本發(fā)明涉及集成電路測試領(lǐng)域，特別是涉及一種電源芯片測試系統(tǒng)及方法。

背景技術(shù)：

在集成電路的測試中，為了保證電源芯片的穩(wěn)定性，往往會對電源芯片的各項工作參數(shù)進行測試。

現(xiàn)有的電源測試方案主要應(yīng)用于解決大功率開關(guān)電源在生產(chǎn)線上的量產(chǎn)測試，針對電源芯片的測試，其成套系統(tǒng)的造價非常昂貴，且軟硬件配置過剩。因此，在對電源芯片進行測試時，不得不采用人工測試的方法，一邊調(diào)整輸入電壓與負載大小，一邊記錄輸入電流與輸出電壓，假設(shè)有9個以上樣片、4種溫度條件、4個以上輸入電壓條件、6個左右負載條件的情況下，至少有864個輸入電流數(shù)據(jù)及864個輸出電壓數(shù)據(jù)需要測試并記錄，這無疑是一項巨大的工作量。而且，人工測試難免出現(xiàn)部分?jǐn)?shù)據(jù)記錄有誤的情況，對后續(xù)數(shù)據(jù)分析工作造成了影響。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

本發(fā)明的目的在于克服現(xiàn)有技術(shù)的不足，提供一種能夠進行自動測試的電源芯片測試系統(tǒng)及方法，可以對被測電源芯片進行自動線性調(diào)整、負載調(diào)整的測試，自動采集輸入電流、輸出電壓數(shù)據(jù)，并能將完整的測試數(shù)據(jù)信息進行記錄并輸出。

本發(fā)明的目的是通過以下技術(shù)方案來實現(xiàn)的：一種電源芯片測試系統(tǒng)，所述電源芯片測試系統(tǒng)包括待測電源芯片、用于為待測電源芯片提供工作電壓的直流源模塊、與所述直流源模塊及所述待測電源芯片相連用于測試所述待測電源芯片在不同測試狀態(tài)下輸入電流的電流測試模塊、與所述待測電源芯片相連用于為所述待測電源芯片提供目標(biāo)負載的負載模塊、與所述待測電源芯片相連用于測試所述待測電源芯片在不同測試狀態(tài)下的輸出電壓的電壓測試模塊及與所述直流源模塊、所述電流測試模塊、所述負載模塊及所述電壓測試模塊相連的用于控制和管理對所述待測電源芯片的整個測試過程的上位機。

所述上位機包括系統(tǒng)總控模塊、與所述系統(tǒng)總控模塊相連用于控制并監(jiān)視所述直流源模塊的工作狀態(tài)的直流源單控模塊、與所述系統(tǒng)總控模塊相連用于控制并監(jiān)視所述負載模塊的工作狀態(tài)的負載單控模塊及與所述系統(tǒng)總控模塊相連的測試數(shù)據(jù)信息輸出模塊。

所述系統(tǒng)總控模塊包括用于設(shè)置控制所述直流源模塊與所述負載模塊控制指令的控制指令預(yù)設(shè)子模塊、用于設(shè)置測試狀態(tài)切換時間間隔的時間間隔預(yù)設(shè)子模塊及用于設(shè)置測試數(shù)據(jù)存儲路徑及名稱的存儲預(yù)設(shè)子模塊。

所述系統(tǒng)總控模塊還包括用于啟動或停止測試系統(tǒng)的系統(tǒng)控制子模塊及用于實時顯示所 述待測電源芯片在不同測試條件下的輸入輸出數(shù)據(jù)信息的數(shù)據(jù)顯示子模塊。

一種電源芯片測試方法，包括以下步驟：

上位機初始化；

對所述上位機的系統(tǒng)總控模塊進行參數(shù)設(shè)置；

所述系統(tǒng)總控模塊的控制指令預(yù)設(shè)子模塊、時間間隔預(yù)設(shè)子模塊及存儲預(yù)設(shè)子模塊通過直流源單控模塊及負載單控模塊給直流源模塊及負載模塊發(fā)送控制指令，并通過系統(tǒng)控制子模塊切換測試狀態(tài)；

所述系統(tǒng)總控模塊的控制指令預(yù)設(shè)子模塊、時間間隔預(yù)設(shè)子模塊及存儲預(yù)設(shè)子模塊給電流測試模塊及電壓測試模塊發(fā)送測試指令，對待測電源芯片進行測試；及

電流測試模塊及電壓測試模塊將測試數(shù)據(jù)返回至所述系統(tǒng)總控模塊的數(shù)據(jù)顯示子模塊及測試數(shù)據(jù)信息輸出模塊進行顯示并輸出。

對所述上位機的系統(tǒng)總控模塊進行參數(shù)設(shè)置包括通過所述系統(tǒng)總控模塊的控制指令預(yù)設(shè)子模塊設(shè)置控制直流源模塊與負載模塊的控制指令、通過所述系統(tǒng)總控模塊的時間間隔預(yù)設(shè)子模塊設(shè)置測試狀態(tài)切換的時間間隔、通過所述系統(tǒng)總控模塊的存儲預(yù)設(shè)子模塊設(shè)置測試數(shù)據(jù)存儲路徑及名稱。

