1.電壓裕度的可靠性測試裝置，其特征在于，包括第一測試端、第二測試端、第三測試端、第一I2C可調(diào)電阻、第二I2C可調(diào)電阻、微控制器模塊、時鐘模塊、用戶交互模塊、電源模塊及裝置地線，所述第一測試端通過第一I2C可調(diào)電阻與第二測試端連接，第二測試端通過第二I2C可調(diào)電阻與第三測試端連接，第三測試端與裝置地線連接，時鐘模塊及用戶交互模塊分別與微控制器模塊連接，微控制器模塊通過I2C總線與第一I2C可調(diào)電阻的I2C接口及第二I2C可調(diào)電阻的I2C接口連接，電源模塊為各模塊供電，
所述第一測試端用于與待測試單板的電壓轉(zhuǎn)換芯片的參考電壓輸出端連接；
所述第二測試端用于與待測試單板的輸出電壓端連接；
所述第三測試端用于與待測試單板的地線連接；
所述用戶交互模塊用于用戶輸入?yún)?shù)，并將其傳輸給微控制器模塊，參數(shù)至少包括期望輸出電壓值，且接收并顯示微控制器模塊傳輸來的當(dāng)前待測試單板的輸出電壓端的輸出電壓值；
所述時鐘模塊用于提供各種所需的時鐘信號；
所述微控制器模塊用于通過I2C總線根據(jù)用戶輸入的參數(shù)調(diào)整第一I2C可調(diào)電阻及第二I2C可調(diào)電阻的阻值，使根據(jù)I2C總線從第一I2C可調(diào)電阻及第二I2C可調(diào)電阻采集到的電壓數(shù)據(jù)與用戶輸入的參數(shù)相對應(yīng)，并時刻將采集到的電壓數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為輸出電壓值發(fā)送給用戶交互模塊。
2.如權(quán)利要求1所述的電壓裕度的可靠性測試裝置，其特征在于，所述參數(shù)還包括參考電壓值，所述參考電壓值對應(yīng)于待測試單板的電壓轉(zhuǎn)換芯片的參考電壓輸出端的參考電壓值。
3.如權(quán)利要求1所述的電壓裕度的可靠性測試裝置，其特征在于，所述用戶交互模塊包括顯示單元及輸入單元，所述顯示單元及輸入單元分別與微控制器模塊連接，
所述顯示單元用于接收并顯示微控制器模塊傳輸來的當(dāng)前待測試單板的輸出電壓端的輸出電壓值；
所述輸入單元用于用戶輸入?yún)?shù)，并將其傳輸給微控制器模塊，參數(shù)至少包括期望輸出電壓值。
4.如權(quán)利要求3所述的電壓裕度的可靠性測試裝置，其特征在于，所述微控制器模塊將采集到的電壓作為上偏電壓，當(dāng)上偏電壓大于正常電壓的110％時，控制顯示單元提示用戶。
5.如權(quán)利要求4所述的電壓裕度的可靠性測試裝置，其特征在于，所述提示為顯示閃爍并變換所顯示字體的顏色或直接顯示電壓偏高信息。
6.如權(quán)利要求3所述的電壓裕度的可靠性測試裝置，其特征在于，用戶交互模塊還包括報警單元，所述報警單元與微控制器模塊連接，
所述微控制器模塊在采集到的電壓數(shù)據(jù)作為上偏電壓大于正常電壓的110％時，控制報警單元發(fā)出報警信息。
7.如權(quán)利要求6所述的電壓裕度的可靠性測試裝置，其特征在于，所述報警單元為聲光報警單元。
8.如權(quán)利要求1所述的電壓裕度的可靠性測試裝置，其特征在于，所述微控制器模塊將采集到的電壓數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為輸出電壓值是指：微控制器模塊通過I2C總線從第一I2C可調(diào)電阻及第二I2C可調(diào)電阻采集到輸出電壓的模擬信號，將其轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號，再將其轉(zhuǎn)換為輸出電壓值。
9.電壓裕度的可靠性測試方法，采用如權(quán)利要求1-8任一項所述電壓裕度的可靠性測試裝置，其特征在于，包括以下步驟：
步驟1、將電壓裕度的可靠性測試裝置的第一測試端、第二測試端及第三測試端分別與待測試單板的電壓轉(zhuǎn)換芯片的參考電壓輸出端、待測試單板的輸出電壓端及待測試單板的地線一一對應(yīng)連接；
步驟2、電壓裕度的可靠性測試裝置接收到輸入的參數(shù)，其至少包括期望輸出電壓值，自動調(diào)節(jié)第一I2C可調(diào)電阻及第二I2C可調(diào)電阻，使所顯示的輸出電壓值與期望輸出電壓值相同，然后測試該待測試單板所在電子產(chǎn)品的各種性能，重復(fù)本步驟直至測試完成。
10.如權(quán)利要求9所述的電壓裕度的可靠性測試方法，其特征在于，所述期望輸出電壓值為期望輸出上偏電壓值或期望輸出下偏電壓值。