本發(fā)明涉及一種可偵測(cè)及分析機(jī)臺(tái)所屬環(huán)境空間中的電荷信號(hào)，并能夠進(jìn)一步控制離子產(chǎn)生器調(diào)變釋放出更多的正離子或負(fù)離子，以中和機(jī)臺(tái)所屬環(huán)境空間中的靜電荷而消除靜電，進(jìn)而有效避免機(jī)臺(tái)在測(cè)試過(guò)程中發(fā)生靜電放電現(xiàn)象的電子元件測(cè)試分類機(jī)。

背景技術(shù)：

自然界中的物質(zhì)可經(jīng)由某種過(guò)程而獲得或失去電子(例如摩擦或感應(yīng)起電)，這類電荷即稱為靜電。當(dāng)這些正電荷或是負(fù)電荷逐漸累積時(shí)，會(huì)與周圍環(huán)境產(chǎn)生電位差，該具有不同電位的物體經(jīng)由直接接觸或靜電感應(yīng)引起物體間的靜電電荷轉(zhuǎn)移，當(dāng)靜電場(chǎng)的能量達(dá)到一定的程度后會(huì)進(jìn)行放電，此即稱為靜電放電現(xiàn)象，簡(jiǎn)稱為esd(electrostaticdischarge)。以電子元件測(cè)試分類機(jī)而言，其之所以會(huì)產(chǎn)生靜電，可能是電子元件本身的殘電或者是機(jī)臺(tái)上的裝置在運(yùn)動(dòng)過(guò)程中因摩擦而累積的靜電，不論如何，當(dāng)這些靜電的正電荷或是負(fù)電荷失去平衡而使電位差的能量累積到某種程度后，一旦電子元件在移動(dòng)的過(guò)程中瞬間接近或接觸到導(dǎo)體，便會(huì)產(chǎn)生所謂的靜電放電現(xiàn)象，而這種靜電放電現(xiàn)象將會(huì)導(dǎo)致該移動(dòng)中電子元件的毀損。尤其現(xiàn)今的電子元件，追求多功能與小型化，任何靜電放電現(xiàn)象都可能導(dǎo)致相當(dāng)程度的毀損，因此對(duì)于靜電放電現(xiàn)象的防范顯得更加重要。一般而言，機(jī)臺(tái)靜電放電現(xiàn)象的防范方法包括裝設(shè)地線，從而利用地線將機(jī)臺(tái)內(nèi)的靜電傳導(dǎo)出去；此外，亦有利用離子風(fēng)扇消除靜電的方式，如圖1所示，其為本案申請(qǐng)人所申請(qǐng)的中國(guó)臺(tái)灣第97119211號(hào)“機(jī)器設(shè)備的離子風(fēng)扇檢知裝 置”發(fā)明專利案，該測(cè)試分類處理機(jī)于機(jī)臺(tái)11上設(shè)置有用以執(zhí)行不同作業(yè)的各項(xiàng)裝置，例如供料匣、收料匣及測(cè)試裝置等相關(guān)裝置，并于機(jī)臺(tái)11上設(shè)有一外罩12，該外罩12將各裝置罩置于內(nèi)，以防止灰塵雜屑落入及確保各裝置順暢工作，機(jī)臺(tái)11的內(nèi)部設(shè)有一控制各裝置工作的中央處理器13，該中央處理器13可為工業(yè)計(jì)算機(jī)，并通過(guò)線路連接裝配于外罩12外部的各顯示單元，各顯示單元可分別為屏幕顯示器131或多個(gè)警示燈132，使屏幕顯示器131或各警示燈132可分別顯示各項(xiàng)信息數(shù)據(jù)及發(fā)出警示信息，另于外罩12的內(nèi)頂面裝配有用以消除靜電的離子風(fēng)扇14，該離子風(fēng)扇14再通過(guò)線路連接一檢知裝置15，該檢知裝置15用以偵測(cè)離子風(fēng)扇14的各項(xiàng)使用狀態(tài)，并通過(guò)線路連接中央處理器13，從而可將各項(xiàng)偵測(cè)信息傳輸至中央處理器13，使中央處理器13通過(guò)屏幕顯示器131或警示燈132提示離子風(fēng)扇14的異常信息。