技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明涉及一種顯示面板的金屬走線的寄生電容的量測(cè)方法。該方法包括：步驟10、提供第一組電路版圖，其包括測(cè)試部分及公共部分，該測(cè)試部分包含待量測(cè)的金屬走線，該公共部分包含引線及與引線相連接的量測(cè)墊；步驟20、利用該第一組電路版圖中的量測(cè)墊量測(cè)第一組寄生電容數(shù)據(jù)；步驟30、提供第二組電路版圖，其僅包括該第一組電路版圖中的公共部分；步驟40、利用該第二組電路版圖中的量測(cè)墊量測(cè)第二組寄生電容數(shù)據(jù)；步驟50、將該第一組寄生電容數(shù)據(jù)與第二組寄生電容數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)相減以得到對(duì)應(yīng)的金屬走線的寄生電容。本發(fā)明適用于LTPS面板的電容量測(cè)，能夠量測(cè)出金屬走線之間有效的側(cè)向電容和交疊電容大小，為小尺寸產(chǎn)品設(shè)計(jì)提供很好的參考價(jià)值。

技術(shù)研發(fā)人員：趙莽;易士娟
受保護(hù)的技術(shù)使用者：武漢華星光電技術(shù)有限公司
文檔號(hào)碼：201610567180
技術(shù)研發(fā)日：2016.07.18
技術(shù)公布日：2016.11.23