本發(fā)明涉及電力領(lǐng)域，具體而言，涉及一種絕緣子界面質(zhì)量的檢測方法、裝置及系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
：絕緣子是一種特殊的絕緣部件，能夠在架空輸電線路中起到重要作用。絕緣子一般包括絕緣護(hù)套和芯棒，絕緣子的界面質(zhì)量一般由絕緣護(hù)套和芯棒之間的緊密程度、損傷程度、是否存在氣隙或孔洞等因素決定。現(xiàn)有技術(shù)中一般通過強行分離絕緣護(hù)套和芯棒，檢測該分離過程中的分離功，從而確定絕緣子的界面質(zhì)量。但是，上述方式僅能反映絕緣護(hù)套和芯棒粘接的牢固程度，卻忽視了其他決定界面質(zhì)量的因素，綜上，現(xiàn)有技術(shù)中存在絕緣子的界面質(zhì)量檢測準(zhǔn)確度較差、效率較低的技術(shù)問題。針對上述的問題，目前尚未提出有效的解決方案。技術(shù)實現(xiàn)要素：本發(fā)明實施例提供了一種絕緣子界面質(zhì)量的檢測方法、裝置及系統(tǒng)，以至少解決現(xiàn)有技術(shù)中的絕緣子的界面質(zhì)量檢測準(zhǔn)確度較差的技術(shù)問題。根據(jù)本發(fā)明實施例的一個方面，提供了一種絕緣子界面質(zhì)量的檢測方法，該方法包括：檢測待測絕緣子在單位面積上的分離功；通過泄漏電流測試回路檢測所述待測絕緣子的泄漏電流和預(yù)設(shè)芯棒的泄漏電流；根據(jù)所述待測絕緣子的泄漏電流和所述預(yù)設(shè)芯棒的泄漏電流獲取所述待測絕緣子的界面泄漏電流；根據(jù)所述分離功和所述界面泄漏電流確定所述待測絕緣子的界面質(zhì)量。進(jìn)一步地，所述根據(jù)所述待測絕緣子的泄漏電流和所述預(yù)設(shè)芯棒的泄漏電流獲取所述待測絕緣子的界面泄漏電流包括：計算所述待測絕緣子的泄漏電流和所述預(yù)設(shè)芯棒的泄漏電流的差值，得到所述界面泄漏電流。進(jìn)一步地，所述泄漏電流測試回路包括：調(diào)壓器；變壓器，與所述調(diào)壓器并聯(lián)；交流電容式分壓器，與所述調(diào)壓器和所述變壓器均并聯(lián)；電極和泄漏電流測量電阻，所述電極和泄漏電流測量電阻所構(gòu)成的支路與所述交流電容式分壓器并聯(lián)；示波器，與所述泄漏電流測量電阻并聯(lián)。進(jìn)一步地，所述根據(jù)所述分離功和所述界面泄漏電流確定所述待測絕緣子的界面質(zhì)量包括：若所述分離功大于第一預(yù)設(shè)分離功且所述界面泄漏電流小于第一預(yù)設(shè)電流，則確定所述界面質(zhì)量屬于第一質(zhì)量等級；若所述分離功小于所述第一預(yù)設(shè)分離功且所述界面泄漏電流小于所述第一預(yù)設(shè)電流，則確定所述界面質(zhì)量屬于第二質(zhì)量等級；若所述分離功小于所述第一預(yù)設(shè)分離功且所述界面泄漏電流大于所述第一預(yù)設(shè)電流，則確定所述界面質(zhì)量屬于第三質(zhì)量等級；其中，所述第一質(zhì)量等級高于所述第二質(zhì)量等級，所述第二質(zhì)量等級高于所述第三質(zhì)量等級。進(jìn)一步地，在檢測待測絕緣子在單位面積上的分離功之前，所述方法還包括：將所述待測絕緣子在預(yù)設(shè)液體中進(jìn)行預(yù)設(shè)時長的水?dāng)U散處理。