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      一種誤差校準(zhǔn)方法及裝置與流程

      文檔序號:12356535閱讀:351來源:國知局
      一種誤差校準(zhǔn)方法及裝置與流程
      本發(fā)明涉及定位
      技術(shù)領(lǐng)域
      ,具體而言,涉及一種應(yīng)用于定位系統(tǒng)的誤差校準(zhǔn)方法及裝置。
      背景技術(shù)
      :定位技術(shù)的應(yīng)用十分廣泛,已經(jīng)滲透到每個人的日常生活。然而如何減小定位信息與真實(shí)位置信息之間的誤差,仍然是一個急需解決的問題?,F(xiàn)有的定位系統(tǒng)通常采用數(shù)字圖像處理領(lǐng)域的濾波技術(shù)減小誤差,但上述方式計算復(fù)雜,數(shù)據(jù)存儲量大,實(shí)現(xiàn)成本較高。技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:有鑒于此,本發(fā)明提供了一種誤差校準(zhǔn)方法及裝置,以解決上述問題。為了達(dá)到上述目的,本發(fā)明實(shí)施例采用的技術(shù)方案如下:本發(fā)明實(shí)施例提供一種誤差校準(zhǔn)方法,應(yīng)用于定位系統(tǒng),所述方法包括:針對所需定位的目標(biāo),獲取預(yù)設(shè)個數(shù)的第一采樣點(diǎn)的坐標(biāo)信息;計算所述預(yù)設(shè)個數(shù)的第一采樣點(diǎn)的橫坐標(biāo)的樣本平均值作為當(dāng)前最優(yōu)定位點(diǎn)的橫坐標(biāo),計算所述預(yù)設(shè)個數(shù)的第一采樣點(diǎn)的縱坐標(biāo)的樣本平均值作為當(dāng)前最優(yōu)定位點(diǎn)的縱坐標(biāo);將所述當(dāng)前最優(yōu)定位點(diǎn)的橫坐標(biāo)和縱坐標(biāo)作為所需定位的目標(biāo)校準(zhǔn)后的當(dāng)前定位坐標(biāo)。本發(fā)明另一實(shí)施例還提供一種誤差校準(zhǔn)裝置,應(yīng)用于定位系統(tǒng),所述誤差校準(zhǔn)裝置包括:第一采樣模塊,用于針對所需定位的目標(biāo),獲取預(yù)設(shè)個數(shù)的第一采樣點(diǎn)的坐標(biāo)信息;計算模塊,用于計算所述預(yù)設(shè)個數(shù)的第一采樣點(diǎn)的橫坐標(biāo)的樣本平均值作為當(dāng)前最優(yōu)定位點(diǎn)的橫坐標(biāo),還用于計算所述預(yù)設(shè)個數(shù)的第一采樣點(diǎn)的縱坐標(biāo)的樣本平均值作為當(dāng)前最優(yōu)定位點(diǎn)的縱坐標(biāo);校準(zhǔn)模塊,用于將所述當(dāng)前最優(yōu)定位點(diǎn)的橫坐標(biāo)和縱坐標(biāo)作為所需定位的目標(biāo)校準(zhǔn)后的當(dāng)前定位坐標(biāo)。本發(fā)明實(shí)施例提供的誤差校準(zhǔn)方法及裝置將多個采樣點(diǎn)的坐標(biāo)的樣本平均值作為校準(zhǔn)后的定位坐標(biāo),利用誤差自身的隨機(jī)性使誤差在求所述采樣點(diǎn)的坐標(biāo)平均值的過程中被抵消,以使校準(zhǔn)后的定位坐標(biāo)更加接近真實(shí)的位置。上述方法在保證校準(zhǔn)效果的基礎(chǔ)上,降低了計算復(fù)雜度和實(shí)現(xiàn)難度,減小了存儲數(shù)據(jù)量。附圖說明為使本發(fā)明實(shí)施例的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚,下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖,對本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述,顯然,所描述的實(shí)施例是本發(fā)明一部分實(shí)施例,而不是全部的實(shí)施例?;诒景l(fā)明中的實(shí)施例,本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有作出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實(shí)施例,都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。