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      一種大口徑光柵衍射效率的測(cè)量裝置和測(cè)量方法與流程

      文檔序號(hào):11859221閱讀:526來源:國(guó)知局
      一種大口徑光柵衍射效率的測(cè)量裝置和測(cè)量方法與流程

      本發(fā)明涉及光柵衍射效率的測(cè)量領(lǐng)域,特別是一種大口徑光柵衍射效率的測(cè)量裝置和測(cè)量方法。



      背景技術(shù):

      大口徑光柵(對(duì)角線尺寸達(dá)到米級(jí))在基于慣性約束核聚變的高功率啁啾脈沖放大系統(tǒng)中、在大口徑天文望遠(yuǎn)鏡中、在精密位移測(cè)量中、在納米壓印光刻以及其他諸多科學(xué)技術(shù)領(lǐng)域中起著至關(guān)重要的作用,而衍射效率是大口徑光柵最重要的性能指標(biāo)之一,大口徑內(nèi)衍射效率的準(zhǔn)確測(cè)量對(duì)于評(píng)價(jià)大口徑光柵的性能、改進(jìn)大口徑光柵的加工工藝有著重要的意義。

      目前國(guó)際上普遍采用的大口徑光柵衍射效率測(cè)量裝置的光路結(jié)構(gòu)如圖1所示[1,2],主要包括光源1、單色器2,光闌3、分束鏡4、偏振片5、參考光探測(cè)器6、測(cè)試光探測(cè)器7、樣品二維掃描機(jī)構(gòu)8和待測(cè)光柵9,圖2所示是樣品二維掃描機(jī)構(gòu)8的三維結(jié)構(gòu)示意圖,主要由樣品放置臺(tái)10、豎直方面的光學(xué)精密位移臺(tái)11和水平方向的光學(xué)精密位移臺(tái)12組成,基于該測(cè)量系統(tǒng),大口徑光柵衍射效率測(cè)量的主要步驟如下:

      ①使測(cè)試光直接被測(cè)試光探測(cè)器收集,然后同時(shí)測(cè)量測(cè)試光的強(qiáng)度和參考光的強(qiáng)度,計(jì)算測(cè)試光強(qiáng)和參考光強(qiáng)的比值。

      ②使光柵的衍射光直接被測(cè)試光探測(cè)器收集,然后同時(shí)測(cè)量衍射光的強(qiáng)度和參考光的強(qiáng)度,計(jì)算衍射光強(qiáng)和參考光強(qiáng)的比值。

      ③根據(jù)步驟①獲得的測(cè)試光強(qiáng)和參考光強(qiáng)的比值,和步驟②得到的衍射光強(qiáng)和參考光強(qiáng)的比值,計(jì)算大口徑光柵在單個(gè)位置處的衍射效率值。

      ④利用樣品二維掃描機(jī)構(gòu),移動(dòng)大口徑光柵樣品到下一個(gè)測(cè)量點(diǎn)的位置,重復(fù)步驟②和③,計(jì)算大口徑光柵在下一個(gè)測(cè)量位置處的衍射效率值。

      ⑤重復(fù)步驟④,使掃描路徑覆蓋大口徑光柵的整個(gè)工作區(qū)域,從而完成大口徑光柵衍射效率的測(cè)量。

      這種測(cè)量大口徑光柵衍射效率裝置和方法的主要缺點(diǎn)是:

      (1)測(cè)量系統(tǒng)構(gòu)建成本較高。由于系統(tǒng)的是通過二維掃描大口徑光柵來實(shí)現(xiàn)衍射效率測(cè)量的,而大口徑光柵的對(duì)角線尺寸往往在米量級(jí)左右,重量往往在200公斤以上,為了實(shí)現(xiàn)超重負(fù)載二維掃描的功能,二維掃描機(jī)械機(jī)構(gòu)需要花費(fèi)較高的成本。

