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      一種新能源電機(jī)綜合性能測(cè)試系統(tǒng)的制作方法

      文檔序號(hào):11822881閱讀:382來源:國(guó)知局
      一種新能源電機(jī)綜合性能測(cè)試系統(tǒng)的制作方法與工藝

      本發(fā)明涉及一種電機(jī)測(cè)試系統(tǒng),具體是指一種新能源電機(jī)綜合性能測(cè)試系統(tǒng)。



      背景技術(shù):

      目前,新能源電機(jī)已被廣泛應(yīng)用于汽車領(lǐng)域,為了確保新能源電機(jī)的質(zhì)量,新能源電機(jī)在出廠前都需要對(duì)其性能進(jìn)行測(cè)試,以確保其質(zhì)量達(dá)到使用要求。目前通常采用電機(jī)測(cè)試系統(tǒng)對(duì)新能源電機(jī)的工作電壓、功率、輸出扭矩等性能進(jìn)行測(cè)試,然而,現(xiàn)有的電機(jī)測(cè)試系統(tǒng)無法準(zhǔn)確的測(cè)出新能源電機(jī)的輸出扭矩,從而導(dǎo)致測(cè)試人員無法準(zhǔn)確的對(duì)新能源電機(jī)的性能進(jìn)行評(píng)估。



      技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:

      本發(fā)明的目的在于克服現(xiàn)有的電機(jī)測(cè)試系統(tǒng)無法準(zhǔn)確的測(cè)出新能源電機(jī)的輸出扭矩的缺陷,提供一種新能源電機(jī)綜合性能測(cè)試系統(tǒng)。

      本發(fā)明的目的通過下述技術(shù)方案實(shí)現(xiàn):一種新能源電機(jī)綜合性能測(cè)試系統(tǒng),主要由被測(cè)電機(jī),分別與被測(cè)電機(jī)相連接的電機(jī)控制器、電參數(shù)測(cè)量?jī)x和扭矩傳感器,分別與扭矩傳感器相連接的處理單元和加載電機(jī),與加載電機(jī)相連接的加載電機(jī)控制器,以及同時(shí)與電機(jī)控制器、電參數(shù)測(cè)量?jī)x、處理單元和加載電機(jī)控制器相連接的中央處理器組成;所述處理單元由處理芯片U,P極經(jīng)電阻R6后接地、N極接電源的二極管D3,負(fù)極接地、正極經(jīng)電阻R8后與二極管D3的N極相連接的電容C3,一端與二極管D3的N極相連接、另一端接地的電感L,正極與處理芯片U的VOUT管腳相連接、負(fù)極接地的電容C5,P極與處理芯片U的GND管腳相連接、N極與電容C5的負(fù)極相連接的二極管D4,正極與處理芯片U的VMIN管腳相連接、負(fù)極接地的電容C4,串接在處理芯片U的CF管腳和電容C4的負(fù)極之間的電阻R7,與處理芯片U的CF管腳相連接的信號(hào)放大電路,同時(shí)與處理芯片U的FAULT管腳和VOUT管腳相連接的干擾濾波電路,以及與干擾濾波電路相連接的信號(hào)校準(zhǔn)電路組成;所述處理芯片U的VIN管腳與二極管D3的P極相連接、其VDD管腳與二極管D3的N極相連接、SENSE管腳與電容C5的負(fù)極相連接;所述信號(hào)放大電路與二極管D3的N極相連接;所述信號(hào)放大電路的輸入端與扭矩傳感器相連接;所述信號(hào)校準(zhǔn)電路的輸出端與中央處理器相連接。

      進(jìn)一步的,所述信號(hào)放大電路由放大器P1,三極管VT1,場(chǎng)效應(yīng)管MOS1,N極與三極管VT1的基極相連接、P極順次經(jīng)電阻R1和電阻R2后接地的二極管D1,一端與放大器P1的正極相連接、另一端與扭矩傳感器相連接的電阻R3,正極與二極管D1的P極相連接、負(fù)極與三極管VT1的發(fā)射極相連接的電容C1,串接在三極管VT1的發(fā)射極和放大器P1的輸出端之間的電阻R5,正極與放大器P1的輸出端相連接、負(fù)極經(jīng)電阻R4后與場(chǎng)效應(yīng)管MOS1的柵極相連接的電容C2,以及N極與放大器P1的負(fù)極相連接、P極與場(chǎng)效應(yīng)管MOS1的源極相連接的二極管D2組成;所述三極管VT1的集電極與二極管D3的N極相連接的同時(shí)接地;所述場(chǎng)效應(yīng)管MOS1的漏極接地;所述放大器P1的輸出端與處理芯片U的CF管腳相連接。