根據(jù)本發(fā)明實施例的另一方面，還提供了一種絕緣子界面質(zhì)量的檢測裝置，該裝置包括：第一檢測單元，用于檢測待測絕緣子在單位面積上的分離功；第二檢測單元，用于通過泄漏電流測試回路檢測所述待測絕緣子的泄漏電流和預(yù)設(shè)芯棒的泄漏電流；獲取單元，用于根據(jù)所述待測絕緣子的泄漏電流和所述預(yù)設(shè)芯棒的泄漏電流獲取所述待測絕緣子的界面泄漏電流；確定單元，用于根據(jù)所述分離功和所述界面泄漏電流確定所述待測絕緣子的界面質(zhì)量。進(jìn)一步地，所述獲取單元包括：計算子單元，用于計算所述待測絕緣子的泄漏電流和所述預(yù)設(shè)芯棒的泄漏電流的差值，得到所述界面泄漏電流。進(jìn)一步地，所述確定單元包括：第一確定子單元，用于若所述分離功大于第一預(yù)設(shè)分離功且所述界面泄漏電流小于第一預(yù)設(shè)電流，則確定所述界面質(zhì)量屬于第一質(zhì)量等級；第二確定子單元，用于若所述分離功小于所述第一預(yù)設(shè)分離功且所述界面泄漏電流小于所述第一預(yù)設(shè)電流，則確定所述界面質(zhì)量屬于第二質(zhì)量等級；第三確定子單元，用于若所述分離功小于所述第一預(yù)設(shè)分離功且所述界面泄漏電流大于所述第一預(yù)設(shè)電流，則確定所述界面質(zhì)量屬于第三質(zhì)量等級；其中，所述第一質(zhì)量等級高于所述第二質(zhì)量等級，所述第二質(zhì)量等級高于所述第三質(zhì)量等級。進(jìn)一步地，所述裝置還包括：處理單元，用于將所述待測絕緣子在預(yù)設(shè)液體中進(jìn)行預(yù)設(shè)時長的水?dāng)U散處理。根據(jù)本發(fā)明實施例的又一方面，還提供了一種絕緣子界面質(zhì)量的檢測系統(tǒng)，該系統(tǒng)包括：壓剪試驗機，用于檢測待測絕緣子在單位面積上的分離功；泄漏電流測試回路，用于檢測所述待測絕緣子的泄漏電流和預(yù)設(shè)芯棒的泄漏電流；處理器，分別與所述壓剪試驗機和所述泄漏電流測試回路連接，用于根據(jù)所述待測絕緣子的泄漏電流和所述預(yù)設(shè)芯棒的泄漏電流獲取所述待測絕緣子的界面泄漏電流，并根據(jù)所述分離功和所述界面泄漏電流確定所述待測絕緣子的界面質(zhì)量。在本發(fā)明實施例中，采用檢測待測絕緣子在單位面積上的分離功、以及通過泄漏電流測試回路檢測待測絕緣子的泄漏電流和預(yù)設(shè)芯棒的泄漏電流的方式，進(jìn)而根據(jù)待測絕緣子的泄漏電流和預(yù)設(shè)芯棒的泄漏電流獲取待測絕緣子的界面泄漏電流；達(dá)到了根據(jù)分離功和界面泄漏電流確定待測絕緣子的界面質(zhì)量的目的，從而實現(xiàn)了提高絕緣子的界面質(zhì)量檢測的準(zhǔn)確度、提升絕緣子的界面質(zhì)量檢測的檢測效率的技術(shù)效果，進(jìn)而解決了現(xiàn)有技術(shù)中的絕緣子的界面質(zhì)量檢測準(zhǔn)確度較差的技術(shù)問題。附圖說明此處所說明的附圖用來提供對本發(fā)明的進(jìn)一步理解，構(gòu)成本申請的一部分，本發(fā)明的示意性實施例及其說明用于解釋本發(fā)明，并不構(gòu)成對本發(fā)明的不當(dāng)限定。在附圖中：圖1(a)是根據(jù)本發(fā)明實施例的一種可選的絕緣子界面質(zhì)量的檢測方法的流程示意圖；圖1(b)是根據(jù)本發(fā)明實施例的一種可選的絕緣子界面質(zhì)量的檢測方法的示意圖；圖1(c)是根據(jù)本發(fā)明實施例的另一種可選的絕緣子界面質(zhì)量的檢測方法的示意圖；圖1(d)是根據(jù)本發(fā)明實施例的又一種可選的絕緣子界面質(zhì)量的檢測方法的示意圖；圖1(e)是根據(jù)本發(fā)明實施例的又一種可選的絕緣子界面質(zhì)量的檢測