接收數(shù)據(jù)的向量表示形式為:
式中,
步驟3)、對(duì)各個(gè)陣元所接收的數(shù)據(jù)進(jìn)行采樣,得到k組采樣數(shù)據(jù),進(jìn)而對(duì)k組采樣數(shù)據(jù)進(jìn)行估計(jì),得到的頻率為wl的協(xié)方差矩陣r(wl);其中,
由k組采樣數(shù)據(jù)得到的協(xié)方差矩陣r(wl)可以表示為:
式中,[]h表示共扼轉(zhuǎn)置。
步驟4)、對(duì)步驟3)所得到的協(xié)方差矩陣r(wl)進(jìn)行特征分解,得到n個(gè)特征值λn(n=1,2,…n)及與其對(duì)應(yīng)的特征子空間vn(n=1,2,…n);其中,所述特征分解的表達(dá)式為:
式中,λn和vn分別表示r(wl)的第n個(gè)特征值及其對(duì)應(yīng)特征子空間。
步驟5)、計(jì)算第n個(gè)特征子空間的空間譜bn(m,wl,θ);其中,第n個(gè)特征子空間的空間譜為:
其中,
步驟6)、求第n個(gè)特征子空間的空間譜bn(m,wl,θ)中的最大值bn(m,wl,θmax)及其對(duì)應(yīng)的方位估計(jì)值θmax(m,wl,n);
步驟7)、更新接收數(shù)據(jù),令m=m+1,然后重復(fù)執(zhí)行步驟2)—步驟5),直到m=m為止,m為統(tǒng)計(jì)前所設(shè)置的統(tǒng)計(jì)次數(shù);
步驟8)、求取之前步驟所得到的各特征子空間的空間譜對(duì)應(yīng)方位估計(jì)值的離散程度,該離散程度記為
其中的
步驟9)、利用步驟8)所得到的各特征子空間對(duì)方位估計(jì)值的離散程度對(duì)其所在特征子空間的空間譜進(jìn)行不等權(quán)值加權(quán)統(tǒng)計(jì),得到頻率wl對(duì)應(yīng)空間譜。如下式所示:
式中,θ為波束形成掃描最大角,
步驟10)、由步驟9)得到的頻率wl對(duì)應(yīng)空間譜進(jìn)一步計(jì)算寬帶空間譜。其計(jì)算公式如下:
其中,l為分子帶數(shù)。
所得到的寬帶空間譜輸出值中,強(qiáng)/弱目標(biāo)對(duì)應(yīng)方位真值附近的值相近似,且遠(yuǎn)大于其它位置的值。因此由寬帶空間譜能在同一方位歷程圖中顯示出強(qiáng)或弱目標(biāo)的方位。
以上是對(duì)本發(fā)明方法的步驟描述。就理論而言,步驟5)計(jì)算得到的空間譜bn(wl,θ)的值代表了線陣接收數(shù)據(jù)在θ方向上對(duì)第n個(gè)特征子空間的貢獻(xiàn)。也就是說(shuō),空間不同方位的目標(biāo)對(duì)每個(gè)特征子空間的貢獻(xiàn)可以直觀地由空間譜來(lái)體現(xiàn),因此在本發(fā)明的步驟9)中通過構(gòu)造合適的權(quán)值因子
以上是對(duì)本發(fā)明方法基本步驟的描述,下面對(duì)這些步驟做進(jìn)一步的說(shuō)明。
以頻率wl處理為例,由各特征子空間的空間譜所得最小和最大預(yù)成方位估計(jì)值為θmin、θmax,由強(qiáng)/弱目標(biāo)對(duì)應(yīng)特征子空間的空間譜所得最小和最大方位估計(jì)值分別為
