本發(fā)明屬于顯示技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種顯示裝置的靜電放電檢測裝置及檢測方法。

背景技術(shù)：

靜電放電(Electro-Static discharge，ESD)是指具有不同靜電電位的物體互相靠近或直接接觸引起的電荷轉(zhuǎn)移。靜電放電是非常常見也很難避免的現(xiàn)象。

液晶顯示裝置在生產(chǎn)及使用中，容易受到超過自身元器件承受能力的靜電放電沖擊，并在產(chǎn)品無法耗散或釋放電荷時，造成部分抗ESD閾值低的器件失效。因此，靜電放電會導(dǎo)致液晶顯示裝置良率降低，成本增加，產(chǎn)能下降，故在顯示裝置生產(chǎn)中需要進(jìn)行ESD測試，以確保顯示裝置不會因?yàn)镋SD而造成系統(tǒng)故障。

發(fā)明人發(fā)現(xiàn)現(xiàn)有技術(shù)中至少存在如下問題：目前檢測液晶顯示裝置的ESD主要是靠人工檢測來完成，由于該測試過程比較繁瑣，耗時耗力，空氣放電時，檢測的槍頭與顯示裝置的距離人工把握不是很準(zhǔn)確，會造成測試結(jié)果不準(zhǔn)確。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本發(fā)明針對現(xiàn)有的檢測液晶顯示裝置的ESD過程繁瑣，測試結(jié)果不準(zhǔn)確的問題，提供一種顯示裝置的靜電放電檢測裝置及檢測方法。

解決本發(fā)明技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是：

一種顯示裝置的靜電放電檢測裝置，包括：

放電模塊；用于對顯示裝置的待檢測位置施放第一電壓；

位移模塊；所述位移模塊與所述放電模塊連接，用于將所述放電模塊移動至顯示裝置的待檢測位置；

圖像處理模塊；用于采集所述待檢測顯示裝置顯示的圖像；

導(dǎo)電模塊，用于將放電模塊施放的所述待檢測位置的第一電壓導(dǎo)出；

控制模塊，所述控制模塊與位移模塊、圖像處理模塊、導(dǎo)電模塊連接，用于控制位移模塊、圖像處理模塊、導(dǎo)電模塊運(yùn)行。

優(yōu)選的是，所述圖像處理模塊包括預(yù)存單元，用于預(yù)存正常圖像；所述圖像處理模塊將采集的所述待檢測顯示裝置顯示的圖像與所述正常圖像對比，并判斷待檢測顯示裝置顯示的圖像是否正常。

優(yōu)選的是，所述導(dǎo)電模塊包括靜電刷。

優(yōu)選的是，所述檢測裝置還包括記錄模塊，所述記錄模塊與所述圖像處理模塊連接，用于將圖像處理模塊判斷的待檢測顯示裝置顯示的圖像不正常時所對應(yīng)的待檢測位置進(jìn)行記錄。

本發(fā)明還提供一種顯示裝置的靜電放電檢測方法，包括以下步驟：

S1、在控制模塊的控制下，位移模塊將放電模塊移動至顯示裝置的一個待檢測位置；

S2、放電模塊對所述待檢測位置施放第一電壓；

S3、圖像處理模塊采集待檢測顯示裝置顯示的圖像，并判斷待檢測顯示裝置顯示的圖像是否正常；若待檢測顯示裝置出現(xiàn)無法恢復(fù)的異常，則結(jié)束檢測；若待檢測顯示裝置顯示的圖像正常，或者，待檢測顯示裝置出現(xiàn)可以恢復(fù)的異常，，則進(jìn)行下一步驟；

S4、導(dǎo)電模塊將所述待檢測位置的第一電壓導(dǎo)出；

S5、重復(fù)步驟S2-S4 3-10次；

S6、位移模塊將放電模塊移動至另一個待檢測位置，重復(fù)步驟S2-S5直至完成所有待檢測位置的檢測；

S7、改變第一電壓值重復(fù)步驟S1-S6。

優(yōu)選的是，還包括向圖像處理模塊預(yù)存的正常圖像的步驟；步驟S3所述判斷待檢測顯示裝置顯示的圖像是否正常是將所述采集的待檢測顯示裝置顯示的圖像與圖像處理模塊預(yù)存的正常圖像對比，，并判斷待檢測顯示裝置顯示的圖像是否正常。

