本發(fā)明涉及一種多回路安規(guī)測試系統(tǒng)和一種多路切換裝置。

背景技術(shù)：

一款合格的繼電保護(hù)產(chǎn)品在設(shè)計(jì)時(shí)必須遵循安規(guī)標(biāo)準(zhǔn)，以確保該產(chǎn)品在正常使用時(shí)，不對人身安全產(chǎn)生危害。完整的安規(guī)測試包含耐壓測試、絕緣電阻測試、沖擊電壓測試等。繼電保護(hù)產(chǎn)品，比如繼電保護(hù)測控裝置在做安全性能測試時(shí)，需要對每一個(gè)回路進(jìn)行順次測試。由于繼電保護(hù)測控裝置的插件開入、開出回路較多，一臺(tái)繼電保護(hù)測控裝置的開入和開出回路總共多達(dá)幾十路。由于安全性能測試包含不同的測試項(xiàng)目，中間還需要對繼電保護(hù)測控裝置進(jìn)行操作，因此完成一臺(tái)裝置的測試往往會(huì)耗費(fèi)數(shù)十個(gè)小時(shí)，在測試工作相對集中的時(shí)候，測試效率往往不能滿足工作的需要，不僅費(fèi)時(shí)費(fèi)力，還很容易發(fā)生漏測、重測現(xiàn)象，所以必須采取措施提高測試效率。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本發(fā)明的目的是提供一種多回路安規(guī)測試系統(tǒng)，用以解決傳統(tǒng)的測試方式效率低的問題。本發(fā)明同時(shí)提供一種多路切換裝置。

為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明的方案包括一種多回路安規(guī)測試系統(tǒng)，包括安規(guī)試驗(yàn)儀和多路切換裝置，所述多路切換裝置包括控制模塊和切換模塊，所述切換模塊包括n組控制開關(guān)和一組切換開關(guān)，n≥2，每組控制開關(guān)包括第一控制開關(guān)和第二控制開關(guān)，所述控制模塊控制連接各組控制開關(guān)以及所述一組切換開關(guān)；

每組控制開關(guān)中的第一控制開關(guān)的一端與第二控制開關(guān)的一端連接，各組控制開關(guān)中兩個(gè)控制開關(guān)之間的連接點(diǎn)為該測試系統(tǒng)的輸出端，用于對應(yīng)連接被測裝置；所述安規(guī)試驗(yàn)儀的一個(gè)測試端連接各組控制開關(guān)中的第一控制開關(guān)的另一端；

所述一組切換開關(guān)中包括第一切換開關(guān)和第二切換開關(guān)，第一切換開關(guān)和第二切換開關(guān)串接構(gòu)成一條串聯(lián)線路，所述串聯(lián)線路的一端連接各組控制開關(guān)中的第二控制開關(guān)的另一端，所述串聯(lián)線路的另一端接地，第一切換開關(guān)和第二切換開關(guān)之間的連接點(diǎn)連接所述安規(guī)試驗(yàn)儀的另一個(gè)測試端。

各控制開關(guān)為對應(yīng)繼電器的觸點(diǎn)，所述第一切換開關(guān)和第二切換開關(guān)分別為同一個(gè)繼電器的常開觸點(diǎn)和常閉觸點(diǎn)，所述控制模塊控制連接所有繼電器的控制線圈。

所述對應(yīng)繼電器的觸點(diǎn)均為常開觸點(diǎn)。

所述多路切換裝置還包括電源模塊，所述電源模塊供電連接所述控制模塊。

所述控制模塊、切換模塊和電源模塊均為插件。

一種多路切換裝置，包括控制模塊和切換模塊，所述切換模塊包括n組控制開關(guān)和一組切換開關(guān)，n≥2，每組控制開關(guān)包括第一控制開關(guān)和第二控制開關(guān)，所述控制模塊控制連接各組控制開關(guān)以及所述一組切換開關(guān)；

每組控制開關(guān)中的第一控制開關(guān)的一端與第二控制開關(guān)的一端連接，各組控制開關(guān)中兩個(gè)控制開關(guān)之間的連接點(diǎn)為該多路切換裝置的輸出端，用于對應(yīng)連接被測裝置；各組控制開關(guān)中的第一控制開關(guān)的另一端用于連接安規(guī)試驗(yàn)儀的一個(gè)測試端；

所述一組切換開關(guān)中包括第一切換開關(guān)和第二切換開關(guān)，第一切換開關(guān)和第二切換開關(guān)串接構(gòu)成一條串聯(lián)線路，所述串聯(lián)線路的一端連接各組控制開關(guān)中的第二控制開關(guān)的另一端，所述串聯(lián)線路的另一端接地，第一切換開關(guān)和第二切換開關(guān)之間的連接點(diǎn)用于連接安規(guī)試驗(yàn)儀的另一個(gè)測試端。

