本發(fā)明的實施例涉及對諸如觸控面板等電子設備的電學功能的測試，具體涉及一種電學功能測試裝置、系統(tǒng)及方法。

背景技術：

目前，觸控屏已經(jīng)是生活中必不可少的電子產(chǎn)品之一。在觸控屏的生產(chǎn)中需要對觸控面板產(chǎn)品的電學功能進行測試。目前比較常用的電學功能測試設備都比較龐大，設備三維尺寸中最小的一般都大于50cm，且價格昂貴。且對于大尺寸的觸控面板產(chǎn)品，功能測試設備需同步做大，價格也隨之增加。另外對于不良解析工作者，需要在不同的地方進行觸控面板的功能測試，而目前采用的功能測試機由于體積龐大，不能滿足隨身攜帶的需求。其他電子產(chǎn)品的電學功能測試也存在著類似的問題。

可見，本領域中需要一種能夠克服上述現(xiàn)有技術的缺點的改進的電學功能測試解決方案。

技術實現(xiàn)要素：

在一個方面，提供了一種根據(jù)本發(fā)明的實施例的電學功能測試裝置，包括：至少一個夾持工具，其被配置為能夠夾持在電子設備的至少一個綁定(bonding)區(qū)附近；至少一排探針，其被配置為當至少一個夾持工具夾持在電子設備的至少一個綁定區(qū)附近時，所述至少一排探針與所述至少一個綁定區(qū)中的多個引腳分別電連接；至少一個多路開關，每個多路開關的的第一端包括多個端口，且通過一組導線與一排探針中的至少一組探針分別相連，其第二端包括至少一個端口，且能夠通過導線與測量儀表連接，并且所述至少一個多路開關被配置為能夠接通或斷開第一端的多個端口中的每個端口與所述第二端的至少一個端口之間的電連接。

在另一個方面，提供了一種根據(jù)本發(fā)明的實施例的電學功能測試系統(tǒng)，包括：根據(jù)本發(fā)明的任何一個實施例的電學功能測試裝置，以及測量儀表，其中，所述電學功能測試裝置的至少一個多路開關的所述第二端的兩個端口分別通過導線與所述測量儀表的兩個端口相連，形成測試回路。

在又一個方面，提供了一種根據(jù)本發(fā)明的實施例的電學功能測試方法，包括：將根據(jù)本發(fā)明的任何一個實施例的電學功能測試裝置通過所述至少一個夾持工具夾持在待測電子設備的至少一個綁定區(qū)附近，使得所述至少一排探針與所述至少一個綁定區(qū)中的多個引腳分別電連接；將所述至少一個多路開關的所述第二端的兩個端口通過導線與測量儀表的兩個端口相連，形成測試回路；根據(jù)測試需要操作所述至少一個多路開關，使得所述至少一個多路開關的所述第一端的多個端口所連接的所述至少一排探針中的特定兩個探針分別與所述至少一個多路開關的所述第二端的兩個端口電連接；使用所述測量儀表測量所述特定兩個探針所分別連接的兩個引腳之間的電學功能。

本發(fā)明的實施例提供了一種簡易的電學功能測試治具，其結構簡單、成本低廉、便于攜帶，能夠實現(xiàn)對諸如觸控面板等電子設備的電學功能的有效測試。

附圖說明

圖1示出了根據(jù)本發(fā)明的實施例的一種電學功能測試裝置；

圖2示意性地示出了根據(jù)本發(fā)明的一些實施例的電學功能測試裝置及其使用場景示例；

圖3示意性地示出了根據(jù)本發(fā)明的另一些實施例的電學功能測試裝置及其使用場景示例；以及

圖4示出了根據(jù)本發(fā)明的實施例的一種電學功能測試方法。

具體實施方式

為使本領域的技術人員更好地理解本發(fā)明的解決方案，下面結合附圖和具體實施方式對本發(fā)明的實施例所提供的電學功能測試裝置、系統(tǒng)及方法作進一步詳細描述。顯然，所描述和圖示的實施例及其中的各種具體特征僅是對本發(fā)明的示例性說明，而不是對本發(fā)明的限制?；谒鍪纠哉f明，本領域普通技術人員在無需創(chuàng)造性勞動的前提下所獲得的所有其他實施例及其具體特征，都屬于本發(fā)明保護的范圍。