圖1為本發(fā)明較佳實(shí)施例提供的一種定位系統(tǒng)的方框示意圖。圖2為本發(fā)明較佳實(shí)施例提供的誤差校準(zhǔn)方法的流程圖。圖3為本發(fā)明較佳實(shí)施例提供的步驟S102包括的子步驟的示意圖。圖4為本發(fā)明較佳實(shí)施例提供的一種步驟S120包括的子步驟的示意圖。圖5為本發(fā)明較佳實(shí)施例提供的另一種步驟S120包括的子步驟的示意圖。圖6為本發(fā)明較佳實(shí)施例提供的步驟S140包括的子步驟的示意圖。圖7為本發(fā)明較佳實(shí)施例提供的誤差校準(zhǔn)裝置的連接框圖。圖8為本發(fā)明較佳實(shí)施例提供的一種速度計算子模塊的連接框圖。圖9為本發(fā)明較佳實(shí)施例提供的另一種速度計算子模塊的連接框圖。附圖標(biāo)記:100-定位系統(tǒng),101-存儲器,102-存儲控制器,103-處理器,104-外設(shè)接口,105-輸入輸出單元,106-檢測組件;200-誤差校準(zhǔn)裝置;210-第一采樣模塊,211-速度計算子模塊,2111-第二采樣單元,2112-第一計算單元,2113-第三采樣單元,2114-第二計算單元,212-采樣點(diǎn)調(diào)整子模塊,2121-判斷單元,2122-查詢單元,2123-采樣點(diǎn)設(shè)定單元;220-計算模塊;230-校準(zhǔn)模塊。具體實(shí)施方式下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中附圖,對本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述,顯然,所描述的實(shí)施例僅僅是本發(fā)明一部分實(shí)施例,而不是全部的實(shí)施例。通常在此處附圖中描述和示出的本發(fā)明實(shí)施例的組件可以以各種不同的配置來布置和設(shè)計。因此,以下對在附圖中提供的本發(fā)明的實(shí)施例的詳細(xì)描述并非旨在限制要求保護(hù)的本發(fā)明的范圍,而是僅僅表示本發(fā)明的選定實(shí)施例。基于本發(fā)明的實(shí)施例,本領(lǐng)域技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動的前提下所獲得的所有其他實(shí)施例,都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。應(yīng)注意到:相似的標(biāo)號和字母在下面的附圖中表示類似項(xiàng),因此,一旦某一項(xiàng)在一個附圖中被定義,則在隨后的附圖中不需要對其進(jìn)行進(jìn)一步定義和解釋。同時,在本發(fā)明的描述中,術(shù)語“第一”、“第二”等僅用于區(qū)分描述,而不能理解為指示或暗示相對重要性。如圖1所示,是本發(fā)明較佳實(shí)施例提供的定位系統(tǒng)100的方框示意圖。所述定位系統(tǒng)100包括誤差校準(zhǔn)裝置200、存儲器101、存儲控制器102、處理器103、外設(shè)接口104、輸入輸出單元105以及檢測組件106。所述存儲器101存儲控制器102、處理器103、外設(shè)接口104、輸入輸出單元105以及檢測組件106各元件相互之間直接或間接地電性連接,以實(shí)現(xiàn)信號的傳輸或交互。例如,這些元件相互之間可通過一條或多條通訊總線或信號線實(shí)現(xiàn)電性連接。所述誤差校準(zhǔn)裝置200包括至少一個可以軟件或固件(firmware)的形式存儲于所述存儲器101中的軟件功能模塊。所述處理器103用于執(zhí)行存儲器101中存儲的可執(zhí)行模塊,例如所述誤差校準(zhǔn)裝置200包括的軟件功能模塊或計算機(jī)程序。其中,存儲器101可以是,但不限于,隨機(jī)讀取存儲器(RandomAccessmemory,RAM),只讀存儲器(ReadOnlyMemory,ROM),可編程只讀存儲器(ProgrammableRead-OnlyMemory,PROM),可擦除只讀存儲器(ErasableProgrammableRead-OnlyMemory,EPROM),電可擦除只讀存儲器101(ElectricErasableProgrammableRead-OnlyMemory,EEPROM)等。