方法的示意圖；圖2是根據(jù)本發(fā)明實施例的另一種可選的絕緣子界面質(zhì)量的檢測方法的流程示意圖；圖3是根據(jù)本發(fā)明實施例的一種可選的絕緣子界面質(zhì)量的檢測方法的電路圖；圖4是根據(jù)本發(fā)明實施例的又一種可選的絕緣子界面質(zhì)量的檢測方法的流程示意圖；圖5是根據(jù)本發(fā)明實施例的又一種可選的絕緣子界面質(zhì)量的檢測方法的示意圖；圖6是根據(jù)本發(fā)明實施例的一種可選的絕緣子界面質(zhì)量的檢測裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；圖7是根據(jù)本發(fā)明實施例的另一種可選的絕緣子界面質(zhì)量的檢測裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。具體實施方式為了使本
技術(shù)領(lǐng)域：
的人員更好地理解本發(fā)明方案，下面將結(jié)合本發(fā)明實施例中的附圖，對本發(fā)明實施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本發(fā)明一部分的實施例，而不是全部的實施例。基于本發(fā)明中的實施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都應(yīng)當(dāng)屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。需要說明的是，本發(fā)明的說明書和權(quán)利要求書及上述附圖中的術(shù)語“第一”、“第二”等是用于區(qū)別類似的對象，而不必用于描述特定的順序或先后次序。應(yīng)該理解這樣使用的數(shù)據(jù)在適當(dāng)情況下可以互換，以便這里描述的本發(fā)明的實施例能夠以除了在這里圖示或描述的那些以外的順序?qū)嵤４送?，術(shù)語“包括”和“具有”以及他們的任何變形，意圖在于覆蓋不排他的包含，例如，包含了一系列步驟或單元的過程、方法、系統(tǒng)、產(chǎn)品或設(shè)備不必限于清楚地列出的那些步驟或單元，而是可包括沒有清楚地列出的或?qū)τ谶@些過程、方法、產(chǎn)品或設(shè)備固有的其它步驟或單元。首先對本發(fā)明實施例所涉及的技術(shù)術(shù)語作如下解釋：絕緣子：絕緣子(insulator)是一種特殊的絕緣控件，能夠在架空輸電線路中起到重要作用。絕緣子不應(yīng)該由于環(huán)境和電負(fù)荷條件發(fā)生變化導(dǎo)致的各種機電應(yīng)力而失效，否則絕緣子就不會產(chǎn)生作用，因此會損害整條線路的使用和運行壽命。實施例1根據(jù)本發(fā)明實施例，提供了一種絕緣子界面質(zhì)量的檢測方法的實施例，需要說明的是，在附圖的流程圖示出的步驟可以在諸如一組計算機可執(zhí)行指令的計算機系統(tǒng)中執(zhí)行，并且，雖然在流程圖中示出了邏輯順序，但是在某些情況下，可以以不同于此處的順序執(zhí)行所示出或描述的步驟。圖1(a)是根據(jù)本發(fā)明實施例的一種可選的絕緣子界面質(zhì)量的檢測方法，如圖1(a)所示，該方法包括如下步驟：步驟S102，檢測待測絕緣子在單位面積上的分離功；步驟S104，通過泄漏電流測試回路檢測待測絕緣子的泄漏電流和預(yù)設(shè)芯棒的泄漏電流；步驟S106，根據(jù)待測絕緣子的泄漏電流和預(yù)設(shè)芯棒的泄漏電流獲取待測絕緣子的界面泄漏電流；步驟S108，根據(jù)分離功和界面泄漏電流確定待測絕緣子的界面質(zhì)量。