優(yōu)選的是，還包括記錄模塊將圖像處理模塊判斷的待檢測顯示裝置顯示的圖像不正常時所對應(yīng)的待檢測位置進(jìn)行記錄的步驟。

優(yōu)選的是，步驟S3還包括判斷待檢測顯示裝置顯示的圖像正?；虍惓５燃壍牟襟E，所述判斷的方法為：若待檢測顯示裝置顯示的圖像正常，則判定為A級正常；若待檢測顯示裝置出現(xiàn)異常，但能夠自動恢復(fù)，則判定為B級異常；若待檢測顯示裝置出現(xiàn)異常，無法自動恢復(fù)，需要手動恢復(fù)或重啟恢復(fù)，則判定為C級異常；若待檢測顯示裝置出現(xiàn)異常，自動或手動或重啟都無法恢復(fù)，判定為D級異常。

優(yōu)選的是，步驟S2所述施放第一電壓包括接觸放電、空氣放電中的任一種。

優(yōu)選的是，所述接觸放電電壓值范圍為0～±12kV；所述空氣放電電壓值范圍為0～±18kV。

本發(fā)明的顯示裝置的靜電放電檢測裝置中，位移模塊與放電模塊連接，將所述放電模塊移動至顯示裝置的待檢測位置，可以準(zhǔn)確控制測試位置。圖像處理模塊采集待檢測顯示裝置顯示的圖像，判斷待檢測顯示裝置顯示的圖像是否正常，判斷客觀、準(zhǔn)確；節(jié)省人工操作，還方便對不良產(chǎn)品進(jìn)行數(shù)據(jù)分析。本發(fā)明的顯示裝置的靜電放電檢測裝置適用于檢測各種液晶顯示裝置。

附圖說明

圖1為本發(fā)明的實(shí)施例1的顯示裝置的靜電放電檢測裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2為本發(fā)明的實(shí)施例2的顯示裝置的靜電放電檢測裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖3為本發(fā)明的實(shí)施例3的顯示裝置的靜電放電檢測方法的流程示意圖；

圖4為本發(fā)明的實(shí)施例3的顯示裝置的靜電放電位置示意圖；

其中，附圖標(biāo)記為：10、顯示裝置；11、芯片；12、柔性線路板；1、放電模塊；2、位移模塊；3、圖像處理模塊；4、導(dǎo)電模塊；5、控制模塊；6、記錄模塊。

具體實(shí)施方式

為使本領(lǐng)域技術(shù)人員更好地理解本發(fā)明的技術(shù)方案，下面結(jié)合附圖和具體實(shí)施方式對本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)描述。

實(shí)施例1：

本實(shí)施例提供一種顯示裝置10的靜電放電檢測裝置，如圖1所示，包括放電模塊1、位移模塊2、圖像處理模塊3、導(dǎo)電模塊4以及控制模塊5。

其中，放電模塊1用于對顯示裝置10的待檢測位置施放第一電壓；位移模塊2與所述放電模塊1連接，用于將所述放電模塊1移動至顯示裝置10的待檢測位置；圖像處理模塊3用于采集所述待檢測顯示裝置顯示的圖像；導(dǎo)電模塊4，用于將放電模塊1施放的所述待檢測位置的第一電壓導(dǎo)出；控制模塊5與位移模塊2、圖像處理模塊3、導(dǎo)電模塊4連接，用于控制位移模塊2、圖像處理模塊3、導(dǎo)電模塊4運(yùn)行。

本實(shí)施例的顯示裝置10的靜電放電檢測裝置中，位移模塊2與放電模塊1連接，將所述放電模塊1移動至顯示裝置10的待檢測位置，通過控制模塊5控制位移模塊2，位移模塊2將放電模塊準(zhǔn)確移動到測試位置。圖像處理模塊3采集待檢測顯示裝置顯示的圖像，人工根據(jù)采集的圖像即可快速判斷待檢測顯示裝置是否正常，判斷客觀、準(zhǔn)確；機(jī)械控制，節(jié)省人工操作，還方便對不良產(chǎn)品進(jìn)行數(shù)據(jù)分析。本發(fā)明的顯示裝置10的靜電放電檢測裝置適用于檢測各種液晶顯示裝置10。

