本發(fā)明涉及一種可偵測(cè)出機(jī)臺(tái)在電子元件測(cè)試過(guò)程中是否發(fā)生放電現(xiàn)象，進(jìn)而為封測(cè)人員提供機(jī)臺(tái)發(fā)生放電時(shí)的處理依據(jù)，以確保電子元件測(cè)試質(zhì)量的電子元件測(cè)試分類機(jī)。

背景技術(shù)：

自然界中的物質(zhì)可經(jīng)由某種過(guò)程而獲得或失去電子(例如摩擦或感應(yīng)起電)，這類電荷即稱為靜電。當(dāng)這些正電荷或是負(fù)電荷逐漸累積時(shí)，會(huì)與周圍環(huán)境產(chǎn)生電位差，該具有不同電位的物體經(jīng)由直接接觸或靜電感應(yīng)引起物體間的靜電電荷轉(zhuǎn)移，當(dāng)靜電場(chǎng)的能量達(dá)到一定的程度后會(huì)進(jìn)行放電，此即稱為靜電放電現(xiàn)象，簡(jiǎn)稱為esd(electrostaticdischarge)。對(duì)電子產(chǎn)品來(lái)說(shuō)，靜電放電的破壞是一種很難避免的問(wèn)題。一旦電子產(chǎn)品受到esd的作用后，往往會(huì)產(chǎn)生不可預(yù)期的不穩(wěn)定現(xiàn)象，例如電子產(chǎn)品功能突然失常，必需重開(kāi)電源開(kāi)關(guān)才能恢復(fù)正常，或是電子產(chǎn)品內(nèi)部的電子元件不堪受到靜電的電壓或電流破壞，從而造成電器內(nèi)部的電子元件損壞等。以電子元件測(cè)試分類機(jī)而言，其之所以會(huì)產(chǎn)生靜電，可能是電子元件本身的殘電或者是機(jī)臺(tái)上的裝置在運(yùn)動(dòng)過(guò)程中因摩擦而累積的靜電，不論如何，當(dāng)這些靜電的能量累積到某種程度后，一旦電子元件在移動(dòng)的過(guò)程中瞬間接近或接觸到導(dǎo)體，便會(huì)產(chǎn)生所謂的靜電放電現(xiàn)象，而這種靜電放電現(xiàn)象將會(huì)導(dǎo)致該移動(dòng)中電子元件的毀損。以電子元件測(cè)試分類機(jī)的移動(dòng)過(guò)程來(lái)區(qū)分為測(cè)試前及測(cè)試后兩個(gè)階段做說(shuō)明，如果移動(dòng)過(guò)程中的電子元件在測(cè)試前發(fā)生靜電放電現(xiàn)象，因該移動(dòng)過(guò)程中的電子元件已經(jīng)毀損，因此于進(jìn)行測(cè)試 時(shí)可以很容易的測(cè)試出為不合格品，進(jìn)而將其收置于收料裝置的不合格品區(qū)；至于完成測(cè)試后的電子元件，由于在完成測(cè)試后還必須由輸送裝置移載至收料裝置，因此在移載至收料裝置的移動(dòng)過(guò)程中仍可能會(huì)發(fā)生靜電放電現(xiàn)象，當(dāng)該電子元件已經(jīng)完成測(cè)試且測(cè)試結(jié)果為合格品時(shí)，即便在移載至收料裝置的移動(dòng)過(guò)程中發(fā)生了靜電放電現(xiàn)象而導(dǎo)致毀損，但因已經(jīng)完成測(cè)試，從而仍將會(huì)被收置于收料裝置的合格品區(qū)，進(jìn)而導(dǎo)致無(wú)法確保電子元件的測(cè)試質(zhì)量，這種完成測(cè)試后移載至收料裝置的移動(dòng)過(guò)程中因靜電放電現(xiàn)象所導(dǎo)致誤測(cè)的情形，事實(shí)上并無(wú)法在測(cè)試的過(guò)程中被發(fā)現(xiàn)，使得封測(cè)人員常究責(zé)于設(shè)備廠商所生產(chǎn)的測(cè)試設(shè)備未能真實(shí)測(cè)試出不合格品，而設(shè)備廠商則認(rèn)為所生產(chǎn)的測(cè)試設(shè)備并無(wú)異狀，導(dǎo)致封測(cè)人員與設(shè)備廠商之間難以理清責(zé)任歸屬問(wèn)題。