各控制開關(guān)為對應(yīng)繼電器的觸點(diǎn)，所述第一切換開關(guān)和第二切換開關(guān)分別為同一個(gè)繼電器的常開觸點(diǎn)和常閉觸點(diǎn)，所述控制模塊控制連接所有繼電器的控制線圈。

所述對應(yīng)繼電器的觸點(diǎn)均為常開觸點(diǎn)。

所述多路切換裝置還包括電源模塊，所述電源模塊供電連接所述控制模塊。

所述控制模塊、切換模塊和電源模塊均為插件。

安規(guī)試驗(yàn)儀的測試端連接多路切換裝置，多路切換裝置的輸出端分別與被測裝置的多個(gè)回路對應(yīng)相連，通過對多路切換裝置內(nèi)部多個(gè)控制開關(guān)以及切換開關(guān)的程序化控制，根據(jù)試驗(yàn)需要，可以實(shí)現(xiàn)對被測裝置的任兩個(gè)回路之間進(jìn)行測試，以及任意單個(gè)回路對地之間進(jìn)行同時(shí)或分時(shí)測試，省去了傳統(tǒng)測試時(shí)需要不斷切換測試線纜及多次操作試驗(yàn)儀器的麻煩，從而大大提高了被測裝置的測試效率。

附圖說明

圖1是多回路安規(guī)測試系統(tǒng)的整體控制框圖；

圖2是多回路安規(guī)測試系統(tǒng)的電路結(jié)構(gòu)示意圖；

其中，U1為程控多路自動(dòng)切換裝置，U2為安規(guī)試驗(yàn)儀，U3為繼電保護(hù)測控裝置。

具體實(shí)施方式

下面結(jié)合附圖對本發(fā)明做進(jìn)一步詳細(xì)的說明。

如圖1所示，多回路安規(guī)測試系統(tǒng)包括安規(guī)試驗(yàn)儀和程控多路自動(dòng)切換裝置(簡稱為多路切換裝置)。安規(guī)試驗(yàn)儀向程控多路自動(dòng)切換裝置輸送試驗(yàn)用電壓，經(jīng)過程控多路自動(dòng)切換裝置的內(nèi)部電路切換后能夠輸出多路試驗(yàn)電壓，多路試驗(yàn)電壓輸送給被測保護(hù)裝置的相應(yīng)的端口。該多回路安規(guī)測試系統(tǒng)能夠用于多種被測保護(hù)裝置，為了便于說明，在本實(shí)施例中，被測保護(hù)裝置以繼電保護(hù)測控裝置為例。

由于安規(guī)試驗(yàn)儀和繼電保護(hù)測控裝置均屬于常規(guī)技術(shù)，這里不再詳細(xì)介紹，其中，安規(guī)測試儀能夠進(jìn)行相應(yīng)的安規(guī)測試，該測試儀上的紅色測試端能夠輸出測試信號，相當(dāng)于電壓正極，黑色測試端為負(fù)極或者接地端，接收測試信號。所以，該安規(guī)測試儀上的紅色測試端和黑色測試端與一般測試設(shè)備中的紅色測試端和黑色測試端的功能相同。以下對程控多路自動(dòng)切換裝置進(jìn)行詳細(xì)說明。

程控多路自動(dòng)切換裝置包括三部分，分別是電源模塊、控制模塊和切換模塊，在本實(shí)施例中，如圖2所示，這三個(gè)模塊均為插件形式，便于在裝置中進(jìn)行插拔，其中，電源模塊為電源插件，控制模塊為CPU插件，切換模塊為出口插件。電源插件用來給CPU插件和出口插件提供5V、24V電源，CPU插件通過內(nèi)部設(shè)置的邏輯程序來向出口插件上的各個(gè)繼電器發(fā)送控制信號，出口插件中包含有多個(gè)繼電器。

如圖2所示，出口插件中設(shè)有n組測試?yán)^電器和一個(gè)切換繼電器，n≥2，每組測試?yán)^電器包括兩個(gè)繼電器，分別為第一繼電器和第二繼電器，具體為：第一組測試?yán)^電器包括繼電器J1和繼電器J1'，第二組測試?yán)^電器包括繼電器J2和繼電器J2'，……，第i組測試?yán)^電器包括繼電器Ji和繼電器Ji'，……，第n組測試?yán)^電器包括繼電器Jn和繼電器Jn'，i＝1，2，……，n。切換繼電器為繼電器JP。