如圖2所示，該檢知裝置15包含第一、二、三偵測(cè)單元151、152、153及微處理單元154，第一、二、三偵測(cè)單元251、152、153分別通過(guò)線路連接于離子風(fēng)扇14，第一偵測(cè)單元151用以偵測(cè)離子風(fēng)扇14的電源未開(kāi)啟、電源插頭脫落等狀態(tài)，第二偵測(cè)單元152用以偵測(cè)離子風(fēng)扇14的風(fēng)扇不轉(zhuǎn)、風(fēng)扇因異物堵轉(zhuǎn)、風(fēng)扇保護(hù)罩被開(kāi)啟等狀態(tài)，第三偵測(cè)單元153用以偵測(cè)離子風(fēng)扇14的離子不平衡、離子數(shù)不足、離子產(chǎn)生器故障等狀態(tài)，各第一、二、三偵測(cè)單元151、152、153再分別將偵測(cè)信號(hào)傳輸至微處理單元154，該微處理單元154于接收第一、二、三偵測(cè)單元151、152、153傳輸?shù)膫蓽y(cè)信號(hào)后，將各偵測(cè)信號(hào)作一比對(duì)判別，再將偵測(cè)結(jié)果傳輸至中央處理器13，該中央處理器13可于屏幕顯示器131顯示偵測(cè)數(shù)據(jù)，第一、二、三警示燈132a、132b、132c用以分別針對(duì)各第一、二、三偵測(cè)單元151、152、153的偵測(cè)結(jié)果發(fā)出警示，例如，當(dāng)該第三偵測(cè)單元153偵測(cè)到離子風(fēng)扇14的離子不平衡、離子數(shù)不足或離子產(chǎn)生器故障并將偵測(cè)信號(hào)傳輸至微處理單元154時(shí)，該微處理單元154將偵測(cè)信號(hào)作一比對(duì)判別并將偵測(cè)結(jié)果傳輸至中央處理器13，若偵測(cè)結(jié)果為 離子風(fēng)扇14的離子數(shù)不足，則中央處理器13通過(guò)屏幕顯示器131顯示離子數(shù)不足的字幕，或使第三警示燈132c閃爍以告知工作人員，工作人員可立即獲知離子數(shù)不足的異常信息。然而，一般而言，離子風(fēng)扇14釋放出的正離子或負(fù)離子為各占50％，該檢知裝置15中的第三偵測(cè)單元153也僅偵測(cè)離子風(fēng)扇14本身釋放出的正離子及負(fù)離子是否維持各占50％的平衡狀態(tài)，然而，當(dāng)機(jī)臺(tái)所屬環(huán)境空間中靜電場(chǎng)的正電荷或是負(fù)電荷已經(jīng)失去平衡，從而造成電位差時(shí)，離子風(fēng)扇14即便是維持釋放出50％的正離子及負(fù)離子，將仍然無(wú)法降低電位差以消除靜電，因此該檢知裝置15中的第三偵測(cè)單元153在無(wú)法偵測(cè)出機(jī)臺(tái)所屬環(huán)境空間中的電荷狀態(tài)下，并不能根據(jù)機(jī)臺(tái)所屬環(huán)境空間中的電荷狀態(tài)來(lái)調(diào)變?cè)撾x子風(fēng)扇14釋放出更多的正離子或負(fù)離子，以中和機(jī)臺(tái)所屬環(huán)境空間中的靜電荷，使靜電的正電荷或是負(fù)電荷保持平衡，從而降低電位差以消除靜電，進(jìn)而避免機(jī)臺(tái)在測(cè)試過(guò)程中發(fā)生靜電放電現(xiàn)象。