需要說明的是，在對本發(fā)明的描述中，除非另有說明，“多個”的含義是兩個或兩個以上；術語“上”、“下”、“左”、“右”、“內”、“外”、“前端”、“后端”、“頭部”、“尾部”等指示的方位或位置關系為基于附圖所示的方位或位置關系，僅是為了便于描述本發(fā)明和簡化描述，而不是指示或暗示所指的裝置或元件必須具有特定的方位、以特定的方位構造和操作，因此不能理解為對本發(fā)明的限制。此外，術語“第一”、“第二”、“第三”等僅用于描述目的，而不能理解為指示或暗示相對重要性。

還需要說明的是，在本發(fā)明的描述中，除非另有明確的規(guī)定和限定，術語“安裝”、“相連”、“連接”應做廣義理解，例如，可以是固定連接，也可以是可拆卸連接，或一體的連接；可以是機械連接，也可以是電連接，或者是通信連接；可以是直接相連，也可以通過中間媒介間接相連。對于本領域的普通技術人員而言，可視具體情況理解上述術語在本發(fā)明中的具體含義。

現(xiàn)參照圖1，其示出了根據(jù)本發(fā)明的實施例的一種電學功能測試裝置100。如圖1所示，該電學功能測試裝置100包括：至少一個夾持工具101，其被配置為能夠夾持在電子設備的至少一個綁定區(qū)附近(包括夾持在電子設備的至少一個綁定區(qū)上)；至少一排探針102，其被配置為當至少一個夾持工具101夾持在電子設備的至少一個綁定區(qū)附近時，所述至少一排探針102與所述至少一個綁定區(qū)中的多個引腳分別電連接；至少一個多路開關103，每個多路開關的的第一端包括多個端口，且通過一組導線與一排探針中的至少一組探針分別相連，其第二端包括至少一個端口，且能夠通過導線與測量儀表連接，并且所述至少一個多路開關被配置為能夠接通或斷開所述第一端的多個端口中的每個端口與所述第二端的至少一個端口之間的電連接。

這樣，通過將所述夾持工具101夾持在諸如觸控面板等電子設備的綁定區(qū)附近，使所述至少一個探針102與所述綁定區(qū)中的多個引腳分別電連接，并通過所述多路開關控制所述多個引腳中的任意兩個引腳分別與多路開關所連接的測量儀表(如萬用表、電容表)的兩個端口電連接，就可以實現(xiàn)對任意兩個引腳之間的電學功能(如電阻、電壓、電容、電感)等的測量。因此，本發(fā)明的實施例提供了一種能夠有效測量電子設備的電學功能的簡易、低成本和便攜的測試裝置或治具。

所述電子設備可以是任何具有綁定區(qū)的電子設備，例如觸控面板(具體地例如可以是觸控面板的觸控傳感器)等。所述綁定區(qū)可包括若干成排的引腳(所述引腳例如可被稱為“金手指”)，每個引腳可具有由該電子產(chǎn)品的設計規(guī)范所定義的特定功能。此外，所述若干成排的引腳中的任意兩個引腳之間應當具有由該電子產(chǎn)品的設計規(guī)范所定義的特定的電學功能(或性能)，例如，特定的兩個引腳之間應當具有指定的電壓、電阻、電流、電感或電抗等。通過使用所述測試儀表106測試特定的兩個引腳之間的特定的電學功能，以判斷該電學功能是否符合該電子產(chǎn)品的設計規(guī)范中指定的該兩個引腳之間的電學功能，就可以實現(xiàn)對該電子產(chǎn)品的功能或性能測試。