假設(shè)強(qiáng)/弱目標(biāo)對(duì)應(yīng)特征子空間各只占據(jù)其中一個(gè)特征子空間。由于對(duì)各特征子空間的空間譜進(jìn)行了歸一化處理,則歸一化后的各特征子空間的空間譜最大值為1,即各特征子空間的方位估計(jì)值對(duì)應(yīng)的空間譜值為1,可降低強(qiáng)目標(biāo)對(duì)應(yīng)特征子空間的空間譜對(duì)弱目標(biāo)對(duì)應(yīng)特征子空間的空間譜影響。
首先,對(duì)n-2個(gè)背景噪聲對(duì)應(yīng)特征子空間的空間譜進(jìn)行統(tǒng)計(jì)。對(duì)于噪聲特征子空間,每個(gè)預(yù)成方位估計(jì)值出現(xiàn)概率相等。
然后,將強(qiáng)/弱目標(biāo)對(duì)應(yīng)特征子空間的方位估計(jì)離散程度加入上式,可得到:
上式可簡(jiǎn)化為:
當(dāng)強(qiáng)/弱目標(biāo)對(duì)應(yīng)特征子空間的空間譜每幀方位估計(jì)結(jié)果均接近于目標(biāo)方位真值時(shí),δs1≈δs2<<δn,由(12)式可知:在最終寬帶空間譜輸出值中,強(qiáng)/弱目標(biāo)對(duì)應(yīng)方位真值附近的值相近似,且遠(yuǎn)大于其它位置的值。從而達(dá)到了削弱背景噪聲和強(qiáng)目標(biāo)對(duì)弱目標(biāo)檢測(cè)的影響,增強(qiáng)了弱目標(biāo)對(duì)應(yīng)特征子空間的空間譜對(duì)線陣波束形成空間譜的貢獻(xiàn),實(shí)現(xiàn)同一頻帶下對(duì)強(qiáng)/弱目標(biāo)的檢測(cè)與方位估計(jì),并在同一方位歷程圖中顯示出強(qiáng)/弱目標(biāo)方位。
本發(fā)明的方法(簡(jiǎn)稱本發(fā)明方法)與現(xiàn)有技術(shù)中的方法(簡(jiǎn)稱cbf)相比具有明顯的優(yōu)點(diǎn)。為了能夠驗(yàn)證本發(fā)明方法可穩(wěn)健實(shí)現(xiàn)同一頻帶下的強(qiáng)/弱目標(biāo)檢測(cè)與方位估計(jì),并在同一方位歷程圖中顯示出強(qiáng)/弱目標(biāo)方位。
下面結(jié)合實(shí)例,對(duì)本發(fā)明方法與現(xiàn)有技術(shù)中相關(guān)方法的效果進(jìn)行比較。
下面給出初步數(shù)值仿真結(jié)果。數(shù)值仿真中采用64元均勻線陣,陣間距為4m;強(qiáng)/弱目標(biāo)信號(hào)、背景均為寬帶隨機(jī)信號(hào),頻率范圍為100~200hz,強(qiáng)/弱目標(biāo)信號(hào)的入射角度分別為40°、70°。
數(shù)值仿真示例1:強(qiáng)/弱目標(biāo)信號(hào)平均譜級(jí)分別為-53db,-60db,背景噪聲平均譜級(jí)為-50db。圖3和圖4分別為基于分子帶檢測(cè)法的常規(guī)波束形成(cbf)與基于特征子空間方位穩(wěn)定性的強(qiáng)/弱目標(biāo)檢測(cè)方法(本發(fā)明方法)所得方位歷程圖,圖5為兩種方法所得空間譜瞬時(shí)圖。
數(shù)值仿真示例2:強(qiáng)/弱目標(biāo)信號(hào)的平均譜級(jí)分別為-60db,-70db,背景噪聲的平均譜級(jí)為-50db。圖6和圖7分別為現(xiàn)有技術(shù)中的cbf方法與本發(fā)明方法所得方位歷程圖,圖8為兩種方法所得空間譜瞬時(shí)圖。