其中,存儲器101用于存儲程序,所述處理器103在接收到執(zhí)行指令后,執(zhí)行所述程序,本發(fā)明實(shí)施例任一實(shí)施方式所揭示的流程定義的方法可以應(yīng)用于處理器103中,或者由處理器103實(shí)現(xiàn)。處理器103可能是一種集成電路芯片,具有信號的處理能力。上述處理器103可以是通用處理器,包括中央處理器(CentralProcessingUnit,簡稱CPU)、網(wǎng)絡(luò)處理器(NetworkProcessor,簡稱NP)等。還可以是數(shù)字信號處理器(DSP)、專用集成電路(ASIC)、現(xiàn)成可編程門陣列(FPGA)或者其他可編程邏輯器件、分立門或者晶體管邏輯器件、分立硬件組件??梢詫?shí)現(xiàn)或者執(zhí)行本發(fā)明實(shí)施例中的公開的各方法、步驟及邏輯框圖。通用處理器可以是微處理器或者該處理器也可以是任何常規(guī)的處理器等。所述外設(shè)接口104將各種輸入/輸出裝置耦合至處理器103以及存儲器101。在一些實(shí)施例中,外設(shè)接口104,處理器103以及存儲控制器102可以在單個芯片中實(shí)現(xiàn)。在其他一些實(shí)例中,他們可以分別由獨(dú)立的芯片實(shí)現(xiàn)??梢岳斫?,圖1所示的結(jié)構(gòu)僅為示意,定位系統(tǒng)100還可以包括比圖1中所示更多或者更少的組件,或者具有與圖1所示不同的配置。圖1所示的各組件可以采用硬件、軟件或其組合實(shí)現(xiàn)。圖2是本發(fā)明實(shí)施例提供的一種誤差校準(zhǔn)方法的流程圖,該方法應(yīng)用于上述定位系統(tǒng)100。下面將對圖2所示的具體流程和步驟進(jìn)行詳細(xì)闡述。步驟S102,獲取預(yù)設(shè)個數(shù)的第一采樣點(diǎn)的坐標(biāo)信息。本實(shí)施例中,定位系統(tǒng)100在對運(yùn)動目標(biāo)的定位數(shù)據(jù)中獲取一定數(shù)量的第一采樣點(diǎn)的坐標(biāo)信息,用于計算當(dāng)前最優(yōu)定位點(diǎn)的坐標(biāo)。其中,所述第一采樣點(diǎn)的個數(shù)預(yù)先在所述定位系統(tǒng)100中進(jìn)行設(shè)定。需要說明的是,在計算下一個時刻最優(yōu)定位點(diǎn)的坐標(biāo)時,需要在已有的第一采樣點(diǎn)的基礎(chǔ)上,獲取新的第一采樣點(diǎn)的坐標(biāo)信息。步驟S104,計算所述預(yù)設(shè)個數(shù)的第一采樣點(diǎn)的橫坐標(biāo)的樣本平均值作為當(dāng)前最優(yōu)定位點(diǎn)的橫坐標(biāo),計算所述預(yù)設(shè)個數(shù)的第一采樣點(diǎn)的縱坐標(biāo)的樣本平均值作為當(dāng)前最優(yōu)定位點(diǎn)的縱坐標(biāo)。本實(shí)施例中,在計算所述當(dāng)前最優(yōu)定位點(diǎn)的坐標(biāo)時,具體地,假設(shè)最終得到的最優(yōu)定位點(diǎn)與運(yùn)動目標(biāo)當(dāng)前的真實(shí)位置重合,則可以認(rèn)為每個所述第一采樣點(diǎn)是在所述最優(yōu)定位點(diǎn)的基礎(chǔ)上施加隨機(jī)方向和大小的干擾后得到的。利用誤差自身的隨機(jī)性,將多個誤差進(jìn)行加權(quán)平均,即可將所述多個誤差抵消,以使最優(yōu)定位點(diǎn)無限接近于運(yùn)動目標(biāo)的真實(shí)位置。采用最小二乘擬合的方法,可以獲得全局最優(yōu)的擬合曲線。因此,通過上述計算方法得到的最優(yōu)定位點(diǎn)應(yīng)當(dāng)滿足:從該點(diǎn)到所有所述第一采樣點(diǎn)的距離的平方和最小。對應(yīng)的最小距離的平方和公式為:D=minx*,y*∈RΣi=1N[(xi-x*)2+(yi-y*)2],]]>即滿足上述公式的最優(yōu)解(x*,y*)即為當(dāng)前最優(yōu)定位點(diǎn)。