在本發(fā)明實施例中，采用檢測待測絕緣子在單位面積上的分離功、以及通過泄漏電流測試回路檢測待測絕緣子的泄漏電流和預(yù)設(shè)芯棒的泄漏電流的方式，進(jìn)而根據(jù)待測絕緣子的泄漏電流和預(yù)設(shè)芯棒的泄漏電流獲取待測絕緣子的界面泄漏電流；達(dá)到了根據(jù)分離功和界面泄漏電流確定待測絕緣子的界面質(zhì)量的目的，從而實現(xiàn)了提高絕緣子的界面質(zhì)量檢測的準(zhǔn)確度、提升絕緣子的界面質(zhì)量檢測的檢測效率的技術(shù)效果，進(jìn)而解決了現(xiàn)有技術(shù)中的絕緣子的界面質(zhì)量檢測準(zhǔn)確度較差的技術(shù)問題?？蛇x地，分離功(SeparationWork)是分離單元(機器或分離工廠)分離能力的定量量度。在本申請中，分離功是分離絕緣子的絕緣護(hù)套和芯棒的定量量度。分離功可以通過絕緣護(hù)套和芯棒的分離試驗測得?？蛇x地，圖1(b)是根據(jù)本發(fā)明實施例的一種可選的絕緣子界面質(zhì)量的檢測方法的示意圖，如圖1(b)所示，絕緣護(hù)套和芯棒的分離試驗(又名壓剪試驗)可以通過壓剪試驗機來執(zhí)行，例如，將長度為30mm的絕緣子放置在該壓剪試驗機的支撐金具上，并將壓頭金具與壓剪試驗機的壓力傳感器連接，并保持絕緣護(hù)套、芯棒的接觸界面與絕緣護(hù)套、芯棒的豎直方向公共軸線平行，該壓剪試驗機通過壓頭金具對芯棒施加速度為10mm/min的壓力，可以使芯棒緩緩向下移動，絕緣護(hù)套由于受到支撐金具的固定而無法向下移動，進(jìn)而，壓頭金具施加的壓縮載荷通過芯棒傳遞至絕緣護(hù)套與芯棒的粘接界面，隨著芯棒所受壓縮載荷的增加，絕緣護(hù)套與芯棒的粘接界面逐漸脫粘，直至絕緣護(hù)套與芯棒完全分離。可選地，圖1(c)是根據(jù)本發(fā)明實施例的另一種可選的絕緣子界面質(zhì)量的檢測方法的示意圖，如圖1(c)所示，通過執(zhí)行上述絕緣護(hù)套和芯棒的分離試驗，可以得到接受測試的絕緣子的壓縮載荷-壓縮位移曲線，在該試驗過程中外界載荷所做的功即為分離功，其可以用來表征絕緣護(hù)套與芯棒的界面粘接強度。具體地，絕緣子在單位面積上的分離功可以按如下公式計算：w＝S/(πdl)；在該公式中，w為絕緣子在單位面積上的分離功，單位為J/mm2；S為壓縮載荷-壓縮位移曲線與橫軸所圍面積，即試驗過程中外界載荷所做的功，單位為J；d為芯棒直徑，單位為mm；l為絕緣子的長度，例如，在上述舉例中，絕緣子的長度l為30mm。單位面積上的分離功反映了在待測絕緣子的界面未脫粘部位，絕緣護(hù)套與芯棒在膠粘劑作用下粘接的牢固程度?？蛇x地，圖1(d)是根據(jù)本發(fā)明實施例的又一種可選的絕緣子界面質(zhì)量的檢測方法的示意圖，如圖1(d)所示，絕緣護(hù)套與芯棒的界面質(zhì)量應(yīng)由界面缺陷和界面粘接強度兩個方面共同構(gòu)成，界面缺陷越少以及界面粘接強度越高，則絕緣護(hù)套與芯棒的界面的粘接質(zhì)量越好?，F(xiàn)有技術(shù)中僅可以通過單一的界面粘接強度來體現(xiàn)絕緣護(hù)套與芯棒的界面的粘接質(zhì)量，因此存在明顯的局限性。本申請中的絕緣子界面質(zhì)量的檢測方法既可以測試出廠的新絕緣子的界面質(zhì)量，也可以測試運行復(fù)合絕緣子的界面質(zhì)量?？蛇x地，圖1(e)是根據(jù)本發(fā)明實施例的又一種可選的絕緣子界面質(zhì)量的檢測方法的示意圖，如圖1(e)所示，絕緣子一般由絕緣護(hù)套和芯棒組成，將絕緣護(hù)套與芯棒剝離，可以得到表面光滑的芯棒，該芯棒可以作為步驟S104中的預(yù)設(shè)芯棒。