所述測試儀表可以是任何能夠測試特定電學功能的測試儀表，例如可用于測試電壓、電阻、電流等的萬用表，用于測試電容的電容表，用于測試電感的電感檢測儀，等等。

所述夾持工具101可以是任何能夠夾持在電子設備的綁定區(qū)附近以實現(xiàn)所述至少一排探針102中的多個探針與所述綁定區(qū)的多個引腳之間的各自電連接的裝置或器具。所述夾持工具101可具有任何適當?shù)男螤?、大小和結構，以便能夠穩(wěn)定地綁定在特定電子設備的綁定區(qū)附近。例如，所述夾持工具101在結構上可以類似于可用于夾持一沓文件的長尾夾，其具有一個夾體和兩個尾柄，所述夾體本身為彈性鋼片或配有彈簧，且其前端可以張開和閉合，通過捏起兩個尾柄可以使所述夾體張開，通過放開兩個尾柄可以使所述夾體閉合，這樣就可以將所述夾持工具101夾持在電子設備的綁定區(qū)附近或綁定區(qū)上。

所述一排探針102可以與所述夾持工具101連接或成一體，這樣，當所述夾持工具101夾持在電子設備的綁定區(qū)附近或綁定區(qū)上時，所述一排探針102就可以分別與所述綁定區(qū)中的多個引腳相接觸，從而實現(xiàn)所述一排探針102分別與所述多個引腳的電連接。例如，在所述夾持工具101包括夾體的情況下，所述一排探針102可以位于所述夾體的內表面上，這樣，當所述夾持工具101夾持在電子設備的綁定區(qū)上時，所述一排探針102就可以分別與所述綁定區(qū)的多個引腳相接觸和電連接。如本領域的技術人員所知的，所述一排探針102可由導電材料例如金屬制成，且優(yōu)選與所述夾持工具101電絕緣。所述一排探針102中的每個探針的用于與電子設備的綁定區(qū)的引腳接觸和電連接的一端之外的另一端可分別連接有一根導線，且該導線可連接到所述多路開關103的第一端的一個端口。

所述一排探針102的探針間距可以與所述電子設備的綁定區(qū)中的引腳間距相同，從而相鄰的多個探針102能夠與相鄰的多個引腳分別相接觸和連接。當然，也可以考慮所述一排探針102的間距為綁定區(qū)中的引腳的間距的整數(shù)倍。所述一排探針102中的探針數(shù)量可以與所述電子設備的綁定區(qū)中的引腳數(shù)量相同，或大于所述電子設備的綁定區(qū)中的引腳的數(shù)量，這樣就可以一次性地實現(xiàn)對綁定區(qū)中所有引腳的電學功能的測試。例如，如果所述一排探針102中的探針數(shù)量為150，則可以一次性地實現(xiàn)對綁定區(qū)中的引腳數(shù)量小于或等于150的綁定區(qū)的測試。當然，也可以考慮所述一排探針102中的探針數(shù)量小于綁定區(qū)中的引腳數(shù)量，這樣，就需要通過多次夾持來實現(xiàn)對綁定區(qū)中所有引腳的電學功能的測試。

在一些實施例中，所述至少一排探針102的探針間距是可調節(jié)的。這樣，就可以使探針間距適應于不同電子設備的不同間距的綁定區(qū)，從而可實現(xiàn)對不同電子設備的綁定區(qū)中的引腳的電學功能的測試?？梢酝ㄟ^相關領域中任何已知的結構或方式來實現(xiàn)所述可調節(jié)的探針間距。

所述多路開關103可以是任何能夠實現(xiàn)第一端的多個端口與第二端的至少一個端口之間的選擇性電連接的接通及斷開的器件。在一些實施例中，所述多路開關103可以通過機械或手工的方式實現(xiàn)所述選擇性電連接的接通及斷開。相應地，所述多路開關103可具有適當?shù)臋C械及電氣結構。例如，所述多路開關103可包括一個或兩個導體撥片，所述導體撥片的一端可以通過導線連接到所述多路開關103的所述第二端的端口，或引出到該端口之外；此外，所述導體撥片可以被移動，并且在移動過程實現(xiàn)所述導體撥片的另一端與所述多路開關103的所述第一端的多個端口中的任何一個端口之間的電連接的接通及斷開。