      (2)測(cè)量過程安全隱患較大。測(cè)量過程中由于需要持續(xù)不斷的二維掃描大口徑光柵樣品,而大口徑光柵的對(duì)角線尺寸往往在米量級(jí)左右,重量往往在200公斤以上,因而在二維掃描超重負(fù)載的測(cè)量過程中,具有較大的安全隱患。

      (3)測(cè)量速度較慢,工作效率低。測(cè)量過程中由于需要二維掃描大口徑光柵樣品,而大口徑光柵的對(duì)角線尺寸往往在米量級(jí)左右,重量往往在200公斤以上,因而在二維移動(dòng)大口徑光柵的時(shí)候,需要非常緩慢平穩(wěn)的移動(dòng)光柵(加速度、最高速度和減速度需要控制的非常小),這使得大口徑光柵衍射效率的測(cè)量時(shí)間非常漫長(zhǎng),如測(cè)量一塊尺寸大小為430mm×350mm的光柵的衍射效率,需要長(zhǎng)達(dá)6個(gè)多小時(shí)的時(shí)間[1],在長(zhǎng)時(shí)間的測(cè)量過程中,測(cè)量環(huán)境會(huì)發(fā)生很多未知的變化,進(jìn)而會(huì)帶來不可忽略的測(cè)量誤差,同時(shí)測(cè)量時(shí)間較長(zhǎng)也降低了測(cè)量系統(tǒng)的工作效率。

      (4)測(cè)試重復(fù)性和復(fù)現(xiàn)性較差。測(cè)量過程中由于需要二維掃描大口徑光柵樣品,而大口徑光柵的對(duì)角線尺寸往往在米量級(jí)左右,重量往往在200公斤以上,因而在重復(fù)性掃描過程中,大光柵的重復(fù)定位精度較差,進(jìn)而使得測(cè)試數(shù)據(jù)的重復(fù)性和復(fù)現(xiàn)性難以得到保障。

      參考文獻(xiàn):

      [1]X.W.Zhou,X.Wang,Z.K.Liu,X.D.Xu,and S.J.Fu,"A new System for Measuring the Diffraction Efficiency of Large Aperture Gratings,"5th International Symposium on Advanced Optical Manufacturing And Testing Technologies:Design,Manufacturing,And Testing Of Micro-And Nano-Optical Devices And Systems,vol.7657,2010.

      [2]X.W.Zhou,Y.Liu,X.D.Xu,K.Q.Qiu,Z.K.Liu,Y.L.Hong,et al.,"Diffraction efficiency measurement of large aperture multilayer dielectric grating and its application in the fabrication process,"Acta Physica Sinica,vol.61,Sep 2012.



      技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:

      為了解決現(xiàn)有大口徑光柵衍射效率測(cè)量裝置和方法中存在的問題,本發(fā)明提供了一種輕巧便捷實(shí)現(xiàn)大口徑光柵衍射效率測(cè)量的裝置和方法。

      本發(fā)明的技術(shù)解決方案如下:

      一種大口徑光柵衍射效率的測(cè)量裝置,包括光源13、單色器14、光闌15、聚焦鏡16、光纖耦合裝置17、傳輸光纖18、二維掃描機(jī)構(gòu)22、測(cè)試光探測(cè)器23、供待測(cè)光柵26放置的樣品臺(tái)25,以及固定在所述的二維掃描機(jī)構(gòu)22上的光纖準(zhǔn)直鏡19、分束鏡20、參考光探測(cè)器21和偏振片24;

      所述的激光器13發(fā)出的光束經(jīng)所述的單色器14形成測(cè)量所需波長(zhǎng)的單色光束,通過光闌15過濾掉單色光束中的雜散光,同時(shí)調(diào)節(jié)光束口徑大小后經(jīng)所述的聚焦鏡16聚焦后的光束通過光纖耦合裝置17進(jìn)入到傳輸光纖18中,經(jīng)傳輸光纖18的傳輸后,在傳輸光纖出射端經(jīng)過光纖準(zhǔn)直鏡19的準(zhǔn)直作用后成為平行光束,該平行光束經(jīng)過分束鏡20形成一束參考光和一束測(cè)量光,所述的參考光照射在參考光探測(cè)器21上,所述的測(cè)試光經(jīng)過偏振片24形成測(cè)量所需的線偏振光,并照射在待測(cè)光柵26上,待測(cè)光柵26固定在樣品臺(tái)25上。