將上述公式展開可以得到D=minx*,y*∈RΣi=1N[x*2-2xix*+xi2+y*2-2yiy*+yi2]=minx*,y*∈RN(x*2+y*2)-2Σi-1N(xix*+yiy*)+Σi=1N(xi2+yi2)]]>從上述展開式可以得出,對于固定的y*,公式是關(guān)于x*的開口向上的二次函數(shù)?;谙嗤脑恚瑢τ诠潭ǖ膞*,公式是關(guān)于y*的開口向上的二次函數(shù)。根據(jù)定理:y=ax2+bx+c,a>0,則當(dāng)且僅當(dāng)時,y取最小值。將上述定理推廣到二元方程有:若z=ax2+bx+cy2+dy+e,a>0,c>0,則當(dāng)且僅當(dāng)時z取最小值。因此最優(yōu)定位點(diǎn)可以通過公式進(jìn)行計算,其中,N為所述預(yù)設(shè)個數(shù),(xi,yi)為所述第一采樣點(diǎn)的坐標(biāo),x*為N個第一采樣點(diǎn)的橫坐標(biāo)的樣本平均值,y*為N個第一采樣點(diǎn)的縱坐標(biāo)的樣本平均值,即所述(x*,y*)為當(dāng)前最優(yōu)點(diǎn)的坐標(biāo)。步驟S106,將所述當(dāng)前最優(yōu)定位點(diǎn)的橫坐標(biāo)和縱坐標(biāo)作為校準(zhǔn)后的當(dāng)前定位坐標(biāo)。本實(shí)施例中,定位系統(tǒng)100用所述當(dāng)前最優(yōu)定位點(diǎn)的橫坐標(biāo)和縱坐標(biāo)替換當(dāng)前定位坐標(biāo),作為校準(zhǔn)后的定位坐標(biāo)。具體地,如圖3所示,步驟S102可以包括步驟S120和步驟S140兩個子步驟,具體描述如下。步驟S120,計算當(dāng)前運(yùn)動速度。本步驟中的“計算”具體指采用數(shù)理統(tǒng)計的方法對當(dāng)前的運(yùn)動速度進(jìn)行估計,以得到無限逼近于當(dāng)前真實(shí)的運(yùn)動速度的估計值,并將其作為所述當(dāng)前運(yùn)動速度。步驟S140,根據(jù)所述當(dāng)前運(yùn)動速度按預(yù)設(shè)規(guī)則調(diào)整所述預(yù)設(shè)個數(shù),其中,所述預(yù)設(shè)個數(shù)與所述當(dāng)前運(yùn)動速度成反比。需要說明的是,每對當(dāng)前定位坐標(biāo)進(jìn)行一次校準(zhǔn)都需要獲取一些新的采樣點(diǎn),以排除采樣時間過早的采樣點(diǎn)對于計算過程的影響。由于每一個運(yùn)動速度都有一個對應(yīng)的最佳采樣點(diǎn)數(shù)值,采用所述數(shù)值的采樣點(diǎn)進(jìn)行校準(zhǔn)后得到最優(yōu)定位坐標(biāo)與真實(shí)位置的累計距離最小,因而需要根據(jù)步驟S120計算出的當(dāng)前運(yùn)動速度來調(diào)整所述預(yù)設(shè)個數(shù),即采樣點(diǎn)的個數(shù),使得當(dāng)前采樣點(diǎn)的個數(shù)等于所述預(yù)設(shè)個數(shù)。具體地,要在獲取新的采樣點(diǎn)的情況下,使得每次校準(zhǔn)時所采用的采樣點(diǎn)的個數(shù)與所述預(yù)設(shè)個數(shù)相等,則可能需要舍棄一部分采樣點(diǎn),也可能在原有采樣點(diǎn)的基礎(chǔ)上直接加入新的采樣點(diǎn)。由于所述預(yù)設(shè)個數(shù)即采樣點(diǎn)的個數(shù)與當(dāng)前運(yùn)動速度成反比,因而,在當(dāng)前運(yùn)動速度增大時采樣點(diǎn)的個數(shù)需要減少,在當(dāng)前運(yùn)動速度減小時采樣點(diǎn)的個數(shù)需要增加,在當(dāng)前運(yùn)動速度不變時,采樣點(diǎn)的個數(shù)也維持不變。其中,在當(dāng)前運(yùn)動速度不變時,可以舍棄原有采樣點(diǎn)中最早的至少一個采樣點(diǎn),再加入相同數(shù)量的新的采樣點(diǎn)即可。在當(dāng)前運(yùn)動速度增大時,可以在原有采樣點(diǎn)的基礎(chǔ)上,增加新的采樣數(shù)據(jù),以使當(dāng)前采樣點(diǎn)個數(shù)與預(yù)設(shè)個數(shù)相等。在當(dāng)前運(yùn)動速度減小時,可以舍棄第一數(shù)量的原有采樣點(diǎn),再加入第二數(shù)量的新的采樣點(diǎn),所述第一數(shù)量和第二數(shù)量的具體數(shù)值不做限制,只要第一數(shù)量大于第二數(shù)量,且最終使得當(dāng)前采樣點(diǎn)個數(shù)與所述預(yù)設(shè)個數(shù)相等即可??