本發(fā)明的有益效果是：可以對被測電源芯片進行自動線性調(diào)整、負載調(diào)整的測試，自動采集輸入電流、輸出電壓數(shù)據(jù)，并能將完整的測試數(shù)據(jù)信息進行記錄并輸出，從而實現(xiàn)對目標(biāo)數(shù)據(jù)的自動采集、存儲并輸出，使得設(shè)計人員能夠更快更準(zhǔn)確的獲得實驗數(shù)據(jù)。

附圖說明

圖1為本發(fā)明電源芯片測試系統(tǒng)的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)圖；

圖2為本發(fā)明電源芯片測試方法的方法流程圖。

具體實施方式

下面結(jié)合附圖進一步詳細描述本發(fā)明的技術(shù)方案，但本發(fā)明的保護范圍不局限于以下所述。

如圖1所示，圖1為本發(fā)明電源芯片測試系統(tǒng)的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)圖，其包括待測電源芯片、用于為待測電源芯片提供工作電壓的直流源模塊、與直流源模塊及待測電源芯片相連用于測試待測電源芯片在不同測試狀態(tài)下輸入電流的電流測試模塊、與待測電源芯片相連用于為待測電源芯片提供目標(biāo)負載的負載模塊、與待測電源芯片相連用于測試待測電源芯片在不同測試狀態(tài)下的輸出電壓的電壓測試模塊及與直流源模塊、電流測試模塊、負載模塊及電壓測試模塊相連的用于控制和管理對待測電源芯片的整個測試過程的上位機。

其中，上位機包括系統(tǒng)總控模塊、與系統(tǒng)總控模塊相連用于控制并監(jiān)視直流源模塊的工 作狀態(tài)的直流源單控模塊、與系統(tǒng)總控模塊相連用于控制并監(jiān)視負載模塊的工作狀態(tài)的負載單控模塊及與系統(tǒng)總控模塊相連的測試數(shù)據(jù)信息輸出模塊。系統(tǒng)總控模塊包括用于設(shè)置控制直流源模塊與負載模塊控制指令的控制指令預(yù)設(shè)子模塊、用于設(shè)置測試狀態(tài)切換時間間隔的時間間隔預(yù)設(shè)子模塊、用于設(shè)置測試數(shù)據(jù)存儲路徑及名稱的存儲預(yù)設(shè)子模塊、用于啟動或停止測試系統(tǒng)的系統(tǒng)控制子模塊及用于實時顯示待測電源芯片在不同測試條件下的輸入輸出數(shù)據(jù)信息的數(shù)據(jù)顯示子模塊。

如圖2所示，圖2為本發(fā)明電源芯片測試方法的方法流程圖，本發(fā)明電源芯片測試方法包括以下步驟：

步驟一，開始。

步驟二，上位機初始化。

步驟三，對上位機的系統(tǒng)總控模塊進行參數(shù)設(shè)置，包括通過系統(tǒng)總控模塊的控制指令預(yù)設(shè)子模塊設(shè)置控制直流源模塊與負載模塊控制指令、通過系統(tǒng)總控模塊的時間間隔預(yù)設(shè)子模塊設(shè)置測試狀態(tài)切換時間間隔、通過系統(tǒng)總控模塊的存儲預(yù)設(shè)子模塊設(shè)置測試數(shù)據(jù)存儲路徑及名稱。

步驟四，系統(tǒng)總控模塊的控制指令預(yù)設(shè)子模塊、時間間隔預(yù)設(shè)子模塊及存儲預(yù)設(shè)子模塊通過直流源單控模塊及負載單控模塊給直流源模塊及負載模塊發(fā)送控制指令，并通過系統(tǒng)控制子模塊切換測試狀態(tài)。

步驟五，系統(tǒng)總控模塊的控制指令預(yù)設(shè)子模塊、時間間隔預(yù)設(shè)子模塊及存儲預(yù)設(shè)子模塊給電流測試模塊及電壓測試模塊發(fā)送測試指令，對待測電源芯片進行測試。

步驟六，電流測試模塊及電壓測試模塊將測試數(shù)據(jù)返回至系統(tǒng)總控模塊的數(shù)據(jù)顯示子模塊及測試數(shù)據(jù)信息輸出模塊進行顯示并輸出。

步驟七，結(jié)束。

在本發(fā)明中，用戶可通過上位機加載、勾選、更改10組以內(nèi)的直流源控制指令，以滿足線性調(diào)整所需的不同輸入電壓；可加載、勾選、更改10組以內(nèi)的負載控制指令，以滿足負載調(diào)整所需的不同負載；可選擇只測試輸入電流或者輸出電壓，或者二者同時測試；可選擇測試結(jié)果存放路徑、存放文件名；上位機可實時顯示輸入電壓、輸入電流、輸出電壓及負載的數(shù)值等，可根據(jù)需求設(shè)置不同測試條件間的切換時間間隔及測試系統(tǒng)的啟動或者停止。

綜上所述，本發(fā)明電源芯片測試系統(tǒng)及方法可以對被測電源芯片進行自動線性調(diào)整、負載調(diào)整的測試，自動采集輸入電流、輸出電壓數(shù)據(jù)，并能將完整的測試數(shù)據(jù)信息進行記錄并輸出，從而實現(xiàn)對目標(biāo)數(shù)據(jù)的自動采集、存儲并輸出，使得設(shè)計人員能夠更快更準(zhǔn)確的獲得實驗數(shù)據(jù)。