尤其現(xiàn)今的電子元件，追求多功能與小型化，任何靜電放電現(xiàn)象都可能導(dǎo)致相當(dāng)程度的毀損，因此對(duì)于靜電放電現(xiàn)象的防范與偵測(cè)顯得更加重要。一般而言，機(jī)臺(tái)靜電放電現(xiàn)象的防范方法包括裝設(shè)地線，從而利用地線將機(jī)臺(tái)內(nèi)的靜電傳導(dǎo)出去；此外，亦有利用離子風(fēng)扇來(lái)消除機(jī)臺(tái)內(nèi)靜電的方式，如圖1所示，其為本案申請(qǐng)人所申請(qǐng)的中國(guó)臺(tái)灣第97119211號(hào)“機(jī)器設(shè)備的離子風(fēng)扇檢知裝置”發(fā)明專利案，該測(cè)試分類處理機(jī)于機(jī)臺(tái)11上設(shè)置有用以執(zhí)行不同作業(yè)的各項(xiàng)裝置，例如供料匣、收料匣及測(cè)試裝置等相關(guān)裝置，并于機(jī)臺(tái)11上設(shè)有一外罩12，該外罩12將各裝置罩置于內(nèi)，以防止灰塵雜屑落入及確保各裝置順暢工作，機(jī)臺(tái)11的內(nèi)部設(shè)有一控制各裝置工作的中央處理器13，該中央處理器13可為工業(yè)計(jì)算機(jī)，并通過(guò)線路連接裝配于外罩12外部的各顯示單元，各顯示單元可分別為屏幕顯示器131或多個(gè)警示燈132，使屏幕顯示器131或各警示燈132可分別顯示各項(xiàng)信息數(shù)據(jù)及發(fā)出警示信息，另于外罩12的內(nèi)頂面裝配有用以消除靜電的離子風(fēng)扇14，該離子風(fēng)扇14再通過(guò)線路連接一檢知裝置15，該檢知裝置15用以偵測(cè)離子風(fēng)扇14的各項(xiàng)使用狀態(tài)，并通過(guò)線路連接中央處理器13，從而可將各項(xiàng)偵測(cè)信息傳輸至中央處理器13， 使中央處理器13以屏幕顯示器131或警示燈132提示離子風(fēng)扇14的異常信息。然而，不論是以裝設(shè)地線還是離子風(fēng)扇來(lái)防范機(jī)臺(tái)的靜電放電現(xiàn)象，都只是盡可能地降低發(fā)生幾率，并不足以完全確保機(jī)臺(tái)絕對(duì)不會(huì)發(fā)生靜電放電現(xiàn)象，因此，除了盡可能裝設(shè)地線或是離子風(fēng)扇來(lái)防范外，對(duì)于可能發(fā)生靜電放電現(xiàn)象的偵測(cè)更加必要，因?yàn)楫?dāng)偵測(cè)到機(jī)臺(tái)發(fā)生靜電放電現(xiàn)象時(shí)，可以記錄并通知封測(cè)人員作為處理依據(jù)，從而由封測(cè)人員決定停機(jī)或者將該批完成測(cè)試而正移載至收料裝置過(guò)程中的電子元件重新測(cè)試或是依據(jù)原先測(cè)試結(jié)果繼續(xù)執(zhí)行分類，如此即可確保電子元件的測(cè)試質(zhì)量并且避免歸責(zé)于設(shè)備廠商。然而，直至今日，電子元件測(cè)試分類機(jī)仍尚無(wú)偵測(cè)靜電放電現(xiàn)象的機(jī)制，導(dǎo)致無(wú)法確保電子元件的測(cè)試質(zhì)量，也造成封測(cè)容易與設(shè)備廠商間難以理清責(zé)任歸屬問(wèn)題。