      所述干擾濾波電路由放大器P2,放大器P3,三極管VT2,負(fù)極與放大器P2的正極相連接、正極經(jīng)電阻R12后與放大器P2的輸出端相連接的電容C7,負(fù)極與電容C7的正極相連接、正極與處理芯片U的FAULT管腳相連接的電容C6,負(fù)極與放大器P2的正極相連接、正極接電源的電容C8,串接在放大器P2的輸出端和放大器P3的正極之間的電阻R14,串接在放大器P3的負(fù)極和輸出端之間的電阻R15,正極與放大器P3的正極相連接、負(fù)極與放大器P3的輸出端相連接的電容C11,正極與放大器P3的正極相連接、負(fù)極與信號(hào)校準(zhǔn)電路相連接的電容C10,以及正極與電容C10的負(fù)極相連接、負(fù)極與放大器P3的輸出端相連接的電容C12組成;所述三極管VT2的基極與放大器P2的正極相連接、其發(fā)射極與放大器P2的輸出端相連接、集電極與信號(hào)校準(zhǔn)電路相連接;所述放大器P2的負(fù)極同時(shí)與處理芯片U的VOUT管腳和信號(hào)校準(zhǔn)電路相連接。

      所述信號(hào)校準(zhǔn)電路由三極管VT3,三極管VT4,三極管VT5,場(chǎng)效應(yīng)管MOS2,N極順次經(jīng)電阻R10和電阻R9后接地、P極與處理芯片U的VOUT管腳相連接的二極管D5,N極與三極管VT3的基極相連接、P極與二極管D5的P極相連接的穩(wěn)壓二極管D6,串接在二極管D5的P極和穩(wěn)壓二極管D6的N極之間的電阻R11,正極與三極管VT3的基極相連接、負(fù)極與三極管VT4的基極相連接的電容C9,一端與三極管VT4的集電極相連接、另一端接電源的電阻R13,串接在三極管VT5的集電極和發(fā)射極之間的電阻R16,負(fù)極與三極管VT5的發(fā)射極相連接、正極與場(chǎng)效應(yīng)管MOS2的漏極相連接的電容C13,以及P極與場(chǎng)效應(yīng)管MOS2的漏極相連接、N極作為該信號(hào)校準(zhǔn)電路的輸出端的二極管D7組成;所述三極管VT3的發(fā)射極與三極管VT2的集電極相連接、其集電極與場(chǎng)效應(yīng)管MOS2的柵極相連接;所述場(chǎng)效應(yīng)管MOS2的漏極與電容C10的負(fù)極相連接、其源極與三極管VT5的集電極相連接;所述三極管VT5的基極與三極管VT4的集電極相連接、其發(fā)射極與三極管VT4的發(fā)射極相連接;所述三極管VT4的基極與電阻R9和電阻R10的連接點(diǎn)相連接;所述信號(hào)校準(zhǔn)電路的輸出端與中央處理器相連接。

      所述處理芯片U為TC642集成芯片。

      本發(fā)明較現(xiàn)有技術(shù)相比,具有以下優(yōu)點(diǎn)及有益效果:

      (1)本發(fā)明的處理單元可以對(duì)扭矩信號(hào)中的干擾信號(hào)進(jìn)行過濾,排除干擾信號(hào)的影響,并對(duì)扭矩信號(hào)的波形進(jìn)行校準(zhǔn),避免扭矩信號(hào)現(xiàn)出失真,使本發(fā)明對(duì)被測(cè)電機(jī)所輸出扭矩的檢測(cè)精度達(dá)到0.5%FS,便于測(cè)試人員對(duì)被測(cè)電機(jī)的性能進(jìn)行判斷。

      (2)本發(fā)明的整體結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,成本低廉,且該處理單元采用新穎的電路結(jié)構(gòu),可以有效的提高扭矩信號(hào)的處理效率。

      附圖說明

      圖1為本發(fā)明的整體結(jié)構(gòu)框圖。

      圖2為本發(fā)明的處理單元的電路結(jié)構(gòu)圖。

      具體實(shí)施方式

      下面結(jié)合實(shí)施例對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步地詳細(xì)說明,但本發(fā)明的實(shí)施方式并不限于此。

      實(shí)施例

      如圖1所示,本發(fā)明主要由被測(cè)電機(jī),分別與被測(cè)電機(jī)相連接的電機(jī)控制器、電參數(shù)測(cè)量?jī)x和扭矩傳感器,分別與扭矩傳感器相連接的處理單元和加載電機(jī),與加載電機(jī)相連接的加載電機(jī)控制器,以及同時(shí)與電機(jī)控制器、電參數(shù)測(cè)量?jī)x、處理單元和加載電機(jī)控制器相連接的中央處理器組成