在另一些實施例中，所述多路開關103可以通過信號控制的方式實現(xiàn)所述選擇性電連接的接通及斷開。相應地，所述多路開關103可具有適當?shù)碾娐方Y構及電子器件。例如，所述多路開關103可包括多個以特定方式相互連接的傳輸晶體管、多個輸入線、一個輸出線以及若干個可編程的靜態(tài)隨機存取存儲器(SRAM)單元，通過配置SRAM單元的內容可以控制所述多個傳輸晶體管的通斷，從而從所述多個輸入線中選出一條輸入線與所述輸出線相連通。所述多路開關可以是現(xiàn)有的多路選擇器或數(shù)據(jù)選擇器，例如n選1或n選2多路選擇器(其中，n大于或等于2)。

在進一步的實施例中，所述多路開關103能夠控制其第一端的每個端口與其第二端的端口之間的電連接的接通時間和/或通斷順序。例如，所述多路開關103能夠依次控制其第一端的每個端口與另一端的端口之間接通指定時間，從而依次控制所述至少一排探針102中的每個探針與其第二端的端口之間的電連接接通指定時間，進而實現(xiàn)對所述至少一個探針102所連接的綁定區(qū)中的多個引腳中的每個引腳的電學功能的依次檢測。所述多路開關103可以通過一可編程的控制模塊來控制所述至少一排探針102中的每個探針與其第二端的端口之間的電連接的接通時間。該可編程的控制模塊可以根據(jù)預先編制和存儲的程序來控制多路開關103的第一端的每個端口與第二端的端口之間接通的時間和順序。該可編程的控制模塊可以由現(xiàn)有的可編程控制器、處理器或控制電路來實現(xiàn)，并可位于該多路開關103的外部并與其相連接，或者也可位于該多路開關103的內部。

根據(jù)本發(fā)明的一些實施例，所述至少一個夾持工具101包括一個夾持工具，所述至少一排探針102包括一排探針，所述至少一個多路開關103包括第一多路開關和第二多路開關，所述第一多路開關的第一端的多個端口通過第一組導線與所述一排探針102中的第一組探針分別相連，所述第二多路開關的第一端的多個端口通過第二組導線與所述一排探針102中的第二組探針分別相連。這樣，根據(jù)本發(fā)明的所述一些實施例的電學功能測試裝置100可以實現(xiàn)針對電子設備的一個綁定區(qū)中的任意兩個引腳之間的電學功能的測試。

現(xiàn)參照圖2，其示意性地示出了根據(jù)本發(fā)明的所述一些實施例的電學功能測試裝置100及其使用場景示例。如圖2中所示，所述電學功能測試裝置100包括一個夾持工具101，一排探針102，以及第一多路開關1031和第二多路開關1032。其中，所述一排探針102與所述夾持工具101相連接，例如位于所述夾持工具101的端部，且當所述夾持工具101夾持在電子設備的綁定區(qū)附近或夾持在綁定區(qū)上時，所述一排探針102與所述綁定區(qū)中的多個引腳分別電連接。所述一排探針102中的第一組探針通過第一組導線104分別連接到所述第一多路開關1031的第一端的各端口，所述一排探針102中的第二組探針通過第二組導線105分別連接到所述第二多路開關1032的第一端的各端口。所述第一多路開關1031的第二端的端口通過一導線連接到一測試儀表106的一個端口，所述第二多路開關1032的第二端的端口通過另一導線連接到所述測試儀表106的另一個端口。測試者可以操作所述第一多路開關1031以選擇所述第一多路開關1031的第一端的任何一個端口，使得該端口與第一多路開關1031的第二端的端口導通，從而使得第一端的該端口所連接的第一組導線104中的相應導線所連接的所述第一組探針中的相應探針所連接的相應引腳與所述測試儀表106的一個端口導通；同樣地，測試者可以操作所述第二多路開關1032以選擇所述第二多路開關1032的第一端的任何一個端口，使得該端口與第二多路開關1032的第二端的端口導通，從而使得第一端的該端口所連接的第二組導線105中的相應導線所連接的所述第二組探針中的相應探針所連接的相應引腳與所述測試儀表106的另一個端口導通。這樣，在所述第一組探針中的相應探針所連接的相應引腳、所述測試儀表106的兩個端口以及所述第二組探針中的相應引腳之間就形成了一條測試回路，從而可以使用所述測試儀表106對所述第一組探針中的相應探針所連接的相應引腳與所述第二組探針中的相應探針所連接的相應引腳之間的電學功能進行測試。