有鑒于此，本案發(fā)明人遂以其多年從事相關(guān)行業(yè)的研發(fā)與制作經(jīng)驗(yàn)，針對(duì)目前所面臨的問(wèn)題深入研究，經(jīng)過(guò)長(zhǎng)期努力的研究與試作，終究研創(chuàng)出一種可偵測(cè)及分析機(jī)臺(tái)所屬環(huán)境空間中的電荷信號(hào)，并能夠進(jìn)一步控制離子產(chǎn)生器調(diào)變釋放出更多的正離子或負(fù)離子，以中和機(jī)臺(tái)所屬環(huán)境空間中的靜電荷而消除靜電，進(jìn)而有效避免機(jī)臺(tái)在測(cè)試過(guò)程中發(fā)生靜電放電現(xiàn)象，此即為本發(fā)明的設(shè)計(jì)宗旨。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本發(fā)明的目的在于提供一種具電荷偵測(cè)裝置的電子元件測(cè)試分類機(jī)，該測(cè)試分類機(jī)的機(jī)臺(tái)包括供料裝置、收料裝置、測(cè)試裝置、輸送裝置、控制裝置、至少一離子產(chǎn)生器以及至少一電荷偵測(cè)裝置，該電荷偵測(cè)裝置包括至少一偵測(cè)感知器及微處理器，該偵測(cè)感知器架設(shè)于機(jī)臺(tái)所屬環(huán)境空間中，以偵測(cè)機(jī)臺(tái)的電荷信號(hào)，并通過(guò)微處理器分析出機(jī)臺(tái)所屬環(huán)境空間中是否有電荷不平衡的現(xiàn)象，從而進(jìn)一步控制該離子產(chǎn)生器調(diào)變釋放出更多 的正離子或負(fù)離子，以中和機(jī)臺(tái)所屬環(huán)境空間中的靜電荷而消除靜電，進(jìn)而有效避免機(jī)臺(tái)在測(cè)試過(guò)程中發(fā)生靜電放電現(xiàn)象，以確保電子元件的測(cè)試質(zhì)量。

為了達(dá)到上述目的，本發(fā)明提供了一種具電荷偵測(cè)裝置的電子元件測(cè)試分類機(jī)，其包括：

機(jī)臺(tái)；

供料裝置，設(shè)于該機(jī)臺(tái)上，供容納多個(gè)待測(cè)電子元件；

收料裝置，設(shè)于該機(jī)臺(tái)上，供容納多個(gè)不同等級(jí)的完成測(cè)試后的電子元件；

測(cè)試裝置，設(shè)于該機(jī)臺(tái)上，以供至少一個(gè)電子元件執(zhí)行測(cè)試作業(yè)；

輸送裝置，設(shè)于該機(jī)臺(tái)上，以于該供料裝置、該測(cè)試裝置及該收料裝置之間移載待測(cè)電子元件及完成測(cè)試后的電子元件；

控制裝置，用于控制該供料裝置、該收料裝置、該測(cè)試裝置及該輸送裝置工作；

至少一離子產(chǎn)生器，設(shè)于該機(jī)臺(tái)上，以釋放出正離子及負(fù)離子；

至少一電荷偵測(cè)裝置，包括至少一偵測(cè)感知器及微處理器，該偵測(cè)感知器架設(shè)于機(jī)臺(tái)所屬環(huán)境空間中并連接至該微處理器，以偵測(cè)及分析機(jī)臺(tái)的電荷信號(hào)，并控制該離子產(chǎn)生器調(diào)變釋放出更多的正離子或負(fù)離子，以中和該機(jī)臺(tái)所屬環(huán)境空間中的靜電荷。

在本發(fā)明的一實(shí)施例中，該測(cè)試裝置設(shè)有測(cè)試模塊，該測(cè)試模塊上設(shè)有至少一個(gè)測(cè)試座。

在本發(fā)明的一實(shí)施例中，該輸送裝置設(shè)有至少一具取放器的移料臂、至少一轉(zhuǎn)載臺(tái)及至少一測(cè)試移載臂，該輸送裝置用以輸送待測(cè)電子元件及完成測(cè)試后的電子元件。

