本發(fā)明涉及機械技術領域，具體為一種用于顯微維氏硬度計的砝碼托架。

背景技術：

現(xiàn)有技術中，顯微維氏硬度計用于測試金屬材料，包括微小零件、薄板、金屬箔、電線、薄硬化層和電鍍層，還可以用于測試玻璃、珠寶和陶瓷等非金屬材料，它可以遵循金屬的結構，測試感應硬化或滲碳等材料的內部硬度。顯微維氏硬度計中利用砝碼對杠桿加壓，實現(xiàn)需要的加荷。

在中國專利號CN 202141637 U提出的“一種用于顯微維氏硬度計的砝碼托架”中，該專利通過利用圓錐臺形外殼構成砝碼托架，在圓錐臺形外殼的內側連續(xù)設置兩個以上數(shù)目的環(huán)狀臺階，每個砝碼只能對應放置在一個環(huán)狀臺階上，不會放錯，同時，環(huán)狀臺階的高度大于砝碼的高度，上下相鄰的任意兩個砝碼之間不接觸，因此不會發(fā)生碰撞，隨人有效的解決了砝碼之間相互碰撞而引起的砝碼精度問題，但是并沒有考慮到砝碼本體與托架本體之間的碰撞引起的砝碼精度問題，而且該砝碼托架的設置不便于砝碼的取出，給砝碼托架在使用時帶來了非常大的不便。

技術實現(xiàn)要素：

本發(fā)明的目的在于提供一種用于顯微維氏硬度計的砝碼托架，以解決上述背景技術中提出的問題。

為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供如下技術方案：一種用于顯微維氏硬度計的砝碼托架，包括托架本體和砝碼，所述托架本體的截面呈直角梯形結構，且該托架本體的頂部連續(xù)開設有不少于兩個放置槽，且所述放置槽的半徑自托架的一側向另一側逐級遞增，且所述放置槽的側面為半圓形結構，所述砝碼的底部卡接在托架本體的放置槽內，且砝碼與放置槽的內壁之間設置有防撞膠墊。

優(yōu)選的，所述托架本體的底部固定安裝有連接座。

優(yōu)選的，所述放置槽的寬度大于砝碼的厚度。

優(yōu)選的，所述放置槽之間相互平行。

與現(xiàn)有技術相比，本發(fā)明的有益效果是：該用于顯微維氏硬度計的砝碼托架結構簡單，設計合理，通過設置有連續(xù)的半徑逐級遞增的放置槽，能夠使大小不同的砝碼對應放置在相應的放置槽內，使砝碼之間相互不接觸，解決了砝碼間相互碰撞而導致的砝碼精度的問題，而且在放置槽的內壁上設置有防撞膠墊，能夠有效的避免砝碼與托架本體件碰撞引起的砝碼精度問題，同時該托架本體上的放置槽的高度為砝碼的一半，即砝碼的上半部分裸露在托架上方，方便了砝碼在使用后的取出。

附圖說明

圖1為本發(fā)明結構示意圖。

圖中：1托架本體、2放置槽、3防撞膠墊、4砝碼、5連接座。

具體實施方式

下面將結合本發(fā)明實施例中的附圖，對本發(fā)明實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本發(fā)明一部分實施例，而不是全部的實施例?；诒景l(fā)明中的實施例，本領域普通技術人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本發(fā)明保護的范圍。

請參閱圖1，本發(fā)明提供一種技術方案：一種用于顯微維氏硬度計的砝碼托架，包括托架本體1和砝碼4，托架本體1的截面呈直角梯形結構，且該托架本體1的頂部連續(xù)開設有不少于兩個放置槽2，放置槽2之間相互平行，且放置槽2的半徑自托架的一側向另一側逐級遞增，且放置槽2的側面為半圓形結構，砝碼4的底部卡接在托架本體1的放置槽2內，砝碼4的下半部分卡在放置槽2內，上半部分裸露在托架本體1的上方，便于砝碼4的取出，相應的砝碼4放置在對應的放置槽2內，有效的避免了由于砝碼2間的碰撞引起的砝碼2精度問題，放置槽2的寬度大于砝碼4的厚度，且砝碼4與放置槽2的內壁之間設置有防撞膠墊3，防撞膠墊3的設置能夠有效的避免由于砝碼4與托架本體1碰撞而引起的砝碼4精度問題，托架本體1的底部固定安裝有連接座5。

盡管已經(jīng)示出和描述了本發(fā)明的實施例，對于本領域的普通技術人員而言，可以理解在不脫離本發(fā)明的原理和精神的情況下可以對這些實施例進行多種變化、修改、替換和變型，本發(fā)明的范圍由所附權利要求及其等同物限定。