在圖2中例示了所述電子設備為每個T通道為3個Tx通道、且每個R通道為3個Rx通道的2T2R走線的觸控傳感器，其綁定區(qū)有16個引腳，從左到右引腳定義為：GND Tx1 Tx2 Tx3 GND Rx3 Rx2 Rx1 Rx1 Rx2 Rx3 GND Tx3 Tx2 Tx1 GND。所述第一多路開關1031的第一端的多個端口所連接的第一組探針分別與綁定區(qū)左邊的8個引腳GND Tx1 Tx2 Tx3 GND Rx3 Rx2 Rx1相連，所述第二多路開關1032的第一端的多個端口所連接的第二組探針分別與綁定區(qū)右邊的8個引腳Rx2 Rx3 GND Tx3 Tx2 Tx1 GND。所述第一多路開關1031和第二多路開關1032的第二端分別連接到所述測試儀表106的兩端。所述測試儀表106例如為萬用表，且被設置為用于測量電阻。所述第一多路開關1031可被設置(例如，編程)為從左到右依次接通第一組探針所連接的8個引腳至預定時間(例如，3秒)，所述第二多路開關1031可被設置為同步地從右到左依次接通第二組探針所連接的8個引腳至預定時間。這樣，例如，在1～3秒，第一組探針中的左邊第一個探針所連接的GND引腳接通，且第二組探針中的右邊第一個探針所連接的GND引腳接通；在第4～6秒，第一組探針中的左邊第二個探針所連接的Tx1引腳接通，且第二組探針中的右邊第二個探針所連接的Tx2引腳接通，從而可以通過所述萬用表測量該觸控傳感器的Tx1通道的通道電阻；以此類推，則大約24秒可完成對整個觸控傳感器的各通道電阻的功能測試。

根據(jù)本發(fā)明的另一些實施例，所述至少一個夾持工具101包括第一夾持工具和第二夾持工具，所述至少一排探針102包括第一排探針和第二排探針，且被配置為當?shù)谝粖A持工具夾持在電子設備的第一綁定區(qū)附近時，所述第一排探針與所述第一綁定區(qū)中的多個引腳分別電連接，當?shù)诙A持工具夾持在電子設備的第二綁定區(qū)附近時，所述第二排探針與所述第二綁定區(qū)中的多個引腳分別電連接，所述至少一個多路開關103包括第一多路開關和第二多路開關，所述第一多路開關的第一端的多個端口通過第一組導線與所述第一排探針中的探針分別相連，所述第二多路開關的第一端的多個端口通過第二組導線與所述第二排探針中的探針分別相連。這樣，根據(jù)本發(fā)明的所述另一些實施例的電學功能測試裝置100可以實現(xiàn)針對電子設備的兩個綁定區(qū)之間的任意兩個引腳之間的電學功能的測試。