在本發(fā)明的一實(shí)施例中，該輸送裝置中的轉(zhuǎn)載臺(tái)于該機(jī)臺(tái)的第一側(cè)設(shè)有入料轉(zhuǎn)載臺(tái)以及于該機(jī)臺(tái)的第二側(cè)設(shè)有出料轉(zhuǎn)載臺(tái)，該測(cè)試移載臂設(shè)有第一測(cè)試移載臂及第二測(cè)試移載臂，以接續(xù)將該入料轉(zhuǎn)載臺(tái)上的待測(cè)電子元件移載至該測(cè)試裝置執(zhí)行測(cè)試作業(yè)，并于完成測(cè)試后將該電子元件移載至該出料轉(zhuǎn)載臺(tái)。

在本發(fā)明的一實(shí)施例中，該離子產(chǎn)生器為離子風(fēng)扇。

在本發(fā)明的一實(shí)施例中，該機(jī)臺(tái)外部設(shè)有外罩，該離子產(chǎn)生器裝配于該外罩的內(nèi)部。

在本發(fā)明的一實(shí)施例中，該電荷偵測(cè)裝置中的偵測(cè)感知器偵測(cè)該機(jī)臺(tái)的電荷信號(hào)并將該機(jī)臺(tái)的電荷信號(hào)傳輸至該微處理器，該微處理器分析出該機(jī)臺(tái)所屬環(huán)境空間中是否有電荷不平衡的現(xiàn)象。

在本發(fā)明的一實(shí)施例中，該電荷偵測(cè)裝置于該機(jī)臺(tái)所屬環(huán)境空間中配置有多個(gè)偵測(cè)感知器，并將該多個(gè)偵測(cè)感知器連接于該微處理器，通過(guò)該多個(gè)偵測(cè)感知器偵測(cè)該機(jī)臺(tái)各位置產(chǎn)生的電荷信號(hào)。

在本發(fā)明的一實(shí)施例中，該電荷偵測(cè)裝置中的微處理器連接于該離子產(chǎn)生器，該微處理器控制該離子產(chǎn)生器調(diào)變釋放出更多的正離子或負(fù)離子。

在本發(fā)明的一實(shí)施例中，該電荷偵測(cè)裝置中的微處理器連接于該控制裝置，該控制裝置控制該離子產(chǎn)生器調(diào)變釋放出更多的正離子或負(fù)離子。

附圖說(shuō)明

圖1為中國(guó)臺(tái)灣第97119211號(hào)發(fā)明專利案中的機(jī)臺(tái)的示意圖；

圖2為中國(guó)臺(tái)灣第97119211號(hào)發(fā)明專利案中的檢知裝置的示意圖；

圖3為本發(fā)明中的機(jī)臺(tái)的架構(gòu)示意圖；

圖4為本發(fā)明中的機(jī)臺(tái)的示意圖；

圖5為本發(fā)明中的電荷偵測(cè)裝置第一實(shí)施例的示意圖；

圖6為本發(fā)明中的電荷偵測(cè)裝置第二實(shí)施例的示意圖；

圖7為本發(fā)明中的電荷偵測(cè)裝置第三實(shí)施例的示意圖。

附圖標(biāo)記說(shuō)明：10-機(jī)臺(tái)12-外罩；13-中央處理器；131-屏幕顯示器；132-警示燈；132a-第一警示燈；132b-第二警示燈；132c-第三警示燈；14-離子風(fēng)扇；15-檢知裝置；151-第一偵測(cè)單元；152-第二偵測(cè)單元；153-第三偵測(cè)單元；154-微處理單元；20-機(jī)臺(tái)；21-供料裝置；22-收料裝置；23-測(cè)試裝置；231-測(cè)試模塊；232-測(cè)試座；24-輸送裝置；241：移料臂；2411：取放器；242-入料轉(zhuǎn)載臺(tái)；2421-第一承座；243-出料轉(zhuǎn)載臺(tái)；2431-第二承座；244-第一測(cè)試移載臂；2441-第一吸嘴；245-第二測(cè)試移載臂；2451-第二吸嘴；25-控制裝置；26-離子產(chǎn)生器；27-電荷偵測(cè)裝置；271-偵測(cè)感知器；272-微處理器。