      所述的二維掃描機(jī)構(gòu)22由載物臺(tái)27、光學(xué)精密旋轉(zhuǎn)臺(tái)28、豎直方向的光學(xué)精密位移臺(tái)29和水平方向的光學(xué)精密位移臺(tái)30組成,豎直方向的光學(xué)精密位移臺(tái)29安裝在水平方向的光學(xué)精密位移臺(tái)30上,并可在水平方向移動(dòng),光學(xué)精密旋轉(zhuǎn)臺(tái)28安裝在豎直方向的光學(xué)精密位移臺(tái)29上并可在豎直方向移動(dòng),載物臺(tái)27安裝在光學(xué)精密旋轉(zhuǎn)臺(tái)28上,并可繞垂直方向旋轉(zhuǎn);

      所述的測(cè)試光探測(cè)器23和參考光探測(cè)器21分別經(jīng)數(shù)據(jù)采集器與計(jì)算機(jī)相連。所述的水平方向的光學(xué)精密位移臺(tái)29、豎直方向的光學(xué)精密位移臺(tái)30和光學(xué)精密旋轉(zhuǎn)臺(tái)28分別經(jīng)步進(jìn)電機(jī)控制器與計(jì)算機(jī)相連。

      工作原理:

      在測(cè)量過程中,首先使測(cè)試光束直接被測(cè)試光探測(cè)器收集,接著用數(shù)據(jù)采集器同時(shí)采集參考光和測(cè)試光的光強(qiáng)信號(hào)值,分別記為I1和I2,然后把待測(cè)光柵放置于測(cè)試光路中,使衍射光束照射在測(cè)試光探測(cè)器上,利用數(shù)據(jù)采集器同時(shí)采集參考光和衍射光的光強(qiáng)信號(hào)值,分別記為和則大口徑光柵樣品在該點(diǎn)位置處的衍射效率η可按照公式(1.1)計(jì)算得到:

      <mrow> <mi>&eta;</mi> <mo>=</mo> <mfrac> <mrow> <msubsup> <mi>I</mi> <mn>2</mn> <mo>*</mo> </msubsup> <mo>&times;</mo> <msub> <mi>I</mi> <mn>1</mn> </msub> </mrow> <mrow> <msubsup> <mi>I</mi> <mn>1</mn> <mo>*</mo> </msubsup> <mo>&times;</mo> <msub> <mi>I</mi> <mn>2</mn> </msub> </mrow> </mfrac> <mo>-</mo> <mo>-</mo> <mo>-</mo> <mrow> <mo>(</mo> <mn>1.1</mn> <mo>)</mo> </mrow> </mrow>

      按照?qǐng)D5所示的掃描路徑完成大光柵樣品全口徑內(nèi)衍射效率的測(cè)量,根據(jù)公式(1.2)計(jì)算大口徑內(nèi)光柵衍射效率的平均值

      <mrow> <mover> <mi>&eta;</mi> <mo>&OverBar;</mo> </mover> <mo>=</mo> <mfrac> <mrow> <munderover> <mo>&Sigma;</mo> <mrow> <mi>i</mi> <mo>=</mo> <mi>j</mi> <mo>=</mo> <mn>0</mn> </mrow> <mrow> <mi>i</mi> <mo>=</mo> <mi>N</mi> <mo>,</mo> <mi>j</mi> <mo>=</mo> <mi>M</mi> </mrow> </munderover> <msub> <mi>&eta;</mi> <mrow> <mi>i</mi> <mo>,</mo> <mi>j</mi> </mrow> </msub> </mrow> <mrow> <mi>M</mi> <mo>&times;</mo> <mi>N</mi> </mrow> </mfrac> <mo>-</mo> <mo>-</mo> <mo>-</mo> <mrow> <mo>(</mo> <mn>1.2</mn> <mo>)</mo> </mrow> </mrow>