有鑒于此，本案發(fā)明人遂以其多年從事相關(guān)行業(yè)的研發(fā)與制作經(jīng)驗(yàn)，針對(duì)目前所面臨的問(wèn)題深入研究，經(jīng)過(guò)長(zhǎng)期努力的研究與試作，終究研創(chuàng)出一種可偵測(cè)出機(jī)臺(tái)在電子元件測(cè)試過(guò)程中是否發(fā)生放電的現(xiàn)象，進(jìn)而為封測(cè)人員提供機(jī)臺(tái)發(fā)生靜電放電時(shí)的處理依據(jù)，以確保電子元件的測(cè)試質(zhì)量，此即為本發(fā)明的設(shè)計(jì)宗旨。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本發(fā)明的一個(gè)目的在于提供一種具放電偵測(cè)裝置的電子元件測(cè)試分類機(jī)，該測(cè)試分類機(jī)包括供料裝置、收料裝置、測(cè)試裝置、輸送裝置、控制裝置以及配置有至少一放電偵測(cè)裝置，該放電偵測(cè)裝置包括偵測(cè)感知器及處理單元，該處理單元至少設(shè)有信號(hào)轉(zhuǎn)換器及處理器，該偵測(cè)感知器通過(guò)空氣的傳導(dǎo)偵測(cè)機(jī)臺(tái)上產(chǎn)生的電磁信號(hào)，并通過(guò)處理單元中的信號(hào)轉(zhuǎn)換器將該電磁信號(hào)轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號(hào)并傳輸至處理器，該處理器再將該數(shù)字訊信號(hào)進(jìn)行演算，以偵測(cè)出機(jī)臺(tái)在電子元件測(cè)試過(guò)程中是否發(fā)生放電現(xiàn)象，進(jìn)而為封測(cè)人員提供機(jī)臺(tái)發(fā)生放電現(xiàn)象時(shí)的處理依據(jù)，以確保電子元件的測(cè)試質(zhì)量。

本發(fā)明的另一個(gè)目的在于提供一種具放電偵測(cè)裝置的電子元件測(cè)試分類機(jī)，當(dāng)該放電偵測(cè)裝置偵測(cè)出機(jī)臺(tái)在電子元件測(cè)試過(guò)程中發(fā)生放電情形時(shí)，可作成記錄并通知封測(cè)人員作為處理依據(jù)，從而由封測(cè)人員決定停機(jī)或者將該批完成測(cè)試而正移載至收料裝置過(guò)程中的電子元件重新測(cè)試或是依據(jù)原先測(cè)試結(jié)果繼續(xù)執(zhí)行分類，進(jìn)而可確保電子元件的測(cè)試質(zhì)量，并且避免因放電現(xiàn)象所導(dǎo)致誤測(cè)的責(zé)任歸責(zé)于設(shè)備廠商。

為了達(dá)到上述目的，本發(fā)明提供了一種具放電偵測(cè)裝置的電子元件測(cè)試分類機(jī)，其包括：

機(jī)臺(tái)；

供料裝置，設(shè)于該機(jī)臺(tái)上，供容納多個(gè)待測(cè)電子元件；

收料裝置，設(shè)于該機(jī)臺(tái)上，供容納多個(gè)不同等級(jí)的完成測(cè)試后的電子元件；

測(cè)試裝置，設(shè)于該機(jī)臺(tái)上，以供至少一個(gè)電子元件執(zhí)行測(cè)試作業(yè)；

輸送裝置，設(shè)于該機(jī)臺(tái)上，以于該供料裝置、該測(cè)試裝置及該收料裝置之間移載待測(cè)電子元件及完成測(cè)試后的電子元件；

控制裝置，用于控制該供料裝置、該收料裝置、該測(cè)試裝置及該輸送裝置工作；

至少一放電偵測(cè)裝置，包括偵測(cè)感知器及處理單元，該處理單元至少設(shè)有信號(hào)轉(zhuǎn)換器及處理器，該偵測(cè)感知器偵測(cè)該機(jī)臺(tái)產(chǎn)生的信號(hào)并通過(guò)該信號(hào)轉(zhuǎn)換器將該信號(hào)傳輸至該處理器，以偵測(cè)出該機(jī)臺(tái)在電子元件測(cè)試過(guò)程中是否發(fā)生放電現(xiàn)象。

