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      線束絕緣耐壓快速測試方法與流程

      文檔序號:11825091閱讀:7517來源:國知局
      線束絕緣耐壓快速測試方法與流程

      本發(fā)明涉及一種線束絕緣耐壓快速測試方法



      背景技術(shù):

      傳統(tǒng)的線束絕緣耐壓測試是兩兩芯線之間的測試,其中一根芯線給高壓,另外一根芯線作為返回端,測量線間的絕緣阻值或耐壓漏電流。絕緣阻值的測試原理如圖1所示,耐壓漏電流的測試原理如圖2所示。

      其實相當于對大電阻的阻值測量和電流測量。以一根具有100芯線的線束為例,如果保持時間為1s,測試使用的時間為:C1002*1=4950s,需要花費很長的時間。而實際上大型裝備的線束可能會有上千甚至上萬的芯線,保持時間也可能是幾s甚至幾min(一般情況下絕緣測試為5s,耐壓測試為1min),所花費的時間往往是無法接受的。在市售的測試儀中,也有一些改良的測試方法,比如給其中一根芯線高壓,其余的全部接入返回端進行測試,這樣對于100芯的線束測試,就只需要100*1=100s的時間,但是對于更多芯線的線束以及保持時間更長的測試,所需的時間仍然是難以接受的。在實際測試過程中,線束大部分情況下是達標的,不合格的線束很少,而不合格的線束中,不合格的芯線也很少。因此,可考慮通過組合測量的方式先進行快速的定性測試,判斷線束或者線束中的芯線是否合格,然后再對不合格的芯線進行精確的測量,實現(xiàn)絕緣耐壓的快速測試。



      技術(shù)實現(xiàn)要素:

      本發(fā)明的目的在于克服現(xiàn)有技術(shù)的不足,提供一種線束絕緣耐壓快速測試方法,通過芯線的組合測試,保證兩兩芯線之間都進行絕緣耐壓測試,有效縮短測試時間,提高測試效率,減少測試次數(shù)的同時減少通道切換次數(shù),有效保護繼電器和激勵電源的使用壽命。

      本發(fā)明的目的是通過以下技術(shù)方案來實現(xiàn)的:線束絕緣耐壓快速測試方法,它包括如下步驟:

      S1:采用組合測量算法進行芯線分組,組數(shù)為M,M=ROUNDUP(Log2N,0);

      S2:對第n組芯線組合進行絕緣或耐壓測試,若測試合格,則跳轉(zhuǎn)步驟S6,若測試不合格,則跳轉(zhuǎn)步驟S3;

      S3:保持第n組芯線組合不變,高壓部分保持,返回端部分挨個掃描,測量絕緣或耐壓值,記錄不合格芯線及測量值,高壓低壓反轉(zhuǎn),再次測試,記錄不合格芯線及測量值;

      S4:若存在不合格芯線,則剔除不合格芯線,跳轉(zhuǎn)步驟S2,繼續(xù)進行絕緣或耐壓測試;

      若不存在不合格芯線,則跳轉(zhuǎn)步驟S5;

      S5:判斷是否存在芯線剔除,若存在芯線剔除,則第n組芯線組合測試不合格,若不存在芯線剔除,則第n組芯線組合測試合格,并取最差值作為測量值;

      S6:循環(huán)步驟S2-S5,對其余M-1組芯線組合進行絕緣或耐壓測試;

      所述的組合測量算法為:假設(shè)線束有N根芯線,首先將N二等分,第一組為N/2和N-N/2,然后再將等分后的N/2和N-N/2再分別二等分,并對其中一半進行高低位交叉切換為第二組,第二組為N/2/2+(N-N/2)/2和N/2-N/2/2+(N-N/2)-(N-N/2)/2,依此類推,直到最后一組為1+1+…+1和1+1+…+1,其中N為正整數(shù)。

      本發(fā)明的有益效果是:本發(fā)明提供了一種線束絕緣耐壓快速測試方法,通過芯線的組合測試,保證兩兩芯線之間都進行絕緣耐壓測試,有效縮短測試時間,降低了人工成本,高測試效率,減少測試次數(shù)的同時減少通道切換次數(shù),有效保護繼電器和激勵電源的使用壽命,使得線束的絕緣耐壓測試可以作為常態(tài)測試進行。

      附圖說明

      圖1為絕緣阻值測試原理圖;

      圖2為耐壓漏電流的測試原理圖;

      圖3為芯線組合分配原理圖;

      圖4為8根芯線線束組合分配示意圖;

      圖5為4根芯線的組合測試并聯(lián)電阻示意圖;

      圖6為線束絕緣耐壓快速測試方法流程圖。

      具體實施方式

      下面結(jié)合附圖進一步詳細描述本發(fā)明的技術(shù)方案,但本發(fā)明的保護范圍不局限于以下所述。

      如圖3所示,本發(fā)明在線束的絕緣耐壓測試中,發(fā)明了一種組合算法,通過芯線的組合測試,保證兩兩芯線之間都進行絕緣耐壓測試。

      假設(shè)線束有N根芯線,首先將N二等分,第一組為N/2和N-N/2,然后再將等分后的N/2和N-N/2再分別二等分,并對其中一半進行高低位交叉切換為第二組,第二組為N/2/2+(N-N/2)/2和N/2-N/2/2+(N-N/2)-(N-N/2)/2,依此類推,直到最后一組為1+1+…+1和1+1+…+1,其中N為正整數(shù)。