      其中為大口徑內(nèi)光柵衍射效率的平均值,ηi,j為單點(diǎn)位置處的衍射效率,N為水平方向的采樣點(diǎn)數(shù),M為豎直方向的采樣點(diǎn)數(shù)。

      根據(jù)如下公式(1.3)計(jì)算大口徑內(nèi)光柵衍射效率的峰谷值PV:

      PV=ηmaxmin (1.3)

      其中PV為大口徑內(nèi)光柵衍射效率峰谷值,ηmax為大口徑內(nèi)光柵衍射效率的最大值,ηmin為大口徑內(nèi)光柵衍射效率的最小值。

      根據(jù)公式(1.4)計(jì)算大口徑內(nèi)光柵衍射效率的相對(duì)峰谷值ξ:

      <mrow> <mi>&xi;</mi> <mo>=</mo> <mfrac> <mrow> <mi>P</mi> <mi>V</mi> </mrow> <mover> <mi>&eta;</mi> <mo>&OverBar;</mo> </mover> </mfrac> <mo>&times;</mo> <mn>100</mn> <mi>%</mi> <mo>-</mo> <mo>-</mo> <mo>-</mo> <mrow> <mo>(</mo> <mn>1.4</mn> <mo>)</mo> </mrow> </mrow>

      其中為大口徑內(nèi)光柵衍射效率的相對(duì)峰谷值,PV為大口徑內(nèi)光柵衍射效率的峰谷值,為大口徑內(nèi)光柵衍射效率的平均值。

      根據(jù)公式(1.5)計(jì)算大口徑內(nèi)光柵衍射效率的標(biāo)準(zhǔn)差σ:

      <mrow> <mi>&sigma;</mi> <mo>=</mo> <msqrt> <mfrac> <mrow> <munderover> <mo>&Sigma;</mo> <mrow> <mi>i</mi> <mo>=</mo> <mi>j</mi> <mo>=</mo> <mn>0</mn> </mrow> <mrow> <mi>i</mi> <mo>=</mo> <mi>N</mi> <mo>,</mo> <mi>j</mi> <mo>=</mo> <mi>M</mi> </mrow> </munderover> <msup> <mrow> <mo>(</mo> <mrow> <msub> <mi>&eta;</mi> <mrow> <mi>i</mi> <mo>,</mo> <mi>j</mi> </mrow> </msub> <mo>-</mo> <mover> <mi>&eta;</mi> <mo>&OverBar;</mo> </mover> </mrow> <mo>)</mo> </mrow> <mn>2</mn> </msup> </mrow> <mrow> <mi>M</mi> <mo>&times;</mo> <mi>N</mi> <mo>-</mo> <mn>1</mn> </mrow> </mfrac> </msqrt> <mo>-</mo> <mo>-</mo> <mo>-</mo> <mrow> <mo>(</mo> <mn>1.5</mn> <mo>)</mo> </mrow> </mrow>

      其中σ為大口徑內(nèi)光柵衍射效率的標(biāo)準(zhǔn)差,為大口徑內(nèi)光柵衍射效率的平均值,ηi,j為單點(diǎn)位置處的衍射效率,N為水平方向的采樣點(diǎn)數(shù),M為豎直方向的采樣點(diǎn)數(shù)。

      根據(jù)公式(1.6)計(jì)算大口徑內(nèi)光柵衍射效率的標(biāo)準(zhǔn)差率χ:

      <mrow> <mi>&chi;</mi> <mo>=</mo> <mfrac> <mi>&sigma;</mi> <mover> <mi>&eta;</mi> <mo>&OverBar;</mo> </mover> </mfrac> <mo>-</mo> <mo>-</mo> <mo>-</mo> <mrow> <mo>(</mo> <mn>1.6</mn> <mo>)</mo> </mrow> </mrow>