具體實(shí)施方式

為使審查員對(duì)本發(fā)明作更進(jìn)一步的了解，茲舉較佳實(shí)施例并配合圖式，詳述如后：

如圖3所示，本發(fā)明提供的具電荷偵測(cè)裝置的電子元件測(cè)試分類機(jī)中的機(jī)臺(tái)20上配置有供料裝置21、收料裝置22、測(cè)試裝置23、輸送裝置24及控制裝置25(如圖4所示)，該供料裝置21用于容納多個(gè)待測(cè)電子元件，收料裝置22用于容納多個(gè)不同等級(jí)(如合格品或不合格品)的完成測(cè)試后的電子元件，該測(cè)試裝置23設(shè)有測(cè)試模塊231，并于該測(cè)試模塊231上設(shè)有多個(gè)測(cè)試座232，以供置入多個(gè)電子元件并執(zhí)行測(cè)試作業(yè)，該輸送裝置24設(shè)有至少一具取放器2411的移料臂241、至少一轉(zhuǎn)載臺(tái)及至少一測(cè)試移載臂，用以輸送待測(cè)電子元件及完成測(cè)試后的電子元件；于本實(shí)施例中，該輸送裝置24中的移料臂241可作x-y-z三軸向移動(dòng)，從而可移載供料裝置21中的待測(cè)電子元件以及將完成測(cè)試后的電子元件移載至收料裝置22，并執(zhí)行分類作業(yè)；另于本實(shí)施例中，該輸送裝置24中的轉(zhuǎn)載 臺(tái)于機(jī)臺(tái)20的第一側(cè)設(shè)有入料轉(zhuǎn)載臺(tái)242以及于機(jī)臺(tái)20的第二側(cè)設(shè)有出料轉(zhuǎn)載臺(tái)243，該入料轉(zhuǎn)載臺(tái)242可作x軸向移動(dòng)，并于臺(tái)面上開(kāi)設(shè)多個(gè)第一承座2421，進(jìn)而該入料轉(zhuǎn)載臺(tái)242可利用多個(gè)第一承座2421將移料臂241所移載的待測(cè)電子元件移載至測(cè)試裝置23的第一側(cè)；另外，該出料轉(zhuǎn)載臺(tái)243同樣可作x軸向移動(dòng)，并于臺(tái)面上開(kāi)設(shè)多個(gè)第二承座2431，進(jìn)而該出料轉(zhuǎn)載臺(tái)243可利用多個(gè)第二承座2431將完成測(cè)試后的電子元件移載至移料臂241；另于本實(shí)施例中，該輸送裝置24中的測(cè)試移載臂設(shè)有第一測(cè)試移載臂244及第二測(cè)試移載臂245，以接續(xù)的將入料轉(zhuǎn)載臺(tái)242上的待測(cè)電子元件移載至測(cè)試模塊231上的多個(gè)測(cè)試座232執(zhí)行測(cè)試作業(yè)，并于完成測(cè)試后將電子元件移載至出料轉(zhuǎn)載臺(tái)243；于本實(shí)施例中，該第一測(cè)試移載臂244設(shè)有多個(gè)第一吸嘴2441，并可作y-z軸向移動(dòng)，以將入料轉(zhuǎn)載臺(tái)242上的待測(cè)電子元件移載至測(cè)試模塊231上的多個(gè)測(cè)試座232執(zhí)行測(cè)試作業(yè)，并于完成測(cè)試后將電子元件移載至出料轉(zhuǎn)載臺(tái)243；該第二測(cè)試移載臂245同樣設(shè)有多個(gè)第二吸嘴2451，并可作y-z軸向移動(dòng)，以接續(xù)將入料轉(zhuǎn)載臺(tái)242上的待測(cè)電子元件移載至測(cè)試模塊231上的多個(gè)測(cè)試座232執(zhí)行測(cè)試作業(yè)，并于完測(cè)后將電子元件移載至出料轉(zhuǎn)載臺(tái)243。