現(xiàn)參照圖3，其示意性地示出了根據(jù)本發(fā)明的所述另一些實施例的電學功能測試裝置100及其使用場景示例。如圖3中所示，所述電學功能測試裝置100包括：第一夾持工具1011和第二夾持工具1012，第一排探針1021和第二排探針1022，以及第一多路開關1031和第二多路開關1032。其中，所述第一排探針1021與所述第一夾持工具1011相連接，例如位于所述第一夾持工具1011的端部，且當所述第一夾持工具1011夾持在電子設備的第一綁定區(qū)附近或夾持在第一綁定區(qū)上時，所述第一排探針1021與所述第一綁定區(qū)中的多個引腳分別電連接。所述第一排探針1021通過第一組導線104分別連接到所述第一多路開關1031的第一端的各端口，所述第一多路開關1031的第二端的端口通過一導線連接到一測試儀表106的一個端口；所述第二排探針1022與所述第二夾持工具1012相連接，例如位于所述第二夾持工具1012的端部，且當所述第二夾持工具1012夾持在電子設備的第二綁定區(qū)附近或夾持在第二綁定區(qū)上時，所述第二排探針1022與所述第二綁定區(qū)中的多個引腳分別電連接。所述第二排探針1022通過第二組導線105分別連接到所述第二多路開關1032的第一端的各端口，所述第二多路開關1032的第二端的端口通過另一導線連接到所述測試儀表106的另一個端口。測試者可以操作所述第一多路開關1031以選擇所述第一多路開關1031的第一端的任何一個端口，使得該端口與第一多路開關1031的第二端的端口導通，從而使得該第一端的端口通過第一組導線104中的相應導線所連接的所述第一排探針1021中的相應探針所連接的相應引腳與所述測試儀表106的一個端口導通；同樣地，測試者可以操作所述第二多路開關1032以選擇所述第二多路開關1032的第一端的任何一個端口，使得該端口與第二多路開關1032的第二端的端口導通，從而使得該第一端的端口所連接的第二組導線105中的相應導線所連接的所述第二排探針1022中的相應探針所連接的相應引腳與所述測試儀表106的另第二端的端口導通。這樣，在所述第一排探針1021中的相應探針所連接的相應引腳、所述測試儀表106的兩個端口以及所述第二排探針1022中的相應引腳之間就形成了一條測試回路，從而可以使用所述測試儀表106對所述第一排探針1021中的相應探針所連接的相應引腳與所述第二排探針1022中的相應探針所連接的相應引腳之間的電學功能進行測試。

根據(jù)本發(fā)明的又一些實施例，所述至少一個夾持工具101包括一個夾持工具，所述至少一排探針102包括一排探針，所述至少一個多路開關103包括一個多路開關，所述多路開關的第一端的多個端口通過一組導線與所述一排探針中的探針分別相連，所述多路開關的第二端包括能夠通過導線分別與測量儀表兩個端口連接的兩個端口，且所述多路開關被配置為能夠接通或斷開所述第一端的多個端口中的每個端口與所述第二端的兩個端口中的一個端口之間的電連接。根據(jù)本發(fā)明的所述又一些實施例的電學功能測試裝置100能夠實現(xiàn)對所述至少一排探針102中的任何兩個探針所連接的電子設備綁定區(qū)中的兩個引腳的電學功能的測試，且由于只包括一個多路開關，因此，該電學功能測試裝置100更為緊湊和便于攜帶。如本領域的技術人員所知的，這些實施例中的多路開關可以通過現(xiàn)有的n選2(其中，n大于或等于2)多路選擇器來實現(xiàn)。

以上參照附圖描述了根據(jù)本發(fā)明的實施例的電學功能測試裝置，應指出的是，以上描述和圖示僅為示例，而不是對本發(fā)明的限制。在本發(fā)明的其他實施例中，所述電學功能測試裝置可具有不同的結構，可包括更多、更少或不同的部件，且各部件之間的連接、包含等關系可以與所描述和圖示的不同。例如，所述測試儀表既可以被視為位于所述電學功能測試裝置之外，也可以被視為位于所述電學功能測試裝置之內，等等。