      其中χ為大口徑內(nèi)光柵衍射效率的標(biāo)準(zhǔn)差率,σ為大口徑內(nèi)光柵衍射效率的標(biāo)準(zhǔn)差,為大口徑內(nèi)光柵衍射效率的平均值。

      一種大口徑光柵衍射效率的測(cè)量方法,包括以下步驟:

      ①通過旋轉(zhuǎn)光學(xué)精密旋轉(zhuǎn)臺(tái)28以及細(xì)微調(diào)節(jié)準(zhǔn)直鏡19上的俯仰左右偏擺量,使測(cè)量激光束正入射在待測(cè)光柵26上(結(jié)合帶小孔的紙片,根據(jù)反射光斑與入射光斑是否重合進(jìn)行判斷),然后對(duì)光學(xué)精密旋轉(zhuǎn)臺(tái)28的坐標(biāo)進(jìn)行清零操作。

      ②轉(zhuǎn)動(dòng)光學(xué)精密旋轉(zhuǎn)臺(tái)28到一定的角度,使測(cè)量激光照射在待測(cè)光柵26上,并使衍射光斑打在測(cè)試光探測(cè)器23上,在光柵平面內(nèi)調(diào)節(jié)樣品臺(tái)25的傾斜角度,使入射光斑和衍射光斑的高度相等,從而使光柵的刻線垂直于入射面。

      ③通過調(diào)節(jié)樣品臺(tái)25的俯仰偏擺量,使二維掃描機(jī)構(gòu)22在水平和豎直方向反復(fù)掃描光柵26的整個(gè)待測(cè)量區(qū)域的過程中,衍射光斑在參測(cè)試光探測(cè)器23上的位置基本保持不變。

      ④使光學(xué)精密旋轉(zhuǎn)臺(tái)28的坐標(biāo)回歸零位,并結(jié)合光纖準(zhǔn)直鏡19上的俯仰偏擺調(diào)節(jié)旋鈕,使入射激光光線正入射在待測(cè)光柵26上(結(jié)合帶小孔的紙片,根據(jù)反射光斑與入射光斑是否重合進(jìn)行判斷),然后再按照測(cè)量所需要的入射角,旋轉(zhuǎn)二維掃描機(jī)構(gòu)22上的光學(xué)精密旋轉(zhuǎn)臺(tái)28到對(duì)應(yīng)的角度方向。

      ⑤將測(cè)試光探測(cè)器23從二維掃描機(jī)構(gòu)22的載物臺(tái)27上拆下,并固定在樣品臺(tái)25上,使測(cè)試光直接照射在測(cè)試光探測(cè)器23上,測(cè)試光探測(cè)器23和偏振片24之間的距離要和測(cè)量光柵26衍射效率時(shí)兩者之間的距離相等,同時(shí)使探測(cè)器的接收面垂直于入射光線。

      ⑥用遮光板擋住激光光束,對(duì)測(cè)試光探測(cè)器23和參考光探測(cè)器21進(jìn)行暗場(chǎng)背景校正。

      ⑦打開遮光板,對(duì)測(cè)試光探測(cè)器23和參考光探測(cè)器21進(jìn)行明場(chǎng)背景校正。

      ⑧把測(cè)試光探測(cè)器23固定在二維掃描機(jī)構(gòu)22的載物臺(tái)27上,使衍射光斑打在測(cè)試光探測(cè)器23的接收面上,并使衍射光束垂直于測(cè)試光探測(cè)器24的感應(yīng)面。移動(dòng)二維掃描機(jī)構(gòu)22豎直方向的光學(xué)精密位移臺(tái)29和水平方向的光學(xué)精密位移臺(tái)30,使入射光斑照射在待測(cè)光柵26的起始點(diǎn)或者是標(biāo)記位置上。

      ⑨利用參考光探測(cè)器21和測(cè)試光探測(cè)器23同時(shí)測(cè)量參考光和衍射光的強(qiáng)度,計(jì)算衍射光強(qiáng)和參考光強(qiáng)的比值。根據(jù)步驟⑥和步驟⑦獲得的暗場(chǎng)背景信號(hào)和明場(chǎng)背景信號(hào),計(jì)算大口徑光柵在該測(cè)量位置處的衍射效率值。