CPU插件控制連接各組測試?yán)^電器以及切換繼電器，即控制連接上述所有繼電器的控制線圈。

每組測試?yán)^電器中的第一繼電器的常開觸點(diǎn)的一端與第二繼電器的常開觸點(diǎn)的一端連接，具體如圖2所示，繼電器J1的常開觸點(diǎn)的一端和繼電器J1'的常開觸點(diǎn)的一端連接，繼電器J2的常開觸點(diǎn)的一端和繼電器J2'的常開觸點(diǎn)的一端連接，……，繼電器Jn的常開觸點(diǎn)的一端和繼電器Jn'的常開觸點(diǎn)的一端連接。各組測試?yán)^電器中兩個(gè)繼電器的常開觸點(diǎn)之間的連接點(diǎn)為該測試系統(tǒng)的輸出端。

安規(guī)試驗(yàn)儀的紅色測試端分別連接各組測試?yán)^電器中的第一繼電器的常開觸點(diǎn)的另一端，具體如圖2所示，安規(guī)試驗(yàn)儀的紅色測試端連接繼電器J1的常開觸點(diǎn)的另一端、繼電器J2的常開觸點(diǎn)的另一端、……、繼電器Jn的常開觸點(diǎn)的另一端。

如圖2所示，切換繼電器JP的常開觸點(diǎn)的一端和常閉觸點(diǎn)的一端連接，切換繼電器JP的常開觸點(diǎn)的另一端分別連接繼電器J1'的常開觸點(diǎn)的另一端、繼電器J2'的常開觸點(diǎn)的另一端、……、繼電器Jn'的常開觸點(diǎn)的另一端；切換繼電器JP的常閉觸點(diǎn)的另一端接地；安規(guī)試驗(yàn)儀的黑色測試端連接切換繼電器JP的常開觸點(diǎn)和常閉觸點(diǎn)之間的連接點(diǎn)。

各組測試?yán)^電器中兩個(gè)繼電器的常開觸點(diǎn)之間的連接點(diǎn)通過信號引出線路連接到繼電保護(hù)測控裝置中的各個(gè)回路，以進(jìn)行測試。

該測試系統(tǒng)能夠?qū)崿F(xiàn)共模試驗(yàn)和差模試驗(yàn)。其中，

共模試驗(yàn)：CPU插件控制繼電器JP不動(dòng)作，即不得電，繼電器JP的常閉觸點(diǎn)保持閉合狀態(tài)，常開觸點(diǎn)保持?jǐn)嚅_狀態(tài)，安規(guī)試驗(yàn)儀的黑色測試端經(jīng)過繼電器JP的常閉觸點(diǎn)與地相連，被測繼電保護(hù)測控裝置的回路1與繼電器J1的常開觸點(diǎn)相連，CPU插件輸出控制信號，繼電器J1得電，繼電器J1的常開觸點(diǎn)閉合，安規(guī)試驗(yàn)儀的紅色測試端通過繼電器J1的常開觸點(diǎn)與繼電保護(hù)測控裝置的回路1相連，即可實(shí)現(xiàn)對回路1的共模試驗(yàn)。同理，CPU插件可通過控制繼電器J2-Jn中的任意一個(gè)得電，實(shí)現(xiàn)對與之相連的任一路被測回路的試驗(yàn)；而且，CPU插件可通過控制繼電器J1-Jn中的任意多個(gè)得電，實(shí)現(xiàn)對應(yīng)的多個(gè)被測回路的試驗(yàn)，同時(shí)進(jìn)行多路試驗(yàn)，大大提高了試驗(yàn)效率。

差模試驗(yàn)：CPU插件控制繼電器JP動(dòng)作，即得電，繼電器JP的常閉觸點(diǎn)斷開，常開觸點(diǎn)閉合，安規(guī)試驗(yàn)儀的黑色測試端經(jīng)過繼電器JP的閉合后的常開觸點(diǎn)與繼電器J1'-Jn'中的常開觸點(diǎn)相連。CPU插件可通過控制繼電器J1-Jn以及繼電器J1'-Jn'中的相關(guān)繼電器得電，使對應(yīng)的常開觸點(diǎn)閉合，實(shí)現(xiàn)任兩路被測回路之間的差模試驗(yàn)。也就是說，在對任意兩個(gè)回路進(jìn)行差模試驗(yàn)時(shí)，通過控制出口插件中的相應(yīng)繼電器的觸點(diǎn)閉合，然后通過連接線路，使繼電保護(hù)測控裝置中的任意兩個(gè)回路之間形成通路，安規(guī)試驗(yàn)儀的紅色測試端的測試信號能夠通過該通路回到黑色測試端，以進(jìn)行差模測試。比如：如果想要對繼電保護(hù)測控裝置中的回路1和回路2進(jìn)行差模試驗(yàn)時(shí)，CPU插件控制繼電器JP得電，繼電器JP的常閉觸點(diǎn)斷開，常開觸點(diǎn)閉合；并且，CPU插件控制繼電器J1和繼電器J2'得電，使繼電器J1和繼電器J2'的常開觸點(diǎn)閉合，紅色測試端輸出的測試信號由繼電器J1的已閉合的常開觸點(diǎn)輸入給回路1，然后測試信號在繼電保護(hù)測控裝置內(nèi)部到達(dá)回路2，回路2依次由繼電器J2'的已閉合的常開觸點(diǎn)和繼電器JP的已閉合的常開觸點(diǎn)回到黑色測試端，安規(guī)測試儀進(jìn)行差模測試。