實(shí)施例2：

本實(shí)施例提供一種顯示裝置10的靜電放電檢測裝置，如圖2所示，包括放電模塊1、位移模塊2、圖像處理模塊3、導(dǎo)電模塊4、記錄模塊6以及控制模塊5。

其中，放電模塊1；用于對顯示裝置10的待檢測位置施放第一電壓；位移模塊2與所述放電模塊1連接，用于將所述放電模塊1移動至顯示裝置10的待檢測位置；圖像處理模塊3用于采集所述待檢測顯示裝置顯示的圖像；導(dǎo)電模塊4用于將放電模塊1施放的所述待檢測位置的第一電壓導(dǎo)出；控制模塊5與位移模塊2、圖像處理模塊3、導(dǎo)電模塊4連接，用于控制位移模塊2、圖像處理模塊3、導(dǎo)電模塊4運(yùn)行；記錄模塊6與所述圖像處理模塊3連接，用于將圖像處理模塊3判斷的待檢測顯示裝置顯示的圖像不正常時所對應(yīng)的待檢測位置進(jìn)行記錄。

優(yōu)選的是，所述圖像處理模塊3包括預(yù)存單元，用于預(yù)存顯示裝置10的正常圖像；所述圖像處理模塊將采集的所述待檢測顯示裝置顯示的圖像與所述正常圖像對比，并判斷待檢測顯示裝置顯示的圖像是否正常

也就是說，圖像處理模塊3采集待檢測顯示裝置顯示的圖像后通過與預(yù)存的顯示裝置10的正常圖像做對比來判斷待檢測顯示裝置顯示的圖像是否正常，這樣的判斷結(jié)果更客觀、更準(zhǔn)確。具體的，圖像處理模塊3包括照相機(jī)或攝像頭等設(shè)備，采用這些設(shè)備拍攝圖像，且在拍攝圖像過程中應(yīng)避免外界環(huán)境光線的干擾，保證圖像采集的數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。具體的，圖像處理模塊3還包括圖像處理器等來分析判斷待檢測顯示裝置顯示的圖像是否正常。

優(yōu)選的是，所述導(dǎo)電模塊4包括靜電刷。

也就是說，放電模塊1每次放電前，都要使用靜電刷刷在顯示裝置10的GND區(qū)域，將電荷導(dǎo)出，確保每次放電電荷不累加，以使測試結(jié)果更準(zhǔn)確。需要說明的是，顯示裝置10采用上述的靜電刷將靜電導(dǎo)出，還可以通過載板接地，以使電荷導(dǎo)出。

實(shí)施例3：

本實(shí)施例提供一種顯示裝置10的靜電放電檢測方法，如圖3所示，包括以下步驟：

S1、在控制模塊5的控制下，位移模塊2將放電模塊1移動至顯示裝置10的一個待檢測位置。

需要說明的是，如圖4所示，通常檢測一個顯示裝置10的八到十幾個位置的ESD，包括顯示面板上幾個位置(字母標(biāo)號)，以及芯片11(IC)柔性線路板12(FPC)上背面漏銅區(qū)域兩個位置。具體的檢測位置的個數(shù)以及檢測位置可以根據(jù)顯示裝置10的大小以及像素等進(jìn)行改變和調(diào)整。

其中，顯示裝置10的靜電放電測試前，首先設(shè)置控制模塊5的各項(xiàng)參數(shù)，例如待測試的顯示裝置10的測試點(diǎn)的個數(shù)、放電方式、放電模型、初始電壓、測試電壓增加的幅度等。

S2、放電模塊1對所述待檢測位置施放第一電壓。也就是說，控制模塊5設(shè)置好參數(shù)后，需要先將顯示裝置10點(diǎn)亮，放電裝置按照設(shè)定位置和順序進(jìn)行放電。

優(yōu)選的是，步驟S2所述施放第一電壓包括接觸放電、空氣放電中的任一種。具體的，所述接觸放電電壓值范圍為0～±8kV。所述空氣放電電壓值范圍為0～±12kV。

