1.一種同軸機電開關的壽命測試裝置，其特征在于：包括晶振、檢波器、程控直流電源以及主控計算機；
晶振，被配置為用于提供晶振信號；
檢波器，被配置為用于將晶振信號轉換為電信號；
程控直流電源，被配置為用于開關提供驅動電壓；
主控計算機包括數(shù)字I/O卡、數(shù)據(jù)采集卡以及數(shù)據(jù)處理單元；
數(shù)字I/O卡，被配置為用于為開關提供控制信號；
數(shù)據(jù)采集卡，被配置為用于采集檢波器轉換的電信號并傳輸至主控計算機；
數(shù)據(jù)處理單元，被配置為用于對數(shù)據(jù)采集卡采集的電信號進行數(shù)據(jù)處理；
上電后，晶振輸出晶振信號至開關，同時主控計算機控制程控直流電源輸出驅動電壓，并控制數(shù)字I/O卡輸出相應時序的控制信號，控制開關切換，開關切換后的輸出信號傳輸至檢波器，經(jīng)檢波器檢波處理后轉換為電信號，數(shù)據(jù)采集卡采集此電信號并傳輸至主控計算機，經(jīng)過數(shù)據(jù)處理單元數(shù)據(jù)處理后可判斷開關每次切換是否正常。
2.一種同軸機電開關的壽命測試方法，其特征在于：采用如權利要求1所述的一種同軸機電開關的壽命測試裝置，按照如下步驟進行：
步驟1：將多套同型號開關接入測試裝置，具體包括：
步驟1.1：將兩套同型號開關的非公共端的接頭一一對應連接；
步驟1.2：將兩套同型號開關的公共端的接頭的一端連接至晶振，另一端連接至檢波器；
步驟1.3：重復步驟1.1-步驟1.2，直至將多套同型號開關接入測試裝置；
步驟2：設定開關種類、驅動電壓、切換周期、閾值、不合格點數(shù)后進行測試裝置的初始化；
步驟3：給晶振以及檢波器上電，晶振輸出晶振信號至開關；
步驟4：主控計算機控制程控直流電源輸出驅動電壓，并控制數(shù)字I/O卡輸出相應時序的控制信號，控制開關切換并按控制信號記錄開關切換的次數(shù)；
步驟5：開關切換后的輸出信號傳輸至檢波器；
步驟6：檢波器將開關切換的輸出信號進行檢波處理轉換為電信號；
步驟7：數(shù)據(jù)采集卡采集檢波器檢波的電信號送入主控計算機；
步驟8：主控計算機通過數(shù)據(jù)處理單元判斷數(shù)據(jù)采集卡采集的數(shù)據(jù)是否超出閾值；
若：判斷結果是數(shù)據(jù)超出閾值，則記錄為不合格點，然后執(zhí)行步驟9；
或判斷結果是數(shù)據(jù)沒有超出閾值，則執(zhí)行步驟4；
步驟9：判斷不合格點是否達到不合格點數(shù)；
若：判斷結果是達到不合格點數(shù)，則將對應采集數(shù)據(jù)的兩套開關停止壽命測試，記錄的開關切換次數(shù)即為開關壽命；
或判斷結果是沒有達到不合格點數(shù)，則執(zhí)行步驟4；
步驟10：判斷所有開關是否測試完畢；
若：判斷結果是所有開關都已經(jīng)測試完畢，則執(zhí)行步驟11；
或判斷結果是并非所有開關都測試完畢，則執(zhí)行步驟4；
步驟11：輸出開關壽命測試數(shù)據(jù)；
步驟12：測試結束。
3.根據(jù)權利要求2所述的同軸機電開關的壽命測試方法，其特征在于：在步驟6中，每次采集8組數(shù)據(jù)，分別記錄，每組對應兩套開關。