      ⑩利用二維掃描機(jī)構(gòu)22豎直方向的光學(xué)精密位移臺(tái)29和水平方向的光學(xué)精密位移臺(tái)30,移動(dòng)入射光斑到大口徑光柵下一個(gè)測(cè)量點(diǎn)的位置,重復(fù)步驟⑨,計(jì)算大口徑光柵在下一個(gè)測(cè)量位置處的衍射效率值。

      重復(fù)步驟⑩,使掃描路徑覆蓋大口徑光柵的整個(gè)工作區(qū)域,從而完成大口徑光柵衍射效率的測(cè)量。

      本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn):

      與傳統(tǒng)大口徑光柵衍射效率的測(cè)量技術(shù)相比,本發(fā)明專利提出的測(cè)量裝置和測(cè)量方法主要具有以下優(yōu)點(diǎn):

      (1)測(cè)量系統(tǒng)構(gòu)建成本較低。由于系統(tǒng)的是通過二維掃描輕巧便捷的光纖測(cè)量頭來實(shí)現(xiàn)大口徑光柵衍射效率測(cè)量的,與傳統(tǒng)測(cè)量技術(shù)中采用的二維掃描大口徑光柵(對(duì)角線尺寸在米量級(jí),重量200公斤以上)的方案相比,本發(fā)明專利采用的測(cè)量系統(tǒng)的構(gòu)建成本得到了大大的降低。

      (2)測(cè)量過程安全性較高。由于系統(tǒng)的是通過二維掃描輕巧便捷的光纖測(cè)量頭來實(shí)現(xiàn)大口徑光柵衍射效率測(cè)量的,與傳統(tǒng)測(cè)量技術(shù)中采用的二維掃描大口徑光柵(對(duì)角線尺寸在米量級(jí),重量200公斤以上)的方案相比,在基于本發(fā)明專利的掃描測(cè)量過程中,安全性隱患較低。

      (3)測(cè)量速度較快。由于系統(tǒng)是通過二維掃描輕巧便捷的光纖頭來實(shí)現(xiàn)大口徑光柵衍射效率測(cè)量的,與傳統(tǒng)測(cè)量技術(shù)中采用的二維掃描大口徑光柵(對(duì)角線尺寸在米量級(jí),重量200公斤以上)的方案相比,基于本發(fā)明專利的掃描測(cè)量速度較快,面對(duì)同樣尺寸大小的光柵樣品,在選取同樣采樣點(diǎn)數(shù)的情況下,大口徑光柵衍射效率測(cè)量所需要的時(shí)間可以降低到傳統(tǒng)方法的30%以下。

      (4)測(cè)試數(shù)據(jù)重復(fù)性和復(fù)現(xiàn)性較好。由于系統(tǒng)是通過二維掃描輕巧便捷的光纖頭(對(duì)角線尺寸在20厘米左右,重量4公斤左右)來實(shí)現(xiàn)大口徑光柵衍射效率測(cè)量的,與傳統(tǒng)測(cè)量技術(shù)中采用的二維掃描大口徑光柵(對(duì)角線尺寸在米量級(jí),重量200公斤以上)的方案相比,在大口徑光柵衍射效率數(shù)據(jù)重復(fù)性和復(fù)現(xiàn)性的測(cè)量過程中,光纖測(cè)量頭具有較高的重復(fù)定位精度,進(jìn)而能夠保證較好的測(cè)試重復(fù)性和復(fù)現(xiàn)性。