在本發(fā)明的一實(shí)施例中，該測(cè)試裝置設(shè)有測(cè)試模塊，該測(cè)試模塊上設(shè)有至少一個(gè)測(cè)試座，該輸送裝置設(shè)有至少一具取放器的移料臂、至少一轉(zhuǎn)載臺(tái)及至少一測(cè)試移載臂，該輸送裝置用以輸送待測(cè)電子元件及完成測(cè)試 后的電子元件。

在本發(fā)明的一實(shí)施例中，該轉(zhuǎn)載臺(tái)于該機(jī)臺(tái)的第一側(cè)設(shè)有入料轉(zhuǎn)載臺(tái)以及于該機(jī)臺(tái)的第二側(cè)設(shè)有出料轉(zhuǎn)載臺(tái)，該測(cè)試移載臂設(shè)有第一測(cè)試移載臂及第二測(cè)試移載臂，以接續(xù)將該入料轉(zhuǎn)載臺(tái)上的待測(cè)電子元件移載至該測(cè)試裝置執(zhí)行測(cè)試作業(yè)，并于完成測(cè)試后將該電子元件移載至該出料轉(zhuǎn)載臺(tái)。

在本發(fā)明的一實(shí)施例中，該機(jī)臺(tái)外部設(shè)有外罩，該外罩的內(nèi)部裝配有離子風(fēng)扇。

在本發(fā)明的一實(shí)施例中，該放電偵測(cè)裝置中的信號(hào)轉(zhuǎn)換器將偵測(cè)感知器所偵測(cè)的電磁信號(hào)轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號(hào)并傳輸至該處理器，該處理器再將該數(shù)字信號(hào)進(jìn)行演算，以偵測(cè)出機(jī)臺(tái)在電子元件測(cè)試過(guò)程中是否發(fā)生放電現(xiàn)象。

在本發(fā)明的一實(shí)施例中，該放電偵測(cè)裝置中的處理單元還包含數(shù)據(jù)庫(kù)，該信號(hào)轉(zhuǎn)換器將偵測(cè)感知器所偵測(cè)的電磁信號(hào)轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號(hào)并傳輸至該處理器，該處理器再將該數(shù)字信號(hào)與該數(shù)據(jù)庫(kù)中內(nèi)建的放電數(shù)據(jù)進(jìn)行比對(duì)，以偵測(cè)出機(jī)臺(tái)在電子元件測(cè)試過(guò)程中是否發(fā)生放電現(xiàn)象。

在本發(fā)明的一實(shí)施例中，該放電偵測(cè)裝置先通過(guò)靜電棒于該機(jī)臺(tái)各裝置位置處分別放電，以取得該機(jī)臺(tái)各裝置位置處放電樣本的波形并將放電樣本的波形內(nèi)建于該數(shù)據(jù)庫(kù)中，以供該處理器將該信號(hào)轉(zhuǎn)換器所傳輸?shù)臄?shù)字信號(hào)與該數(shù)據(jù)庫(kù)內(nèi)建的放電樣本的波形進(jìn)行比對(duì)。

在本發(fā)明的一實(shí)施例中，該放電偵測(cè)裝置設(shè)有記錄顯示器，通過(guò)該記錄顯示器將該處理器的偵測(cè)結(jié)果作成記錄并通知封測(cè)人員作為處理的依據(jù)。

在本發(fā)明的一實(shí)施例中，該放電偵測(cè)裝置中的處理器接連接于該控制 裝置，該控制裝置將該處理器的偵測(cè)結(jié)果作成記錄并通知封測(cè)人員作為處理的依據(jù)。

在本發(fā)明的一實(shí)施例中，該控制裝置通過(guò)線路連接一屏幕顯示器，該控制裝置將該處理器的偵測(cè)結(jié)果傳輸并顯示于該屏幕顯示器上。