綜上，本申請所提供的絕緣子界面質(zhì)量的檢測方法首先對待測絕緣子進(jìn)行去除絕緣護(hù)套的壓剪試驗，從而檢測到待測絕緣子在單位面積上的分離功，然后對待測絕緣子進(jìn)行界面泄漏電流的檢測，最終通過待測絕緣子在單位面積上的分離功與界面泄漏電流的檢測結(jié)果共同對待測絕緣子的界面質(zhì)量進(jìn)行評估。需要說明的是，目前尚沒有一種定量且有效的絕緣子界面質(zhì)量檢測方法。生產(chǎn)和運行單位常采用解剖法對絕緣子界面質(zhì)量進(jìn)行評價，與解剖法相比，本申請所提供的絕緣子界面質(zhì)量檢測方法具有更為突出的優(yōu)點。具體地，本申請所提供的絕緣子界面質(zhì)量的檢測方法采用定量方式對絕緣子的界面質(zhì)量進(jìn)行檢測，并依據(jù)檢測結(jié)果確定其界面質(zhì)量級別。而解剖法則需要對絕緣子的界面或外觀進(jìn)行觀察，進(jìn)而將觀察到的結(jié)果與絕緣子的標(biāo)準(zhǔn)界面或外觀進(jìn)行對比，最終依據(jù)對比結(jié)果確定絕緣子的界面質(zhì)量級別。顯而易見，解剖法的不可控因素較多、人為參與度過高、主觀因素較強，而本申請所提供的絕緣子界面質(zhì)量的檢測方法則有效規(guī)避了上述缺陷，實現(xiàn)了絕緣子界面質(zhì)量的精準(zhǔn)、客觀檢測，檢測過程更為合理，檢測結(jié)果可信度也更高?？蛇x地，圖2是根據(jù)本發(fā)明實施例的另一種可選的絕緣子界面質(zhì)量的檢測方法的流程示意圖，如圖2所示，步驟S106，根據(jù)待測絕緣子的泄漏電流和預(yù)設(shè)芯棒的泄漏電流獲取待測絕緣子的界面泄漏電流包括：步驟S202，計算待測絕緣子的泄漏電流和預(yù)設(shè)芯棒的泄漏電流的差值，得到界面泄漏電流。例如，已檢測到待測絕緣子的泄漏電流為I1，且檢測到預(yù)設(shè)芯棒的泄漏電流為I2，則待測絕緣子的界面泄漏電流為I1-I2。界面泄漏電流的數(shù)值可以反映絕緣護(hù)套與芯棒脫粘后形成的氣隙或孔洞等缺陷的面積大小?？蛇x地，圖3是根據(jù)本發(fā)明實施例的一種可選的絕緣子界面質(zhì)量的檢測方法的電路圖，如圖3所示，該泄漏電流測試回路包括：調(diào)壓器T；變壓器B，與調(diào)壓器T并聯(lián)；交流電容式分壓器F，與調(diào)壓器T和變壓器B均并聯(lián)；電極S和泄漏電流測量電阻R，電極S和泄漏電流測量電阻R所構(gòu)成的支路與交流電容式分壓器F并聯(lián)；示波器E，與泄漏電流測量電阻R并聯(lián)。需要說明的是，交流電容式分壓器F的工頻分壓比為1000:1，電極S所在的位置可以設(shè)置有待測絕緣子，泄漏電流測量電阻R的阻值可以為300歐姆，示波器E通過記錄泄漏電流測量電阻R上的電壓波形，進(jìn)而通過計算可以得到待測絕緣子的泄漏電流波形。該泄漏電流測試回路可以對待測絕緣子施加12kV的交流電壓，例如，當(dāng)待測絕緣子在整個試驗期間的泄漏電流小于1.00mA，則表明該待測絕緣子通過測試?？蛇x地，步驟S108，根據(jù)分離功和界面泄漏電流確定待測絕緣子的界面質(zhì)量包括：步驟S12，若分離功大于第一預(yù)設(shè)分離功且界面泄漏電流小于第一預(yù)設(shè)電流，則確定界面質(zhì)量屬于第一質(zhì)量等級；步驟S14，若分離功小于第一預(yù)設(shè)分離功且界面泄漏電流小于第一預(yù)設(shè)電流，則確定界面質(zhì)量屬于第二質(zhì)量等級；步驟S16，若分離功小于第一預(yù)設(shè)分離功且界面泄漏電流大于第一預(yù)設(shè)電流，則確定界面質(zhì)量屬于第三質(zhì)量等級；其中，第一質(zhì)量等級高于第二質(zhì)量等級，第二質(zhì)量等級高于第三質(zhì)量等級?？