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      一種相移式光投影三維測量系統(tǒng)及方法與流程

      文檔序號:11822238閱讀:來源:國知局

      技術特征:

      1.一種相移式光投影三維測量系統(tǒng),其特征在于,包括單模激光器(1)CCD相機(18)和計算機(14),計算機(14)與CCD相機(18)相連接,沿單模激光器(1)產生激光的前進方向依次設置聚焦透鏡組成的光學擴束系統(tǒng)(2),一維分束光柵(4),聲光調制器(8),合束器(13),聚焦透鏡(15)和投影物鏡(16);

      所述單模激光器(1)產生的激光經所述光學擴束系統(tǒng)(2)擴散成光束后再由所述一維分束光柵(4)分解成兩束激光,所述一維分束光柵(4)與所述聲光調制器(8)之間還設有第一光楔(5)和第二光楔(6),所述第一光楔(5)和所述第二光楔(6)分別調節(jié)一維分束光柵(4)分解的兩束激光的偏轉角等于進入聲光調制器(8)的入射角,使兩束激光經過所述聲光調制器(8)后產生布拉格衍射;

      所述聲光調制器(8)和所述合束器(13)之間設有第一空間濾波器(9)和第二空間濾波器(10),所述第一空間濾波器(9)和所述第二空間濾波器(10)分別將經過聲光調制器(8)后的兩束激光形成一級衍射光;所述第一空間濾波器(9)和所述合束器(13)之間設有第三光楔(11),所述第二空間濾波器(10)和所述合束器(13)之間設有第四光楔(12),所述第三光楔(11)和所述第四光楔(12)分別將一級衍射光調整角度投射到所述合束器(13)上,并通過所述合束器(13)后形成干涉光路;所述干涉光路通過所述聚焦透鏡(15)再被所述投影物鏡(16)放大后形成干涉條紋投影到被測物體(17)上,所述CCD相機(18)獲取該干涉條紋后通過計算機(14)進行處理最終恢復被測物體(17)的三維形貌。

      2.根據權利要求1所述的相移式光投影三維測量系統(tǒng),其特征在于,所述聲光調制器(8)通過射頻功率放大器和直接數字頻率合成器(7)與計算機(14)相連,所述計算機(14)通過改變射頻功率放大器和直接數字頻率合成器(7)的頻率來改變光線通過聲光調制器(8)的出射角,從而改變干涉條紋周期。

      3.根據權利要求1所述的相移式光投影三維測量系統(tǒng),其特征在于,所述一維分束光柵(4)為一分二的一維衍射光柵,并且分出兩束激光的光強相同。

      4.根據權利要求1所述的相移式光投影三維測量系統(tǒng),其特征在于,在所述光學擴束系統(tǒng)(2)與一維分束光柵(4)之間和/或合束器(13)與聚焦透鏡(15)之間設置有改變光照方向以縮小測量系統(tǒng)占據的空間的反光鏡(3)。

      5.根據權利要求1所述的相移式光投影三維測量系統(tǒng),其特征在于,所述聲光調制器(8)為高帶寬調制器,可調制多種波長的激光,其帶寬至少為40MHz,所述聲光調制器(8)的衍射效率大于60%。

      6.根據權利要求1所述的相移式光投影三維測量系統(tǒng),其特征在于,所述直接數字頻率合成器(7)的頻率調節(jié)范圍大于40MHz。

      7.根據權利要求1所述的相移式光投影三維測量系統(tǒng),其特征在于,所述合束器(13)是光學平板。

      8.根據權利要求1至7任一所述的相移式光投影三維測量系統(tǒng),其特征在于,所述投影物鏡(16)為可更換倍率的測量投影儀物鏡,物鏡放大倍率誤差≤0.08%。

      9.根據權利要求1至7任一所述的相移式光投影三維測量系統(tǒng),其特征在于,所述CCD相機(18)采集幀率不少于30fps。

      10.一種相移式光投影三維測量方法,具體包括以下步驟:

      a)將單模激光器(1)產生的激光經過光學擴束系統(tǒng)(2)后擴散成光束;

      b)將光束經過一維分束光柵(4)后形成第一光束和第二光束;

      c)將第一光束經過第一光楔(5)后再經過聲光調制器,第二光束經過第二光楔(6)后再經過聲光調制器,并通過第一光楔和第二光楔分別調節(jié)第一光束和第二光束形成的偏轉角度為進入聲光調制器(8)的入射角,使第一光束和第二光束經過聲光調制器(8)后分別均產生布拉格衍射,產生布拉格衍射的第一光束和第二光束分別通過第一空間濾波器(9)和第二空間濾波器(10)得到一級衍射光,并且該一級衍射光的衍射角均等于第一光楔和第二光楔進入聲光調制器(8)的入射角;

      d)將第一空間濾波器和第二并空間濾波器得到的一級衍射光分別經過第一光楔(11)和第二光楔(12)調整角度后投射到能使光束產生干涉的合束器(13)上;

      e)通過合束器(13)后形成干涉光路,將干涉光路通過聚焦透鏡(15)再被投影物鏡(16)放大后形成干涉條紋投影到被測物體(17)上;

      f)將所述聲光調制器(8)通過射頻功率放大器和直接數字頻率合成器(7)與計算機(14)相連,通過計算機改變直接數字頻率合成器(7)的頻率控制字N來改變光線通過聲光調制器(8)的出射角,從而調節(jié)干涉條紋的周期,以達到將干涉條紋清楚地投影到被測物體上的目的;

      g)投影到被測物體(17)表面的干涉條紋被CCD相機(18)獲取后再通過計算機(14)進行處理,最終恢復被測物體(17)三維形貌。

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