      為了形象地描述這一分配過程,以8根芯線的線束為例,進行分配演示,如圖4所示。具體步驟:

      將芯線定義為1~8,二分,將1~4短接并接入高壓,5~8短接并接入返回端,測量絕緣耐壓值;

      將1~4二分,5~8二分,然后后半部分交叉,組成1278和5634,1278短接并接入高壓,5634短接并接入返回端,測量絕緣耐壓值;

      將12二分,78二分,56二分,34二分,然后每一部分的后半部交叉,組成1674和5238,1674短接并接入高壓,5238短接并接入返回端,測量絕緣耐壓值;

      這樣便將所有芯線兩兩之間的絕緣耐壓值都進行了測量。

      整個線束的組合分配只需要ROUNDUP(Log2N,0)次測量即可完成,其中N為線束中的芯線數(shù)量。以100芯線線束,保持時間1s為例,只需要ROUNDUP(Log2100,0)*1=7s,極大地縮短了測試時間。

      但是,組合測量也存在著并聯(lián)電阻的問題,導(dǎo)致測量值并不是實際的兩兩芯線之間的絕緣耐壓值,如圖5以4根芯線的組合測試為例進行說明:

      實際上,如果要測量R13,通過組合測試,往往測得R13、R14、R23和R24的并聯(lián)電阻值,測量結(jié)果并不準確。但是絕緣電阻的測量值肯定小于實際值(RT<R),漏電流的測量值肯定大于實際值(IT>I)。而通常判斷一根線束的絕緣或者耐壓測試是否合格,往往是判斷其絕緣阻值是否大于規(guī)定的閾值(R>R0),或者漏電流值是否小于規(guī)定的閾值(I<I0)。

      其中,RT、IT為測量值;R、I為實際值;R0、I0為閾值。

      因此,采用組合測試的方式:

      若RT>R0,則R>R0;

      若IT<I0,則I<I0。

      根據(jù)對線束的實際測試,合格的芯線之間的絕緣阻值往往接近與無窮大,漏電流往往接近于零,即便考慮并聯(lián)電阻,也不會超越閾值而導(dǎo)致不合格;而不合格的芯線之間其絕緣阻值會遠遠低于閾值,漏電流會大大超過閾值。因此大多數(shù)的情況下,采用這種方式可定性的判斷線束是否合格。

      采用組合測試時,若判斷出測試合格,則結(jié)果是準確的;若判斷出不合格,則結(jié)果不一定準確。因此在測試中,需要添加對判斷不合格時的處理。如圖6所示,線束絕緣耐壓快速測試方法,包括如下步驟:

      S1:采用組合測量算法進行芯線分組,組數(shù)為M,M=ROUNDUP(Log2N,0);

      S2:對第n組芯線組合進行絕緣或耐壓測試,若測試合格,則跳轉(zhuǎn)步驟S6,若測試不合格,則跳轉(zhuǎn)步驟S3;

      S3:保持第n組芯線組合不變,高壓部分保持,返回端部分挨個掃描,測量絕緣或耐壓值,記錄不合格芯線及測量值,高壓低壓反轉(zhuǎn),再次測試,記錄不合格芯線及測量值;

      S4:若存在不合格芯線,則剔除不合格芯線,跳轉(zhuǎn)步驟S2,繼續(xù)進行絕緣或耐壓測試;

      若不存在不合格芯線,則跳轉(zhuǎn)步驟S5;

      S5:判斷是否存在芯線剔除,若存在芯線剔除,則第n組芯線組合測試不合格,若不存在芯線剔除,則第n組芯線組合測試合格,并取最差值作為測量值;

      S6:循環(huán)步驟S2-S5,對其余M-1組芯線組合進行絕緣或耐壓測試。

      按以上流程進行測試,若線束合格,則測試時間僅為ROUNDUP(Log2N,0)*T,其中N為芯線數(shù)量,T為保持時間。若存在不合格的芯線,則會對單根芯線進行測試,可獲得精確的測量數(shù)據(jù),但時間會變長,而且不合格芯線越多,時間越長。實際測試中,絕大部分為合格線束,即便是不合格品,不合格的芯線也往往僅為幾根。因此,本測試方法大大提升了線束在進行絕緣測試和耐壓測試時的工作效率,極大地節(jié)約了成本,且能對不合格芯線進行精確定位和測試,便于線束的維修。

      本發(fā)明與傳統(tǒng)的測試方法在對合格線束進行測試時的對比數(shù)據(jù)如下:

      表1絕緣測試數(shù)據(jù)對比(保持時間:5s,單位:s)

      表2耐壓測試數(shù)據(jù)對比(保持時間:1min,單位:min)

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