附圖說(shuō)明

圖1為中國(guó)臺(tái)灣第97119211號(hào)發(fā)明專利案中的機(jī)臺(tái)示意圖；

圖2為本發(fā)明中的機(jī)臺(tái)的架構(gòu)示意圖；

圖3為本發(fā)明中的機(jī)臺(tái)的示意圖；

圖4為本發(fā)明第一實(shí)施例的放電偵測(cè)裝置的示意圖；

圖5為本發(fā)明第二實(shí)施例的放電偵測(cè)裝置的示意圖；

圖6為本發(fā)明第一實(shí)施例的放電偵測(cè)裝置的使用示意圖(一)；

圖7為本發(fā)明第一實(shí)施例的放電偵測(cè)裝置的使用示意圖(二)。

附圖標(biāo)記說(shuō)明：10-機(jī)臺(tái)；12-外罩；13-中央處理器；131-屏幕顯示器；132-警示燈；14-離子風(fēng)扇；15-檢知裝置；20-機(jī)臺(tái)；21-供料裝置；22-收料裝置；23-測(cè)試裝置；231-測(cè)試模塊；232-測(cè)試座；24-輸送裝置；241-移料臂；2411-取放器；242-入料轉(zhuǎn)載臺(tái)；2421-第一承座；243-出料轉(zhuǎn)載臺(tái)；2431-第二承座；244-第一測(cè)試移載臂；2441-第一吸嘴；245-第二測(cè)試移載臂；2451-第二吸嘴；25-控制裝置；26-放電偵測(cè)裝置；261-偵測(cè)感知器；262-信號(hào)轉(zhuǎn)換器；263-處理器；264-記錄顯示器；27-放電偵測(cè)裝置；271-偵測(cè)感知器；272-信號(hào)轉(zhuǎn)換器；273-處理器；274-數(shù)據(jù)庫(kù)；275-記錄顯示器；30-外罩；31-屏幕顯示器；32-離子風(fēng)扇。

具體實(shí)施方式

為使審查員對(duì)本發(fā)明作更進(jìn)一步的了解，茲舉較佳實(shí)施例并配合圖式，詳述如后：

如圖2所示，本發(fā)明提供的具放電偵測(cè)裝置的電子元件測(cè)試分類機(jī)的機(jī)臺(tái)20上配置有供料裝置21、收料裝置22、測(cè)試裝置23、輸送裝置24及控制裝置25(如圖3所示)，該供料裝置21用于容納多個(gè)待測(cè)電子元件，收料裝置22用于容納多個(gè)不同等級(jí)(如合格品或不合格品)的完成測(cè)試后的電子元件，該測(cè)試裝置23設(shè)有測(cè)試模塊231，并于該測(cè)試模塊231上設(shè)有多個(gè)測(cè)試座232，以供置入多個(gè)電子元件并執(zhí)行測(cè)試作業(yè)，該輸送裝置24設(shè)有至少一具取放器2411的移料臂241、至少一轉(zhuǎn)載臺(tái)及至少一測(cè)試移載臂，用以輸送待測(cè)及完測(cè)電子元件；于本實(shí)施例中，該輸送裝置24中的移料臂241可作x-y-z三軸向移動(dòng)，從而可移載供料裝置21中的待測(cè)電子元件以及將完成測(cè)試后的電子元件移載至收料裝置22，并執(zhí)行分類作業(yè)；另于本實(shí)施例中，該輸送裝置24中的轉(zhuǎn)載臺(tái)于機(jī)臺(tái)20的第一側(cè)設(shè)有入料轉(zhuǎn)載臺(tái)242以及于機(jī)臺(tái)20的第二側(cè)設(shè)有出料轉(zhuǎn)載臺(tái)243，該入料轉(zhuǎn)載臺(tái)242可作x軸向移動(dòng)，并于臺(tái)面上開(kāi)設(shè)多個(gè)第一承座2421，進(jìn)而該入料轉(zhuǎn)載臺(tái)242可利用多個(gè)第一承座2421將移料臂241所移載的待測(cè)電子元件移載至測(cè)試裝置23的第一側(cè)；另外，該出料轉(zhuǎn)載臺(tái)243也可作x軸向移動(dòng)，并于臺(tái)面上開(kāi)設(shè)多個(gè)第二承座2431，進(jìn)而該出料轉(zhuǎn)載臺(tái)243可利用多個(gè)第二承座2431將完成測(cè)試后的電子元件移載至移料臂241；另于本實(shí)施例中，該輸送裝置24中的測(cè)試移載臂設(shè)有第一測(cè)試移載臂244及第二測(cè)試移載臂245，以接續(xù)的將入料轉(zhuǎn)載臺(tái)242上的待測(cè)電子元件移載至測(cè)試模塊231上的多個(gè)測(cè)試座232執(zhí)行測(cè)試作業(yè)，并于完成測(cè)試后將電子元件移載至出料轉(zhuǎn)載臺(tái)243；于本實(shí)施例中，該第一測(cè)試移載臂244設(shè)有多個(gè)第一吸嘴2441，并可作y-z軸向移動(dòng)，以將入料轉(zhuǎn)載臺(tái)242上的待測(cè)電子元件移載至測(cè)試模塊231上的多個(gè)測(cè)試座232執(zhí)行測(cè)試作業(yè)，并于完成測(cè)試后將電子元件移載至出料轉(zhuǎn)載臺(tái)243；該第二測(cè)試移載臂245同樣設(shè)有多個(gè)第二吸嘴2451，并可作y-z軸向移動(dòng)，以接續(xù)將入料轉(zhuǎn)載臺(tái)242上的待測(cè)電子元件移載至測(cè)試模塊231上的多個(gè)測(cè)試座232執(zhí)行測(cè)試作業(yè)， 并于完成測(cè)試后將電子元件移載至出料轉(zhuǎn)載臺(tái)243。