      其中,電機(jī)控制器用于控制被測(cè)電機(jī)的轉(zhuǎn)速和啟停,采用CNC可編程步進(jìn)電機(jī)控制器來實(shí)現(xiàn)。電參數(shù)測(cè)量?jī)x用于測(cè)試被測(cè)電機(jī)的電壓、電流、電功率等參數(shù),其采用PM5350電力參數(shù)測(cè)量?jī)x來實(shí)現(xiàn)。該扭矩傳感器通過連軸器分別與被測(cè)電機(jī)和加載電機(jī)相連接,用于采用被測(cè)電機(jī)輸出的扭矩信號(hào),其采用北京工標(biāo)傳感技術(shù)有限公司生產(chǎn)的GB-DTS扭矩傳感器來實(shí)現(xiàn)。處理單元用于對(duì)扭矩信號(hào)進(jìn)行處理。加載電機(jī)用于給被測(cè)電機(jī)提供負(fù)載;加載電機(jī)控制器則用于控制加載電機(jī)工作。該中央處理器做為本發(fā)明的控制中心,其采用AT89S52單片機(jī)來實(shí)現(xiàn)。該AT89S52單片機(jī)的P0.1管腳與電機(jī)控制器相連接,其P3.2管腳則與電參數(shù)測(cè)量?jī)x相連接,P3.3管腳則與處理單元相連接,P0.2管腳與加載電機(jī)控制器相連接。該中央處理器可以向電機(jī)控制器和加載電機(jī)控制器發(fā)送控制指令,并接收被測(cè)電機(jī)的各項(xiàng)性能參數(shù)。

      為了更好的實(shí)施本發(fā)明,本發(fā)明還可以設(shè)置鍵盤和顯示器,該鍵盤與AT89S52單片機(jī)的P3.5管腳相連接,測(cè)試人員可以通過鍵盤向中央處理器輸入控制指令。該顯示器則與AT89S52單片機(jī)的P0.3管腳相連接,其用于顯示被測(cè)電機(jī)的各種性能參數(shù)。

      為了更好的對(duì)被測(cè)電機(jī)的輸出扭矩進(jìn)行測(cè)試,如圖2所示,該所述處理單元由處理芯片U,P極經(jīng)電阻R6后接地、N極接電源的二極管D3,負(fù)極接地、正極經(jīng)電阻R8后與二極管D3的N極相連接的電容C3,一端與二極管D3的N極相連接、另一端接地的電感L,正極與處理芯片U的VOUT管腳相連接、負(fù)極接地的電容C5,P極與處理芯片U的GND管腳相連接、N極與電容C5的負(fù)極相連接的二極管D4,正極與處理芯片U的VMIN管腳相連接、負(fù)極接地的電容C4,串接在處理芯片U的CF管腳和電容C4的負(fù)極之間的電阻R7,與處理芯片U的CF管腳相連接的信號(hào)放大電路,同時(shí)與處理芯片U的FAULT管腳和VOUT管腳相連接的干擾濾波電路,以及與干擾濾波電路相連接的信號(hào)校準(zhǔn)電路組成。

      同時(shí),處理芯片U的VIN管腳與二極管D3的P極相連接、其VDD管腳與二極管D3的N極相連接、SENSE管腳與電容C5的負(fù)極相連接。所述信號(hào)放大電路與二極管D3的N極相連接。所述信號(hào)放大電路的輸入端與扭矩傳感器相連接;所述信號(hào)校準(zhǔn)電路的輸出端與中央處理器相連接。為了更好的實(shí)施本發(fā)明,所述處理芯片U優(yōu)先采用TC642集成芯片。

      其中,該信號(hào)放大電路由放大器P1,三極管VT1,場(chǎng)效應(yīng)管MOS1,電阻R1,電阻R2,電阻R3,電阻R4,電阻R5,二極管D1,二極管D2,電容C1以及電容C2組成。

      該二極管D1的N極與三極管VT1的基極相連接、P極順次經(jīng)電阻R1和電阻R2后接地。電阻R3的一端與扭矩傳感器相連接、另一端則與放大器P1的正極相連接。電容C1的正極與二極管D1的P極相連接、負(fù)極與三極管VT1的發(fā)射極相連接。電阻R5串接在三極管VT1的發(fā)射極和放大器P1的輸出端之間。電容C2的正極與放大器P1的輸出端相連接、負(fù)極經(jīng)電阻R4后與場(chǎng)效應(yīng)管MOS1的柵極相連接。二極管D2的N極與放大器P1的負(fù)極相連接、P極與場(chǎng)效應(yīng)管MOS1的源極相連接。

      所述三極管VT1的集電極與二極管D3的N極相連接的同時(shí)接地。所述場(chǎng)效應(yīng)管MOS1的漏極接地。所述放大器P1的輸出端與處理芯片U的CF管腳相連接。

      該干擾濾波電路由放大器P2,放大器P3,三極管VT2,電阻R12,電阻R14,電阻R15,電容C6,電容C7,電容C8,電容C10,電容C11以及電容C12組成。