蛇x地，表1是一種待測絕緣子的界面質(zhì)量的質(zhì)量等級表，需要說明的是，該待測絕緣子的芯棒直徑為24mm。表1W>0.010J/mm2W<0.010J/mm2I<1.00mA質(zhì)量良好質(zhì)量中等I>1.00mA—質(zhì)量較差具體地，如表1所示，若待測絕緣子的分離功大于0.010J/mm2且界面泄漏電流小于1.00mA，則確定界面質(zhì)量屬于第一質(zhì)量等級，即質(zhì)量良好；若待測絕緣子的分離功小于0.010J/mm2且界面泄漏電流小于1.00mA，則確定界面質(zhì)量屬于第二質(zhì)量等級，即質(zhì)量中等；若待測絕緣子的分離功大于0.010J/mm2且界面泄漏電流大于1.00mA，則確定界面質(zhì)量屬于第三質(zhì)量等級，即質(zhì)量較差。可選地，表2是另一種待測絕緣子的界面質(zhì)量的質(zhì)量等級表，需要說明的是，該待測絕緣子的芯棒直徑為30mm。表2W>0.015J/mm2W<0.015J/mm2I<1.00mA質(zhì)量良好質(zhì)量中等I>1.00mA—質(zhì)量較差具體地，如表1所示，若待測絕緣子的分離功大于0.015J/mm2且界面泄漏電流小于1.00mA，則確定界面質(zhì)量屬于第一質(zhì)量等級，即質(zhì)量良好；若待測絕緣子的分離功小于0.015J/mm2且界面泄漏電流小于1.00mA，則確定界面質(zhì)量屬于第二質(zhì)量等級，即質(zhì)量中等；若待測絕緣子的分離功大于0.015J/mm2且界面泄漏電流大于1.00mA，則確定界面質(zhì)量屬于第三質(zhì)量等級，即質(zhì)量較差。需要說明的是，表1和表2僅為示例性表格，并不用于限制本申請的具體應(yīng)用，例如，質(zhì)量等級可以為細(xì)分為不局限于上述三個等級的多個等級，預(yù)設(shè)分離功和預(yù)設(shè)電流的數(shù)值大小也可由按需自行設(shè)置，具體設(shè)置方法在此不做贅述?？蛇x地，圖4是根據(jù)本發(fā)明實施例的又一種可選的絕緣子界面質(zhì)量的檢測方法的流程示意圖，如圖4所示，在步驟102，檢測待測絕緣子在單位面積上的分離功之前，方法還包括：步驟S402，將待測絕緣子在預(yù)設(shè)液體中進(jìn)行預(yù)設(shè)時長的水?dāng)U散處理。可選地，水?dāng)U散處理的主要步驟如下：步驟S22，將待測絕緣子放入預(yù)設(shè)液體中進(jìn)行水煮，例如，該預(yù)設(shè)液體可以是濃度為0.1％的NaCl溶液；步驟S24，在預(yù)設(shè)時長之后將該待測絕緣子取出，例如，該預(yù)設(shè)時長可以為(100±0.5)h；步驟S26，用濾紙吸干待測絕緣子表面的殘留液體。需要說明的是，將待測絕緣子在預(yù)設(shè)液體中進(jìn)行預(yù)設(shè)時長的水?dāng)U散處理，可以使得待測絕緣子的表面缺陷表現(xiàn)的更為明顯，進(jìn)而提升絕緣子界面質(zhì)量的檢測精度?？蛇x地，根據(jù)本申請實施例，待測絕緣子可以為運行絕緣子或人工老化復(fù)合絕緣子，采用本申請所提供的絕緣子界面質(zhì)量的檢測方法可以對運行絕緣子或人工老化復(fù)合絕緣子進(jìn)行界面質(zhì)量測試。