蛇x地,如圖4所示,步驟S120可以包括步驟步驟S121、步驟S123、步驟S125和步驟S127四個子步驟,具體描述如下。步驟S121,獲取多組第二采樣點(diǎn)的坐標(biāo)信息,每組第二采樣點(diǎn)包括兩個第二采樣點(diǎn),每組的所述兩個第二采樣點(diǎn)所構(gòu)成的第一向量的模相等。本實(shí)施例中,第二采樣點(diǎn)的坐標(biāo)信息用于估計當(dāng)前運(yùn)動速度,以獲取無限逼近于當(dāng)前真實(shí)運(yùn)動速度的近似值。其中,需要獲取多組第二采樣點(diǎn)的坐標(biāo)信息,每組第二采樣點(diǎn)包括兩個所述第二采樣點(diǎn),每組的所述兩個第二采樣點(diǎn)的距離相等。此處所述的“相等”,包括數(shù)值上嚴(yán)格相等和近似相等。步驟S123,獲取第一采樣時間間隔。需要說明的是,第一采樣時間間隔為定位系統(tǒng)100獲取每兩個第二采樣點(diǎn)之間的時間間隔。步驟S125,計算每個所述第一向量的坐標(biāo)。步驟S127,計算多個所述第一向量的橫坐標(biāo)的樣本平均值和縱坐標(biāo)的樣本平均值,并根據(jù)所述第一采樣時間間隔、多個所述第一向量的橫坐標(biāo)和縱坐標(biāo)的樣本平均值計算所述當(dāng)前運(yùn)動速度的向量坐標(biāo)。本實(shí)施例中,所述第一向量的坐標(biāo)通過計算每組的兩個所述第二采樣點(diǎn)的坐標(biāo)的差值得到,因而所述第一向量表征每個所述第一采樣時間間隔內(nèi)運(yùn)動目標(biāo)發(fā)生的位移。根據(jù)第一采樣時間間隔及運(yùn)動目標(biāo)在第一時間間隔內(nèi)的位移可以求得當(dāng)前的運(yùn)動速度。采用上述方法計算當(dāng)前運(yùn)動速度,相當(dāng)于將多個速度值進(jìn)行加權(quán)平均,最終得到將多個速度值的誤差相互抵消后的速度期望值作為當(dāng)前運(yùn)動速度。可選地,如圖5所示,步驟S120也可以包括步驟S120、步驟S122、步驟S124、步驟S126和步驟S128五個子步驟,具體描述如下。步驟S120,獲取兩組第三采樣點(diǎn)的坐標(biāo)信息,其中,第一組所述第三采樣點(diǎn)與第二組所述第三采樣點(diǎn)一一對應(yīng),每兩個對應(yīng)的所述第三采樣點(diǎn)構(gòu)成的第二向量的模相等。本實(shí)施例中,所述第二向量的模具體指每兩個對應(yīng)的所述第三采樣點(diǎn)之間的距離。步驟S122,獲取第二采樣時間間隔。需要說明的是,第二次采樣時間間隔為定位系統(tǒng)100獲取每兩個第三采樣點(diǎn)之間的時間間隔。步驟S124,計算每組第三采樣點(diǎn)的橫坐標(biāo)的樣本平均值和縱坐標(biāo)的樣本平均值。在本實(shí)施例中,計算每組第三采樣點(diǎn)的坐標(biāo)的樣本平均值旨在將兩組第三采樣點(diǎn)分別加權(quán)平均,以抵消掉誤差,最終得到兩個最優(yōu)定位點(diǎn)。步驟S126,計算所述兩組第三采樣點(diǎn)的橫坐標(biāo)的樣本平均值的差值和縱坐標(biāo)的樣本平均值的差值。本實(shí)施例中,以所述兩組第三采樣點(diǎn)的橫坐標(biāo)的樣本平均值的差值和縱坐標(biāo)的樣本平均值的差值分別作為橫坐標(biāo)和縱坐標(biāo)構(gòu)成的向量恰好是步驟S124中所述的兩個最優(yōu)定位點(diǎn)構(gòu)成的向量,所述向量表征相應(yīng)時間間隔內(nèi)運(yùn)動目標(biāo)發(fā)生的位移。其中,所述相應(yīng)時間間隔具體指獲取全部第三采樣點(diǎn)的時間總和的一半。步驟S128,根據(jù)所述第二采樣時間間隔與所述兩組第三采樣點(diǎn)的橫坐標(biāo)及縱坐標(biāo)的樣本平均值的差值計算所述當(dāng)前運(yùn)動速度的向量坐標(biāo)。根據(jù)步驟S126計算出的運(yùn)動目標(biāo)的位移和時間間隔,即可計算出當(dāng)前運(yùn)動速度的向量坐標(biāo)。具體地,如圖6所示,步驟S140包括步驟S141、步驟S142和步驟S143三個子步驟,具體描述如下。