      附圖說明

      圖1是利用傳統(tǒng)方法測(cè)量大口徑光柵衍射效率裝置的光路結(jié)構(gòu)圖。

      圖2是傳統(tǒng)測(cè)量系統(tǒng)中樣品二維掃描機(jī)構(gòu)的三維結(jié)構(gòu)圖。

      圖3是本發(fā)明中大口徑光柵衍射效率裝置的光路結(jié)構(gòu)圖。

      圖4是本發(fā)明中所采用的二維掃描機(jī)構(gòu)的三維結(jié)構(gòu)圖。

      圖5是本發(fā)明采用的用于大口徑光柵衍射效率測(cè)量的二維掃描路線示意圖。

      圖6是測(cè)量得到的一個(gè)大口徑光柵衍射效率的輪廓圖。

      具體實(shí)施方式

      下面結(jié)合附圖和具體實(shí)施例對(duì)本發(fā)明進(jìn)行詳細(xì)說明,但不應(yīng)以此限制本發(fā)明的保護(hù)范圍。

      實(shí)施例:

      一種大口徑光柵衍射效率測(cè)量的裝置,其光路結(jié)構(gòu)如圖3所示,該裝置包括光源13,單色器14,光闌15,聚焦鏡16,光纖耦合裝置17,傳輸光纖18,光纖準(zhǔn)直鏡19,分束鏡20,參考光探測(cè)器21,二維掃描機(jī)構(gòu)22,測(cè)試光探測(cè)器23,偏振片24,樣品臺(tái)25和待測(cè)光柵26。圖4所示是二維掃描機(jī)構(gòu)22的三維結(jié)構(gòu)圖,主要由載物臺(tái)27、光學(xué)精密旋轉(zhuǎn)臺(tái)28、豎直方向的光學(xué)精密位移臺(tái)29和水平方向的光學(xué)精密位移臺(tái)30組成。

      激光器13發(fā)出的光束經(jīng)過單色器14后形成測(cè)量所需波長(zhǎng)的單色光束,光闌15用于過濾掉單色光束中的雜散光,同時(shí)可用于調(diào)節(jié)光束口徑的大小,聚焦鏡16起到對(duì)平行光束進(jìn)行聚焦的作用,聚焦后的光束經(jīng)過光纖耦合裝置17后進(jìn)入到傳輸光纖18中,經(jīng)過光纖18的傳輸后,在光纖出射端經(jīng)過光纖準(zhǔn)直鏡19的準(zhǔn)直作用后成為平行光束(光纖準(zhǔn)直鏡19上安裝有俯仰偏擺調(diào)節(jié)旋鈕),平行光束經(jīng)過分束鏡20后形成一束參考光和一束測(cè)量光,參考光束照射在參考光探測(cè)器21上,測(cè)試光束經(jīng)過偏振片24后形成測(cè)量所需的線偏振光,線偏振光照射在待測(cè)光柵26上,待測(cè)光柵26固定在樣品臺(tái)25上,經(jīng)光柵衍射的衍射光束被測(cè)試光探測(cè)器23收集,準(zhǔn)直鏡19、分束鏡20、參考光探測(cè)器21、測(cè)試光探測(cè)器23和偏振片24均固定在載物臺(tái)27上,二維掃描機(jī)構(gòu)22用于在水平和豎直兩個(gè)方向分別移動(dòng)準(zhǔn)直鏡19、分束鏡20、參考光探測(cè)器21、測(cè)試光探測(cè)器23和偏振片24,圖5所示為大口徑光柵衍射效率測(cè)量時(shí)采用的二維掃描路線示意圖。