在另一個方面，還提供了根據(jù)本發(fā)明的實施例的一種電學功能測試系統(tǒng)，其包括：根據(jù)本發(fā)明的任何實施例的上述電學功能測試裝置，以及所述測量儀表，其中，所述電學功能測試裝置的至少一個多路開關的所述第二端的兩個端口分別通過導線與所述測量儀表的兩個端口相連，形成測試回路。所述測試儀表例如可以為萬用表、電容表、電感檢測儀等。

現(xiàn)參照圖4，其示出了根據(jù)本發(fā)明的實施例的一種電學功能測試方法。所述電學功能測試方法可以使用上述根據(jù)本發(fā)明的實施例的電學功能測試裝置來完成，因此，該方法的某些方面已在以上對所述電學功能測試裝置的描述中進行了說明，為簡明起見，不再重復，可參照以上描述獲得對該方法的一些方面的更詳細的了解。

如圖4中所示，該方法包括以下步驟：

在步驟401，將根據(jù)本發(fā)明的實施例的電學功能測試裝置通過所述至少一個夾持工具夾持在待測電子設備的至少一個綁定區(qū)附近，使得所述至少一排探針與所述至少一個綁定區(qū)中的多個引腳分別電連接；

在步驟402，將所述至少一個多路開關的第二端的兩個端口通過導線與測量儀表的兩個端口相連，形成測試回路；

在步驟403，根據(jù)測試需要操作所述至少一個多路開關，使得所述至少一個多路開關的所述第一端的多個端口所連接的所述至少一排探針中的特定兩個探針分別與所述至少一個多路開關的所述第二端的兩個端口電連接；以及

在步驟404，使用所述測量儀表測量所述特定兩個探針所分別連接的兩個引腳之間的電學功能。

在一些實施例中，所述步驟404包括：操作所述至少一個多路開關，使得所述至少一個多路開關的所述第一端的多個端口所連接的所述至少一排探針中的第一組探針順次地接通與所述至少一個多路開關的所述第二端的一個端口的電連接至指定時間。

在一些進一步的實施例中，所述步驟404進一步包括：與上述第一組探針的順次接通同步地，使得所述至少一個多路開關的所述第一端的多個端口所連接的所述至少一排探針中的第二組探針順次地接通與所述至少一個多路開關的所述第二端的另一個端口的電連接至指定時間。

例如，一排探針中的第一組探針中的每個探針可以順次地接通與第一多路開關的第二端的端口的電連接，而該一排探針中的第二組探針中的每個探針可順次地接通與第二多路開關的第二端的端口的電連接，從而可以順次地對第一組探針中的每個探針所連接的一個綁定區(qū)中的引腳與第二組探針中的每個探針所連接的該綁定區(qū)中的相應引腳之間的電學功能進行測試。再例如，第一排探針中的每個探針可以順次地接通與第一多路開關的第二端的端口的電連接，而第二排探針中的每個探針可同步順次地接通與第二多路開關的第二端的端口的電連接，從而可以順次地對第一排探針中的每個探針所連接的第一綁定區(qū)中的引腳與第二排探針中的每個探針所連接的第二綁定區(qū)中的相應引腳之間的電學功能進行測試。

以上參照附圖描述了根據(jù)本發(fā)明的實施例的電學功能測試方法，應指出的是，以上描述僅為示例，而不是對本發(fā)明的限制。在本發(fā)明的其他實施例中，該方法可具有更多、更少或不同的步驟，且各步驟之間的順序、包含和功能等關系可以與所描述和圖示的不同。例如，該電學功能測試方法可以利用根據(jù)本發(fā)明的實施例的電學功能測試裝置實現(xiàn)任何所需要的測試方案或測試序列。

可以理解的是，本發(fā)明的以上各實施例僅僅是為了說明本發(fā)明的原理而采用的示例性實施例，本發(fā)明并不局限于此。對于本領域內的普通技術人員而言，在不脫離本發(fā)明的精神和實質的情況下，可以做出各種變型和改進，這些變型和改進也視為處于本發(fā)明的保護范圍之內。本發(fā)明的保護范圍僅由所附權利要求書的語言表述的含義及其等同含義所限定。