如圖3所示，本發(fā)明中的機(jī)臺(tái)20外部設(shè)有外罩30，該外罩30將各裝置罩置于內(nèi)，以防止附著灰塵及確保各裝置正常工作，該機(jī)臺(tái)20設(shè)有一可控制各裝置工作的控制裝置25(如工業(yè)計(jì)算機(jī))，該控制裝置25通過(guò)線路連接一裝配于外罩30外部的屏幕顯示器31，從而可將各裝置的工作信息數(shù)據(jù)傳輸至屏幕顯示器31，使得工作人員可于屏幕顯示器31上獲知各裝置的使用狀態(tài)，于本實(shí)施例中，該外罩30的內(nèi)部裝配有用以消除靜電的離子風(fēng)扇32，該離子風(fēng)扇32于運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)，利用尖端放電原理釋放出正離子或負(fù)離子，以中和靜電荷，進(jìn)而消除靜電；另外，本發(fā)明于該機(jī)臺(tái)20上裝設(shè)有至少一放電偵測(cè)裝置26，用以偵測(cè)機(jī)臺(tái)20在電子元件測(cè)試過(guò)程中是否發(fā)生放電現(xiàn)象。

如圖4所示，本發(fā)明第一實(shí)施例的放電偵測(cè)裝置26包括偵測(cè)感知器261及處理單元，該處理單元至少設(shè)有信號(hào)轉(zhuǎn)換器262及處理器263，于本實(shí)施例中，該信號(hào)轉(zhuǎn)換器262為擷取卡；該偵測(cè)感知器261通過(guò)空氣的傳導(dǎo)偵測(cè)機(jī)臺(tái)產(chǎn)生的電磁信號(hào)，并通過(guò)處理單元中的信號(hào)轉(zhuǎn)換器262將該電磁信號(hào)轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號(hào)并傳輸至處理器263，該處理器263再將該數(shù)字信號(hào)進(jìn)行演算，以偵測(cè)出機(jī)臺(tái)在電子元件測(cè)試過(guò)程中是否發(fā)生放電現(xiàn)象或是為一般的電磁干擾，當(dāng)處理器263偵測(cè)出機(jī)臺(tái)在電子元件測(cè)試過(guò)程中發(fā)生放電現(xiàn)象時(shí)，該放電偵測(cè)裝置26可作成記錄并通知封測(cè)人員作為處理的依據(jù)，從而由封測(cè)人員決定停機(jī)或者將該批完成測(cè)試而正移載至收料裝置過(guò)程中的電子元件重新測(cè)試或是依據(jù)原先測(cè)試結(jié)果繼續(xù)執(zhí)行分類，進(jìn)而可確保電子元件的測(cè)試質(zhì)量，并且避免因放電現(xiàn)象所導(dǎo)致誤測(cè)的責(zé)任歸責(zé)于設(shè)備廠商，于本實(shí)施例中，該處理單元設(shè)有記錄顯示器264，該記錄顯示器264可將處理器263偵測(cè)的結(jié)果作成記錄并通知封測(cè)人員，以作為處理的依據(jù)。