      光源13采用FemtoPower FP1060-20高功率超快光纖激光器,可出射寬波段的復(fù)色連續(xù)光,單色器14采用Photon etc公司的光柵單色器,其波長(zhǎng)工作范圍為500nm—1200nm,光闌15采用Thorlabs公司的ID20接桿安裝式可變光闌,聚焦鏡16和準(zhǔn)直鏡19均由Thorlabs公司定制而成,光纖耦合裝置17、樣品臺(tái)25均由上海聯(lián)誼光纖激光器公司加工制作,樣品臺(tái)25具有俯仰偏擺調(diào)節(jié)功能,傳輸光纖18采用Nufern芯層數(shù)值孔徑為0.12的單模光纖,偏振片24采用Thorlabs公司的LPVIS050-MP2形線偏振片,消光比可達(dá)到10000以上,分束器20采用Thorlabs公司的CM1-BP145B2籠式立方體安裝的薄膜分束器,分束比近似等于1:1,參考光探測(cè)器21和測(cè)試光探測(cè)器23均采用卓立漢光的Dsi200硅光電二極管探測(cè)器。圖4是二維掃描機(jī)構(gòu)22的三維結(jié)構(gòu)圖,載物臺(tái)27、光學(xué)精密旋轉(zhuǎn)臺(tái)28、豎直方向的光學(xué)精密位移臺(tái)29、水平方向的光學(xué)精密位移臺(tái)30均由上海聯(lián)誼光纖激光器公司加工制作。

      圖6所示是基于本實(shí)施例的測(cè)量系統(tǒng)測(cè)量得到的一個(gè)大口徑光柵衍射效率的輪廓圖,其中大口徑光柵的固有參數(shù)以及大口徑光柵衍射效率的測(cè)試條件為:(1)光柵長(zhǎng)度=400mm,(2)光柵寬度=200mm,(3)光柵周期=574.7nm,(4)測(cè)試波長(zhǎng)=1054nm,(5)入射角=70°,(6)偏振態(tài)=S,(7)衍射級(jí)次=-1級(jí)。大口徑光柵衍射效率測(cè)量的掃描參數(shù)為:(1)水平運(yùn)動(dòng)步長(zhǎng)=10mm,(2)水平暫停時(shí)間=200ms,(3)水平采樣點(diǎn)數(shù)=38,(4)豎直運(yùn)動(dòng)步長(zhǎng)=-10mm,(5)豎直暫停時(shí)間=200ms,(6)豎直采樣點(diǎn)數(shù)=18,(7)單點(diǎn)采樣次數(shù)=5。大口徑光柵衍射效率測(cè)量的數(shù)值統(tǒng)計(jì)結(jié)果為:(1)平均衍射效率=94.35%,(2)衍射效率最大值=95.40%,(3)衍射效率最小值=92.62%,(4)衍射效率峰谷值=2.781%,(5)衍射效率相對(duì)峰谷值=2.95%,(6)衍射效率標(biāo)準(zhǔn)差=0.0057,(7)衍射效率標(biāo)準(zhǔn)差率=0.61%。

      表1 所示為基于實(shí)施例1的大口徑光柵衍射效率的測(cè)量系統(tǒng),所進(jìn)行的重復(fù)性實(shí)驗(yàn)的測(cè)量結(jié)果。從表1中可以看出,在兩次大口徑光柵衍射效率測(cè)量的數(shù)值統(tǒng)計(jì)結(jié)果中,衍射效率平均值的相對(duì)偏差為0.049%,衍射效率最大值的相對(duì)偏差為0.015%,衍射效率最小值的相對(duì)偏差為0.181%,衍射效率峰谷值的相對(duì)偏差為0.111%,衍射效率相對(duì)峰谷值的相對(duì)偏差為0.062%,衍射效率標(biāo)準(zhǔn)差的相對(duì)偏差為0.642%,衍射效率標(biāo)準(zhǔn)差率的相對(duì)偏差為0.689%,所有采樣點(diǎn)衍射效率的相對(duì)偏差為0.101%(其計(jì)算公式為:這說明本實(shí)施例中的大口徑光柵衍射效率測(cè)量系統(tǒng)具有較高的數(shù)據(jù)重復(fù)性和復(fù)現(xiàn)性。

      表1.大口徑光柵衍射效率的重復(fù)性測(cè)量結(jié)果

      以上所述的具體實(shí)施例,對(duì)本發(fā)明的目的、技術(shù)方案和有益效果進(jìn)行了進(jìn)一步詳細(xì)說明,應(yīng)理解的是,以上所述僅為本發(fā)明的具體實(shí)施例而已,并不用于限制本發(fā)明,凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi),所做的任何修改、等同替換、改進(jìn)等,均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。

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