S3、圖像處理模塊3采集待檢測顯示裝置顯示的圖像，并判斷待檢測顯示裝置顯示的圖像是否正常；若待檢測顯示裝置出現(xiàn)無法恢復(fù)的異常，則結(jié)束檢測；若待檢測顯示裝置顯示的圖像正常，或者，待檢測顯示裝置出現(xiàn)可以恢復(fù)的異常，則進(jìn)行下一步驟。具體的，所述判斷待檢測顯示裝置顯示的圖像是否正常是將所述采集的待檢測顯示裝置顯示的圖像與圖像處理模塊3預(yù)存的正常圖像對比，并判斷待檢測顯示裝置顯示的圖像是否正常。

在此給出一種具體的判斷方法：若待檢測顯示裝置10顯示的圖像正常，不出現(xiàn)任何功能顯示異常，則此點(diǎn)處在這個電壓級別的結(jié)果判定為A級正常；上電測試過程中及測試結(jié)束后，顯示裝置10出現(xiàn)閃屏、漏光、變暗、顯示屏失效等顯示/功能異常，但能夠自動恢復(fù)正常工作的狀態(tài)，恢復(fù)時間為1s以內(nèi)，判定為B級異常；上電測試過程中及測試結(jié)束后，顯示裝置10出現(xiàn)閃屏、漏光、變暗、TP失效等顯示/功能異常，恢復(fù)時間超過1s或無法自動恢復(fù)正常工作的狀態(tài)，需要手動操作，比如恢復(fù)(reset)、重啟等操作才能恢復(fù)正常工作狀態(tài)，此時判定為C級異常；上電測試過程中及測試結(jié)束后，顯示裝置10出現(xiàn)顯示/功能異常，形成永久性損壞，無法通過自動恢復(fù)或者手動操作恢復(fù)或者重啟恢復(fù)，判定為D級異常，然后記錄模塊6將圖像處理模塊3判斷的待檢測顯示裝置顯示的圖像不正常時所對應(yīng)的待檢測位置進(jìn)行記錄。需要說明的是，這里如果待檢測顯示裝置被判定為D級異常，則結(jié)束檢測。

S4、導(dǎo)電模塊4將所述待檢測位置的第一電壓導(dǎo)出。也就是說，放電模塊1每次放電前，都要使用靜電刷刷在顯示裝置10的GND區(qū)域，將電荷導(dǎo)出，確保每次放電電荷不累加，以使測試結(jié)果更準(zhǔn)確。需要說明的是，顯示裝置10不能直接與大地相連；可以理解的是，顯示裝置10還可以通過載板接地，以使電荷導(dǎo)出。

S5、重復(fù)步驟S2-S4 3-10次。

S6、位移模塊2將放電模塊1移動至另一個待檢測位置，重復(fù)步驟S2-S5直至完成所有待檢測位置的檢測；

S7、改變第一電壓值重復(fù)步驟S1-S6。

表1可以更直觀的看出某顯示裝置10具體的測試流程。也就是說，在ESD測試過程中，如圖中S7a、S7b、S7c的流程所示，測試是從0開始，逐漸增加施加的第一電壓，若顯示裝置10能通過2kV的電壓，則將第一電壓增加為4kV。需要說明的是，第一電壓包括正負(fù)兩性的，即逐漸增加施加的第一電壓是從0開始，逐漸增加至正負(fù)12kV的絕對值。其中，對10個測試點(diǎn)進(jìn)行接觸放電測試及空氣放電測試，每個測試點(diǎn)，每個電壓值放電10次，相鄰的兩次放電的時間間隔應(yīng)大于顯示裝置10自動恢復(fù)正常工作狀態(tài)以及電荷導(dǎo)出的時間，通常根據(jù)實(shí)際操作可控制在幾秒范圍內(nèi)。

表1

顯然，上述各實(shí)施例的具體實(shí)施方式還可進(jìn)行許多變化；例如：第一電壓值以及其增加的幅度等可以根據(jù)需要進(jìn)行調(diào)整。

可以理解的是，以上實(shí)施方式僅僅是為了說明本發(fā)明的原理而采用的示例性實(shí)施方式，然而本發(fā)明并不局限于此。對于本領(lǐng)域內(nèi)的普通技術(shù)人員而言，在不脫離本發(fā)明的精神和實(shí)質(zhì)的情況下，可以做出各種變型和改進(jìn)，這些變型和改進(jìn)也視為本發(fā)明的保護(hù)范圍。