可選地，圖5是根據(jù)本發(fā)明實施例的又一種可選的絕緣子界面質(zhì)量的檢測方法的示意圖，如圖5所示，對6支現(xiàn)場運行絕緣子，共計54只帶絕緣護(hù)套的芯棒先進(jìn)行水?dāng)U散試驗測試泄漏電流，泄漏電流測試結(jié)束后，對該54只帶絕緣護(hù)套的芯棒進(jìn)行壓剪試驗測試，以測試單位面積上的分離功。圖5中的橫坐標(biāo)為界面泄漏電流，縱坐標(biāo)為單位面積分離功，通過對圖5進(jìn)行生成折線圖或條形統(tǒng)計圖等二次處理，可以較為直觀的得到運行絕緣子的界面質(zhì)量情況。在本發(fā)明實施例中，采用檢測待測絕緣子在單位面積上的分離功、以及通過泄漏電流測試回路檢測待測絕緣子的泄漏電流和預(yù)設(shè)芯棒的泄漏電流的方式，進(jìn)而根據(jù)待測絕緣子的泄漏電流和預(yù)設(shè)芯棒的泄漏電流獲取待測絕緣子的界面泄漏電流；達(dá)到了根據(jù)分離功和界面泄漏電流確定待測絕緣子的界面質(zhì)量的目的，從而實現(xiàn)了提高絕緣子的界面質(zhì)量檢測的準(zhǔn)確度、提升絕緣子的界面質(zhì)量檢測的檢測效率的技術(shù)效果，進(jìn)而解決了現(xiàn)有技術(shù)中的絕緣子的界面質(zhì)量檢測準(zhǔn)確度較差的技術(shù)問題。實施例2根據(jù)本申請實施例的另一個方面，還提供了一種絕緣子界面質(zhì)量的檢測裝置，如圖6所示，該裝置包括：第一檢測單元601、第二檢測單元603、獲取單元605和確定單元607。其中，第一檢測單元601，用于檢測待測絕緣子在單位面積上的分離功；第二檢測單元603，用于通過泄漏電流測試回路檢測待測絕緣子的泄漏電流和預(yù)設(shè)芯棒的泄漏電流；獲取單元605，用于根據(jù)待測絕緣子的泄漏電流和預(yù)設(shè)芯棒的泄漏電流獲取待測絕緣子的界面泄漏電流；確定單元607，用于根據(jù)分離功和界面泄漏電流確定待測絕緣子的界面質(zhì)量。可選地，獲取單元605可以包括：計算子單元。其中，計算子單元，用于計算待測絕緣子的泄漏電流和預(yù)設(shè)芯棒的泄漏電流的差值，得到界面泄漏電流?？蛇x地，確定單元607可以包括：第一確定子單元、第二確定子單元和第三確定子單元。其中，第一確定子單元，用于若分離功大于第一預(yù)設(shè)分離功且界面泄漏電流小于第一預(yù)設(shè)電流，則確定界面質(zhì)量屬于第一質(zhì)量等級；第二確定子單元，用于若分離功小于第一預(yù)設(shè)分離功且界面泄漏電流小于第一預(yù)設(shè)電流，則確定界面質(zhì)量屬于第二質(zhì)量等級；第三確定子單元，用于若分離功小于第一預(yù)設(shè)分離功且界面泄漏電流大于第一預(yù)設(shè)電流，則確定界面質(zhì)量屬于第三質(zhì)量等級；其中，第一質(zhì)量等級高于第二質(zhì)量等級，第二質(zhì)量等級高于第三質(zhì)量等級?？蛇x地，如圖7所示，裝置還可以包括：處理單元701。其中，處理單元701，用于將待測絕緣子在預(yù)設(shè)液體中進(jìn)行預(yù)設(shè)時長的水?dāng)U散處理。根據(jù)本申請實施例的又一個方面，還提供了一種絕緣子界面質(zhì)量的檢測系統(tǒng)，該系統(tǒng)可以包括：壓剪試驗機、泄漏電流測試回路和處理器。其中，壓剪試驗機，用于檢測待測絕緣子在單位面積上的分離功；泄漏電流測試回路，用于檢測所述待測絕緣子的泄漏電流和預(yù)設(shè)芯棒的泄漏電流；處理器，分別與所述壓剪試驗機和所述泄漏電流測試回路連接，用于根據(jù)所述待測絕緣子的泄漏電流和所述預(yù)設(shè)芯棒的泄漏電流獲取所述待測絕緣子的界面泄漏電流，并根據(jù)所述分離功和所述界面泄漏電流確定所述待測絕緣子的界面質(zhì)量。