如圖4所示，本發(fā)明中的機(jī)臺(tái)20外部設(shè)有外罩30，該外罩30將各裝置罩置于內(nèi)，以防止附著灰塵及確保各裝置正常工作，該機(jī)臺(tái)20設(shè)有一可控制各裝置工作的控制裝置25(如工業(yè)計(jì)算機(jī))，該控制裝置25通過(guò)線路連接一裝配于外罩30外部的屏幕顯示器31，從而可將各裝置的工作信息數(shù)據(jù)傳輸至屏幕顯示器31，使得工作人員可于屏幕顯示器31上獲知各裝置的使用狀態(tài)，另外，本發(fā)明中的機(jī)臺(tái)20設(shè)有至少一離子產(chǎn)生器26以及至少一電荷偵測(cè)裝置27，于本實(shí)施例中，該離子產(chǎn)生器26為離子風(fēng)扇并裝配于外罩30的內(nèi)部，該離子產(chǎn)生器26于運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)，利用尖端放電原理釋放出正離子及負(fù)離子，該電荷偵測(cè)裝置27用以偵測(cè)及分析機(jī)臺(tái)20所屬環(huán)境空間中的電荷信號(hào)。

如圖5所示，本發(fā)明中的電荷偵測(cè)裝置27包括至少一偵測(cè)感知器271及微處理器272，該偵測(cè)感知器271架設(shè)于機(jī)臺(tái)所屬環(huán)境空間中并連接至微處理器272，以偵測(cè)機(jī)臺(tái)的電荷信號(hào)，從而可將機(jī)臺(tái)的電荷信號(hào)傳輸至該微處理器272，通過(guò)該微處理器272分析出機(jī)臺(tái)所屬環(huán)境空間中是否有電荷不平衡的現(xiàn)象，另外，該微處理器272連接于離子產(chǎn)生器26，使得該微處理器272分析出機(jī)臺(tái)所屬環(huán)境空間中有電荷不平衡的現(xiàn)象時(shí)，能夠進(jìn)一步控制該離子產(chǎn)生器26調(diào)變釋放出更多的正離子或負(fù)離子，以中和機(jī)臺(tái)所屬環(huán)境空間中的靜電荷而消除靜電，例如，當(dāng)該微處理器272分析出機(jī)臺(tái)所屬環(huán)境空間中正電荷過(guò)多時(shí)，則控制該離子產(chǎn)生器26調(diào)變釋放出更多的負(fù)離子，而當(dāng)該微處理器272分析出機(jī)臺(tái)所屬環(huán)境空間中負(fù)電荷過(guò)多時(shí)，則控制該離子產(chǎn)生器26調(diào)變釋放出更多的正離子，進(jìn)而藉以中和機(jī)臺(tái)所屬環(huán)境空間中的靜電荷而消除靜電，以有效避免機(jī)臺(tái)在測(cè)試過(guò)程中發(fā)生靜電放電現(xiàn)象，以確保電子元件的測(cè)試質(zhì)量。

如圖6所示，本發(fā)明中的電荷偵測(cè)裝置27可于機(jī)臺(tái)所屬環(huán)境空間中配置有多個(gè)偵測(cè)感知器271，并將該多個(gè)偵測(cè)感知器271連接于微處理器272，從而利用該多個(gè)偵測(cè)感知器271偵測(cè)機(jī)臺(tái)所屬環(huán)境空間中各位置所產(chǎn)生的電荷信號(hào)，并通過(guò)微處理器272分析出機(jī)臺(tái)所屬環(huán)境空間中各位置是否有電荷不平衡的現(xiàn)象，以進(jìn)一步控制該離子產(chǎn)生器26調(diào)變釋放出更多的正離子或負(fù)離子，以中和機(jī)臺(tái)所屬環(huán)境空間中的靜電荷而消除靜電。

如圖7所示，本發(fā)明中的電荷偵測(cè)裝置27中的微處理器272可連接于控制各裝置工作的控制裝置25，從而由微處理器272將分析的結(jié)果傳輸至控制裝置25，由該控制裝置25進(jìn)一步控制該離子產(chǎn)生器26調(diào)變釋放出更多的正離子或負(fù)離子，以中和機(jī)臺(tái)所屬環(huán)境空間中的靜電荷而消除靜電，同樣可以有效避免機(jī)臺(tái)在測(cè)試過(guò)程中發(fā)生靜電放電現(xiàn)象，以確保電子元件的測(cè)試質(zhì)量。