步驟S141,判斷所述當(dāng)前運(yùn)動速度所屬預(yù)設(shè)速度范圍。步驟S142,查找出與所述預(yù)設(shè)速度范圍對應(yīng)的采樣點(diǎn)個數(shù)。根據(jù)實(shí)際需求,當(dāng)運(yùn)動目標(biāo)速度為0,即處于靜止?fàn)顟B(tài)時,測量誤差對于校準(zhǔn)結(jié)果影響較大,因此應(yīng)當(dāng)獲取盡可能多的采樣點(diǎn)。但當(dāng)運(yùn)動目標(biāo)的速度較大時,其測量的位置已經(jīng)比較接近真實(shí)位置,故只需獲取較少的采樣點(diǎn)即可達(dá)到較好的校準(zhǔn)效果。由此可得,在不同速度下,采樣點(diǎn)的個數(shù)會影響到校準(zhǔn)的精準(zhǔn)度。通過測試能夠得出不同速度范圍對應(yīng)的最佳采樣點(diǎn)個數(shù),即上步驟S140中所述的預(yù)設(shè)個數(shù)。在計算出運(yùn)動目標(biāo)的當(dāng)前運(yùn)動速度后,即可判斷所述當(dāng)前運(yùn)動速度所屬的速度范圍,根據(jù)所述速度范圍查找其對應(yīng)的最佳采樣點(diǎn)個數(shù)。需要說明的是,步驟S140中所述的預(yù)設(shè)規(guī)則具體指不同速度范圍與最佳采樣點(diǎn)個數(shù)的對應(yīng)關(guān)系。例如:當(dāng)速度處于為0~0.5m/s的范圍時,采樣點(diǎn)個數(shù)可以取15。當(dāng)速度處于為0.5~4.5m/s的范圍時,采樣點(diǎn)個數(shù)可以取11。當(dāng)速度處于4.5~22.2m/s所在的范圍時,采樣點(diǎn)個數(shù)可以取8。步驟S143,將查找出的所述采樣點(diǎn)個數(shù)作為所述預(yù)設(shè)個數(shù)。本實(shí)施例中,在按照所述預(yù)設(shè)規(guī)則找到對應(yīng)的最佳采樣點(diǎn)個數(shù)后,即可將預(yù)設(shè)個數(shù)調(diào)整為相應(yīng)最佳采樣點(diǎn)個數(shù)。通過上述設(shè)計,在保證定位校準(zhǔn)精度的情況下,減小了數(shù)據(jù)存儲量,減小了實(shí)現(xiàn)難度,降低了成本。本實(shí)施例提供了一種誤差校準(zhǔn)裝置200,如圖7所示,所述誤差校準(zhǔn)裝置200包括:第一采樣模塊210、計算模塊220和校準(zhǔn)模塊230。其中,所述第一采樣模塊210用于針對所需定位的目標(biāo),獲取預(yù)設(shè)個數(shù)的第一采樣點(diǎn)的坐標(biāo)信息。關(guān)于所述第一采樣模塊210的描述具體可參考對2中步驟S102的描述。也即,所述步驟S102可以由所述第一采樣模塊210來執(zhí)行。所述計算模塊220用于計算所述預(yù)設(shè)個數(shù)的第一采樣點(diǎn)的橫坐標(biāo)的樣本平均值作為當(dāng)前最優(yōu)定位點(diǎn)的橫坐標(biāo),還用于計算所述預(yù)設(shè)個數(shù)的第一采樣點(diǎn)的縱坐標(biāo)的樣本平均值作為當(dāng)前最優(yōu)定位點(diǎn)的縱坐標(biāo)。關(guān)于所述計算模塊220的描述具體可參考對圖2中步驟S104的描述。也即,所述步驟S104可以由所述計算模塊220實(shí)現(xiàn)。所述校準(zhǔn)模塊230用于將所述當(dāng)前最優(yōu)定位點(diǎn)的橫坐標(biāo)和縱坐標(biāo)作為所需定位的目標(biāo)校準(zhǔn)后的當(dāng)前定位坐標(biāo)。關(guān)于所述校準(zhǔn)模塊230的描述具體可參考對圖2中步驟S106的描述。也即,步驟S106可以由所述校準(zhǔn)模塊230來執(zhí)行。可選地,所述第一采樣模塊210可以包括:速度計算子模塊211和采樣點(diǎn)調(diào)整子模塊212。所述速度計算子模塊211用于計算當(dāng)前運(yùn)動速度。關(guān)于所述速度計算子模塊211的描述具體可參考對圖3所述的步驟S120的描述。也即,步驟S120可以由所述速度計算子模塊211來執(zhí)行。所述采樣點(diǎn)調(diào)整子模塊212用于根據(jù)所述當(dāng)前運(yùn)動速度按預(yù)設(shè)規(guī)則調(diào)整所述預(yù)設(shè)個數(shù),其中,所述預(yù)設(shè)個數(shù)與所述當(dāng)前運(yùn)動速度成反比。