在本發(fā)明實施例中，采用檢測待測絕緣子在單位面積上的分離功、以及通過泄漏電流測試回路檢測待測絕緣子的泄漏電流和預(yù)設(shè)芯棒的泄漏電流的方式，進(jìn)而根據(jù)待測絕緣子的泄漏電流和預(yù)設(shè)芯棒的泄漏電流獲取待測絕緣子的界面泄漏電流；達(dá)到了根據(jù)分離功和界面泄漏電流確定待測絕緣子的界面質(zhì)量的目的，從而實現(xiàn)了提高絕緣子的界面質(zhì)量檢測的準(zhǔn)確度、提升絕緣子的界面質(zhì)量檢測的檢測效率的技術(shù)效果，進(jìn)而解決了現(xiàn)有技術(shù)中的絕緣子的界面質(zhì)量檢測準(zhǔn)確度較差的技術(shù)問題。上述本發(fā)明實施例序號僅僅為了描述，不代表實施例的優(yōu)劣。在本發(fā)明的上述實施例中，對各個實施例的描述都各有側(cè)重，某個實施例中沒有詳述的部分，可以參見其他實施例的相關(guān)描述。在本申請所提供的幾個實施例中，應(yīng)該理解到，所揭露的技術(shù)內(nèi)容，可通過其它的方式實現(xiàn)。其中，以上所描述的裝置實施例僅僅是示意性的，例如所述單元的劃分，可以為一種邏輯功能劃分，實際實現(xiàn)時可以有另外的劃分方式，例如多個單元或組件可以結(jié)合或者可以集成到另一個系統(tǒng)，或一些特征可以忽略，或不執(zhí)行。另一點，所顯示或討論的相互之間的耦合或直接耦合或通信連接可以是通過一些接口，單元或模塊的間接耦合或通信連接，可以是電性或其它的形式。所述作為分離部件說明的單元可以是或者也可以不是物理上分開的，作為單元顯示的部件可以是或者也可以不是物理單元，即可以位于一個地方，或者也可以分布到多個單元上?？梢愿鶕?jù)實際的需要選擇其中的部分或者全部單元來實現(xiàn)本實施例方案的目的。另外，在本發(fā)明各個實施例中的各功能單元可以集成在一個處理單元中，也可以是各個單元單獨物理存在，也可以兩個或兩個以上單元集成在一個單元中。上述集成的單元既可以采用硬件的形式實現(xiàn)，也可以采用軟件功能單元的形式實現(xiàn)。所述集成的單元如果以軟件功能單元的形式實現(xiàn)并作為獨立的產(chǎn)品銷售或使用時，可以存儲在一個計算機可讀取存儲介質(zhì)中?；谶@樣的理解，本發(fā)明的技術(shù)方案本質(zhì)上或者說對現(xiàn)有技術(shù)做出貢獻(xiàn)的部分或者該技術(shù)方案的全部或部分可以以軟件產(chǎn)品的形式體現(xiàn)出來，該計算機軟件產(chǎn)品存儲在一個存儲介質(zhì)中，包括若干指令用以使得一臺計算機設(shè)備(可為個人計算機、服務(wù)器或者網(wǎng)絡(luò)設(shè)備等)執(zhí)行本發(fā)明各個實施例所述方法的全部或部分步驟。而前述的存儲介質(zhì)包括：U盤、只讀存儲器(ROM，Read-OnlyMemory)、隨機存取存儲器(RAM，RandomAccessMemory)、移動硬盤、磁碟或者光盤等各種可以存儲程序代碼的介質(zhì)。以上所述僅是本發(fā)明的優(yōu)選實施方式，應(yīng)當(dāng)指出，對于本
技術(shù)領(lǐng)域：
的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本發(fā)明原理的前提下，還可以做出若干改進(jìn)和潤飾，這些改進(jìn)和潤飾也應(yīng)視為本發(fā)明的保護(hù)范圍。當(dāng)前第1頁1 2 3