      連接時(shí),電容C7的負(fù)極與放大器P2的正極相連接、正極經(jīng)電阻R12后與放大器P2的輸出端相連接。電容C6的負(fù)極與電容C7的正極相連接、正極與處理芯片U的FAULT管腳相連接。電容C8的負(fù)極與放大器P2的正極相連接、正極接電源。電阻R14串接在放大器P2的輸出端和放大器P3的正極之間。電阻R15串接在放大器P3的負(fù)極和輸出端之間。電容C11的正極與放大器P3的正極相連接、負(fù)極與放大器P3的輸出端相連接。電容C10的正極與放大器P3的正極相連接、負(fù)極與信號(hào)校準(zhǔn)電路相連接。電容C12的正極與電容C10的負(fù)極相連接、負(fù)極與放大器P3的輸出端相連接。

      所述三極管VT2的基極與放大器P2的正極相連接、其發(fā)射極與放大器P2的輸出端相連接、集電極與信號(hào)校準(zhǔn)電路相連接。所述放大器P2的負(fù)極同時(shí)與處理芯片U的VOUT管腳和信號(hào)校準(zhǔn)電路相連接。

      另外,所述信號(hào)校準(zhǔn)電路由三極管VT3,三極管VT4,三極管VT5,場(chǎng)效應(yīng)管MOS2,電阻R9,電阻R10,電阻R11,電阻R13,電阻R16,二極管D5,穩(wěn)壓二極管D6,二極管D7,電容C9以及電容C13組成。

      連接時(shí),二極管D5的N極順次經(jīng)電阻R10和電阻R9后接地、P極與處理芯片U的VOUT管腳相連接。穩(wěn)壓二極管D6的N極與三極管VT3的基極相連接、P極與二極管D5的P極相連接。電阻R11串接在二極管D5的P極和穩(wěn)壓二極管D6的N極之間。電容C9的正極與三極管VT3的基極相連接、負(fù)極與三極管VT4的基極相連接。電阻R13的一端與三極管VT4的集電極相連接、另一端接電源。電阻R16串接在三極管VT5的集電極和發(fā)射極之間。電容C13的負(fù)極與三極管VT5的發(fā)射極相連接、正極與場(chǎng)效應(yīng)管MOS2的漏極相連接。二極管D7的P極與場(chǎng)效應(yīng)管MOS2的漏極相連接、N極作為該信號(hào)校準(zhǔn)電路的輸出端并與中央處理器相連接。

      所述三極管VT3的發(fā)射極與三極管VT2的集電極相連接、其集電極與場(chǎng)效應(yīng)管MOS2的柵極相連接。所述場(chǎng)效應(yīng)管MOS2的漏極與電容C10的負(fù)極相連接、其源極與三極管VT5的集電極相連接。所述三極管VT5的基極與三極管VT4的集電極相連接、其發(fā)射極與三極管VT4的發(fā)射極相連接。所述三極管VT4的基極與電阻R9和電阻R10的連接點(diǎn)相連接。

      工作時(shí),測(cè)試人員從中央處理器發(fā)送控制指令給電機(jī)控制器和加載電機(jī)控制器,電機(jī)控制器則根據(jù)控制指令對(duì)被測(cè)電機(jī)進(jìn)行控制,加載電機(jī)控制器則根據(jù)控制指令對(duì)加載電機(jī)進(jìn)行控制,從而模擬被測(cè)電機(jī)在各種工況下工作。此時(shí)電參數(shù)測(cè)量?jī)x則對(duì)被測(cè)電機(jī)在各個(gè)工況時(shí)的電壓、電流、電功率等性能參數(shù)進(jìn)行檢測(cè),并將檢測(cè)信號(hào)反饋回中央處理器。同時(shí),扭矩傳感器對(duì)被測(cè)電機(jī)的輸出扭矩進(jìn)行檢測(cè),檢測(cè)信號(hào)經(jīng)過處理單元處理后反饋給中央處理器,測(cè)試人員通過中央處理器了解到被測(cè)電機(jī)的性能。

      本發(fā)明的處理單元可以對(duì)扭矩信號(hào)中的干擾信號(hào)進(jìn)行過濾,排除干擾信號(hào)的影響,并對(duì)扭矩信號(hào)的波形進(jìn)行校準(zhǔn),避免扭矩信號(hào)現(xiàn)出失真,使本發(fā)明對(duì)被測(cè)電機(jī)所輸出扭矩的檢測(cè)精度達(dá)到0.5%FS,便于測(cè)試人員對(duì)被測(cè)電機(jī)的性能進(jìn)行判斷。同時(shí),本發(fā)明的整體結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,成本低廉,且該處理單元采用新穎的電路結(jié)構(gòu),可以有效的提高扭矩信號(hào)的處理效率。

      如上所述,便可很好的實(shí)施本發(fā)明。

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