關(guān)于所述采樣點(diǎn)調(diào)整子模塊212的描述具體可參考對圖3中所述的步驟S140的描述。也即,步驟S140可以由所述采樣點(diǎn)調(diào)整子模塊212來執(zhí)行??蛇x地,所述采樣點(diǎn)調(diào)整子模塊212可以包括:判斷單元2121、查詢單元2122和采樣點(diǎn)設(shè)定單元2123。其中,所述判斷單元2121用于判斷所述當(dāng)前運(yùn)動速度所屬預(yù)設(shè)速度范圍。關(guān)于所述判斷單元2121的描述具體可參考對圖6中所述的步驟S141的描述,也即,步驟S141可以由所述判斷單元2121來執(zhí)行。所述查詢單元2122用于查找出與所述預(yù)設(shè)速度范圍對應(yīng)的采樣點(diǎn)個數(shù)。關(guān)于所述查詢單元2122的描述具體可參考對圖6中所述的步驟S142的描述。也即,步驟S142可以由所述查詢單元2122來執(zhí)行。所述采樣點(diǎn)設(shè)定單元2123用于將查找出的所述采樣點(diǎn)個數(shù)作為所述預(yù)設(shè)個數(shù)。關(guān)于所述采樣點(diǎn)設(shè)定單元2123的描述具體可參考對圖6中所述的步驟S143的描述。也即,步驟S143可以由所述采樣點(diǎn)設(shè)定單元2123來執(zhí)行。可選地,所述速度計算子模塊211可以有多種具體實(shí)現(xiàn)方式。例如:如圖8所示,所述速度子模塊可以包括第二采樣單元2111和第一計算單元2112。所述第二采樣單元2111用于獲取多組第二采樣點(diǎn)的坐標(biāo)信息,其中,每組第二采樣點(diǎn)包括兩個第二采樣點(diǎn),每組的所述兩個采樣點(diǎn)所構(gòu)成的第一向量的模相等,還用于獲取第一采樣時間間隔。關(guān)于所述第二采樣單元2111的描述具體可參考對圖4中所述的步驟S10211和S123的描述。也即,步驟S121和S123可以由所述第二采樣單元2111來執(zhí)行。所述第一計算單元2112用于計算每個所述第一向量的坐標(biāo),還用于計算多個所述第一向量的橫坐標(biāo)的樣本平均值和縱坐標(biāo)的樣本平均值,并根據(jù)所述所述第一采樣時間間隔、多個所述第一向量的橫坐標(biāo)和縱坐標(biāo)的樣本平均值計算所述當(dāng)前運(yùn)動速度的向量坐標(biāo)。關(guān)于所述第一計算單元2112的描述具體可以參考對圖4中所述的步驟S125和步驟S127的描述,也即,步驟S125和S127可以由所述第一計算單元2112來執(zhí)行。又例如:如圖9所示,所述速度計算子模塊211可以包括第三采樣單元2113和第二計算單元2114。所述第三采樣單元2113用于獲取兩組第三采樣點(diǎn)的坐標(biāo)信息,其中,第一組所述第三采樣點(diǎn)與第二組所述第三采樣點(diǎn)一一對應(yīng),每兩個對應(yīng)的所述第三采樣點(diǎn)構(gòu)成的第二向量的模相等,還用于獲取第二采樣時間間隔。關(guān)于所述第三采樣單元2113的描述具體可參考對圖5中所述的步驟S120和步驟S122的描述。也即,步驟S120和S122可以由所述第三采樣單元2113來執(zhí)行。所述第二計算單元2114用于計算每組第三采樣點(diǎn)的橫坐標(biāo)的樣本平均值和縱坐標(biāo)的樣本平均值,還用于計算所述兩組第三采樣點(diǎn)的橫坐標(biāo)的樣本平均值的差值和縱坐標(biāo)的樣本平均值的差值,并根據(jù)所述第二采樣時間間隔與所述兩組第三采樣點(diǎn)的橫坐標(biāo)及縱坐標(biāo)的樣本平均值的差值計算所述當(dāng)前運(yùn)動速度的向量坐標(biāo)。關(guān)于所述第二計算單元2114的描述具體可參考對圖5中所述的步驟S124、步驟S126和步驟S128的描述。也即,步驟S124、步驟S126和步驟S128可以由所述第二計算單元2114來執(zhí)行。綜上所述,本發(fā)明實(shí)施例提供的誤差校準(zhǔn)方法及裝置將多個采樣點(diǎn)的坐標(biāo)的樣本平均值作為校準(zhǔn)后的定位坐標(biāo),利用誤差自身的隨機(jī)性使其在求所述采樣點(diǎn)的坐標(biāo)平均值的過程中被抵消,以使校準(zhǔn)后的定位坐標(biāo)更加接近真實(shí)的位置。