由圖3至圖8可知,采用本發(fā)明所述的基于特征子空間方位穩(wěn)定性的強(qiáng)/弱目標(biāo)檢測(cè)方法可以很好地凸顯出70°處的弱目標(biāo),好于基于子帶分解的常規(guī)波束形成方法對(duì)70°處的弱目標(biāo)檢測(cè)效果。本發(fā)明方法可穩(wěn)健實(shí)現(xiàn)同一頻帶下的強(qiáng)/弱目標(biāo)檢測(cè)與方位估計(jì),并在同一方位歷程圖中顯示出強(qiáng)/弱目標(biāo)方位。
數(shù)據(jù)處理實(shí)例1:處理實(shí)測(cè)數(shù)據(jù)長(zhǎng)度為250s,所用采樣率為fs=5khz。濾波器頻帶為f=20~120hz,圖9和圖10分別為現(xiàn)有技術(shù)中的cbf方法與本發(fā)明方法所得方位歷程圖,圖11為兩種方法所得空間譜瞬時(shí)圖。
由圖9至圖11可知,采用本發(fā)明所述的基于特征子空間方位穩(wěn)定性的強(qiáng)/弱目標(biāo)檢測(cè)方法可以很好地凸顯出20°、55°、110°、165°等處的弱目標(biāo),好于基于子帶分解的常規(guī)波束形成方法對(duì)20°、55°、110°、165°等處的弱目標(biāo)檢測(cè)效果。另外,相比基于子帶分解的常規(guī)波束形成,本發(fā)明方法也可以較好地檢測(cè)到90°附近的雙目標(biāo)。實(shí)測(cè)數(shù)據(jù)處理實(shí)例1的結(jié)果證實(shí)了本發(fā)明方法可穩(wěn)健實(shí)現(xiàn)同一頻帶下的強(qiáng)/弱目標(biāo)檢測(cè)與方位估計(jì),并在同一方位歷程圖中顯示出強(qiáng)/弱目標(biāo)方位,同樣具有較好的分辨率。
數(shù)據(jù)處理實(shí)例2:處理實(shí)測(cè)數(shù)據(jù)長(zhǎng)度為500s,所用采樣率為fs=5khz。濾波器頻帶為f=20~120hz,圖12和圖13分別為現(xiàn)有技術(shù)中的cbf方法與本發(fā)明方法所得方位歷程圖。圖14為兩種方法所得空間譜瞬時(shí)圖。
同樣,由圖12至圖14可知,采用本發(fā)明所述的基于特征子空間方位穩(wěn)定性的強(qiáng)/弱目標(biāo)檢測(cè)方法可以很好地凸顯出80°、92°、138°等處的弱目標(biāo),好于基于子帶分解的常規(guī)波束形成方法對(duì)80°、92°、138°等處的弱目標(biāo)檢測(cè)效果。另外,相比基于子帶分解的常規(guī)波束形成,本發(fā)明方法也可以較好地檢測(cè)到80°附近的雙目標(biāo)(t=1~100s)。實(shí)測(cè)數(shù)據(jù)處理實(shí)例2的結(jié)果同樣證實(shí)了本發(fā)明方法可穩(wěn)健實(shí)現(xiàn)同一頻帶下的強(qiáng)/弱目標(biāo)檢測(cè)與方位估計(jì),并在同一方位歷程圖中顯示出強(qiáng)/弱目標(biāo)方位,同樣具有較好的分辨率。
最后所應(yīng)說(shuō)明的是,以上實(shí)施例僅用以說(shuō)明本發(fā)明的技術(shù)方案而非限制。盡管參照實(shí)施例對(duì)本發(fā)明進(jìn)行了詳細(xì)說(shuō)明,本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解,對(duì)本發(fā)明的技術(shù)方案進(jìn)行修改或者等同替換,都不脫離本發(fā)明技術(shù)方案的精神和范圍,其均應(yīng)涵蓋在本發(fā)明的權(quán)利要求范圍當(dāng)中。