如圖5所示，本發(fā)明第二實(shí)施例的放電偵測(cè)裝置27，同樣包括偵測(cè)感知器271及處理單元，該處理單元設(shè)有信號(hào)轉(zhuǎn)換器272、處理器273及數(shù)據(jù)庫(kù)274，于本實(shí)施例中，該信號(hào)轉(zhuǎn)換器272為擷取卡；該偵測(cè)感知器271通過(guò)空氣的傳導(dǎo)偵測(cè)機(jī)臺(tái)產(chǎn)生的電磁信號(hào)，并通過(guò)處理單元中的信號(hào)轉(zhuǎn)換器272將該電磁信號(hào)轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號(hào)并傳輸至處理器273，該處理器273再將該數(shù)字信號(hào)與數(shù)據(jù)庫(kù)274內(nèi)建的放電數(shù)據(jù)進(jìn)行比對(duì)，以偵測(cè)出機(jī)臺(tái)在電子元件測(cè)試過(guò)程中是否有發(fā)生放電現(xiàn)象或是為一般的電磁干擾，于本實(shí)施例中，先通過(guò)靜電棒于各裝置位置處分別放電，以取得各裝置位置處放電樣本的波形并將放電樣本的波形內(nèi)建于該數(shù)據(jù)庫(kù)274中，以供處理器273將信號(hào)轉(zhuǎn)換器272傳輸?shù)臄?shù)字信號(hào)與該數(shù)據(jù)庫(kù)274內(nèi)建的放電樣本的波形進(jìn)行比對(duì)，由于放電的波形變化較為劇烈，顯然不同于一般空氣中電磁干擾產(chǎn)生的波形，因此處理器273很快的可以偵測(cè)出機(jī)臺(tái)在電子元件測(cè)試過(guò)程中是否有發(fā)生放電現(xiàn)象，若偵測(cè)出機(jī)臺(tái)在電子元件測(cè)試過(guò)程中發(fā)生放電現(xiàn)象，該放電偵測(cè)裝置27可作成記錄并通知封測(cè)人員作為處理的依據(jù)，從而由封測(cè)人員決定停機(jī)或者將該批完成測(cè)試而正移載至收料裝置過(guò)程中的電子元件重新測(cè)試或是依據(jù)原先測(cè)試結(jié)果繼續(xù)執(zhí)行分類，進(jìn)而可確保電子元件的測(cè)試質(zhì)量，并且避免因放電現(xiàn)象所導(dǎo)致誤測(cè)的責(zé)任歸責(zé)于設(shè)備廠商，于本實(shí)施例中，該處理單元設(shè)有記錄顯示器275，該記錄顯示器275可將處理器273偵測(cè)的結(jié)果作成記錄并通知封測(cè)人員，以作為處理的依據(jù)。

如圖6所示，本發(fā)明第一實(shí)施例的放電偵測(cè)裝置26可于機(jī)臺(tái)上配置有多個(gè)偵測(cè)感知器261，并將該多個(gè)偵測(cè)感知器261連接于處理單元中的信號(hào)轉(zhuǎn)換器262，從而利用該多個(gè)偵測(cè)感知器261偵測(cè)機(jī)臺(tái)各位置產(chǎn)生的電磁信號(hào)，并通過(guò)處理單元中的信號(hào)轉(zhuǎn)換器262將該電磁信號(hào)轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號(hào)并傳輸至處理器263，該處理器263再將該數(shù)字信號(hào)進(jìn)行演算，以偵測(cè)出機(jī)臺(tái)各位置在電子元件測(cè)試過(guò)程中是否發(fā)生放電現(xiàn)象或是為一般的電磁干擾，以作成記錄并通知封測(cè)人員作為處理的依據(jù)。

如圖7所示，本發(fā)明第一實(shí)施例的放電偵測(cè)裝置26中的處理器263可直接連接于控制各裝置工作的控制裝置25，從而由處理器263將偵測(cè)的結(jié)果傳輸至控制裝置25，由該控制裝置25作成記錄并通知封測(cè)人員作為處理的依據(jù)，或由該控制裝置25傳輸并顯示于機(jī)臺(tái)外部的屏幕顯示器31上，同樣可確保電子元件的測(cè)試質(zhì)量，并且避免因放電現(xiàn)象所導(dǎo)致誤測(cè)的責(zé)任歸責(zé)于設(shè)備廠商。