通過在每次校準(zhǔn)時,根據(jù)計算出的當(dāng)前運(yùn)動速度調(diào)整采樣點(diǎn)個數(shù),進(jìn)一步地減小了定位坐標(biāo)與真實(shí)位置之間的誤差。在保證校準(zhǔn)效果的基礎(chǔ)上,降低了計算復(fù)雜度,減小了存儲數(shù)據(jù)量。在本申請所提供的幾個實(shí)施例中,應(yīng)該理解到,所揭露的裝置和方法,也可以通過其它的方式實(shí)現(xiàn)。以上所描述的裝置實(shí)施例僅僅是示意性的,例如,附圖中的流程圖和框圖顯示了根據(jù)本發(fā)明的多個實(shí)施例的裝置、方法和計算機(jī)程序產(chǎn)品的可能實(shí)現(xiàn)的體系架構(gòu)、功能和操作。在這點(diǎn)上,流程圖或框圖中的每個方框可以代表一個模塊、程序段或代碼的一部分,所述模塊、程序段或代碼的一部分包含一個或多個用于實(shí)現(xiàn)規(guī)定的邏輯功能的可執(zhí)行指令。也應(yīng)當(dāng)注意,在有些作為替換的實(shí)現(xiàn)方式中,方框中所標(biāo)注的功能也可以以不同于附圖中所標(biāo)注的順序發(fā)生。例如,兩個連續(xù)的方框?qū)嶋H上可以基本并行地執(zhí)行,它們有時也可以按相反的順序執(zhí)行,這依所涉及的功能而定。也要注意的是,框圖和/或流程圖中的每個方框、以及框圖和/或流程圖中的方框的組合,可以用執(zhí)行規(guī)定的功能或動作的專用的基于硬件的系統(tǒng)來實(shí)現(xiàn),或者可以用專用硬件與計算機(jī)指令的組合來實(shí)現(xiàn)。另外,在本發(fā)明各個實(shí)施例中的各功能模塊可以集成在一起形成一個獨(dú)立的部分,也可以是各個模塊單獨(dú)存在,也可以兩個或兩個以上模塊集成形成一個獨(dú)立的部分。所述功能如果以軟件功能模塊的形式實(shí)現(xiàn)并作為獨(dú)立的產(chǎn)品銷售或使用時,可以存儲在一個計算機(jī)可讀取存儲介質(zhì)中。基于這樣的理解,本發(fā)明的技術(shù)方案本質(zhì)上或者說對現(xiàn)有技術(shù)做出貢獻(xiàn)的部分或者該技術(shù)方案的部分可以以軟件產(chǎn)品的形式體現(xiàn)出來,該計算機(jī)軟件產(chǎn)品存儲在一個存儲介質(zhì)中,包括若干指令用以使得一臺計算機(jī)設(shè)備(可以是個人計算機(jī),服務(wù)器,或者網(wǎng)絡(luò)設(shè)備等)執(zhí)行本發(fā)明各個實(shí)施例所述方法的全部或部分步驟。而前述的存儲介質(zhì)包括:U盤、移動硬盤、只讀存儲器(ROM,Read-OnlyMemory)、隨機(jī)存取存儲器(RAM,RandomAccessMemory)、磁碟或者光盤等各種可以存儲程序代碼的介質(zhì)。需要說明的是,在本文中,諸如第一和第二等之類的關(guān)系術(shù)語僅僅用來將一個實(shí)體或者操作與另一個實(shí)體或操作區(qū)分開來,而不一定要求或者暗示這些實(shí)體或操作之間存在任何這種實(shí)際的關(guān)系或者順序。而且,術(shù)語“包括”、“包含”或者其任何其他變體意在涵蓋非排他性的包含,從而使得包括一系列要素的過程、方法、物品或者設(shè)備不僅包括那些要素,而且還包括沒有明確列出的其他要素,或者是還包括為這種過程、方法、物品或者設(shè)備所固有的要素。在沒有更多限制的情況下,由語句“包括一個……”限定的要素,并不排除在包括所述要素的過程、方法、物品或者設(shè)備中還存在另外的相同要素。以上所述,僅為本發(fā)明的具體實(shí)施方式,但本發(fā)明的保護(hù)范圍并不局限于此,任何熟悉本
      技術(shù)領(lǐng)域
      的技術(shù)人員在本發(fā)明揭露的技術(shù)范圍內(nèi),可輕易想到變化或替換,都應(yīng)涵蓋在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。因此,本發(fā)明的保護(hù)范圍應(yīng)所述以權(quán)利要求的保護(hù)范圍為準(zhǔn)。當(dāng)前第1頁1 2 3 
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