從上述試驗(yàn)過程中可以看出，程控多路自動(dòng)切換裝置通過巧妙的電路設(shè)計(jì)和程序化的控制方法，控制相應(yīng)繼電器的觸點(diǎn)的閉合和打開，實(shí)現(xiàn)了對繼電保護(hù)測控裝置中的多個(gè)回路的自動(dòng)化測試。并且，該切換裝置中的測試?yán)^電器的組數(shù)n可以根據(jù)實(shí)際需要進(jìn)行擴(kuò)展，比如32路，相比傳統(tǒng)手工測試，大大提高了測試效率，同時(shí)也有效避免了漏測和重測現(xiàn)象。

上述實(shí)施例中，測試?yán)^電器的觸點(diǎn)均為常開觸點(diǎn)，在控制時(shí)，繼電器得電對應(yīng)著常開觸點(diǎn)閉合，繼電器失電對應(yīng)著常開觸點(diǎn)保持?jǐn)嚅_狀態(tài)，作為其他的實(shí)施例，測試?yán)^電器的觸點(diǎn)還可以是常閉觸點(diǎn)，相應(yīng)地，在控制時(shí)，繼電器得電對應(yīng)著常閉觸點(diǎn)斷開，繼電器失電對應(yīng)著常閉觸點(diǎn)保持閉合狀態(tài)。所以，不管測試?yán)^電器的觸點(diǎn)是常開觸點(diǎn)還是常閉觸點(diǎn)，該測試系統(tǒng)的試驗(yàn)方式均不變。

上述實(shí)施例中，切換繼電器JP的常開觸點(diǎn)的另一端分別連接繼電器J1'的常開觸點(diǎn)的另一端、繼電器J2'的常開觸點(diǎn)的另一端、……、繼電器Jn'的常開觸點(diǎn)的另一端；切換繼電器JP的常閉觸點(diǎn)的另一端接地。作為其他的實(shí)施例，切換繼電器JP的常閉觸點(diǎn)的另一端分別連接繼電器J1'的常開觸點(diǎn)的另一端、繼電器J2'的常開觸點(diǎn)的另一端、……、繼電器Jn'的常開觸點(diǎn)的另一端；切換繼電器JP的常開觸點(diǎn)的另一端接地，即切換繼電器JP的常開觸點(diǎn)和常閉觸點(diǎn)調(diào)換位置。這時(shí)在控制時(shí)繼電器的得電與失電的控制就與上述實(shí)施例中的相反才能夠?qū)崿F(xiàn)相同的效果，但是，該測試系統(tǒng)的試驗(yàn)方式是不變的。

上述實(shí)施例中，切換模塊中的控制開關(guān)和切換開關(guān)均為對應(yīng)繼電器的觸點(diǎn)，并且CPU插件控制連接各個(gè)繼電器的控制線圈來實(shí)現(xiàn)對各個(gè)開關(guān)的控制，這只是一種具體的實(shí)施方式，作為其他的實(shí)施例，控制開關(guān)和切換開關(guān)并不局限于繼電器的觸點(diǎn)，還可以是其他的電控型開關(guān)，比如IGBT、MOSFET或者其他的全控型開關(guān)器件，CPU插件控制連接這些全控型開關(guān)器件的控制端來實(shí)現(xiàn)對各個(gè)開關(guān)的控制，并且，不管控制開關(guān)以及切換開關(guān)具體為什么類型的器件，開關(guān)之間的連接關(guān)系以及控制策略等均與上述實(shí)施例相同，這里就不再具體描述。

以上給出了具體的實(shí)施方式，但本發(fā)明不局限于所描述的實(shí)施方式。本發(fā)明的基本思路在于上述基本方案，對本領(lǐng)域普通技術(shù)人員而言，根據(jù)本發(fā)明的教導(dǎo)，設(shè)計(jì)出各種變形的模型、公式、參數(shù)并不需要花費(fèi)創(chuàng)造性勞動(dòng)。在不脫離本發(fā)明的原理和精神的情況下對實(shí)施方式進(jìn)行的變化、修改、替換和變型仍落入本發(fā)明的保護(hù)范圍內(nèi)。